用于校验的子组选择的制作方法

文档序号:21459517发布日期:2020-07-10 17:56阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种设备,包括:

多个存储器单元;

状态变化电路,所述状态变化电路被配置为改变被配置为被编程的所述存储器单元中的每个存储器单元的数据状态;

确定电路,所述确定电路被配置为确定至少两个存储器单元子组的状态变化的相对速率;和

识别电路,所述识别电路被配置为基于所述状态变化的相对速率来识别满足状态变化特性的存储器单元子组。

2.根据权利要求1所述的设备,其中满足所述状态变化特性的所识别的存储器单元子组包括以下项中的至少一者:

最快存储器单元子组;和

最慢存储器单元子组。

3.根据权利要求2所述的设备,其中:

所述存储器单元中的每个存储器单元的所述数据状态至少包括:

较低数据状态;和

高于所述较低数据状态的较高数据状态;并且

所述识别电路还被配置为识别以下项中的至少一者:

当所述状态变化电路将所述存储器单元中的至少一些存储器单元的所述数据状态从所述较低数据状态改变为所述较高数据状态时最快的存储器单元子组;和

当所述状态变化电路将所述存储器单元中的至少一些存储器单元的所述数据状态从所述较低数据状态改变为所述较高数据状态时最慢的存储器单元子组。

4.根据权利要求1所述的设备,还包括计数电路,所述计数电路被配置为对满足编程阈值的存储器单元的总数进行计数并确定所述存储器单元的总数是否满足数字阈值,并且

其中所述识别电路还被配置为响应于满足所述编程阈值的所述存储器单元的总数大于所述数字阈值来识别满足所述状态变化特性的所述存储器单元子组。

5.根据权利要求4所述的设备,其中所述数字阈值包括以下项中的至少一者:

预先确定的数量;和

所述存储器单元的百分比。

6.根据权利要求1所述的设备,其中所述识别电路被配置为在每个编程程序期间识别所述存储器单元子组。

7.根据权利要求1所述的设备,其中所述识别电路被配置为根据预先确定的计划表识别所述存储器单元子组。

8.根据权利要求1所述的设备,其中所识别的存储器单元子组包括层组。

9.一种非易失性存储器存储系统,包括:

存储器单元阵列,所述存储器单元阵列被组织成多个子组;

编程电路,所述编程电路被配置为将一个或多个编程脉冲施加到所述存储器单元阵列,以将所述存储器单元编程到目标数据状态;

计数电路,所述计数电路被配置为对满足阈值的第一子组的单元的第一数量进行计数,并且对满足所述阈值的第二子组的单元的第二数量进行计数;和

识别电路,所述识别电路被配置为响应于所述第一数量的单元多于所述第二数量的单元而将所述第一子组识别为最快存储器单元子组并将所述第二子组识别为最慢存储器单元子组。

10.根据权利要求9所述的非易失性存储器存储系统,其中所述识别电路还被配置为识别至少一个中间编程速度存储器单元子组。

11.根据权利要求9所述的非易失性存储器存储系统,其中

所述存储器单元的所述目标数据状态包括以下项中的至少一者:

较低数据状态;和

高于所述较低数据状态的较高数据状态;并且

所述识别电路还被配置为识别以下项中的至少一者:

当所述编程电路将所述存储器单元从所述较低数据状态编程到所述较高数据状态时,所述最快存储器单元子组;和

当所述编程电路将所述存储器单元从所述较低数据状态编程到所述较高数据状态时,所述最慢的存储器单元子组。

12.根据权利要求9所述的非易失性存储器存储系统,其中所述识别电路被配置为在每个编程程序期间识别所述最快存储器单元子组和所述最慢存储器单元子组。

13.根据权利要求9所述的非易失性存储器存储系统,其中所述识别电路被配置为根据预先确定的计划表来识别所述最快存储器单元子组和所述最慢存储器单元子组。

14.根据权利要求9所述的非易失性存储器存储系统,其中所述最快存储器单元子组和所述最慢存储器单元子组包括层。

15.一种存储器设备,所述存储器设备被配置为:

在编程操作中将一个或多个编程脉冲施加到存储器单元子组;

对满足编程阈值的所述存储器单元的总数进行计数;

确定所述总数是否大于数字阈值;

响应于确定所述总数大于所述数字阈值,确定每个子组内满足所述编程阈值的存储器单元的数量;

基于每个子组内的所确定的存储器单元数量来识别最快编程子组和最慢编程子组中的至少一者;以及

将所识别的子组用于所述编程操作的后续校验步骤。

16.根据权利要求15所述的存储器设备,其中:

在所述编程操作中,将所述一个或多个编程脉冲施加到存储器单元子组改变所述存储器单元中的至少一些存储器单元的数据状态,所述数据状态至少包括:

较低数据状态;和

高于所述较低数据状态的较高数据状态;以及

识别所述最快编程子组和所述最慢编程子组中的所述至少一者还包括以下项中的至少一者:

当所述编程操作将所述存储器单元中的至少一些存储器单元的所述数据状态从所述较低数据状态改变为所述较高数据状态时,识别所述最快编程子组;以及

当所述编程操作将所述存储器单元中的至少一些存储器单元的所述数据状态从所述较低数据状态改变为所述较高数据状态时,识别所述最慢编程子组。

17.根据权利要求15所述的存储器设备,还包括基于每个子组内的所确定的存储器单元数量来识别中间编程速度子组。

18.根据权利要求15所述的存储器设备,其中在每个编程操作期间执行对所述最快编程子组和所述最慢编程子组中的所述至少一者的识别。

19.根据权利要求15所述的存储器设备,其中根据预先确定的计划表来执行对所述最快编程子组和所述最慢编程子组中的所述至少一者的识别。

20.根据权利要求15所述的存储器设备,其中所述编程阈值包括编程校验水平。


技术总结
本发明公开了一种用于识别和选择在编程或擦除操作期间使用的存储器单元子组以便在更短的时间内执行该编程或擦除操作同时避免过编程错误和欠编程错误的设备、系统和方法。本文所公开的存储器装置可包括状态变化/编程电路、计数电路、确定电路、识别电路和/或子组选择电路,其中这些电路中的每个电路被配置为执行与识别和选择在编程操作期间使用的存储器单元的子组的总体过程相关的操作。

技术研发人员:连佑中;X·杨;Z·周;D·杜塔;H-Y·曾
受保护的技术使用者:闪迪技术有限公司
技术研发日:2019.03.22
技术公布日:2020.07.10
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