8寸晶圆制造蚀刻机台Unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法与流程

文档序号:20499185发布日期:2020-04-21 22:37阅读:来源:国知局

技术特征:

1.8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,用以物理再生所述零部件上部电极,所述零部件上部电极至少部分区域为表面al2o3材质的保护层区域,其特征在于:包括以下步骤:

s10、备料:准备干冰制粒机,制备粒度3mm以下、温度-78℃以下的常压干冰颗粒;准备喷射装置,喷射装置具有至少两个进料口和至少一个出料口,所述喷射装置的一个进料口接驳干冰制粒机的出料端,另一个进料口接驳充有保护气体的气体罐;准备六轴机械手,六轴机械手的末端连接喷射装置;

s20、喷射:将零部件上部电极放置于工装上,使用六轴机械手操纵喷射装置,使所述出料口射出方向与零部件上部电极所在切面成斜角α,出料口总压力不小于6.5bar,控制六轴机械手,保持以α角喷射零部件上部电极任一处表面,保护层区域每cm2的喷射时间不少于5s;

s30、洗净:零部件上部电极缓慢回温至室温后,使用超纯水或保护气体冲洗零部件上部电极,带走残余杂质。

2.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述保护气体为氮气或氩气。

3.根据权利要求2所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述保护气体的在进料口处的压力不小于5bar。

4.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述出料口总压力在6.5~8bar。

5.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述干冰颗粒的粒度在0.25~0.5mm。

6.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述出料口的横截面呈狭长的“一”字形,所述横截面的狭长边的长度在0.25~3mm,宽度不大于0.5mm。

7.根据权利要求6所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述出料口的横截面的狭长边开设有波浪纹。

8.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述斜角α的范围为arctan0.18~37°。

9.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述六轴机械手采用fanuc、kuka、kawasaki、abb、史陶比尔、epson品牌之一。

10.根据权利要求1所述的8寸晶圆制造蚀刻机台unity-85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,其特征在于,所述零部件放置于工装后所述保护层所在面竖直排布。


技术总结
本发明涉及光电技术领域,特别涉及8寸晶圆制造蚀刻机台Unity‑85核心零部件上部电极表面制程物的去除方法,包括步骤:备料:制备干冰颗粒,准备喷射装置;喷射:以气动带动干冰颗粒斜角喷射零部件上部电极;洗净:清洗残余杂质。运用本发明的方案延长了电极材料使用寿命,大大节约了清洗成本。方案处理效率很高,速度提高了数倍,优化了电极表面制程物的去除核心工艺,促进了行业的进步。

技术研发人员:范银波
受保护的技术使用者:苏州珮凯科技有限公司
技术研发日:2019.12.26
技术公布日:2020.04.21
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