一种无芯基板的制作方法与流程

文档序号:28272416发布日期:2021-12-31 20:03阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种无芯基板的制作方法,其特征在于,该制作方法包括如下步骤:s1、在基材铜(1)顶面添加第一光刻胶层(21),进行曝光、显影,形成第一光刻胶图形;s2、在第一光刻胶图形中电镀上第一层间导体(31);s3、剥离第一光刻胶层(21),留下第一层间导体(31);s4、在第一层间导体(31)及基材铜(1)顶面上堆叠第一绝缘层(41);s5、将基材铜(1)底面减薄、平整,并在减薄后的基材铜(1)底面添加第二光刻胶层(22),进行曝光、显影,形成第二光刻胶图形;s6、根据第二光刻胶图形,刻蚀掉非导体区域的基材铜(1),形成导体图形;s7、剥离第二光刻胶层(22),在第一绝缘层(41)底面沉积添加第一种子层(51);s8、在第一种子层(51)和基材铜上添加第三光刻胶层(23),进行曝光、显影,形成第三光刻胶图形;s9、在第三光刻胶图形中电镀上第二层间导体(32);s10、剥离第三光刻胶层(23),留下第二层间导体(32);s11、除去第一种子层(51),在第二层间导体(32)及基材铜(1)底面上堆叠第二绝缘层(42);s12、打磨第一绝缘层(41)和第二绝缘层(42),露出顶面的第一层间导体(31)和底面的第二层间导体(32);s13、在第一绝缘层(41)和第一层间导体(31)的顶面沉积添加第二种子层(52),在第二绝缘层(42)和第二层间导体(32)的底面沉积添加第三种子层(53);s14、在第二种子层(52)的顶面添加第四光刻胶层(24),在第三种子层(53)的底面添加第五光刻胶层(25),进行曝光、显影,分别形成第四和第五光刻胶图形;s15、在第四光刻胶图形和第五光刻胶图形中分别电镀上第三层间导体(33)和第四层间导体(34);s16、在第四光刻胶层(24)和第三层间导体(33)的顶面继续添加第六光刻胶层(26),在第五光刻胶层(25)和第四层间导体(34)的底面继续添加第七光刻胶层(27),进行曝光、显影,分别形成第六和第七光刻胶图形;s17、对第六光刻胶图形和第七光刻胶图形中电镀上加厚第三层间导体(33)和第四层间导体(34);s18、剥离第四光刻胶层(24)、第五光刻胶层(25)、第六光刻胶层(26)和第七光刻胶层(27),留下第三层间导体(33)和第四层间导体(34);s19、除去第二种子层(52)和第三种子层(53),在第三层间导体(33)的顶面堆叠第三绝缘层(43),在第四层间导体(34)的底面堆叠第四绝缘层(44);s20、打磨第三绝缘层(43)和第四绝缘层(44),露出顶面和底面的加厚之后的第三层间导体(33)和第四层间导体(34);s21、减薄露出的加厚之后的第三层间导体(33)和第四层间导体(34);s22、对表面进行处理。2.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s1中,所述基材铜(1)的厚度为0.05

1.0mm。3.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s1中,所述第一光
刻胶层(21)的厚度为30

100微米。4.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s2中,所述第一层间导体(31)高度低于第一光刻胶层(21)。5.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s4中,所述第一绝缘层(41)的高度高于所述第一层间导体(31)。6.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s4中,所述第一绝缘层(41)采用压合或涂布的方式堆叠在第一层间导体(31)及基材铜(1)上。7.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s5中,将基材铜(1)减薄至15

35微米,所述工艺采用化学腐蚀或者物理打磨。8.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:所述第一绝缘层(41)和第二绝缘层(42)采用有玻纤布支撑和增加填料的绝缘层结构;所述第三绝缘层(43)和第四绝缘层(44)采用无玻纤布支撑的绝缘层结构、无填料的填充性绝缘材料。9.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s16中,在第六光刻胶层(26)和第七光刻胶层(27)的开口处加厚第三层间导体(33)和第四层间导体(34),使步骤s17中加厚的电镀导体与步骤s15中的层间导体的形状、位置完全一致。10.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s21中,所述第三层间导体(33)和第四层间导体(34)减薄的厚度与表面处理的厚度相对应。11.根据权利要求1所述的无芯基板的制作方法,其特征在于:在步骤s22中,进行表面处理前,在非外露的层间导体表面涂布感光绝缘层。

技术总结
本发明公开了一种无芯基板的制作方法,该制作方法包括如下步骤:I


技术研发人员:张成立 徐光龙 王强 马梦亚
受保护的技术使用者:宁波华远电子科技有限公司
技术研发日:2021.08.06
技术公布日:2021/12/30
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