E3.s转接卡、信号质量测试系统、方法、装置及介质与流程

本发明涉及服务器领域，特别是涉及一种e3.s转接卡、信号质量测试系统、方法、装置及介质。

背景技术：

1、随着目前在服务器应用的各种实际场景中，对于固态硬盘(solid state drive，ssd)性能的需求越来越高。另外，随着第五代高速串行计算机扩展总线标准(peripheralcomponent interconnect express，pcie)也即pcie 5.0在消费级市场的光速落地、以及pcie 6.0的最新发布，使得很多主流的ssd厂商不得不未雨绸缪，寻找令ssd性能翻倍的接口。

2、基于此，企业和数据中心固态硬盘外形尺寸(enterprise and data center ssdform factor，edsff)标准应运而生，该规范定义了长、短、宽、窄不同外形尺寸的ssd以满足不同的业务场景，其中的e3(edsff中规定的一系列sdd接口标准)形态的ssd(即e3 ssd)最适合替代u.2(一种常见的ssd接口标准)接口的ssd，可以释放出更大的性能。

3、但是，e3 ssd若要获得新一代pcie 5.0和pcie6.0接口带来的超高带宽，调整芯片的功能和选型是一方面，保证e3 ssd在高速数据传输下的信号质量也是芯片设计人员所要考虑的一个重要环节。而现有的pcie协会的物理一致性测试治具使用的都是标准的pciex16插槽(一种pcie插槽规格)，e3.s(e3形态下的一种ssd接口规范)ssd的接口则是基于新的edsff规范设计，不能直接与测试治具连接。并且由于目前可直接用于e3.s接口测试的治具还处于在研发阶段，致使当前e3.s ssd无法直接通过pcie协会的治具测试其pcie信号质量，也就无法保证e3.s ssd在实际应用中的性能与可靠性。

4、所以，现在本领域的技术人员亟需要一种e3.s转接卡，用于实现e3.s ssd的信号质量测试。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种e3.s转接卡、信号质量测试系统、方法、装置及介质，以实现e3.s ssd的信号质量测试。

2、为解决上述技术问题，本发明提供一种e3.s转接卡，包括：e3.s连接器、pcie金手指、发送高速差分对、接收高速差分对和功能验证模块；

3、其中，所述e3.s连接器用于与待测e3.s固态硬盘的e3.s金手指连接；

4、所述pcie金手指用于与测试治具的pcie插槽连接；

5、所述发送高速差分对和所述接收高速差分对设置在所述e3.s连接器和所述pcie金手指之间，用于实现所述e3.s连接器和所述pcie金手指之间的通信连接；

6、所述功能验证模块与所述待测e3.s固态硬盘连接，包括：主机指示灯子模块、12v使能子模块和双端口使能子模块；

7、其中，所述主机指示灯子模块用于测试所述待测e3.s固态硬盘的主机指示灯的基本功能；

8、所述12v使能子模块用于测试所述待测e3.s固态硬盘的供电使能；

9、所述双端口使能子模块用于测试所述待测e3.s固态硬盘的单端口与双端口切换功能。

10、在一种可能的实施例中，还包括：显示模块和电源模块；

11、其中，所述显示模块与所述功能验证模块连接，用于显示所述功能验证模块得到的测试结果；

12、所述电源模块与所述待测e3.s固态硬盘连接，用于为所述待测e3.s固态硬盘供电。

13、为解决上述技术问题，本发明还提供一种信号质量测试系统，包括：如上所述的e3.s转接卡，以及测试治具、码间干扰损耗测试板和示波器；

14、其中，e3.s转接卡中的e3.s连接器与待测e3.s固态硬盘的e3.s金手指连接；e3.s转接卡中的pcie金手指与测试治具的pcie插槽连接；

15、码间干扰损耗测试板与测试治具连接，用于模拟不同链路损耗值的连接系统；

16、示波器与码间干扰损耗测试板连接，用于获取待测e3.s固态硬盘的pcie信号。

17、在一种可能的实施例中，还包括：网络分析仪；

18、网络分析仪用于标定码间干扰损耗测试板所模拟的连接系统的链路整体损耗。

19、在一种可能的实施例中，测试治具包括：发送信号端子、接收信号端子、触发模块和pcie插槽；

20、当测试待测e3.s固态硬盘的发送信号时，测试治具的发送信号端子与码间干扰损耗测试板连接；

21、测试治具的接收信号端子和触发模块连接，用于切换码型，使示波器抓取并显示目标信号波形；

22、其中，目标信号波形为第5组均衡器预置值所对应的信号波形。

23、为解决上述技术问题，本发明还提供一种信号质量测试方法，应用于信号质量测试系统，信号质量测试系统包括如上所述的e3.s转接卡，以及测试治具、码间干扰损耗测试板和示波器；e3.s转接卡中的e3.s连接器与待测e3.s固态硬盘的e3.s金手指连接；e3.s转接卡中的pcie金手指与测试治具的pcie插槽连接；码间干扰损耗测试板与测试治具连接；示波器与码间干扰损耗测试板连接；

24、方法包括：

25、通过示波器抓取待测e3.s固态硬盘的pcie信号波形；

26、根据pcie信号波形，确定对应的信号眼图；

27、判断信号眼图的眼高和眼宽是否满足预设条件；

28、若否，则通过码间干扰损耗测试板切换所模拟连接系统的链路损耗值，并返回通过示波器抓取待测e3.s固态硬盘的pcie信号波形的步骤；

29、若是，则确定当前码间干扰损耗测试板所模拟连接系统的链路整体损耗值为最大损耗限度值，以根据最大损耗限度值评估待测e3.s固态硬盘的pcie信号质量。

30、在一种可能的实施例中，信号质量测试系统还包括：网络分析仪；

31、预设条件包括：第一预设条件和第二预设条件；同时满足第一预设条件和第二预设条件则满足预设条件；

32、其中，第一预设条件为：眼高大于预设的眼高标准值，且眼高小于预设的眼高阈值；

33、第二预设条件为：眼宽大于预设的眼宽标准值，且眼宽小于预设的眼宽阈值；

34、眼高阈值大于眼高标准值，眼宽阈值大于眼宽标准值；

35、通过码间干扰损耗测试板切换所模拟连接系统的链路损耗值包括：

36、若眼高小于眼高标准值且眼宽小于眼宽标准值，则减小码间干扰损耗测试板的端子对值；

37、若眼高大于眼高阈值且眼宽大于眼宽阈值，则增大码间干扰损耗测试板的端子对值；

38、确定当前码间干扰损耗测试板所模拟连接系统的链路损耗值为最大损耗限度值包括：

39、将当前码间干扰损耗测试板的端子对值发送至网络分析仪，获取网络分析仪所标定的链路整体损耗值，作为最大损耗限度值。

40、在一种可能的实施例中，当待测e3.s固态硬盘支持pcie 5.0协议，且测试待测e3.s固态硬盘的发送信号时，通过示波器抓取待测e3.s固态硬盘的pcie信号波形包括：

41、调节测试治具的码型为pcie5.0 p4；

42、通过示波器，抓取待测e3.s固态硬盘的目标信号波形；

43、其中，目标信号波形为第5组均衡器预置值所对应的信号波形。

44、为解决上述技术问题，本发明还提供一种信号质量测试装置，应用于信号质量测试系统，信号质量测试系统包括如上所述的e3.s转接卡，以及测试治具、码间干扰损耗测试板和示波器；e3.s转接卡中的e3.s连接器与待测e3.s固态硬盘的e3.s金手指连接；e3.s转接卡中的pcie金手指与测试治具的pcie插槽连接；码间干扰损耗测试板与测试治具连接；示波器与码间干扰损耗测试板连接；

45、装置包括：

46、波形抓取模块，用于通过示波器抓取待测e3.s固态硬盘的pcie信号波形；

47、眼图生成模块，用于根据pcie信号波形，确定对应的信号眼图；

48、条件判断模块，用于判断信号眼图的眼高和眼宽是否满足预设条件，若否，则触发链路调整模块，若是，则触发质量评估模块；

49、链路调整模块，用于通过码间干扰损耗测试板切换所模拟连接系统的链路损耗值，并返回触发波形抓取模块；

50、质量评估模块，用于确定当前码间干扰损耗测试板所模拟连接系统的链路整体损耗值为最大损耗限度值，以根据最大损耗限度值评估待测e3.s固态硬盘的pcie信号质量。

51、为解决上述技术问题，本发明还提供一种信号质量测试装置，包括：

52、存储器，用于存储计算机程序；

53、处理器，用于执行计算机程序时实现如上所述的信号质量测试方法的步骤。

54、为解决上述技术问题，本发明还提供一种非易失性存储介质，非易失性存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上所述的信号质量测试方法的步骤。

55、本发明提供的一种e3.s转接卡，通过e3.s连接器适配待测e3.s固态硬盘的e3.s金手指，实现与待测e3.s固态硬盘的连接；通过pcie金手指适配测试治具的pcie插槽，实现与测试治具的连接；又通过发送高速差分对和接收高速差分对实现e3.s连接器与pcie金手指之间的通信连接，也即实现了待测e3.s固态硬盘和测试治具之间的通信连接。本方案克服了基于edsff规范设计的e3.s固态硬盘和使用标准pcie x16插槽的测试治具之间无法直接连接的问题，可以通过测试治具对e3.s固态硬盘进行信号质量测试。并且，基于本方案实现的接口转接，不会对信号本身进行转换，也就不会影响信号质量，进而不会对e3.s固态硬盘信号质量测试产生干扰，有利于提高e3.s固态硬盘信号质量测试的准确性。此外，本e3.s转接卡可以保证e3.s固态硬盘接口转接的完整性，使得对e3.s固态硬盘的信号质量测试不局限于发送端的pcie信号质量测试，也支持接收端的pcie信号质量测试。同时，本转接卡也可实现e3.s固态硬盘与包括上位机、计算机传输介质在内的其他pcie设备之间的连接，拓宽了e3.s固态硬盘的应用场景。最后，本转接卡还包括功能验证模块，支持对e3.s固态硬盘包括主机指示灯基本功能测试、供电使能测试和单/双端口切换测试在内的基本功能测试，有利于对e3.s固态硬盘的质量测试工作。

56、本发明提供的信号质量测试系统、方法、装置、及非易失性存储介质，与上述e3.s转接卡对应，效果同上。