技术总结
本实用新型涉及电子芯片生产附属装置的技术领域，特别是涉及一种晶圆检测用辅助装置，其能够避免在检测中产生误差；同时不会对探针或者晶圆造成损害；并且能够提高生产效率；包括检测探头本体，检测探头底部设置有多组检测探针；还包括底座、固定座、两组固定支架、升降箱、旋转把手、蜗杆、蜗轮、螺纹升降杆、滑动套筒、两组升降滑块、两组缓冲弹簧和两组固定杆，固定座安装在底座顶部中心，两组固定支架的低端分别固定在底座顶部的左侧和右侧，升降箱内部设置有升降腔，升降箱左侧和右侧分别连通设置有两组第一通孔，升降箱顶部和底部分别设有两组第二通孔，蜗轮固定在升降腔内，蜗杆的两端分别穿过两组第一通孔。
技术研发人员：王昌华
受保护的技术使用者：盐城盈信通科技有限公司
技术研发日：2018.10.23
技术公布日：2019.06.18