技术特征：
技术总结
磁盘用基板具有一对主表面，上述主表面的算术平均粗糙度Ra为0.11nm以下。另外，在主表面的表面凹凸中，从该表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2个以上凸部各自所占的区域的面积的平均为25[nm2/个]以下。上述算术平均粗糙度Ra和上述表面凹凸使用具有探针的原子力显微镜进行测定，该探针在探针前端设置有碳纳米纤维的棒状部件。
技术研发人员：板谷旬展;越阪部基延
受保护的技术使用者：HOYA株式会社
技术研发日：2016.03.31
技术公布日：2017.12.01