技术领域本发明涉及一种用于存储器测试的插座装置，更具体地，涉及一种设置在常用的插座基板的存储器插座上侧的用于测试存储器的不良问题的存储器测试插座上能够安装上下尺寸不同的存储器的用于存储器测试的插座装置。
背景技术：
一般地，随着中央处理器(CPU)的发展，个人计算机的性能也飞速地提高，旨在开发更快、性能更优良的计算机的竞争不断延续，并出现超级计算机、并行处理计算机、精简指令集计算机(RISC：ReducedInstructionSetComputer)开发等。而且，提高计算机性能的努力还将继续。如前所述，旨在开发更快、性能更优良的计算机的竞争的核心是开发出可高速处理更多数据的CPU和高集成、高容量、高速化的存储器芯片，从而加速其开发竞争。尤其是，与这样的CPU的开发速度同步，高集成、高容量、高速化的内存的开发竞争也在加速。另外，作为用于测试如前所述的高集成、高容量、高速化存储器的不良率的现有技术，提供了一种在封装有存储器插座的插座基板上固定存储器测试装置后，通过封装在插座基板的存储器插座与存储器的电接触来确认是否电连接，由此测试作为测试对象物的存储器的不良率的方法。前述的存储器的种类大致分为DDR1、DDR2、DDR3。此时，DDR为DoubleDataRate的缩写，其原名为DDRSDRAM(DoubleDataRateSynchronousDynamicRandomAcessMemory)。如名称所示，在一个时钟(1Hz)内可以传送和接收数据，因此在名称中加上了双倍(double)的名字。之前使用的SDR(SingleDataRate)中，在一个时钟内只能传送信号或者接收信号。DDR存储器根据时钟可分为如下表1所示。表1如表1所示的各种存储器可以是左右长度或上下长度相同的形状，但是各种存储器大致上形成为左右长度和上下长度均不同的形状。另外，为了通过存储器测试装置来测试如前所述的存储器模块的不良问题，利用在常用的插座基板上所设置的存储器测试插座来封装存储器，以便通过是否导通电源来确认存储器的不良问题。作为这样的测试存储器的不良问题的现有技术，已经公开了如下技术。现有技术的存储器测试装置包括：存储器测试插座，其设置在封装于插座基板上的存储器插座的上侧，并且在其两侧的内侧面上形成引导存储器的侧端的插槽；一对锁止件，其设置在存储器测试插座的两侧，并可以向内外侧旋转一定范围；存储器加压部件，其在一对锁止件上分别构成，将存储器测试插座上所插入的存储器，通过两侧上端的加压来封装在插座基板的存储器插座；以及连接杆，其连接一对锁止件并使之同时动作。具有如前所述的结构的现有技术的存储器测试装置，向常用插座基板的存储器插座上侧，以其与存储器测试插座对齐的状态固定在插座基板。在如上被固定的存储器测试插座的两侧上所构成的锁止件向外侧方向旋转的状态下，通过存储器测试插座的插槽来插入存储器。并且，如前所述，通过存储器测试插座的插槽来插入存储器后，将向外侧方向旋转的锁止件改为向内侧方向旋转，并通过存储器加压部件的加压，使存储器连接到封装在插座基板上的存储器插座。此时，向存储器插座加压的存储器的接触端与存储器插座的接触针互相连接。如前所述，在向存储器插座加压的存储器的接触端与存储器插座的接触针相互接触的状态下，通过是否导通电源来确认存储器的不良问题。即，导通电源时，若电性导通则判断存储器为正常的产品；若没有电性导通则判断为不良产品。但是，如前所述的根据现有技术的存储器测试装置如图1所示，由于其结构不能将左右长度相同而上下长度不同的各种存储器插入并封装，因此为了测试左右长度相同而上下长度不同的种类的存储器，存储器测试插座应具备与该存储器的上下长度相符的结构。现有技术文献专利文献1.韩国公开实用新型专利第2010-0008201号(2010年8月18日公开)2.韩国公开专利公报第2008-0081385号(2008年9月10日公开)3.韩国授权专利公报第10-0704002号(2007年4月9日公告)4.韩国授权实用新型专利第20-0373503号(2005年1月15日公告)
技术实现要素：
(一)要解决的技术问题本发明是为了解决现有技术中的各种问题而提出的，其目的在于提供一种用于存储器测试的插座装置，所述装置将锁止件的结构配置成双重旋转结构，以便能够容纳并加压所有左右长度相同而上下长度不同的各种存储器，因此能够通过一个存储器测试插座来测试上下长度不同的各种存储器。并且，本发明的技术的另一目的在于，将锁止件的结构配置成双重旋转结构，以便能够容纳并加压所有左右长度相同而上下长度不同的各种存储器，通过这种结构能够减少购买用于存储器测试的插座装置的费用。另外，本发明的技术的又一目的在于，将锁止件的结构配置成双重旋转结构，以便能够容纳并加压左右长度相同而上下长度不同的各种存储器，因此能够更加顺利地完成存储器测试。并且，本发明的技术的目的在于，将存储器测试插座配置成通过锁止件的旋转来升降的结构，以便更加容易地实现封装在插座基板的存储器插座上的存储器的弹出，并节省测试存储器的时间。进而，本发明的技术的目的在于，将存储器加压部件配置成通过铰链轴旋转的结构，以便防止存储器两侧的上端的损坏，其中所述存储器加压部件加压在存储器测试插座上所插入的存储器并将其封装在插座基板的存储器插座上。(二)技术方案为实现前述的目的的本发明为如下。即，本发明的用于存储器测试的插座装置包括：底板，其设置并固定于常用插座基板的上侧，在所述底板上形成多个插座外露孔，以便在常用插座基板上封装的一个以上的存储器插座向上侧插入并外露；一对支撑托架，其在插座外露孔的长度方向的两侧分别相对设置，在相对面上以上下方向形成引导槽；弹出器兼插座，其在支撑托架的各个引导槽上可上下移动地设置，在相对面上形成一个以上的安装存储器的插槽；一对升降用锁止件，其在各个支撑托架上可内外旋转地设置，并通过向内外的旋转使弹出器兼插座下降或者上升；存储器弹出装置，当升降用锁止件向外侧方向旋转时，将所述弹出器兼插座向上移动来使存储器弹出；一对加压用锁止件，其在各个升降用锁止件上可向内外旋转地设置，并将存储器向常用插座基板的存储器插座加压；一个以上的存储器加压部件，其设置在加压用锁止件的各个相对面上，并向存储器的两侧的上端加压；旋转引导装置，当加压用锁止件向内外旋转时引导其旋转；以及转动连杆，其连接一对升降用锁止件，使其向内外旋转时能够同时转动。根据前述的本发明的结构，弹出器兼插座由支撑插座、引导插座和连结螺丝构成，其中，所述支撑插座在支撑托架的各个引导槽上可上下移动地设置，并形成支撑所安装的存储器的两侧下端的支撑插槽；所述引导插座接合于支撑插座的上侧，在所述引导插座上形成有与支撑插槽相对应并引导存储器的引导插槽；所述连接螺丝用来连接并接合支撑插座与引导插座。另外，前述的支撑插座的支撑插槽的下端以关闭的形状组成，以便能够支撑存储器的两侧下端，且引导插座的引导插槽的上端还形成具有一定倾斜角的倒角面，以便将插入的存储器引导到引导插槽。而且，根据本发明的结构，存储器弹出装置由卡止槽和卡止构件构成，其中，所述卡止槽形成在构成弹出器兼插座的各个引导插座的外侧面；所述卡止构件在各个升降用锁止件的相对面的一侧相对形成，卡止在引导插座的卡止槽上，当升降用锁止件向外侧方向旋转时，使弹出器兼插座上升，将存储器从弹出器兼插座中弹出。根据如前所述的本发明的结构，旋转引导装置由引导槽和引导轴构成，其中，所述引导槽在各个升降用锁止件的两侧以长槽的形状相对形成；所述引导轴在加压用锁止件的各个相对面上相对设置，各个引导轴的两端插入并接合于引导槽上，以便在引导槽的范围内实现加压用锁止件的旋转。此时，构成旋转引导装置的引导槽的上下范围，优选的是与存储器的上下最大长度尺寸及最小长度尺寸相对应地形成。并且，根据本发明的结构，存储器加压部件以加压滚轮的结构组成，所述加压滚轮在构成旋转引导装置的各个引导轴上可旋转地设置，并旋转加压存储器的两侧上端。而且，根据如前所述的本发明的结构，具有多个构成存储器加压部件的加压滚轮时，在加压用锁止件的各个相对面上还可一体形成用于将相邻的各个加压滚轮分离的隔壁。此时，隔壁起到防止加压滚轮左右移动的功能。另外，根据本发明的结构，还可包括扭力弹簧，其设置在旋转轴上，所述旋转轴使加压用锁止件能够内外旋转地接合到升降用锁止件上，且所述扭力弹簧具有使加压用锁止件恢复原位置弹力作用。根据如前所述的本发明的结构，转动连杆由支撑梁和连接杆构成，其中，所述支撑梁设置并固定于在一对支撑托架上相对设置的各个升降用锁止件的同一方向的侧面上；所述连接杆将两侧的支撑梁可旋转地连接，以便将一侧的升降用锁止件向内外旋转时，使另一侧的升降用锁止件同时转动。此时，连接杆的一端可形成为以一定角度弯曲的形状。而且，根据本发明的结构，在升降用锁止件的各个相对面还可设置旋转限制杆，当加压用锁止件向内侧方向旋转时，使加压用锁止件旋转限制在一定范围以内。(三)有益效果根据本发明的技术，将锁止件的结构配置成双重旋转结构，由此能够容纳并加压所有左右长度相同而上下长度不同的各种存储器，因此具有能够通过一个存储器测试插座来测试上下长度不同的各种存储器的效果。并且，根据本发明的技术，通过一个存储器测试插座能够测试上下长度不同的各种存储器，因此不仅有能够减少购买用于存储器测试的插座装置的费用的效果，而且还有能够更加顺利地完成存储器测试的效果。并且，根据本发明的技术，将存储器测试插座配置成通过锁止件的旋转来升降的结构，因此更加容易地实现封装在插座基板的存储器插座上的存储器的弹出，并节省测试存储器的时间。进而，根据本发明的技术，将存储器加压部件配置成通过铰链轴旋转的结构，因此能够防止存储器两侧的上端的损坏，其中所述存储器加压部件加压在存储器测试插座上所插入的存储器并将其封装在插座基板的存储器插座上。附图说明图1是表示将本发明的用于存储器测试的插座装置设置在常用插座基板上的状态的立体结构图。图2是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的立体结构图。图3是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的俯视结构图。图4是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的侧视结构图。图5a是分开表示在本发明的用于存储器测试的插座装置中存储器的插入的立体结构图。图5b是表示在本发明的用于存储器测试的插座装置中存储器的安装状态的立体结构图。图6是分开表示本发明的用于存储器测试的插座装置的存储器测试插座的立体结构图。图7是分开表示本发明的用于存储器测试的插座装置的存储器测试插座的侧视结构图。图8是表示通过本发明的用于存储器测试的插座装置来安装上下长度尺寸长的存储器时锁止件的作用的侧视结构图。图9是表示通过本发明的用于存储器测试的插座装置来安装上下长度尺寸小的存储器时锁止件的作用的侧视结构图。附图说明标记10：常用插座基板20：存储器插座30：存储器(上下最大尺寸)32：存储器(上下小的尺寸)100：插座装置110：底板112：插座外露孔120：支撑托架122：引导槽130：弹出器兼插座132：安装插槽134：连接螺丝136：倒角面140：升降用锁止件150：卡止槽152：卡止构件160：加压用锁止件162：旋转支撑轴170：存储器加压部件180：引导槽182：引导轴190：转动连杆192：支撑梁194：连接杆200：隔壁210：扭力弹簧220：旋转限制杆具体实施方式以下，参照附图详细说明本发明的用于存储器测试的插座装置的优选实施例。图1是表示将本发明的用于存储器测试的插座装置设置在常用插座基板上的状态的立体结构图，图2是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的立体结构图，图3是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的俯视结构图，图4是表示本发明的用于存储器测试的插座装置的侧视结构图，图5a是分开表示在本发明的用于存储器测试的插座装置中存储器的插入的立体结构图，图5b是表示在本发明的用于存储器测试的插座装置中存储器的安装状态的立体结构图，图6是分开表示本发明的用于存储器测试的插座装置的存储器测试插座的立体结构图，以及图7是分开表示本发明的用于存储器测试的插座装置的存储器测试插座的侧视结构图。如图1至图7所示，本发明的用于存储器测试的插座装置100包括：底板110，其设置并固定于常用插座基板10的上侧，在所述底板110上形成多个插座外露孔112，以便在常用插座基板10上封装的一个以上的存储器插座20向上侧插入并外露；一对支撑托架120，其在插座外露孔112的长度方向的两侧分别相对设置，在相对面上上下方向形成引导槽122；弹出器兼插座130，其在支撑托架120的各个引导槽上122上可上下移动地设置，在相对面上形成一个以上的安装存储器30的安装插槽132；一对升降用锁止件140，其在各个支撑托架120上可向内外旋转地设置，并通过向内外的旋转使弹出器兼插座130下降或上升；存储器弹出装置，当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，使弹出器兼插座130向上移动，由此使存储器30弹出；一对加压用锁止件160，其在各个升降用锁止件140上可向内外旋转地设置，并将存储器30向常用插座基板10的存储器插座20加压；一个以上的存储器加压部件170，其设置在加压用锁止件160的各个相对面上，并加压存储器30的两侧的上端；旋转引导装置，当加压用锁止件160向内外旋转时引导其旋转；以及转动连杆190，其连接一对升降用锁止件140，使其向内外旋转时能够同时转动。具有上述结构的本发明的用于存储器测试的插座装置100设置在常用插座基板10的上侧，以便从形成在底板110上的插座外露孔112的下部向上部插入常用插座基板10的存储器插座20，并使其向上外露。此时，常用插座基板10相当于个人电脑中实际应用的主板。另外，如前所述，若在常用插座基板10的上侧设置并固定底板110，以便常用插座基板10的存储器插座20向上外露，则弹出器兼插座130的安装插槽132与存储器插座20的插槽(未图示)分别上下相互一致。由此，插入并安装到各个弹出器兼插座130的安装插槽132的存储器30只封装于与弹出器兼插座130的安装插槽132相对应的存储器插座20的插槽上。如前所述，在将用于存储器测试的插座装置100安装并固定于常用插座基板10的上侧的状态下，查看存储器30的测试过程如下。首先，如图1至图5a所示，在将安装并固定在常用插座基板10上侧的用于存储器测试的插座装置100的升降用锁止件140向外侧旋转的状态下，在弹出器兼插座130的安装插槽132上插入并安装要测试的存储器30。其次，如前所述，在弹出器兼插座130的安装插槽132上插入并安装要测试的存储器30后，如图1至图5b所示，将两侧的一对加压用锁止件160向内侧方向相对旋转，以便实现存储器加压部件170的加压。此时，若将两侧的一对加压用锁止件160向内侧方向相对旋转，则设置加压用锁止件160的升降用锁止件140也同样向内侧方向相对旋转。如前所述，若将两侧的一对加压用锁止件160向内侧方向相对旋转，则插入并安装在弹出器兼插座130的存储器30，通过存储器加压部件170，实现向存储器插座20的插槽加压。此时，弹出器兼插座130以可上下升降一定范围的方式构成，因此对存储器30进行加压时存储器30将下降，由此下降的存储器30能够封装到常用插座基板10的存储器插座20上。另外，如前所述，将加压用锁止件160向内侧方向相对旋转，使插入并安装在弹出器兼插座130的存储器30通过存储器加压部件170封装到存储器插座20的插槽上，然后导通电源来确认存储器30是否电性导通，从而判断存储器30的不良问题。另一方面，如前所述，通过本发明的用于存储器测试的插座装置100，在存储器插座20的插槽上封装存储器30并确认存储器30的不良问题后，分离存储器插座20上所封装的存储器30，此时，存储器插座20上封装的存储器30的分离只通过将处于相对旋转状态的升降用锁止件140向外侧方向旋转的方式实现，将升降用锁止件140向外侧方向旋转时弹出器兼插座130上升，存储器30从存储器插座20弹出。换句话说，如前所述，通过用于存储器测试的插座装置100，在存储器插座20的插槽上封装存储器30并确认存储器30的不良问题的状态下，若将加压用锁止件160向外侧方向旋转，则升降用锁止件140也向外侧方向旋转，由此通过存储器弹出装置使弹出器兼插座130上升，从而实现存储器30从封装在常用插座基板10的存储器插座20弹出。如前所述，通过弹出装置使弹出器兼插座130上升，而实现封装在常用插座基板10的存储器插座20的存储器30弹出后，将以从存储器插座20弹出的状态插入并安装在弹出器兼插座130的存储器30，从弹出器兼插座130分离，由此实现存储器30的分离。另外，如前所述，本发明的用于存储器测试的插座装置100，将锁止件140，160的结构配置成双重旋转结构，以便能够容纳并加压所有左右长度相同而上下长度不同的各种存储器30，下面以左右长度相同而上下长度不同的存储器30为例子进行说明。首先，参照图8进行说明，通过用于存储器测试的插座装置100将上下长度尺寸最大的存储器30封装到常用插座基板10的存储器插座20时，在弹出器兼插座130的安装插槽132上插入并安装要测试的存储器30的状态下，将两侧的一对升降用锁止件160向内侧方向相对旋转，由此实现存储器加压部件170的加压。如前所述，对于上下长度尺寸最大的存储器30，当将一对加压用锁止件160向内侧方向相对旋转时升降用锁止件140向内侧方向完全旋转，而加压用锁止件160没有旋转或者只是稍微旋转，由此通过存储器弹出装置和加压部件170，在存储器插座20上封装存储器30。相反，参照图9进行说明，当通过用于存储器测试的插座装置100，将上下长度尺寸小于最大尺寸的存储器30封装到常用插座基板10的存储器插座20时，在弹出器兼插座130的安装插槽132上插入并安装要测试的上下长度尺寸小的存储器30的状态下，将两侧的一对升降用锁止件160向内侧方向相对旋转，由此实现存储器加压部件170的加压。如前所述，对于上下长度尺寸小的存储器30，当将一对加压用锁止件160向内侧方向相对旋转时，即使在升降用锁止件140向内侧完全旋转的状态下，加压部件170与存储器30的上端面之间还会有一定间距。在这样的状态下，若将加压用锁止件160继续向内侧方向相对旋转，则加压用锁止件160一直旋转至加压部件170接触到存储器30的两侧的上端为止。另外，如前所述，在将加压用锁止件160继续向内侧方向相对旋转的过程中，从存储器加压部件170与存储器30的两侧的上端接触开始实现对存储器30的加压，由此在常用基板10的存储器插座20上封装存储器30。此时，在存储器30完全封装的状态下，若解除施加在加压用锁止件160上的力，则加压用锁止件160恢复至原来的状态。下面更加详细地说明构成本发明的用于存储器测试的插座装置100的各个组成要件。首先，构成本发明的底板110是用于将用于存储器测试的插座装置100设置并固定在常用插座基板10的装置，如图1至7所示，底板110设置并固定在常用插座基板10的上侧，以便容纳封装在常用插座基板10上的存储器插座20。换句话说，如图1至图7所示，如前所述的底板110设置并固定于常用插座基板10的上侧，在所述底板110上形成有多个插座外露孔112，以便在常用插座基板10上封装的一个以上的存储器插座20向上侧插入并外露。此时，封装在常用插座基板10上的存储器插座20通过底板110的插座外露孔112的下部向上侧外露。另外，如前所述，底板110的插座外露孔112与存储器插座20对应地形成有一个或多个，以便封装在常用插座基板10上的存储器插座20通过下部向上侧外露。其次，构成本发明的支撑托架120是用于设置弹出器兼插座130和升降用锁止件140的装置，如图1至图2、图4、图5、图6以及图7所示，一对支撑托架120在插座外露孔112的长度方向的两侧分别相对设置，在相对面上上下方向形成引导槽122。具有上述结构的支撑托架120在与插座外露孔112的长度方向的两个末端邻接的各底板10上面相对设置。此时，在各个支撑托架120的相对面上形成引导槽122，所述引导槽122用于引到后述的弹出器兼插座130上下升降。其次，构成本发明的弹出器兼插座130是用于将存储器30在常用插座基板10的存储器插座20上排列成一致的装置，如图1至图7所示，弹出器兼插座130在支撑托架120的各个引导槽122上可上下移动地设置，在相对面上形成一个以上的安装存储器30的安装插槽132。另外，如图6所示，如前所述的弹出器兼插座130由支撑插座130a、引导插座130b和连结螺丝134构成，其中，所述支撑插座130a在支撑托架120的各个引导槽122上可上下移动地设置，并形成有支撑所安装的存储器30的两侧下端的支撑插槽132a；所述引导插座130b，接合于支撑插座130a的上侧，在所述引导插座130b上形成有与支撑插槽132a相对应的引导存储器30的引导插槽132b；所述连接螺丝134用来连接并接合支撑插座130a与引导插座130b。如前所述，通过连接螺丝134由下部和上部接合构成的弹出器兼插座130的支撑插座130a上形成的支撑插槽132a和引导插座130b上形成的引导插槽132b排列在上下同一线上，从而向安装插槽132插入并安装存储器30时不会卡住。此时，在支撑插座130a上形成的支撑插槽132a的下端是关闭的结构，以便通过安装插槽132所插入的存储器30的两侧的下端被弹出器兼插座130的安装插槽132支撑。并且，具有上述结构的弹出器兼插座130，在构成其上侧的引导插座130b的引导插槽132b上端形成具有一定倾斜角的倒角面136，以便存储器30能够更加容易地插入引导插座130b的引导插槽132b的上端。即，若存储器30的下端接触到倒角面136，则存储器30滑向引导插槽132b的入口侧而插入。其次，构成本发明的升降用锁止件140是通过向内外侧旋转来使弹出器兼插座130下降或上升，由此实现存储器30的封装或者弹出的装置，如图1至图7所示，一对升降用锁止件140通过旋转轴142(参照图8及图9)可向内外旋转地设置在各个支撑托架上120，通过向内外的旋转来使弹出器兼插座130下降或者上升。换句话说，具有上述结构的升降用锁止件140，将通过后述的存储器弹出装置与升降用锁止件140接合的弹出式插座130，通过将升降用锁止件140向内侧旋转，使弹出器兼插座130下降，由此实现存储器30的封装，或者，通过将升降用锁止件140向外侧旋转，使弹出器兼插座130上升，由此实现存储器30的弹出。由此可知，具有上述结构的升降用锁止件140，通过存储器加压部件170对存储器30进行加压的同时，使弹出器兼插座130下降。即，当通过加压用锁止件160的旋转升降用锁止件140向内侧方向旋转时，同时完成通过存储器加压部件170对存储器30进行加压和通过存储器弹出装置的弹出器兼插座130的下降。其次，构成本发明的存储器弹出装置是用于将存储器30弹出的装置，所述存储器弹出装置使弹出器兼插座130上升，由此实现常用插座基板10的存储器插座20上所封装的存储器30的弹出，如图1至图7所示，存储器弹出装置的结构为，当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，使弹出器兼插座130向上移动，由此使常用插座基板10的存储器插座20上所封装的存储器30弹出。如前所述的存储器弹出装置由卡止槽150和卡止构件152构成，其中，所述卡止槽150形成在构成弹出器兼插座130的各个引导插座130b的外侧面，所述卡止构件152在各个升降用锁止件140的相对面的一侧上相对设置，在引导插座130b的卡止槽150上卡住，当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，使弹出器兼插座130上升，由此使存储器30从常用插座基板10的存储器插座20中弹出。另外，如前所述的存储器弹出装置，如上所述，由在各个相对面的一侧上相对形成的卡止构件152插入到构成弹出器兼插座130的引导插座130b的卡止槽150上并卡住的结构组成，因此当升降用锁止件140向内侧方向旋转时，使弹出器兼插座130下降，由此不仅实现在存储器插座20上封装存储器30，而且当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，使弹出器兼插座130上升，由此弹出封装于存储器插座20上的存储器30。如前所述，构成本发明的存储器弹出装置，当升降用锁止件140向内外侧方向旋转时使弹出器兼插座130下降或上升，由此使通过存储器加压部件170进行加压的存储器30更加容易地封装到常用插座基板10的存储器插座20上，而且能够顺利地完成常用插座基板10的存储器插座20上所封装的存储器30的弹出。其次，构成本发明的加压用锁止件160是用于将插入并安装在弹出器兼插座130的存储器30向下加压的装置，如图1至图7所示，一对加压用锁止件160分别在各个升降用锁止件140上通过旋转支撑轴162可向内外旋转地设置，由此将存储器30向常用插座基板10的存储器插座20加压。如前所述的加压用锁止件160与升降用锁止件140形成双重旋转结构，这种双重旋转结构能够加压左右长度相同而上下长度不同的各种存储器30。此时，对于上下长度尺寸最大的存储器30，加压用锁止件160没有向内侧方向旋转或者只是稍微旋转，对于上下长度尺寸小的存储器30，加压用锁止件160在弹出器兼插座130上插入并安装的存储器30的上端与存储器加压部件170之间的间距范围内进行旋转。其次，构成本发明的存储器加压部件170是当加压用锁止件160向内侧方向旋转时，加压弹出器兼插座130上安装的存储器30的上端，由此将存储器30封装到常用插座基板10的存储器插座20上的装置，存储器加压部件170在加压用锁止件160的各个相对面上设置有一个以上，并加压存储器30的两侧的上端。如前所述的存储器加压部件170在构成后述的旋转引导装置的各个引导轴182上可旋转地设置，并由旋转加压存储器30的两侧的上端的加压滚轮的结构组成。当这样的加压滚轮形状的存储器加压部件170加压存储器30上端时，在存储器30的上端面上向水平方向移动的同时进行旋转，由此分散传送给存储器30的压力。因而，如前所述，存储器加压部件170以加压滚轮的形状组成，并且在加压存储器30上端时，在存储器30的上端面上向水平方向移动的同时进行旋转，由此分散传送给存储器30的压力，因此能够防止存储器30的上端面被存储器加压部件170损坏。另外，具有多个构成如前所述的存储器加压部件170的加压滚轮时，在加压用锁止件160的各个相对面上还可以一体形成用于分离相邻的各个加压滚轮的隔壁200。这样的隔壁200防止加压滚轮左右移动，使加压滚轮只对与之相对应的存储器30进行加压。其次，构成本发明的旋转引导装置是当加压用锁止件160内外旋转时引导其旋转的装置，如图1至图7所示，旋转引导装置由引导槽180和引导轴182构成，其中，所述引导槽180在各个升降用锁止件140的两侧以长槽的形状相对形成；所述引导轴182在加压用锁止件160的各个相对面上对置，各引导轴182的两端插入并接合于引导槽180上，以便在引导槽180的范围内实现加压用锁止件160的旋转。如图8所示，具有上述结构的旋转引导装置通过存储器加压部件170加压上下长度尺寸最大的存储器30时，加压用锁止件160没有旋转或者只是稍微旋转，因此引导轴182位于引导槽180的最上端。相反，如图9所示，当加压上下长度尺寸小或者最小的存储器30时，加压用锁止件160一直旋转至存储器加压部件170与存储器30的上端面接触为止，因此引导轴182向引导槽180的下侧移动。引导轴182可以移动到引导槽180的最下端。因而可知，构成如前所述的旋转引导装置的引导槽180的上下范围与存储器30的上下最大长度尺寸与最小长度尺寸相对应地形成。其次，构成本发明的转动连杆190是当将一侧的升降用锁止件140向内外侧旋转时使另一侧的升降用锁止件140也向内外侧的同一方向转动的装置，如图1至图7所示，转动连杆190由支撑梁192和连接杆194构成，其中，所述支撑梁192设置并固定于在一对支撑托架120上对向设置的各个升降用锁止件140的同一方向的侧面上，所述连接杆194将两侧的支撑梁192可旋转地连接，以便将一侧的升降用锁止件140向内外旋转时，使另一侧的升降用锁止件140也同时转动。换句话说，具有上述结构的转动连杆190是以支撑梁192与连接杆194的连接部分通过铰链可旋转地连接的结构组成，当将一侧的升降用锁止件140向内外旋转时，通过转动连杆190将力顺利地传递给另一侧的升降用锁止件140上。另外，在上述的转动连杆190的结构中，连接杆194的一端形成为以一定角度弯曲的形状。由于连接杆194的一端以一定角度弯曲的形状形成，因此通过本发明的插座装置100来对存储器30进行不良测试时，能够将机械造成的干扰降低到最小。并且，具有上述结构的本发明的用于存储器测试的插座装置100还包括扭力弹簧210，所述扭力弹簧210设置在将加压用锁止件160可向内外旋转地接合到升降用锁止件140的旋转支撑轴162上，并向使加压用锁止件160一直保持原位置的方向实现弹力的作用。当解除加压力时，如前所述的扭力弹簧210使加压用锁止件160恢复原位置，因此，在为了弹出常用插座基板10的存储器插座20上所封装的存储器30而向外侧方向旋转升降用锁止件140时，具有能够通过加压用锁止件160使升降用锁止件140向外侧方向顺利旋转的作用。并且，本发明的结构中，在如前所述的技术结构的基础上，在升降用锁止件140的各个相对面上还设置旋转限制杆220，当加压用锁止件160向内侧方向旋转时，所述旋转限制杆220使其旋转限制在一定范围以内。通过旋转限制杆220限制加压用锁止件160的方式是，当加压用锁止件160向内侧方向旋转时，在引导轴182与将其引导的引导槽180的最下端邻接的始点上，通过与加压用锁止件160的接触来限制所述加压用锁止件160旋转。图8是表示通过本发明的用于存储器测试的插座装置来安装上下长度尺寸长的存储器时锁止件的作用的侧视结构图，图9是表示通过本发明的用于存储器测试的插座装置来安装上下长度尺寸小的存储器时锁止件的作用的侧视结构图。通过具有上述结构的本发明的用于存储器测试的插座装置100，安装左右长度相同而上下长度不同的各种存储器30，并将其封装到常用插座基板10的存储器插座20的过程，具体说明如图8和图9所示。此时，在图8中表示上下长度尺寸最大的存储器30，在图9中表示上下长度尺寸小于图8的储存器30的尺寸的存储器30。如图8中的(a)所示，当通过设置在常用插座基板10的存储器插座20上侧的本发明的用于存储器测试的插座装置100来测试上下长度尺寸最大的存储器30时，首先，若将加压用锁止件160向外侧扳动，则通过此扳动力升降用锁止件140同时向外侧旋转。另外，如前所述，通过将加压用锁止件160向外侧方向扳动的力，升降用锁止件140同时向外侧方向旋转的过程中，弹出器兼插座130会上升。即，当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，升降用锁止件140上的构成存储器弹出装置的卡止构件152，以形成在弹出器兼插座130的外侧面的卡止槽150上卡止的状态，使弹出器兼插座130上升。在如前所述的状态下，将存储器30的两侧的下端插入并安装到两侧的弹出器兼插座130上的相对的安装插槽132上。此时，插入到弹出器兼插座130的安装插槽132上的存储器30，由于安装插槽132的下端为关闭的结构，因此存储器30以插入并安装到弹出器兼插座130的安装插槽132的状态被支撑。而且，如前所述，在弹出器兼插座130上插入并安装存储器30的状态下，如图8中的(b)所示，将加压用锁止件160向内侧方向扳动，以便能够实现升降用锁止件140向内侧方向旋转。此时，在通过加压用锁止件160向内侧方向的扳动来实现升降用锁止件140向内侧方向旋转的过程中，升降用锁止件140上的构成存储器弹出装置的卡止构件152使弹出器兼插座130下降，由此在常用插座基板10的存储器插座20上封装存储器30。另外，如前所示，图8的存储器30的上下长度尺寸最大，因此构成存储器弹出装置的卡止构件152使弹出器兼插座130下降，从而使在常用插座基板10的存储器插座20上封装存储器30的始点和通过在加压用锁止件160的相对面上构成的存储器加压部件170对存储器30上端进行加压的接触始点同时实现。如前所述，在通过弹出器兼插座130将上下长度尺寸最大的存储器30插入并安装，以便封装到常用插座基板10的存储器插座20的过程中，从图8中的(a)和(b)可见，加压用锁止件160以旋转支撑轴162为中心全然没有旋转。这可以通过扭力弹簧210没有任何压缩来判断。相反，如图9中的(a)所示，当通过设置在常用插座基板10的存储器插座20的上侧的本发明的用于存储器测试的插座装置100来测试上下长度尺寸小于最大尺寸的存储器32时，将加压用锁止件160向外侧扳动，使升降用锁止件140向外侧旋转，由此在弹出器兼插座130上能够插入存储器32。另外，如前所述，在通过将加压用锁止件160向外侧方向扳动的力使升降用锁止件140同时向外侧方向旋转的过程中，当升降用锁止件140向外侧方向旋转时，升降用锁止件140上的构成存储器弹出装置的卡止构件152，以卡止在弹出器兼插座130的外侧面上形成的卡止槽150上的状态，使弹出器兼插座130上升。在通过将升降用锁止件140向外侧方向旋转来使弹出器兼插座130上升的状态下，将存储器32的两侧的下端插入并安装到弹出器兼插座130上的对置的安装插槽132上。此时，插入到弹出器兼插座130的安装插槽132上的存储器32，由于安装插槽132的下端为关闭的结构，因此存储器32以插入并安装到弹出器兼插座130的安装插槽132的状态被支撑。而且，如前所述，在弹出器兼插座130上插入并安装存储器32的状态下，如图9中的(b)所示，将加压用锁止件160向内侧方向扳动，以便能够实现升降用锁止件140向内侧方向旋转。此时，在通过加压用锁止件160向内侧方向的扳动来实现升降用锁止件140向内侧方向旋转的过程中，升降用锁止件140上的构成存储器弹出装置的卡止构件152，使弹出器兼插座130下降，由此在常用插座基板10的存储器插座20上封装存储器30。如前述的图9中的(b)所示，在升降用锁止件140向内侧方向完全旋转的状态下，与弹出器兼插座130同时下降，在封装到常用插座基板10的存储器插座20上的上下长度尺寸小的存储器32上端与加压用锁止件160的相对面上所构成的加压部件170的下端之间产生一定距离的间隔。这是由于将其设计成，当升降用锁止件140向内侧方向最大旋转时，使加压部件170接触到上下长度尺寸最大的图8的存储器30的上端。另外，如前述的图9中的(b)所示，当将升降用锁止件140向内侧方向完全旋转时，即使在常用插座基板10的存储器插座20上封装上下长度尺寸小的存储器32，由于无法实现通过加压部件170加压，因此在测试方面会产生问题。为了完善如前所述的问题，本发明提供了在对置的升降用锁止件140上相对设置加压用锁止件160的结构，这种结构能够容纳并测试所有的左右长度相同而上下长度不同的各种尺寸的存储器30、32。此时，加压用锁止件160以通过旋转支撑轴162向内外侧旋转一定范围的方式构成，并且通过设置在旋转支撑轴162上且一端和另一端被升降用锁止件140和加压用锁止件160支撑的扭力弹簧210，受到向外侧方向的弹力的结构组成。因此，如前所述，通过设置在旋转支撑轴162上且产生向外的弹力的扭力弹簧210的作用，加压用锁止件160一直处于向外侧倾斜的状态。在这样的状态下，当用户向加压用锁止件160施加向内侧方向的加压力时，在升降用锁止件140的内侧方向的最大旋转始点之前，加压用锁止件160不会向内侧方向旋转，从升降用锁止件140的内侧方向的最大旋转始点开始，加压用锁止件160开始向内侧方向旋转。换句话说，如前述的图9中的(b)所示，在升降用锁止件140向内侧方向完全旋转的状态下，在封装到常用插座基板10的存储器插座20上的上下长度尺寸小的存储器32上端与加压用锁止件160的对向面上所构成的加压部件170的下端之间产生一定距离的间隔的状态下，如图9中的(c)所示，若对加压用锁止件160施加向内侧方向的力，则在间隔距离的范围内实现加压用锁止件160的向内侧方向的旋转，由此实现通过加压部件170的向存储器32加压。如前所述，在通过升降用锁止件140的内侧方向旋转，在常用插座基板10的存储器插座20上封装存储器32的状态下，通过加压用锁止件160的内侧方向旋转来实现存储器32的加压之后，通过导通电源来测试存储器32是否不良。此时，若解除对加压用锁止件160施加的力，则通过扭力弹簧210的弹力使加压用锁止件160恢复为原来的状态。另外，如图9中的(c)，对上下长度尺寸小的或者最小的存储器32进行加压时，加压用锁止件160会一直旋转至加压部件170接触到存储器32的两侧的上端为止，因此引导轴182向引导槽180的下侧移动。此时，引导轴182可以移动到最大引导槽180的最下端。如上所述，本发明的技术，将锁止件14、160的结构配置成双重旋转结构，以便能够容纳并加压所有左右长度相同而上下长度不同的各种存储器30，从而能够更加顺利地进行存储器30的不良测试。本发明并不限定于前述的实施例，在本发明的技术思想允许的范围内可以进行多种变更并实施。