铝合金微型管式熔断器的制作方法

背景技术：

本公开的领域整体涉及电子熔断器，并且更具体地讲，涉及具有铝套圈的微型管式熔断器。

熔断器是用于断开电路且防止相关联的部件被电气系统中的过电流损坏的广泛使用的过电流保护装置。因为熔断器(尤其是微型管式熔断器)是大容量电子部件，所以在不牺牲性能的情况下甚至在熔断器制造中的增量成本降低也具有极大的价值。改进是期望的。

附图说明

参考以下附图描述非限制性和非穷举性实施方案，其中除非另外指明，否则类似的附图标记在各个附图中指代类似的部分。

图1a是示例性熔断器的透视图。

图1b是图1a所示的熔断器的剖视图。

图2a是另一示例性熔断器。

图2b是再一个示例性熔断器。

图2c是又一个示例性熔断器。

图3a是具有由不进行镀覆的铝合金制成的套圈的示例性熔断器的冷电阻的曲线图。

图3b是具有由进行镀覆的铝合金制成的套圈的示例性熔断器的冷电阻的曲线图。

图4示出图1b所示的熔断器的套管界面力。

图5是示出两个熔断器中的易熔线材的峰值温度的曲线图，其中一个熔断器具有由黄铜制成的套圈，并且另一个熔断器具有由铝合金制成的套圈。

图6a是图1b所示的熔断器的套圈的放大视图。

图6b是图1b所示的熔断器的另一个示例性套圈。

图6c是图1b所示的熔断器的又一个示例性套圈。

图6d是图1b所示的熔断器的再一个示例性套圈。

图7是示出制造熔断器的示例性方法的流程图。

具体实施方式

熔断器是被广泛用于保护电气系统中的其他部件的牺牲元件。在英国，熔断器通常集成到电气装置的插头中。这些类型的熔断器有时被称为微型管式熔断器。

除外壳和填料(如果有的话)之外的熔断器部件通常由铜或铜合金制成。虽然铝比铜便宜多于三倍，但铝通常不用于微型管式熔断器，尤其是微型熔断器的套圈。相反，铝已被认为通常不适用于微型熔断器，因为该铝显著弱于铜或铜合金，这引起了对铝部件在使用中是否可以可靠地承受熔断器的预期操作条件的关注，包括例如对铝套圈是否能够在短路事件期间由电流或电弧放电引起的重复温度和压力变化之后有效承受外壳内部生成的高压并保持在适当的位置以及是否能够确保操作可靠性的关注。

与本领域的长期观念相反，本文所公开的本发明的熔断器克服了铝的局限性，同时确保电路保护和性能不受到损害，因此实现在微型管式熔断器制造中期望的成本降低。采用较低成本的部件诸如由铝合金制成的套圈和/或易熔线材和/或金属圈来减少熔断器制造中的传统铜或铜合金的量。为了满足微型管式熔断器设计的独特需求和挑战，基于其特定属性和特性对合适类型的铝合金进行战略性地评估和选择，并且在对某些部件进行适当的结构改性并进行增强的制造方法的情况下，可确保熔断器部件设计和以降低的制造成本可靠地满足微型熔断器的性能规格的组件。

在第一方面，本发明的铝合金熔断器包括由通过化学镀用镍镀覆的铝合金制成的套圈、易熔线材和/或金属圈。化学镀允许铝或铝合金与镍的可靠涂层防止原本可能发生的氧化。因此，具有一致电阻的熔断器是可能的，使得熔断器的电阻随时间推移不会不期望地增大。

在第二方面，本发明的铝合金熔断器由铝合金制成，基于其强度和熔点对该铝合金进行战略性地选择，使得熔断器可承受在熔断器操作时短路事件期间通常由电弧放电引起的内部压力和温度变化。熔断器也被设计成保持完整，并且在其套圈上具有分离套圈所需的高开封力。套圈与外壳之间的低直径公差增大了它们之间的摩擦，因此增大了所需的开封力。因此，熔断器更便宜，但仍适用于期望的性能和功能。

在第三方面，本发明的铝合金时间延迟熔断器包括基于其热导率战略性地选择的铝合金。具有接近黄铜的热导率的热导率的铝合金允许在某个时间段之后高于额定的电流通过熔断器以保持常规时间延迟熔断器的功能时，易熔线材升温并达到熔融温度。

在第四方面，实现了一种制造高容量微型管式熔断器的方法。该方法包括提供圆柱形外壳以及提供铝合金片材。该方法还包括：通过深拉工艺由铝合金片材构造套圈；用镍镀覆套圈；将易熔线材插入外壳内部；以及穿过金属圈插入易熔线材的第一端部或第二端部。该方法还包括：使易熔线材的第一端部或第二端部脱离易熔线材的主体，以及将熔断器的第一端部或第二端部插入套圈的内部接收器中，使得易熔线材的第一端部或第二端部保持在金属圈的一部分与套圈的端壁之间。经由通过将套圈夹持在外壳的第一端部或第二端部周围来将套圈固定到外壳上来完成机械和电连接。制造方法是有效的，并且提供较便宜的熔断器，该熔断器用铝合金替换铜，但仍满足期望的规格和性能。

铝合金熔断器和制造方法满足了本领域中在降低熔断器的成本方面的长期和未实现的需要，该降低熔断器的成本通过基于期望的性能和功能性对铝合金进行战略性地选择并设计熔断器以克服铝合金与铜或铜合金的性能差异和限制。在所设想的实施方案中，与由铜或铜合金制成的常规熔断器相比，本发明的铝合金熔断器显著降低成本。

虽然在微型管式熔断器的上下文中有所描述，但本文的发明构思并不一定限于此类特定类型的熔断器。因此，为了举例说明而非限制的目的，提供了以下描述。

图1a示出了示例性熔断器100。熔断器100包括外壳102、第一套圈104和第二套圈106。外壳也可被称为熔断器主体或管。套圈可被称为端子或端帽。第一套圈104和第二套圈106在外壳102的第一端部108或第二端部110处耦接到外壳102。第一套圈104和第二套圈106分别围绕并覆盖外壳102的第一端部108和第二端部110。

在示例性实施方案中，外壳102为圆柱形的。具有圆柱形外壳的熔断器可被称为管式熔断器。另选地，外壳102为使得外壳能够如本文所述起作用的任何其他形状，包括但不限于椭圆形、正方形、矩形或它们的组合。外壳102可由玻璃、陶瓷或其他非导电材料制成。

在示例性实施方案中，套圈104、106由铝合金制成。选择套圈104、106的铝合金，使得套圈104、106在由于热量而重复膨胀之后保持在外壳102上，并且其电气性能不会随时间推移而劣化。套圈104、106可通过深拉工艺大量生产。

图1b示出了熔断器100的剖视图，并且图1a中使用的类似附图标号用于标识图1b所示的类似部件。熔断器100还包括易熔线材112。在一些实施方案中，熔断器100包括金属圈114。

在示例性实施方案中，套圈104、106包括侧壁116和端壁118。端壁118从侧壁116延伸并封闭外壳102的第一端部108或第二端部110。端壁118可包括凸出部120。凸出部120朝向外壳102向内延伸并限定端壁118的内部表面122。凸出部120可为截头圆锥形的。端壁118和侧壁116限定内部接收器124。

在示例性实施方案中，易熔线材112是当流过线材的电流大于阈值时在结构上失效的线材，并且断开电路以保护电路中的其他电子部件。易熔线材112由锌、铜、银、铝或其他金属或合金制成以提供此类特性。易熔线材112定位在外壳102的内部并且分别在易熔线材112的第一端部130和第二端部132处电连接到第一套圈104和第二套圈106。

在示例性实施方案中，金属圈114包括孔口126。孔口126可设置在金属圈114的中心。金属圈114还可包括朝向外壳102的内部拱起的凸部127。孔口126可定位在凸部127中。凸部127具有与第一套圈104或第二套圈106的端壁118的凸出部120的配合表面。金属圈114由铝、铜、铝合金、黄铜或其他铜合金制成。另选地，金属圈114由使得金属圈能够如此处所述起作用的其他材料制成。金属圈114可通过深拉工艺大量生产。

熔断器100还包括填充在外壳102的内部的填料128。填料128用于在短路事件期间包含电弧能。填料128可由二氧化硅砂或二氧化硅砂与其他材料(诸如树脂、石膏或沸石)的混合物制成。

为了制造熔断器100，易熔线材112的第一端部130或第二端部132穿过金属圈114的孔口126插入。在一些实施方案中，使第一端部130或第二端部132脱离易熔线材112的主体134并朝向外壳102的壁136。易熔线材112可在外壳102的内部对角地设置。金属圈114可邻近端壁118的内部表面122设置。在一些实施方案中，易熔线材112的第一端部130和/或第二端部132以及/或者金属圈114的边缘138可塞在套圈104、106的端壁118与外壳102的第一端部108和/或第二端部110之间。在一个实施方案中，易熔线材112的第一端部130和/或第二端部132可塞在凸出部120与金属圈114的配合表面之间。外壳102插入由套圈104、106形成的内部接收器124中。在一些实施方案中，通过将侧壁116夹持到外壳102的壁136上，将套圈104、106固定到外壳102上。

在操作中，易熔线材112电连接到套圈104、106。如果在熔断器100中使用金属圈114，则金属圈114也电连接到易熔线材112。

熔断器100可为高容量微型管式熔断器。如本文所用，“高容量”是指如国际电工技术委员会(iec)的标准所定义的高断流容量，诸如例如具有最高至1500安培的最大断流容量的iec60127熔断器或具有最高至6000安培的最大断流容量的bs1362熔断器。微型熔断器的物理尺寸相对小，例如，5mm×20mm或6.3mm×32mm。在一些实施方案中，套圈104、106的侧壁116具有0.50mm或更小的厚度。

图2a示出了另一示例性熔断器200，并且图1a和图1b中的类似附图标号用于标识图2所示的类似部件。易熔线材202通过金属圈114保持在适当的位置。与图1b相比，易熔线材202的第一端部204直接附接到套圈104的凸出部120，并且易熔线材202的第二端部206不沿金属圈114与端壁118的凸出部120之间的配合表面一直延伸，使得端部206设置在金属圈114的下面，但不设置在外壳102的端部110与套圈106的端壁118之间。

图2b示出了再一个示例性熔断器1200，并且图1a和图1b中的类似附图标号用于标识图2b所示的类似部件。与图1b相比，熔断器1200包括多于一个易熔线材210。易熔线材210的端部212可如图2b所示设置在外壳102的同一侧处，或者可如图1b所示在外壳102的内部对角地设置。另选地，端部212可以任何其他构型设置在外壳102的内部，该构型使得易熔线材能够如本文所述起作用，例如，易熔线材的端部可邻近套圈104、106上的任何位置放置。另外，熔断器1200可具有三个或更多个易熔线材210。在具有更多数量的易熔线材210的情况下，熔断器1200具有比具有单个易熔线材112的熔断器100高的载流容量。

图2c示出了又一个示例性熔断器1300，并且图1a和图1b中的类似附图标号用于标识图2c所示的类似部件。与图1b相比，熔断器1300不包括金属圈114。熔断器1300的易熔线材220经由方法诸如焊接端部222与套圈104、106或焊接该端部与凸出部120(如果套圈104、106包括凸出部120)来直接电连接到套圈104、106。除了易熔线材112、202、210、220之外，熔断器100、200、1200、1300的易熔元件可为使得熔断器能够如本文所述起作用的其他类型的易熔元件。

除了套圈104、106之外，易熔线材112、202和/或金属圈114可由铝合金制成。与铜或铜合金相比，铝合金具有显著不同的特性。下表1列出了比较。

对铝合金的类型和熔断器的设计进行战略性地确定，以满足特定应用和电力系统的要求。在选择用于熔断器100、200的铝合金的类型后，考虑了强度(诸如拉伸强度σs和屈服强度σy)和熔点。也考虑了其他特性诸如伸长率、电阻率和热导率。

在熔断器100、200中，所选类型的铝合金具有足够高的强度，以使套圈104、106保持在外壳102上，并且如果铝合金用于金属圈114，则使金属圈114将易熔线材112、202保持在下面。针对一些应用，al1100可能太软。在一些实施方案中，用于熔断器100、200的铝合金具有大约138mpa或更高的拉伸强度σs。在一些实施方案中，用于熔断器100、200的铝合金具有大约117mpa或更高的屈服强度σy。在一个实施方案中，al5052合金用于套圈104、106和金属圈114。

当使用铝合金的熔点来选择铝合金的类型时，所选铝合金的熔点应足够高以使套圈104、106及使金属圈114(如果铝合金用于金属圈114)承受由电流生成的热量并保持完整从而在熔断器100、200的内部容纳电弧能。在一些实施方案中，用于熔断器100、200的铝合金具有大约590℃或更高的熔点。

当高断流容量为期望的，选择铝合金的类型以具有相对高的热导率和熔融温度。在一些实施方案中，使用al5005合金来实现高断流容量以用于其相对高的熔点和相对高的热导率。

当使用深拉工艺来由铝合金制造套圈104、106和金属圈114时，所选铝合金具有制造工艺制造设计形状的零件而不断裂所需的足够高的伸长率。表1中列出的铝合金具有伸长率足以承受深拉工艺。

铝或铝合金的表面氧化趋于为快速的。因此，易熔线材112、202的接触电阻随时间推移而增大，并导致穿过套圈104、106的电流减小，这导致熔断器100、200的故障。在示例性实施方案中，镀镍用于对铝合金进行镀覆。也可用镍镀覆铜或铜合金。常规镀覆方法对于用镍镀覆铝或铝合金不起作用，其中镀覆在铝或铝合金上的镍趋于剥落或者不粘到铝或铝合金的表面上。在示例性实施方案中使用化学镀镍。图3a和图3b示出了具有在未用镍镀覆所用的铝合金(图3a)时的铝合金套圈和铝合金金属圈的熔断器100的电阻以及具有在用镍镀覆所用的铝合金(图3b)时的铝合金套圈和铝合金金属圈的熔断器100的电阻的比较。铝合金5052用于图3a和图3b所示的示例中。因为电阻是依赖于温度的，所以在室温下测量冷电阻，其中电流小于熔断器的额定电流的10％。在不进行镀覆的情况下，电阻可在2000小时后增大三倍，这小于三个月(参见图3a)。然而，在进行镀覆的情况下，稳定电阻，并且其变化保持小于6％(参见图3b)。

当从铜或铜合金变为作为用于制造熔断器100、200的材料的铝合金时，在熔断器100、200的设计中检测套管界面力。图4示出了套管界面力对熔断器100的套圈104、106和金属圈114的影响。虽然图4示出了熔断器100，但下文的讨论相似地适用于熔断器200、1200、1300。套管界面力为套圈104、106与外壳102之间的界面处的力，该力阻止套圈104、106与外壳102脱离。在高电流短路事件或断流容量测试期间，易熔线材的断开与能量的突然释放相关联，该能量导致在熔断器内部生成电弧。由于电弧放电，在熔断器内部产生高压，并且熔断器外壳和套圈需要能够承受这种高压并保持在适当的位置。在短路事件之后，外壳不应具有可见缺陷。相似地，套圈也不应具有任何可见缺陷，包括在熔断器操作时从外壳的可感知的移动或分离。为了防止套圈的移动或分离，将套圈约束到外壳102上。在熔断器设计中不存在附加约束特征部时，套圈104、106与外壳102之间的界面力提供约束力。

界面力是由于外壳102与套圈104、106之间的摩擦而产生的，即摩擦力ft。摩擦力ft等于摩擦系数和法向力fn的乘积。法向力fn取决于材料的弹性(杨氏模量e)和屈服强度σy。因为，针对铝合金，杨氏模量e比铜合金小大约30％，并且屈服强度σy比铜合金小大约30％至36％(参见表1)，因此界面公差是设计套圈中除了铝合金选择和套圈厚度设计之外的一个考虑因素。界面公差是由套圈104、106形成的内部接收器124的内径402与外壳102的外径404之间的差值。在一些实施方案中，熔断器100、200被设计成具有大约150牛顿或更高的摩擦力。在一个实施方案中，内部接收器124的内径402大于外壳102的外径404大约20μm或更小。在套圈104、106的侧壁116的区域或外壳102的壁136的区域处测量直径402、404，其中侧壁116和壁136彼此接触。在一些实施方案中，al5005h32铝合金用于套圈104、106。

在熔断器的正常使用寿命期间，熔断器经受恒定温度变化，而施加在易熔线材的端部上的内部压力引起套圈相对于熔断器外壳的轴向移动。在一些实施方案中，铝合金金属圈提供的强度可不足以在此类温度变化或内部压力冲击之后在易熔线材112、202与套圈104、106之间提供稳定的接触电阻。黄铜金属圈或由铜或其他铜合金制成的金属圈可用于处理内部压力并保持电阻稳定。

在时间延迟熔断器中，熔断器被设计成允许高于熔断器的额定值的电流在不断开熔断器的情况下流动持续一短时间段。时间延迟熔断器可用于设备诸如马达，该设备汲取比正常电流大的电流持续一短时间段，以允许设备达到速度。但是，如果高于额定的电流导通持续一长时间段，则熔断器根据由电流引起的热量而断开。

图5示出了针对具有黄铜套圈的黄铜s505熔断器(显示为曲线502)和具有由al5052铝合金制成的套圈的als505熔断器(显示为曲线504)的模拟易熔线材温度的曲线。s505熔断器为时间延迟熔断器，其中将其易熔线材焊接到套圈上。插入显示了用于模拟的黄铜s505熔断器和als505熔断器的冷电阻。黄铜s505熔断器和als505熔断器的易熔线材由相同材料制成。来自熔断线材的电阻支配熔断器的电阻，并且因此，这两个熔断器的电阻几乎相同。当高于额定的电流通过黄铜s505熔断器时，熔断器的温度升高至焊料的熔融温度并且熔断器断开(参见曲线502)。相比之下，als505熔断器的易熔线材的温度最初升高，但然后在40秒之后达到平台期(参见曲线504)。als505熔断器永不断开。在使用铝合金设计时间延迟熔断器之后，选择具有高电阻率和低热导率的铝合金来保持过载条件下的时间-电流性能。在一些实施方案中，选择al5154。在其热导率为125w/mk的情况下，其接近116w/mk的黄铜材料的热导率，因此将套圈升温到熔融温度，并且熔断器保持其作为时间延迟熔断器的功能。

图6a示出了套圈104、106的放大视图。套圈104、106包括凸出部120。端壁118的厚度t2大于侧壁116的厚度t1。厚度t2在端壁118的除凸出部120之外的位置处测量。在一个实施方案中，厚度t1为大约0.325mm，并且厚度t2为大约0.55mm。

图6b至图6d示出了套圈602、604、606的其他示例性实施方案。可在熔断器100、200上代替套圈104、106使用套圈602、604、606。套圈602(示于图6b中)类似于套圈104、106(示于图6a中)，不同的是针对套圈602，端壁618的厚度t2略微大于或大约等于侧壁116的厚度t1。在图6b至图6d中，端壁617、618、619的厚度t2在除凸出部120、620、621之外的位置处测量。在一个实施方案中，针对套圈602，厚度t1为大约0.325mm，并且厚度t2为大约0.36mm。套圈604、606还具有端壁617、619的大于侧壁116的厚度t1的厚度t2。在一个实施方案中，针对套圈604、606，侧壁116的厚度t1为大约0.325mm，并且针对套圈604，端壁617的厚度t2为大约0.58mm，并且针对套圈606，该厚度为大约0.36mm。

与套圈104、106相比，套圈604、606具有不同构型的凸出部620、621(参见图6c和图6d)。凸出部620、621包括在端壁617、619的外部表面624处的凹陷部622。可将焊料沉积在凹陷部622中以增强熔断器100、200与熔断器100、200连接到其的电路部件或电路板之间的电接触。凸出部620、621的厚度t3大于端壁118在除凸出部620、621之外的位置处的厚度t2。在一个实施方案中，凸出部120的厚度t3为大约1.6mm(示于图6a和图6b中)。凸出部620的厚度t3为大约0.61mm(示于图6c中)。凸出部621的厚度t3为大约0.4mm(示于图6d中)。凸出部120、620具有比端壁118、617、618、619的其余部分厚的端壁，这有助于在凸出部120、620直接接触易熔线材112、202时容纳来自易熔线材112、202的热量。在一些实施方案中，凸出部120、620包括相对平坦的顶部表面626。当易熔线材202直接焊接到端壁118、617、618上时，相对平坦的顶部表面626允许易熔线材202与端壁118、617、618之间的良好接触。

图7示出了制造高容量微型管式熔断器诸如熔断器100和200(示于图1a至图2中)的示例性方法700。方法700包括提供702圆柱形外壳。方法700还包括提供704铝合金片材。可利用第一热处理来施加铝合金片材以改善金属的性能，例如，增大金属的强度。方法700还包括通过拉伸工艺由铝合金片材构造706套圈。拉伸工艺可以是深拉工艺。方法700还包括用镍镀覆707套圈。可将第二热处理例如退火施加到套圈以改善套圈的性能，例如增大套圈的强度。另外，方法700包括将易熔线材插入708外壳内部。此外，方法700包括穿过金属圈插入710易熔线材的第一端部或第二端部。方法700还包括使易熔线材的第一端部或第二端部脱离712易熔线材的主体。方法700还包括将外壳的第一端部或第二端部插入714套圈的内部接收器中，使得易熔线材的第一端部或第二端部保持在金属圈的一部分与套圈的端壁之间。另外，方法700包括通过将套圈夹持在外壳的第一端部或第二端部周围来将套圈固定716到外壳上。

本文描述了熔断器的各种实施方案，包括用具有适用于熔断器的性能和规格的特性的铝合金部件替换的铜或铜合金部件，从而显著降低熔断器的制造成本。用镍镀覆铝合金减少或消除了铝合金的氧化，从而允许熔断器的冷电阻保持不变或随时间推移而变化不大，使得熔断器具有可靠性能。另外，系统和方法的实施方案提供了可承受恒定温度变化和压力冲击的铝合金熔断器。例如，由套圈形成的内部接收器的内径与熔断器外壳的外径之间的公差是紧密的，从而套圈与熔断器外壳之间的界面力足以允许套圈通过熔断器的使用寿命保持在适当的位置。

虽然描述了部件、组件和系统的示例性实施方案，但部件、组件和系统的变型可以实现类似的优点和效果。具体地讲，在不脱离所描述的发明构思的情况下，部件和组件的形状和几何形状以及部件在组件中的相对位置可不同于所述和所描绘的那些。另外，在某些实施方案中，可省略所述组件中的某些部件，以适应特定类型的熔断器或特定安装的需要，同时仍提供熔断器所需的性能和功能。

现在认为已相对于所公开的示例性实施方案充分示出了发明构思的有益效果和优点。

已经公开了一种高容量微型管式熔断器的实施方案。熔断器包括：圆柱形外壳，所述圆柱形外壳具有相对的第一端部和第二端部；易熔线材，所述易熔线材定位在所述外壳内部并包括相对的第一端部和第二端部；以及由铝合金制成的第一深拉套圈和第二深拉套圈。所述第一套圈和所述第二套圈分别附接到所述外壳的所述第一端部和所述第二端部并且电连接到所述易熔线材的所述相应的第一端部和所述相应的第二端部，用镍镀覆所述铝合金。所述第一套圈和所述第二套圈中的每一者包括侧壁和端壁。所述侧壁围绕所述外壳的所述第一端部或所述第二端部，其中所述侧壁具有大约0.50mm或更小的厚度。所述端壁从所述侧壁延伸并封闭所述外壳的所述第一端部或所述第二端部，其中所述端壁包括朝向所述外壳的内部延伸并限定所述端壁的内部表面的凸出部，并且所述端壁具有大于所述侧壁的厚度的厚度。所述侧壁和所述端壁限定内部接收器，所述内部接收器的尺寸被设定成接纳所述外壳的所述第一端部或所述第二端部。

任选地，镀镍可为化学镀镍。所述铝合金可具有大约138mpa或更高的拉伸强度。所述铝合金可具有大约117mpa或更高的屈服强度。所述铝合金可具有大约590℃或更高的熔点。所述第一套圈或所述第二套圈的所述侧壁与所述外壳之间的摩擦力可为大约150牛顿或更高。所述内部接收器的内径可大于所述外壳的外径大约20μm或更小。所述熔断器可包括两个或更多个易熔线材。所述熔断器还可包括金属圈，所述金属圈邻近所述第一套圈或所述第二套圈的所述端壁的所述内部表面延伸。所述易熔线材可延伸穿过所述金属圈并保持在所述金属圈的一部分与所述第一套圈或所述第二套圈的所述端壁之间。所述熔断器可被构造为时间延迟熔断器，并且所述铝合金可具有大约125w/m·k或更低的热导率和大约5.32×10^-6ω-cm或更高的电阻率。

还已经公开了一种制造高容量微型管式熔断器的方法的实施方案。所述方法包括：提供圆柱形外壳，其中所述外壳包括相对的第一端部和第二端部；以及提供铝合金片材。所述方法还包括通过深拉工艺由所述铝合金片材构造套圈。所述套圈包括侧壁和从所述侧壁延伸的端壁。所述侧壁和所述端壁限定内部接收器，所述内部接收器的尺寸被设定成接纳所述外壳的所述第一端部或所述第二端部。所述侧壁具有大约0.50mm或更小的厚度。所述端壁包括从与所述侧壁同向的所述端壁延伸并限定所述端壁的内部表面的凸出部，并且所述端壁具有大于所述侧壁的厚度的厚度。所述方法还包括用镍镀覆所述套圈。所述方法还包括将易熔线材插入所述外壳内部，其中所述易熔线材包括相对的第一端部和第二端部。此外，所述方法包括穿过金属圈插入所述易熔线材的所述第一端部或所述第二端部。所述方法还包括使所述易熔线材的所述第一端部或所述第二端部脱离所述易熔线材的主体。所述方法还包括将所述熔断器的所述外壳的所述第一端部或所述第二端部插入所述套圈的所述内部接收器中，使得所述易熔线材的所述第一端部或所述第二端部保持在所述金属圈的一部分与所述套圈的所述端壁之间。所述方法还包括通过将所述套圈夹持在所述外壳的所述第一端部或所述第二端部周围来将所述套圈固定到所述外壳上。

任选地，在制造高容量微型管式熔断器的方法中，镀镍可为化学镀镍。所述铝合金可具有大约138mpa或更高的拉伸强度。所述铝合金可具有大约117mpa或更高的屈服强度。所述铝合金可具有大约590℃或更高的熔点。所述套圈的所述侧壁与所述外壳之间的摩擦力可为大约150牛顿或更高。所述内部接收器的内径可大于所述外壳的外径大约20μm或更小。所述端壁可包括所述端壁的外部表面中的凹陷部。所述凸出部的厚度可大于所述端壁在除所述凸出部之外的位置处的厚度。提供铝合金片材还可包括将第一热处理施加到所述铝合金片材。所述方法还可包括将第二热处理施加到所述套圈。所述熔断器可被构造为时间延迟熔断器，并且所述铝合金可具有大约125w/m·k或更低的热导率和大约5.32×10^-6ω-cm或更高的电阻率。

该书面描述使用示例来公开本发明(包括最佳模式)，并且还使得本领域技术人员能够实践本发明，包括制造和使用任何装置或系统以及执行任何合并的方法。本发明的可专利范围由权利要求书限定，并且可以包括本领域技术人员想到的其他示例。如果此类其他示例具有与权利要求书的字面语言没有不同的结构元件，或者如果它们包括与权利要求书的字面语言无实质差别的等效结构元件，则此类其他示例意图在权利要求书的范围内。