1.一种抗干扰晶圆测试机外壳，包括本体外壳（4）和测试机（8），其特征在于：所述本体外壳（4）的内顶部固定连接于探针台（3）的上端，所述探针台（3）上安装有探针卡（2），所述本体外壳（4）内底部固定连接于支柱（7）的底端，所述支柱（7）固定连接于测试台（6）的下表面，所述测试台（6）的上表面通过负压吸附固定有转接板（5），所述转接板（5）上电性连接有待测晶圆（9），所述探针台（3）通过屏蔽信号线（10）电性连接于测试机（8），所述测试机（8）电性连接有显示模块（1）。
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰晶圆测试机外壳，其特征在于：所述测试机（8）内设有稳压电路，所述稳压电路内包括LDO稳压器。
3.根据权利要求1所述的一种抗干扰晶圆测试机外壳，其特征在于：所述测试台（6）的表面设有环形负压吸附槽（601），所述负压吸附槽（601）相互连通，所述支柱（7）内部设有负压通道（701），所述负压通道（701）的顶部固定连接于负压吸附槽（601），所述负压通道（701）的底部通过管道连接于负压泵。
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰晶圆测试机外壳，其特征在于：所述转接板（5）的底部固定连接有一层橡胶垫。
5.根据权利要求1所述的一种抗干扰晶圆测试机外壳，其特征在于：所述，所述转接板（5）上包括与待测晶圆（9）上MOS管（901）电性连接的印刷电路，所述印刷电路包括串联和并联电路，所述印刷电路设有测试电路接线端（501）。
6.根据权利要求1所述的一种抗干扰晶圆测试机外壳，其特征在于：所述本体外壳（4）为绝缘材料制成，且本体外壳（4）的内部设有接地金属屏蔽网。