技术特征：
技术总结
本发明提供了一种用于闪存的内建自测试电路、系统及方法，其中：所述自读取测试模块用于测试所述闪存的读取操作，并将读取测试结果发给所述命令转换模块；所述自擦除测试模块用于测试所述闪存的擦除操作，并将擦除测试结果发给所述命令转换模块；所述自编程测试模块用于测试所述闪存的编程操作，并将编程测试结果发给所述命令转换模块；所述命令转换模块用于将所述测试机台输入的测试命令发给所述自读取测试模块、所述自擦除测试模块和所述自编程测试模块，以及将所述读取测试结果、所述擦除测试结果和所述编程测试结果发给所述测试机台。
技术研发人员：刘峰;张迪宇
受保护的技术使用者：武汉新芯集成电路制造有限公司
技术研发日：2017.05.09
技术公布日：2017.08.18