板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质与流程

本公开涉及但不限于半导体测试领域，尤其涉及一种板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、相关技术中，对存储模组进行测试的手段较少，通常利用集成电路自动测试机(automatic test equipment，ate)或中央处理器(central processing unit，cpu)主板进行测试。但是，利用ate或cpu主板对存储模组进行测试的方式成本较高，且不能对存储模组在实际应用中存在的问题进行准确分析。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开实施例提供一种板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质。

2、本公开实施例的技术方案是这样实现的：

3、本公开实施例提供一种板卡转接设备，包括：第一转接结构、第二转接结构和信号传输结构；其中，

4、所述第一转接结构具有与目标存储模组的板卡匹配的金手指；

5、所述第二转接结构具有与所述金手指匹配的连接器；

6、所述信号传输结构包括第一传输模块和第二传输模块；所述第一传输模块用于将所述金手指的数据信号线、时钟信号线、地址信号线和控制信号线与所述连接器中相应的连接线对应连接；所述第二传输模块用于在接入电源输入信号的情况下，将所述电源输入信号转换为与所述目标存储模组的供电电源匹配的电源输出信号，并将所述电源输出信号传输至所述连接器的电源信号线。

7、在一些实施例中，所述金手指的电源信号线悬空和/或所述金手指的复位信号线悬空。

8、在一些实施例中，所述第二传输模块包括电源接口和电源转换单元；其中，所述电源接口，用于连接外部电源，并将外接电源的电源输入信号传输至所述电源转换单元；所述电源转换单元，连接所述电源接口和所述连接器的电源信号线，用于将所述电源输入信号转换为与所述目标存储模组的供电电源匹配的电源输出信号，并将所述电源输出信号传输至所述连接器的电源信号线。

9、在一些实施例中，所述电源输出信号包括供电电压信号、编程电压信号和端接电压信号，所述第二传输模块用于将所述供电电压信号、编程电压信号和端接电压信号分别传输至所述连接器的供电电压信号线、编程电压信号线和端接电压信号线。

10、在一些实施例中，所述信号传输结构还包括：第三传输单元，与所述连接器的复位信号线连接，用于产生上电复位信号，并将所述上电复位信号传输至所述复位信号线。

11、在一些实施例中，所述第三传输单元包括复位电路，所述复位电路用于产生上电复位信号。

12、在一些实施例中，所述复位电路包括以下至少之一：阻容复位电路、复位芯片。

13、在一些实施例中，所述存储模组为双列直插式存储模组。

14、本公开实施例提供一种测试方法，所述方法包括：

15、在上述任一实施例中所述的板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储模组连接器，且所述板卡转接设备接入电源输入信号的情况下，控制所述数据配置板卡上电；所述板卡转接设备的连接器连接待测试的存储模组；

16、利用所述数据配置板卡，通过所述板卡转接设备控制所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式；

17、在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式，且连接所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连接器的情况下，利用所述目标测试平台对所述存储模组进行测试。

18、在一些实施例中，所述方法还包括：在所述板卡转接设备的连接器连接所述存储模组，且所述板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储模组连接器的情况下，向所述板卡转接设备输入电源输入信号。

19、在一些实施例中，所述向所述板卡转接设备输入电源输入信号，包括：将所述板卡转接设备的第二传输结构与提供预设电压值的直流电源连接。

20、在一些实施例中，所述方法还包括：将所述板卡转接设备的连接器与所述存储模组连接，并将所述板卡转接设备的金手指与所述数据配置板卡的存储模组连接器连接。

21、在一些实施例中，所述方法还包括：在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式的情况下，将连接所述存储模组的所述板卡转接设备，从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连接器。

22、本公开实施例提供一种测试系统，包括：待测试的存储模组；上述任一实施例中所述的板卡转接设备；数据配置板卡；目标测试平台；

23、其中，所述待测试的存储模组与所述板卡转接设备的连接器连接；

24、所述数据配置板卡，用于：在所述板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储模组连接器，且所述板卡转接设备接入电源输入信号、所述数据配置板卡上电的情况下，通过所述板卡转接设备控制所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式；

25、所述目标测试平台，用于：在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式，且连接所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连接器的情况下，对所述存储模组进行测试。

26、本公开实施例提供一种测试装置，所述装置包括：

27、上电模块，用于在上述任一实施例中所述的板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储模组连接器，且所述板卡转接设备接入电源输入信号的情况下，控制所述数据配置板卡上电；所述板卡转接设备的连接器连接待测试的存储模组；

28、控制模块，用于利用所述数据配置板卡，通过所述板卡转接设备控制所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式；

29、测试模块，用于在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式，且连接所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连接器的情况下，利用所述目标测试平台对所述存储模组进行测试。

30、本公开实施例提供一种测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法中的部分或全部步骤。

31、本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法中的部分或全部步骤。

32、本公开实施例中，板卡转接设备包括第一转接结构、第二转接结构和信号传输结构；第一转接结构具有与目标存储模组的板卡匹配的金手指；第二转接结构具有与该金手指匹配的连接器；该金手指的数据信号线、时钟信号线、地址信号线和控制信号线与连接器中相应的连接线对应连接，且该连接器的电源信号线通过信号传输结构中的第二传输模块连接至接入的电源输入信号。这样，可以在不影响存储模组的板卡与已有插槽之间通信的情况下，独立控制存储模组的电源信号，如此，利用该板卡转接设备可以支持存储模组在不同板卡或硬件平台上切换连接时不掉电，从而可以使得存储模组的配置在切换连接时不丢失，进而可以提高存储模组测试的灵活性和准确性，便于在各种类型的系统平台上对存储模组进行测试。

33、本公开的一个或多个实施例的细节在下面的附图和描述中提出。本公开的其它特征和优点将从说明书以及附图变得明显。