一种电源时序测试系统、方法、计算机设备及存储介质与流程

1.本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种电源时序测试系统、方法、计算机设备及存储介质。


背景技术：

2.ssd(solid state drive，固态硬盘)出厂前都需要经过严格的测试，ssd整盘组装结束后，会进行功能、性能测试，但是缺少ssd单板电源时序测试。ssd单板贴片过程中会出现虚焊、短路、立碑、器件缺失等情况，这些情况不易发现，在ssd整盘组装完成后再通过功能、性能测试发现问题，会导致物料及人工浪费。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明提出了一种电源时序测试系统、方法、计算机设备及存储介质，通过对ssd单板各电源分支电压及电源时序进行检测，来简单排除ssd单板电源时序问题。
4.基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了电源时序测试系统，具体包括：
5.电压检测板，所述电压检测板上设置有供电模块、处理模块和电源时序检测模块，所述供电模块配置用于给所述处理模块、所述电源时序检测模块和被测设备供电，所述电源时序检测模块配置用于采集所述被测设备的电压值，并将采集到的电压值传输到所述处理模块，所述处理模块配置用于基于采集到的被测设备的电压值对被测设备的上电时间进行记录以测试所述被测设备的电源时序。
6.在一些实施方式中，所述电压检测板上还设置有电压检测探针和供电探针，所述电压检测探针与所述电源时序检测模块连接，所述供电探针与所述供电模块连接。
7.在一些实施方式中，系统还包括：探针固定板和被测设备固定板，所述探针固定板上设置有用于固定所述电压检测探针和所述供电探针的通孔，所述被测设备固定板上设置有用于通过所述电压检测探针和所述供电探针的通孔。
8.在一些实施方式中，所述处理模块配置用于：
9.响应于接收到的电压值触发预设条件，启动定时器，并持续检测后续各个测试点的电压值，并记录检测到各个测试点的电压值的时间；
10.响应于所有测试点的电压值检测完成，对比检测到各个检测点的电压的时间以判断被测设备的电源时序是否满足要求；
11.将测试结果发送到主机端以在所述主机端显示测试结果。
12.在一些实施方式中，所述供电模块包括被测设备供电模块和电压检测板供电模块，所述被测设备供电模块配置用于给所述被测设备供电，所述电压检测板供电模块配置用于给所述处理模块和所述电源时序检测模块供电。
13.在一些实施方式中，所述电源时序检测模块的数量基于测试需求设置，所述电源时序检测模块包括集成运放电压跟随器，所述集成运放电压跟随器配置用于采集所述被测设备的电压值，并将采集到的被测设备的电压值传输到所述处理模块。
14.在一些实施方式中，所述处理模块包括ad转换器，所述ad转换器配置用于对接收到的电压值进行模数转换以将模拟量的电压值转换为数字量的电压值；
15.所述处理模块配置用于启动串口打印以将所述测试结果发送到所述主机端；
16.所述被测设备包括固态硬盘；
17.所述处理模块包括微处理器。
18.本发明实施例的另一方面，还提供了一种电源时序测试方法，应用于电源时序测试系统，所述电源时序测试系统包括：电压检测板，所述电压检测板上设置有供电模块、处理模块和电源时序检测模块，方法包括：
19.所述供电模块给所述处理模块、所述电源时序检测模块和被测设备供电；
20.所述电源时序检测模块采集所述被测设备的电压值，并将采集到的电压值传输到所述处理模块；
21.所述处理模块基于采集到的被测设备的电压值对被测设备的上电时间进行记录以测试所述被测设备的电源时序。
22.本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
23.本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
24.本发明至少具有以下有益技术效果：通过本发明的方案实现了对ssd裸板各电源分支电压及电源时序检测，能够及时发现ssd裸板异常的电压和电源时序，增加了ssd整盘的出厂可靠性，减少了ssd整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
附图说明
25.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
26.图1为本发明提供的电源时序测试系统的一实施例的结构示意图；
27.图2为本发明提供的电源时序测试系统的一实施例的结构示意图；
28.图3为本发明提供的处理模块的一实施例的结构示意图；
29.图4为本发明提供的电源时序检测模块的一实施例的结构示意图；
30.图5为本发明提供的被测设备供电模块的一实施例的结构示意图；
31.图6为本发明提供的电压检测板供电模块的一实施例的结构示意图；
32.图7为本发明提供的电源时序测试方法的一实施例的框图；
33.图8为本发明提供的计算机设备的一实施例的结构示意图；
34.图9为本发明提供的计算机可读存储介质的一实施例的结构示意图。
具体实施方式
35.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照
附图，对本发明实施例进一步详细说明。
36.以下描述了本公开的实施例。然而，应该理解，所公开的实施例仅仅是示例，并且其他实施例可以采取各种替代形式。附图不一定按比例绘制；某些功能可能被夸大或最小化以显示特定部件的细节。因此，本文公开的具体结构和功能细节不应被解释为限制性的，而仅仅是作为用于教导本领域技术人员以各种方式使用本技术的代表性基础。如本领域普通技术人员将理解的，参考任何一个附图所示出和描述的各种特征可以与一个或多个其他附图中所示的特征组合以产生没有明确示出或描述的实施例。所示特征的组合为典型应用提供了代表性实施例。然而，与本公开的教导相一致的特征的各种组合和修改对于某些特定应用或实施方式可能是期望的。
37.在本技术中，关系术语，诸如第一和第二等等，仅用于将一个实体或动作与另一个实体或动作区分开，而不一定要求或暗示此类实体或动作之间的任何实际的这种关系或次序。术语“包含”或其任何其他变型意图覆盖非排他性的包括，使得包括一系列要素的过程、方法、物品或设备并不仅仅包括这些要素，还可以包括未明确列出或这类过程、方法、物品或设备所固有的其他要素。在没有更多的约束的情况下，前面带有“包含”的要素不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或设备中存在另外的相同要素。术语“和/或”当用于列举两个或更多个项目时意指本身可以采用所列项目中的任一个，或可以采用所列项目的两个或更多个的任何组合。
38.基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提出了一种电源时序测试系统的实施例。如图1和图2所示，电源时序测试系统具体包括：
39.电压检测板10，电压检测板10上设置有供电模块11、处理模块12和电源时序检测模块13，供电模块11配置用于给处理模块12、电源时序检测模块13和被测设备供电，电源时序检测模块13配置用于采集被测设备的电压值，并将采集到的电压值传输到处理模块12，处理模块12配置用于基于采集到的被测设备的电压值对被测设备的上电时间进行记录以测试被测设备的电源时序。
40.具体的，电源时序检测板包括：供电模块、电源时序检测模块及处理模块。供电模块主要为被测设备提供12v和3.3v电压，为电源时序检测模块及处理模块提供3.3v电压。由输入ac220v，输出12v(输出电流5a)的电源模块通过供电模块为整个电源时序测试系统供电。被测设备包括但不限于ssd裸板。通过电源时序检测模块采集ssd裸板各电源分支的电压值，并将采集到的电压值传输到处理模块，处理模块基于采集到的ssd裸板各电源分支的电压值对ssd裸板各电源分支的电源时序进行记录，根据电压值以及对应的记录时间来判断ssd裸板的电源时序是否满足设计需求，以此可以在ssd整盘组装前完成ssd裸板各电源分支电压及电源时序检测，及时发现异常的电压和电源时序，增加了ssd整盘的出厂可靠性，减少了ssd整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
41.结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块和电路可以利用被设计成用于执行这里功能的下列部件来实现或执行：通用处理器、数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑、分立的硬件组件或者这些部件的任何组合。通用处理器可以是微处理器，但是可替换地，处理器可以是任何传统处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可以被实现为计算设备的组合，例如，dsp和微处理器的组合、多个微处理器、一个或多个微处理器结合dsp和/或任何其
它这种配置。
42.在一些实施方式中，电压检测板10上还设置有电压检测探针14和供电探针15，电压检测探针14与电源时序检测模块13连接，供电探针15与供电模块11连接。
43.在一些实施方式中，系统还包括：探针固定板20和被测设备固定板30，探针固定板20上设置有用于固定电压检测探针14和供电探针15的通孔21，被测设备固定板30上设置有用于通过电压检测探针14和供电探针15的通孔31。
44.在一具体实施例中，电源时序测试系统具体包括：电压检测板10、探针固定板20和被测设备固定板30，电压检测板10上设置有供电模块11、处理模块12、电源时序检测模块13、电压检测探针14和供电探针15，电压检测探针14与电源时序检测模块13连接，采集供电探针15与供电模块11连接，探针固定板20上设置有用于固定电压检测探针14和供电探针15的通孔21，被测设备固定板30上设置有用于通过电压检测探针14和供电探针15的通孔31，其中，电压检测探针和供电探针，可以通过导线与电压检测板连接。供电模块11通过供电探针15给被测设备供电，并且通过内部电路给处理模块12、电源时序检测模块13供电。电源时序检测模块13通过电压检测探针采集被测设备的电压值，并将采集到的电压值传输到处理模块12，处理模块12根据采集到的被测设备的电压值对被测设备的上电时间进行记录以测试被测设备的电源时序。被测设备包括硬盘。
45.通过上述方案可以在被测硬盘整盘组装前完成被测硬盘裸板各电源分支电压及电源时序检测，及时发现异常的电压和电源时序，增加了被测硬盘整盘的出厂可靠性，减少了被测硬盘整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
46.在一具体实施例中，被测设备包括但不限于ssd裸板，测试方案与上述方案大体相同，此处不再赘述。上述方案通过用于固定ssd裸板的机械结构，以及供电及电压检测硬件电路，可以在ssd整盘组装前完成ssd裸板各电源分支电压及电源时序检测，及时发现异常的电压和电源时序，增加了ssd整盘的出厂可靠性，减少了ssd整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
47.在一些实施方式中，所述处理模块配置用于：
48.响应于接收到的电压值触发预设条件，启动定时器，并持续检测后续各个测试点的电压值，并记录检测到各个测试点的电压值的时间；
49.响应于所有测试点的电压值检测完成，对比检测到各个检测点的电压的时间以判断被测设备的电源时序是否满足要求；
50.将测试结果发送到主机端以在所述主机端显示测试结果。
51.在一具体实施例中，处理模块包括但不限于mpu(microprocessor unit，微处理器)。电源时序检测模块的数量基于测试点的数量设置，电源时序检测模块包括至少一个集成运放电压跟随器，集成运放电压跟随器配置用于采集被测设备的电压值，并将采集到的被测设备的电压值传输到处理模块。
52.在又一具体实施例中，被测设备为ssd裸板，测试点为ssd裸板的各个待检测的电压测试点，例如用ssd_0v6、ssd_0v82、ssd_1v2、ssd_1v8、ssd_2v5、ssd_3v3表示各个电压测试点。
53.如图3所示，为一处理模块的结构示意图。如图4所示，为一电源时序检测模块的结构示意图。
54.结合图3和图4，ssd裸板的电压检测点ssd_0v6、ssd_0v82、ssd_1v2、ssd_1v8、ssd_2v5、ssd_3v3的电压经电压检测探针引入电压检测板，待测ssd裸板电压经集成运放电压跟随器进入mpu的ad检测管脚，由mpu完成ssd裸板电压采集。
55.mpu内置12位ad转换器(模拟数字转换器)，可以将模拟量转化为数字量，通过内部结构体设置ad参数，并使能ad转换器，设置参看电压为3.3v，则最小分辨率为3.3/4096v。通过调用get_adc_average()函数完成相应ad检测管脚的电压值，此电压值为二进制，再乘以最小分辨率得到十进制电压值。如核电压0.82v最先上电，若此电压值达到spec 0.7963v，则启动定时器计时，按照时序顺序，持续检测后续电压，例如，3.3v达到spec 2.97v时，记录时间t1，依次记录t2、t3、t4，如果t4》t3》t2》t1，则满足时序要求，启动串口打印将电压值通过串口发送到pc端，由pc端的串口调试助手显示电压信息。
56.上述方案通过用于固定ssd裸板的机械结构，以及供电及电压检测硬件电路，以及根据测试需求开发的软件流程，可以在ssd整盘组装前完成ssd裸板各电源分支电压及电源时序检测，及时发现异常的电压和电源时序，增加了ssd整盘的出厂可靠性，减少了ssd整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
57.在一些实施方式中，供电模块包括被测设备供电模块和电压检测板供电模块。如图5所示，为被测设备供电模块的结构示意图，如图6所示，为电压检测板供电模块的结构示意图。被测设备供电模块配置用于给被测设备供电，电压检测板供电模块配置用于给处理模块和电源时序检测模块供电。
58.更加具体的，被测设备供电模块为被测设备提供12v和3.3v电压，电压检测板供电模块为电源时序检测模块及处理模块提供3.3v电压。由输入ac220v，输出12v(输出电流5a)的电源模块给供电模块供电，以通过供电模块为整个电源时序测试系统供电。
59.在一些实施方式中，所述电源时序检测模块的数量基于测试需求设置，所述电源时序检测模块包括集成运放电压跟随器，所述集成运放电压跟随器配置用于采集所述被测设备的电压值，并将采集到的被测设备的电压值传输到所述处理模块。
60.在一些实施方式中，所述处理模块包括ad转换器，所述ad转换器配置用于对接收到的电压值进行模数转换以将模拟量的电压值转换为数字量的电压值；
61.所述处理模块配置用于启动串口打印以将所述测试结果发送到所述主机端；
62.所述被测设备包括固态硬盘；
63.所述处理模块包括微处理器。
64.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图7所示，本发明的实施例还提供了一种电源时序测试方法，应用于电源时序测试系统，所述电源时序测试系统包括：电压检测板，所述电压检测板上设置有供电模块、处理模块和电源时序检测模块，方法包括：
65.s10、所述供电模块给所述处理模块、所述电源时序检测模块和被测设备供电；
66.s20、所述电源时序检测模块采集所述被测设备的电压值，并将采集到的电压值传输到所述处理模块；
67.s30、所述处理模块基于采集到的被测设备的电压值对被测设备的上电时间进行记录以测试所述被测设备的电源时序。
68.电源时序检测板包括：供电模块、电源时序检测模块及处理模块。供电模块主要为被测设备提供12v和3.3v电压，为电源时序检测模块及处理模块提供3.3v电压。由输入
ac220v，输出12v(输出电流5a)的电源模块通过供电模块为整个电源时序测试系统供电。被测设备包括但不限于ssd裸板。通过电源时序检测模块采集ssd裸板各电源分支的电压值，并将采集到的电压值传输到处理模块，处理模块基于采集到的ssd裸板各电源分支的电压值对ssd裸板各电源分支的的电源时序进行记录，根据电压值以及对应的记录时间来判断ssd裸板的电源时序是否满足设计需求，以此可以在ssd整盘组装前完成ssd裸板各电源分支电压及电源时序检测，及时发现异常的电压和电源时序，增加了ssd整盘的出厂可靠性，减少了ssd整盘性能测试时问题排查时间以及物料的浪费。
69.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图8所示，本发明的实施例还提供了一种计算机设备30，在该计算机设备30中包括处理器310以及存储器320，存储器320存储有可在处理器上运行的计算机程序321，处理器310执行程序时执行如上的方法的步骤。
70.其中，存储器作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本技术实施例中的所述电源时序测试方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行系统的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例的电源时序测试方法。
71.存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据系统的使用所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至本地模块。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
72.在一个或多个示例性设计中，功能可以在硬件、软件、固件或其任意组合中实现。如果在软件中实现，则可以将功能作为一个或多个指令或代码存储在计算机可读介质上或通过计算机可读介质来传送。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，该通信介质包括有助于将计算机程序从一个位置传送到另一个位置的任何介质。存储介质可以是能够被通用或专用计算机访问的任何可用介质。作为例子而非限制性的，该计算机可读介质可以包括ram、rom、eeprom、cd-rom或其它光盘存储设备、磁盘存储设备或其它磁性存储设备，或者是可以用于携带或存储形式为指令或数据结构的所需程序代码并且能够被通用或专用计算机或者通用或专用处理器访问的任何其它介质。此外，任何连接都可以适当地称为计算机可读介质。例如，如果使用同轴线缆、光纤线缆、双绞线、数字用户线路(dsl)或诸如红外线、无线电和微波的无线技术来从网站、服务器或其它远程源发送软件，则上述同轴线缆、光纤线缆、双绞线、dsl或诸如红外线、无线电和微波的无线技术均包括在介质的定义。如这里所使用的，磁盘和光盘包括压缩盘(cd)、激光盘、光盘、数字多功能盘(dvd)、软盘、蓝光盘，其中磁盘通常磁性地再现数据，而光盘利用激光光学地再现数据。上述内容的组合也应当包括在计算机可读介质的范围内。
73.基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图9所示，本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质40，计算机可读存储介质40存储有被处理器执行时执行如上方法的计算机程序410。
74.本文的计算机可读存储介质(例如，存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储
器，或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。作为例子而非限制性的，非易失性存储器可以包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦写可编程rom(eeprom)或快闪存储器。易失性存储器可以包括随机存取存储器(ram)，该ram可以充当外部高速缓存存储器。作为例子而非限制性的，ram可以以多种形式获得，比如同步ram(dram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据速率sdram(ddr sdram)、增强sdram(esdram)、同步链路dram(sldram)、以及直接rambus ram(drram)。所公开的方面的存储设备意在包括但不限于这些和其它合适类型的存储器。
75.最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，程序的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(rom)或随机存储记忆体(ram)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
76.本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
77.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
78.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
79.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。