测试数据处理方法、装置及存储器件测试系统与流程

本技术涉及存储器测试，特别是涉及一种测试数据处理方法、装置及存储器件测试系统。

背景技术：

1、半导体存储器件存在容量增大、工作频率提高和工艺制程复杂度增加的发展趋势，因此，通过生产环节的测试在出厂之前发现存储器件的故障，以降低存储器件出厂后的使用故障率是非常重要的。测试方法通常是通过处理器将预先设置的数据写入被测存储器件，然后对写入数据进行读取，将写入的数据和读取的数据进行比较，以此来测试存储器件是否出现故障。对于批次存储器件的测试，可通过多个被测存储器件进行多次测试后统计累计故障次数，得到批次存储器件的故障率数据。在被测存储器件数量多、容量大、测试次数多的情况下，需要进行比较和后处理的测试数据也较多，会导致测试数据处理和故障数据统计时间长，测试效率低下。

2、针对相关技术中存在的存储器件测试数据的处理时间长、测试效率低下的问题，目前还没有提出有效的解决方案。

技术实现思路

1、在本实施例中提供了一种测试数据处理方法、装置及存储器件测试系统，以解决相关技术中存在的存储器件测试数据的处理时间长、测试效率低下的问题。

2、第一个方面，在本实施例中提供了一种测试数据处理方法，所述方法应用于存储器件测试系统，所述存储器件测试系统包括被测存储器件和用于保存测试数据的内存，所述方法包括：

3、基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新，所述目标测试数据基于所述历史测试数据存入所述被测存储器件的预设地址后，经所述被测存储器件完成一次测试并读取所述预设地址获得；

4、基于预先确定的测试次数，重复所述历史测试数据的更新过程；

5、基于测试结束后的历史测试数据和测试前的初始测试数据，确定所述被测存储器件的故障发生数量。

6、在其中的一些实施例中，所述基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新包括：

7、基于所述内存地址，从所述内存中读取对应的历史测试数据；

8、基于预先确定的存储模式，将所述目标测试数据与所述历史测试数据进行比较；

9、在所述目标测试数据与所述历史测试数据不一致的情况下，基于所述目标测试数据和所述历史测试数据，获取更新数据；

10、基于所述内存地址，将所述更新数据写入所述内存中。

11、在其中的一些实施例中，所述存储模式包括标志模式，所述基于预先确定的存储模式，将所述目标测试数据与所述历史测试数据进行比较包括：

12、获取所述目标测试数据对应的标志数据；

13、对所述标志数据和所述目标测试数据执行与操作，再与所述历史测试数据相或，得到标志测试数据；

14、将所述标志测试数据与所述历史测试数据进行比较。

15、在其中的一些实施例中，所述存储模式包括掩码模式，所述基于预先确定的存储模式，将所述目标测试数据与所述历史测试数据进行比较包括：

16、获取所述历史测试数据对应的掩码数据；

17、对所述掩码数据取反后的值和所述目标测试数据执行与操作，再与所述历史测试数据相或，得到掩码测试数据；

18、将所述掩码测试数据与所述历史测试数据进行比较。

19、在其中的一些实施例中，所述在所述目标测试数据与所述历史测试数据不一致的情况下，基于所述目标测试数据和所述历史测试数据，获取更新数据包括：

20、对所述目标测试数据和所述历史测试数据执行或运算，得到所述更新数据。

21、在其中的一些实施例中，所述基于测试结束后的历史测试数据和测试前的初始测试数据，确定所述被测存储器件的故障发生数量包括：

22、将同一内存地址对应的历史测试数据与初始测试数据按数据位比较；

23、基于数据值不一致的数据位数量，确定所述历史测试数据的故障发生数量；

24、基于存入所述被测存储器件的各个历史测试数据的故障发生数量，确定所述被测存储器件的故障发生数量。

25、在其中的一些实施例中，在所述基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新之前，所述方法还包括：

26、基于预先确定的突发长度，确定所述目标测试数据中的目标数据位是否故障；

27、在所述目标数据位故障的情况下，基于所述目标测试数据和所述内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新。

28、在其中的一些实施例中，所述存储器件测试系统还包括测试流程模块和缓存，在所述基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新之前，所述方法还包括：

29、将所述被测存储器件测试过程中读取的所述目标测试数据和对应的内存地址存入所述缓存；

30、在所述缓存中所存储的数据量大于预先配置的溢出水线的情况下，向所述测试流程模块发送反压信号，以控制所述测试流程模块暂停测试。

31、第二个方面，在本实施例中提供了一种测试数据处理装置，所述装置应用于存储器件测试系统，所述存储器件测试系统包括被测存储器件和用于保存测试数据的内存，所述装置包括：

32、更新模块，用于基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在所述内存地址中的历史测试数据进行更新，所述目标测试数据基于所述历史测试数据存入所述被测存储器件的预设地址后，所述被测存储器件完成一次测试并读取所述预设地址获得；

33、测试模块，用于基于预先确定的测试次数，重复所述历史测试数据的更新过程；

34、第一确定模块，用于基于测试结束后的历史测试数据和测试前的初始测试数据，确定所述被测存储器件的故障发生数量。

35、在其中的一些实施例中，所述更新模块包括：

36、读取子模块，用于基于所述内存地址，从所述内存中读取对应的历史测试数据；

37、第一比较子模块，用于基于预先确定的存储模式，将所述目标测试数据与所述历史测试数据进行比较；

38、获取子模块，用于在所述目标测试数据与所述历史测试数据不一致的情况下，基于所述目标测试数据和所述历史测试数据，获取更新数据；

39、写入子模块，用于基于所述内存地址，将所述更新数据写入所述内存中。

40、在其中的一些实施例中，所述存储模式包括标志模式，所述第一比较子模块包括：

41、第一获取单元，用于获取所述目标测试数据对应的标志数据；

42、第一逻辑运算单元，用于对所述标志数据和所述目标测试数据执行与操作，再与所述历史测试数据相或，得到标志测试数据；

43、第一比较单元，用于将所述标志测试数据与所述历史测试数据进行比较。

44、在其中的一些实施例中，所述存储模式包括掩码模式，所述第一比较子模块包括：

45、第二获取单元，用于获取所述历史测试数据对应的掩码数据；

46、第二逻辑运算单元，用于对所述掩码数据取反后的值和所述目标测试数据执行与操作，再与所述历史测试数据相或，得到掩码测试数据；

47、第二比较单元，用于将所述掩码测试数据与所述历史测试数据进行比较。

48、在其中的一些实施例中，所述存储器件测试系统还包括测试流程模块和缓存，所述测试数据处理装置还包括：

49、存储模块，用于将所述被测存储器件测试过程中读取的所述目标测试数据和对应的内存地址存入所述缓存；

50、反压模块，用于在所述缓存中所存储的数据量大于预先配置的溢出水线的情况下，向所述测试流程模块发送反压信号，以控制所述测试流程模块暂停测试。

51、第三个方面，在本实施例中提供了一种存储器件测试系统，所述存储器件测试系统包括如第二个方面所述的测试数据处理装置、被测存储器件以及用于保存测试数据的内存。

52、与相关技术相比，在本实施例中提供的测试数据处理方法，通过基于目标测试数据和预先获取的对应的内存地址，对存储在该内存地址中的历史测试数据进行更新，该目标测试数据基于历史测试数据存入被测存储器件的预设地址后，被测存储器件完成一次测试并读取该预设地址获得；即在被测存储器件的多次测试过程中，根据每次测试读取的目标测试数据生成更新数据写入内存供下次测试读取，直至测试结束，若某次测试中该目标测试数据出现故障，则将带有故障信息的更新数据写入内存并持续存在于后续测试中；通过基于预先确定的测试次数，重复历史测试数据的更新过程，根据每次测试读取的目标测试数据更新内存中保存的历史测试数据；通过基于测试结束后的历史测试数据和测试前的初始测试数据，确定被测存储器件的故障发生数量，根据该内存中最终保存的历史测试数据与初始测试数据的对比结果，确定该历史测试数据对应的故障发生数量，根据被测存储器件对应的多个历史测试数据，统计出被测存储器件的故障发生数量，随测试次数的累加自动累计每次测试的故障数量，不需要每完成一次测试就统计一次测试数据的故障情况，解决了存储器件测试数据的处理时间长、测试效率低下的问题。

53、本技术的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本技术的其他特征、目的和优点更加简明易懂。