一种用于Flash存储器的测试装置的制作方法

一种用于flash存储器的测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及flash存储器技术领域，更具体地涉及一种用于flash存储器的测试装置。


背景技术：

2.flash存储器在电子系统中广泛应用于存储电子数据。作为各电子系统内部存储单元的核心器件，flash存储器的质量直接影响着电子系统数据存储的质量，影响整个系统的运行。因此，flash存储器的测试对于保障电子系统的运行功能和数据存储具有重大意义。
3.在flash存储器生产之后，需要对其性能进行检测。由于flash存储器的固有特性，其各项操作都需要一定的操作时间，且操作的最小时间在一定范围内是不固定的，因此通常对flash存储器进行测试时，所需要的时间较长。然而，现有的测试装置多为手动操作、自动化程度弱；现有自动化测试装置，存在设备复杂、操作繁杂等问题，且现有自动化测试装置，flash存储器直接放于测试板表面，在测试过程中容易发生移位，从而影响测试结果的准确度。
4.基于此，有必要研究出一种用于flash存储器的测试装置，以至少部分地解决上述问题。


技术实现要素：

5.在实用新型内容部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本实用新型的实用新型内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
6.为至少部分地解决上述问题，本实用新型提供一种用于flash存储器的测试装置，其包括测试箱体和用于放置flash存储器的存储器测试座；所述测试箱体上设有电源线缆接口、通信线缆接口和测试电路板，其中，所述存储器测试座与测试电路板固定电性连接，所述测试电路板与通信线缆接口电性连接。
7.可选的，所述存储器测试座采用ic锁紧座。
8.可选的，所述测试箱体外壁安装有屏蔽板，其中，所述屏蔽板与测试电路板设于同一面，且所述屏蔽板设于测试电路板外侧。
9.可选的，所述测试电路板包括主控芯片、测试座接口电路、通信单元、程序下载单元和电源供电单元，其中，所述flash存储器通过测试座接口电路与主控芯片连接，所述通信单元、程序下载单元和电源供电单元均与主控芯片连接。
10.可选的，所述主控芯片采用fpga芯片，通过编写fpga测试软件，完成对flash存储器的测试。
11.可选的，所述程序下载单元是fpga芯片通信协议接口，用于fpga程序的下载和烧
录。
12.可选的，所述通信单元用于主控芯片和电脑的通信，将flash存储器的测试数据上传至电脑上进行存储分析。
13.可选的，所述测试电路板还包括按键控制单元、状态显示单元和电流监控单元，所述按键控制单元、状态显示单元和电流监控单元均与主控芯片连接。
14.可选的，所述电流监控单元，可通过检测电源电流输入电压时的输入电流，检测各路被测flash存储器的电流值。
15.本实用新型一种用于flash存储器的测试装置，结构简单，操作方便，自动化程度高，提高了工作效率，且测试结果更准确。其通过存储器测试座，可实现在测试过程中，将flash存储器定位，避免其在测试过程中发生移位；且测试电路板可以对多种spi flash(串行通信接口的存储芯片)存储器进行检测，在检测完成后，可自动将测试数据通过通信线缆接口传输到测试电脑。
附图说明
16.本实用新型实施方式的下列附图在此作为本实用新型的一部分用于理解本实用新型。附图中示出了本实用新型的实施方式及其描述，用来解释本实用新型的原理。在附图中，
17.图1为本实用新型的测试装置示意图。
18.图2为本实用新型的测试电路板原理示意图。
19.图3为本实用新型的电源供电单元电路图。
20.图4为本实用新型中与电源供电单元连接的主控芯片局部示意图。
21.图5为本实用新型的测试座接口电路图。
22.图6为本实用新型中与测试座接口电路连接的主控芯片局部示意图。
23.图7为本实用新型的程序下载单元电路图。
24.图8为本实用新型中与程序下载单元连接的主控芯片局部示意图。
25.图9为本实用新型的通信单元电路图。
26.图10为本实用新型中与通信单元连接的主控芯片局部示意图。
27.图11为本实用新型的电流监控单元电路图。
28.图12为本实用新型中与电流监控单元连接的主控芯片局部示意图。
29.图13为本实用新型的按键控制单元电路图。
30.图14为本实用新型中与按键控制单元连接的主控芯片局部示意图。
31.图15为本实用新型的状态显示单元电路图。
32.图16为本实用新型中与状态显示单元连接的主控芯片局部示意图。
33.其中，1-存储器测试座，2-测试电路板，3-通信线缆接口，4-电源线缆接口，5-测试箱体，6-屏蔽板。
具体实施方式
34.在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本实用新型更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员来说显而易见的是，本实用新型实施方式可以无需一个或多
个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本实用新型实施方式发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
35.为了彻底了解本实用新型实施方式，将在下列的描述中提出详细的结构。显然，本实用新型实施方式的施行并不限定于本领域的技术人员所熟习的特殊细节。
36.如图1所示，本实用新型提供一种用于flash存储器的测试装置，其包括测试箱体5和用于放置flash存储器的存储器测试座1；所述测试箱体5上设有电源线缆接口4、通信线缆接口3和测试电路板2，其中，所述存储器测试座1与测试电路板2固定电性连接，所述测试电路板2与通信线缆接口3电性连接。
37.一具体实施方式中，所述存储器测试座1采用ic锁紧座40-pin，其可测试的flash存储器封装型号包括双列直插封装(dip)和表面贴装型封装(sop)。具体的，当测试双列直插封装的flash存储器，flash存储器的插针可直接插接安装到ic锁紧座顶部的脚座中，直接进行测试；当测试表面贴装型封装的 flash存储器，需要首先经过sop转dip，先转换成dip插针的形式后，再安装到ic锁紧座上。
38.具体在操作时，通过ic锁紧座的调节手柄，使ic锁紧座处于松开状态， flash存储器的插针可直接插接安装到ic锁紧座顶部的脚座中；而后通过调节手柄，使ic锁紧座处于锁紧状态，flash存储器和测试电路板2通过ic锁紧座呈电性连接，即可对flash存储器进行测试；从而在测试过程中，实现将 flash存储器定位，避免其在测试过程中发生移位。当测试结束后，通过调节手柄，使ic锁紧座处于松开状态，即可轻松取出flash存储器。
39.优选的，所述测试箱体5外壁安装有屏蔽板6，其中，所述屏蔽板6与测试电路板2设于同一面，且所述屏蔽板6设于测试电路板2外侧。通过测试箱体5屏蔽板6，实现对flash存储器的测试电路板2进行屏蔽，继而可实现对测试电路板2进行保护，延长其使用寿命。
40.如图2所示，所述测试电路板包括主控芯片、测试座接口电路、通信单元、程序下载单元和电源供电单元，其中，所述flash存储器通过测试座接口电路与主控芯片连接，所述通信单元、程序下载单元和电源供电单元均与主控芯片连接。所述测试电路板还包括按键控制单元、状态显示单元和电流监控单元，所述按键控制单元、状态显示单元和电流监控单元均与主控芯片连接。
41.其中，本用于flash存储器的测试装置，通过直流电流源完成对整个测试电路板及flash存储器的供电。测试电路板主要完成对flash存储器的读写擦等操作的控制，并将flash存储器的数据传输到电脑上。
42.如图3和4所示，具体的一实施方式中，电源供电单元输出端口的 vcc3v3、vcc1v8信号连接到xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片的供电端口，为xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片提供工作电压。
43.具体的，所述主控芯片采用fpga芯片，具体采用xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，通过编写 fpga测试软件，完成对flash存储器的测试。
44.其中，flash存储器的测试座接口电路为flash存储器的物理连接接口，用于连接flash存储器和xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片和电源；完成控制信号和电源的电学连接。
45.如图5和6所示，具体的一实施方式中，测试座接口电路通过 pad_flash_csn、pad_flash_f1_so、pad_flash_f1_wpn、 pad_flash_f1_holdn、pad_flash_sclk、pad_flash_f1_si端口连接到xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，并通过上述接口完成对flash存储器相关操作。
46.具体的，所述程序下载单元是fpga芯片通信协议接口，用于fpga程序的下载和烧录。可根据不同的flash存储器，将对应的测试程序通过程序下载单元下载到测试电路板的xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片上。
47.如图7和8所示，具体的一实施方式中，程序下载单元通过tms、tck、 tdo、tdi端口连接和xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，通过主控芯片采样指令，完成电流的采样。
48.优选的，所述通信单元用于主控芯片和电脑的通信，将flash存储器的测试数据上传至电脑上进行存储分析。
49.如图9和10所示，具体的一实施方式中，通信单元端口的 pad_jtag_tck、pad_jtag_tdo、pad_jtag_tms、pad_jtag_tdi信号连接到xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，并通过上述接口完成相关数据传输，实现相关操作。
50.优选的，所述电流监控单元，可通过检测电源电流输入电压时的输入电流，检测各路被测flash存储器的电流值。其可实时监控对flash存储器进行读取数据、写入数据、擦除数据操作时对应的电流值，并实时将电流值通过通信单元发送电脑端显示具体电流值。
51.如图11和12所示，具体的一实施方式中，电流监控单元通过vcc3v3、 vcc31v8、vcc31v0电压电流采样连接到xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，通过tms、tck、tdo、 tdi完成程序下载到fpga主控芯片。
52.通过按键控制单元，可以对flash存储器进行读取数据、写入数据和擦除数据处理，以及将flash存储器内的数据通过通信单元发送到电脑上。
53.如图13和14所示，具体的一实施方式中，按键控制单元通过key1、 key2、key3、key4端口连接4个按键和xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，通过主控芯片发送对应的按键指令。
54.所述状态显示单元连接led灯。在按键控制单元发出控制flash存储器动作的过程中，状态显示单元会根据对应的操作状态，led灯会显示对应的操作状态是否已经完成。
55.如图15和16所示，具体的一实施方式中，本测试电路板设计4颗led 灯用于指示测试状态；通过led1、led2、led3、led4端口连接4个led 灯和xilinx fpga(赛灵思芯片公司生产的一种现场可编程逻辑阵列芯片产品)主控芯片，通过主控芯片发送对应的指令完成对led的控制。
56.该用于flash存储器的测试装置，在使用时，将flash存储器放置在ic 锁紧座内，此时，ic锁紧座起到固定flash存储器的作用，使flash存储器不能移动；flash存储器放置在ic锁紧座中后，通过ic锁紧座和测试电路板连接；启动测试箱体上的电源线缆接口，进行通电。此时，测试电路板对flash 存储器发出测试信息，检测完成后，测试电路板将flash存储器的测试信息经通信线缆接口传输至电脑上进行保存分析。
57.本实用新型公开的一种用于flash存储器的测试装置，可以对多种spiflash(串
行通信接口的存储芯片)存储器进行检测，在检测完成后，可自动将测试数据通过通信线缆接口传输到测试电脑。且通过存储器测试座，可实现在测试过程中，将flash存储器定位，避免其在测试过程中发生移位。本实用新型结构简单，操作方便，自动化程度高，提高了工作效率，且测试结果更准确。
58.除非另有定义，本文中所使用的技术和科学术语与本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中使用的术语只是为了描述具体的实施目的，不是旨在限制本实用新型。本文中出现的诸如“设置”等术语既可以表示一个部件直接附接至另一个部件，也可以表示一个部件通过中间件附接至另一个部件。本文中在一个实施方式中描述的特征可以单独地或与其它特征结合地应用于另一个实施方式，除非该特征在该另一个实施方式中不适用或是另有说明。
59.本实用新型已经通过上述实施方式进行了说明，但应当理解的是，上述实施方式只是用于举例和说明的目的，而非意在将本实用新型限制于所描述的实施方式范围内。本领域技术人员可以理解的是，根据本实用新型的教导还可以做出更多种的变型和修改，这些变型和修改均落在本实用新型所要求保护的范围以内。