1.一种存储设备，具备：
存储单元；
第1感测放大器电路，电连接于所述存储单元；
第2感测放大器电路，经由选择电路而电连接于所述第1感测放大器电路；及
电压供给电路，经由所述选择电路而电连接于所述第2感测放大器电路，且包含第1端子；
在所述存储单元的数据读出动作时，基于参照数据写入前的所述存储单元的输出信号的第1信号、及基于所述参照数据写入后的所述存储单元的输出信号的第2信号经由所述选择电路从所述第1感测放大器电路供给至所述第2感测放大器电路，所述第2感测放大器电路基于所述第1及第2信号，读出所述数据，且
在对于所述存储单元的测试动作时，基于所述存储单元的输出信号的第3信号经由所述选择电路从所述第1感测放大器电路供给至所述第2感测放大器电路，基于施加至所述第1端子的第1电压的第4信号经由所述选择电路从所述电压供给电路供给至所述第2感测放大器电路，所述第2感测放大器电路基于所述第3及第4信号，输出所述存储单元的测试结果。
2.根据权利要求1所述的存储设备，还具备转换电路，
所述转换电路电连接于所述选择电路与所述第2感测放大器电路之间，且包含第1晶体管与第2晶体管，所述第1晶体管具有电连接于所述第2感测放大器电路的第1输入端子的第2端子，所述第2晶体管具有电连接于所述第2感测放大器电路的第2输入端子的第3端子，
在所述读出动作时，所述选择电路将所述第1信号供给至所述第1晶体管的栅极，并将所述第2信号供给至所述第2晶体管的栅极，且
在所述测试动作时，所述选择电路将所述第3信号供给至所述第1晶体管的栅极，并将所述第4信号供给至所述第2晶体管的栅极。
3.根据权利要求2所述的存储设备，其中
所述电压供给电路还包含电连接于所述第1端子与所述选择电路之间的第1电压输出电路，且
所述第1电压输出电路使用所述第1电压，产生所述第4信号。
4.根据权利要求2或3所述的存储设备，其中
所述转换电路还包含第3晶体管及第4晶体管，所述第3晶体管具有电连接于所述第1输入端子的第4端子，所述第4晶体管具有电连接于所述第2输入端子的第5端子，
在所述读出动作时，所述选择电路对所述第3晶体管的栅极供给第5信号，且
在所述测试动作时，所述选择电路对所述第4晶体管的栅极供给来自所述电压供给电路的第6信号。
5.根据权利要求4所述的存储设备，其中
所述电压供给电路还包含第6端子、及电连接于所述第6端子与所述选择电路之间的第2电压输出电路，且
在所述测试动作时，所述第2电压输出电路使用施加至所述第6端子的第2电压，产生所述第6信号，所述选择电路将所述第6信号供给至所述第3晶体管的栅极及所述第4晶体管的栅极中的至少一者。