本实用新型涉及芯片技术领域,具体是一种一种大功率抗震动方片TVS芯片。
背景技术:
由于台面结构芯片终端沟槽腐蚀后,芯片四个角部分硅片层变薄(通常小于150微米),在后道封装过程中极易因受到机械冲击发生崩塌损伤,从而造成芯片电性能变坏,器件工作过程出现失效现象。
技术实现要素:
为解决上述问题,本实用新型提供一种大功率抗震动方片TVS芯片,抗机械冲击能力增加,避免了传统芯片失效现象,工作可靠性提高。
本实用新型采用的技术方案是:一种大功率抗震动方片TVS芯片,包括N-单晶硅,所述N-单晶硅的两侧由内向外依次设有P硼区、P+浓硼区和金属层,所述P硼区和P+浓硼区的终端设有经过倒角处理的终端保护区。
所述金属层是镍层或铝钛镍银合金层,所述终端保护区为玻璃或SIPOS+玻璃。
本实用新型的有益效果是:采用芯片终端倒角处理后,芯片抗机械冲击能力增加,避免了传统芯片失效现象,工作可靠性提高,特别适合汽车等震动频繁的 控制电路工作环境。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2是图1的剖面图;
其中:1、N-单晶硅,2、P硼区,3、P+浓硼区,4、金属层,5、终端保护区。
具体实施方式
为了加深对本实用新型的理解,下面将结合实施例和附图对本实用新型的作进一步详述,该实施例仅用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的保护范围的限定。
如图1和2所示,一种大功率抗震动方片TVS芯片,包括N-单晶硅1,N-单晶硅的两侧由内向外依次设有P硼区2、P+浓硼区3和金属层4, P硼区和P+浓硼区的终端设有经过倒角处理的终端保护区5,其中,金属层4是镍层或铝钛镍银合金层,终端保护区5为玻璃或SIPOS+玻璃。
上述芯片的终端倒角处理方法如下:
1) 根据芯片尺寸数据导入计算机控制程序,通过紫外激光切割方法对方片TVS芯片四个直角进行倒角;
2) 通过半导体光刻工艺形成倒角图案,再用化学腐蚀方法成型。