一种自动化测试系统、方法、计算机设备及存储介质与流程

1.本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种自动化测试系统、方法、计算机设备及存储介质。


背景技术：

2.在大数据时代，对存储ssd(solid state drive，固态硬盘)可靠性提出了更高的要求，ssd开发阶段需要模拟各种供电场景测试验证，分析供电模块设计选型是否合理。现有的可靠性测试为半自动化自动化测试系统，测试结果需要抓取各种波形，收集测试日志，整理分析测试报告，导致测试效率低，并且测试项不能全部覆盖客户现场使用场景，使得ssd可靠性难以保证。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明提出了一种自动化测试系统、方法、计算机设备及存储介质，实现了硬盘设备反复上电、供电闪断等疲劳性测试、供电拉偏测试、功耗分析测试等。通过模拟异常供电场景并结合智能分析算法分析硬盘的工作状态，提高了硬盘和raid卡项目的开发效率，保证了产品稳定性、可靠性。
4.基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了一种自动化测试系统，系统具体包括：测试模块和控制器，所述控制器包括采样模块和供电模块，其中，所述测试模块配置为向所述控制器发送控制指令；
5.所述控制器配置为基于所述控制指令调用所述供电模块以及所述采样模块对被测设备进行供电与采样，其中，所述供电模块配置为基于所述控制指令对所述被测设备进行供电，所述采样模块配置为在所述被测设备被供电后，对所述被测设备的数据进行采样；
6.所述控制器还配置为对所述采样数据进行初步分析，并将初步分析结果传输至所述测试模块；
7.所述测试模块配置为对所述初步分析结果进行全面分析。
8.在一些实施方式中，所述测试模块包括人机交互子模块、测试控制子模块、测试数据分析子模块、异常诊断修复子模块、异常日志记录子模块，其中，
9.所述人机交互子模块包括人机交互界面和测试项，所述人机交互子模块配置为基于人机交互界面接收对测试项的选择，并将选择的测试项发送给所述测试控制子模块；
10.所述测试控制子模块配置为基于接收到的测试项向所述控制器发送相应的控制指令；
11.所述测试数据分析子模块配置为对所述控制器传输来的所述采样数据的所述初步分析结果进行全面分析以判断所述被测设备的供电是否满足项目需求；
12.异常日志记录子模块配置为响应于对所述被测设备的供电不满足项目需求，记录异常测试结果、测试时间、以及异常原因；
13.异常诊断修复子模块配置为基于异常测试结果以及异常原因确定修复策略，并将
所述修复策略发送给所述测试控制子模块。
14.在一些实施方式中，所述测试模块还包括第一通讯子模块，所述第一通讯子模块配置为实现所述人机交互子模块与所述测试控制子模块、所述测试控制子模块与所述控制器、所述测试数据分析子模块与所述控制器之间的数据交互。
15.在一些实施方式中，所述测试数据分析子模块配置为对所述控制器传输来的所述采样数据的所述初步分析结果进行全面分析以判断所述被测设备的供电范围是否满足项目需求、所述被测设备异常下电后的供电余量是否满足项目需求、所述被测设备异常供电切换后的下电时序是否满足项目需求。
16.在一些实施方式中，所述控制器还包括测试参数处理子模块、采样数据分析子模块、测试项判定模块，测试结果判定子模块，其中，
17.所述测试参数处理子模块配置为对所述控制指令进行解析，基于解析结果调用相应的控制算法；
18.所述采样模块配置为对所述被测设备的供电电压进行采样；
19.所述采样数据分析子模块配置为基于采样的供电电压判断所述被测设备的供电状态或供电异常切换后的供电状态是否正常；
20.所述测试项判定模块配置为响应于所述被测设备的供电状态或供电异常切换后的供电状态正常而对所述控制指令进行解析，以确定相应的测试项，并基于确定的所述测试项对所述被测设备进行测试；
21.所述测试结果判定子模块配置为对测试结果进行初步分析，得到初步分析结果。
22.在一些实施方式中，所述控制器还包括第二通讯子模块，所述第二通讯子模块配置为接收所述测试模块的控制指令，并将所述初步分析结果传回所述测试模块。
23.在一些实施方式中，所述被测设备包括固态硬盘；
24.所述控制器包括微控制器；
25.所述采样数据包括输入电压、输入电流、输出电压以及输出电流中的任意一个或多个。
26.本发明实施例的另一方面，还提供了一种自动化测试方法，应用于自动化测试系统，所述自动化测试系统包括：测试模块和控制器，所述控制器包括采样模块和供电模块，方法包括：
27.所述测试模块向所述控制器发送控制指令；
28.所述控制器基于所述控制指令调用所述供电模块以及所述采样模块对被测设备进行供电与采样，其中，所述供电模块基于所述控制指令对所述被测设备进行供电，所述采样模块在所述被测设备被供电后，对所述被测设备的数据进行采样；
29.所述控制器对所述采样数据进行初步分析，并将初步分析结果传输至所述测试模块；
30.所述测试模块对所述初步分析结果进行全面分析。
31.本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
32.本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储
介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
33.本发明至少具有以下有益技术效果：通过模拟被测设备的供电场景对产品进行测试与分析，实现了被测设备的自动化测试，提高了被测设备开发测试效率，提高了被测设备的稳定性和可靠性。
附图说明
34.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
35.图1为本发明提供的自动化测试系统的一实施例的结构示意图；
36.图2为本发明提供的供电模块的一实施例的结构示意图；
37.图3为本发明提供的基于测试模块对nvme ssd进行测试的方法一实施例的流程图；
38.图4为本发明提供的基于mcu对nvme ssd进行测试的方法的一实施例的流程图；
39.图5为本发明提供的自动化测试方法的一实施例的框图；
40.图6为本发明提供的计算机设备的一实施例的结构示意图；
41.图7为本发明提供的计算机可读存储介质的一实施例的结构示意图。
具体实施方式
42.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
43.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
44.基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提出了一种自动化测试系统的实施例。如图1所示，系统具体包括：
45.测试模块10和控制器20，所述控制器20包括供电模块21和采样模块22。系统对被测设备进行测试的过程如下：
46.测试模块向控制器发送控制指令；
47.控制器基于收到的控制指令调用供电模块以及采样模块对被测设备进行测试，其中，供电模块包括多个供电电路，供电模块基于控制指令控制对应的供电电路对被测设备进行供电，采样模块基于控制指令对所述被测设备进行采样；
48.控制器对采样数据进行初步分析，并将初步分析结果传输至测试模块；
49.测试模块对初步分析结果进行全面分析。
50.在一具体实施例中，测试模块提供选择测试项给用户选择，基于被选择的测试项向控制器发送控制指令，并接收分析控制器的采样数据。测试异常时记录异常日志，并向控制器发送诊断修复指令。控制器包含供电模块、采样模块、通讯模块及智能控制分析算法，供电模块用于根据控制器的指令模拟供电场景，对被测设备进行供电，采样模块在被测设
备供电后，对被测设备的电压、电流等关键参数进行采样，并将采样数据传输到控制器，控制器对采样数据进行初步分析，分析从被测设备采样的数据是否正常范围内，并将初步分析结果传输给测试模块，测试模块接收到初步分析结果后，对控制器上传的数据进行全面分析，判定正常供电范围是否满足项目需求，异常下电设计余量是否足够，异常供电切换是否存在隐患等，并且对供电异常模块的原因进行分析。
51.在又一具体实施例中，控制器为mcu(microcontroller unit，微控制器)，被测设备为nvme(non volatile memory express，非易失性内存主机控制器接口规范)ssd，对nvme ssd进行测试的测试过程如下：
52.测试模块接收用户选择的nvme ssd测试项，根据该测试项向mcu发送控制指令，并接收分析mcu采样数据，并在测试异常时记录异常日志，并向mcu发送诊断修复指令。mcu内部包括：供电模块、采样模块、智能控制分析算法，mcu通过供电模块模拟测试项对应的nvme ssd供电场景，通过智能控制算法对供电模块进行控制，来模拟供电拉偏测试或闪断测试。智能控制算法包括测试参数处理算法、ad采样算法、测试数据分析算法、拉偏pid控制算法、供电闪断智能模拟控制算法等。采样模块对nvme ssd关键参数采样处理，处理后信号传送至mcu ad采样通道。供电模块包括多个模拟电路，分别用于模拟供电拉偏测试或闪断测试等，其中，供电拉偏模拟电路模拟不同程度供电拉偏场景，判定nvme ssd供电范围是否满足项目需求，供电环路是否稳定可靠；供电闪断模拟电路模拟供电输入闪断场景，判定异常掉电下电时序是否满足存储项目需求。供电模块包含但不限于固定拉偏/涌波/陷波模拟电路、供电善断模拟电路等，还可以根据用户需求而进行设计。
53.如图2所示，为供电模块的结构示意图。
54.mos管q10、q8、q5、q6组成四管升降压电路拓扑，根据供电需求模拟供电拉偏测试场景，验证供电稳定性、可靠性。c3四管升降压电路输入滤波电容，c1、c2四管升降压电路输出滤波电容；电阻r12是mos q10下拉电阻，对mos管栅极进行保护；二极管d5、电阻r11/r13、三极管q9组成mos管q10驱动电路。电阻r14是mos q8下拉电阻，对mos管栅极进行保护；二极管d4、电阻r10/r15、三极管q7组成mos管q8驱动电路。电阻r9是mos q5下拉电阻，对mos管栅极进行保护；二极管d3、电阻r8/r7、三极管q4组成mos管q5驱动电路。电阻r5是mos q6下拉电阻，对mos管栅极进行保护；二极管d2、电阻r4/r6、三极管q3组成mos管q6驱动电路。mos管打开时，电阻r11、r13串联，消除mos管栅极源效应震荡。mos管关断时，电阻r13、三极管q9组成驱动电路，快速关断mos管，提高转化效率。tvs管d6消除热插拔对供电场景可靠性模拟电路影响，电容c4对输入电源高频干扰进行滤波。pwm1、pwm2、pwm3、pwm4为mos管q10、q8、q5、q6驱动信号。mcu根据测试需求模拟正常供电、负偏5％/10％/20％/30％/40％供电模拟、正偏5％/10％/20％/30％/40％供电模拟。mcu根据测试需求进行供电电压模拟值、供电输入电压、供电输出电压、供电负载pid控制，调整pwm占空比。pwm信号经过专门驱动芯片送至mos管q10、q8、q5、q6驱动电路。
55.mos管q2关断模拟正常供电、负偏供电、正偏供电时，供电电压闪断对nvme ssd供电影响，mcu根据测试需求调整pwm5周期和占空比，验证供电系统是否满足输入电压闪断标准，正常供电、超级电容供电是否存在隐患。
56.上述方案通过模拟被测设备的供电场景对产品进行测试与分析，实现了被测设备的自动化测试，提高了被测设备开发测试效率，提高了被测设备的稳定性和可靠性。
57.在一些实施方式中，所述测试模块包括人机交互子模块、测试控制子模块、测试数据分析子模块、异常诊断修复子模块、异常日志记录子模块，其中，
58.所述人机交互子模块包括人机交互界面和测试项，所述人机交互子模块配置为基于人机交互界面接收对测试项的选择，并将选择的测试项发送给所述测试控制子模块；
59.所述测试控制子模块配置为基于接收到的测试项向所述控制器发送相应的控制指令；
60.所述测试数据分析子模块配置为对所述控制器传输来的所述采样数据的所述初步分析结果进行全面分析以判断所述被测设备的供电是否满足项目需求；
61.异常日志记录子模块配置为响应于对所述被测设备的供电不满足项目需求，记录异常测试结果、测试时间、以及异常原因；
62.异常诊断修复子模块配置为基于异常测试结果以及异常原因确定修复策略，并将所述修复策略发送给所述测试控制子模块。
63.在一些实施方式中，所述测试模块还包括第一通讯子模块，所述第一通讯子模块配置为实现所述人机交互子模块与所述测试控制子模块、所述测试控制子模块与所述控制器、所述测试数据分析子模块与所述控制器之间的数据交互。
64.在一些实施方式中，所述测试数据分析子模块配置为对所述控制器传输来的所述采样数据的所述初步分析结果进行全面分析以判断所述被测设备的供电范围是否满足项目需求、所述被测设备异常下电后的供电余量是否满足项目需求、所述被测设备异常供电切换后的下电时序是否满足项目需求。
65.在一具体实施例中，控制器采用mcu，被测设备采用nvme ssd，如图3所示，为基于测试模块对nvme ssd进行测试的流程图。
66.测试模块包括人机交互子模块、测试控制子模块、测试数据分析子模块、异常诊断修复子模块、异常日志记录子模块及通讯子模块。人机交互子模块选择测试项，测试项包括拉偏测试、输入供电闪断模拟测试、输入供电跳变测试等，其中，拉偏测试可通过人机交互界面选择测试拉偏幅度，测试异常时是否选择诊断修复功能，输入供电闪断模拟测试可以供电闪断维持时间，供电闪断间隔周期，测试异常时是否选择诊断修复功能等，输入供电跳变测试可选择跳变幅度、跳变维持时间，跳变时间间隔等。人机交互子模块可以显示测试进程，查询测试记录。测试控制子模块根据选择的测试项向mcu发送控制指令。测试数据分析子模块对mcu上传的数据全面分析，判定正常供电范围是否满足项目需求，异常下电设计余量是否足够，异常供电切换是否存在隐患等。异常日志记录子模块会将异常测试结果、测试时间、异常原因进行详细记录等。异常诊断修复子模块可以根据测试结果细化模拟异常场景，准确定位供电异常原因，并将采取的措施发送给测试控制子模块，测试控制子模块根据该测试措施向mcu发出控制指令，以对异常原因进行定位。
67.通过全面模拟客户现场供电场景，比如供电输入闪断、供电输入拉偏、供电输入涌波/陷波模拟等，对nvme ssd供电稳定性、可靠性进行全面验证，以及测试异常时根据采样数据的分析定位，给出分析结论，提高产品开发测试效率，提高产品供电稳定性、可靠性。
68.在一些实施方式中，所述控制器还包括测试参数处理子模块、采样数据分析子模块、测试项判定模块，测试结果判定子模块，其中，
69.所述测试参数处理子模块配置为对所述控制指令进行解析，基于解析结果调用相
应的控制算法；
70.所述采样模块配置为对所述被测设备的供电电压进行采样；
71.所述采样数据分析子模块配置为基于采样的供电电压判断所述被测设备的供电状态或供电异常切换后的供电状态是否正常；
72.所述测试项判定模块配置为响应于所述被测设备的供电状态或供电异常切换后的供电状态正常而对所述控制指令进行解析，以确定相应的测试项，并基于确定的所述测试项对所述被测设备进行测试；
73.所述测试结果判定子模块配置为对测试结果进行初步分析，得到初步分析结果。
74.在一些实施方式中，所述控制器还包括第二通讯子模块，所述第二通讯子模块配置为接收所述测试模块的控制指令，并将所述初步分析结果传回所述测试模块。
75.在一具体实施例中，控制器采用mcu，被测设备采用nvme ssd，如图4所示，为基于mcu对nvme ssd进行测试的流程图。mcu包括：测试参数处理子模块、采样数据分析子模块、测试项判定模块，测试结果判定子模块、采样模块、供电模块及通讯子模块。通讯子模块接收自动化测试系统控制指令，同时向自动化测试系统回传测试结果。测试参数处理子模块对接收的控制指令进行处理，按测试流程调用相应控制算法以进行测试。采样模块对供电支路输入电压、5v供电、3.3v供电、1.8v供电、1.2v供电、0.9v供电、板级电源模块供电状态信号、供电异常时序切换进行采样。采样数据分析子模块对采样结果进行初步分析判定，给出各路供电状态、供电异常切换是否正常等结果。测试项判定子模块判定测试项是固定拉偏测试、涌波/陷波模拟测试、或供电闪断模拟测试等，并基于判定项进行测试。拉偏测试根据拉偏模拟值、ad采样值进行pid控制；电压外环、内环控制，电流采样进行微分控制，调整pwm占控制比；同时还可以优化pid比例、积分、微分控制参数，保证涌波、陷波测量精度。
76.通过对被测设备输入供电拉偏、输入供电涌波/陷波、输入供电闪断的模拟测试，验证了供电链路是否存在隐患，供电模块电源芯片选择是否理，供电异常时序处理策略是否合理，通过测试使被测设备的供电隐患能够被及时地发现与处理，提高了产品的供电稳定性、可靠性，达到了智能化、数字化、网络化控制目的。
77.在一些实施方式中，所述被测设备包括固态硬盘；
78.所述控制器包括微控制器；
79.所述采样数据包括输入电压、输入电流、输出电压以及输出电流中的任意一个或多个。
80.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图5所示，本发明的实施例还提供了一种自动化测试方法，应用于自动化测试系统，所述自动化测试系统包括：测试模块和控制器，所述控制器包括采样模块和供电模块，方法包括：
81.s10、所述测试模块向所述控制器发送控制指令；
82.s20、所述控制器基于所述控制指令调用所述供电模块以及所述采样模块对被测设备进行供电与采样，其中，所述供电模块基于所述控制指令对所述被测设备进行供电，所述采样模块在所述被测设备被供电后，对所述被测设备的数据进行采样；
83.s30、所述控制器对所述采样数据进行初步分析，并将初步分析结果传输至所述测试模块；
84.s40、所述测试模块对所述初步分析结果进行全面分析。
85.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图6所示，本发明的实施例还提供了一种计算机设备30，在该计算机设备30中包括处理器310以及存储器320，存储器320存储有可在处理器上运行的计算机程序321，处理器310执行程序时执行如上的方法的步骤。
86.其中，存储器作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本技术实施例中的所述自动化测试方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行系统的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例的自动化测试方法。
87.存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据系统的使用所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至本地模块。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
88.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图7所示，本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质40，计算机可读存储介质40存储有被处理器执行时执行如上方法的计算机程序410。
89.最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，程序的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(rom)或随机存储记忆体(ram)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
90.本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
91.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
92.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
93.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发
明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。