一种可拆卸测试接口保护装置的制作方法

1.本实用新型涉及连接器测试技术领域，尤其是指一种可拆卸测试接口保护装置。


背景技术：

2.在连接器测试领域，测试设备一般都比较高端昂贵，并且测试设备上使用的测试接口往往不可拆卸，而对大批量的产品进行测试是需要将产品与测试接口频繁对接测试的，频繁对接使用将会造成测试设备上的测试接口磨损或者损坏，以至于测试接口不可复原，甚至导致整机报废，并且更换测试接口的费用较为昂贵。


技术实现要素：

3.为此，本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中测试接口长时间使用而导致其磨损或整机报废的问题，可以降低测试接口与产品的对插次数，可以提高测试接口的使用寿命，可以降低企业成本。
4.为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种可拆卸测试接口保护装置，包括固定座，所述固定座上安装有转接机构，所述转接机构与测试接口可拆卸连接。
5.在本实用新型的一个实施例中，所述转接机构包括圆柱形的本体，所述本体上设置有第一平面和第二平面，所述第一平面和第二平面相对于中心面平行对称设置，所述中心平面穿过所述本体的轴线。
6.在本实用新型的一个实施例中，所述本体的两端分别定义为第一端和第二端，所述第一平面和第二平面均设置在所述第一端上。
7.在本实用新型的一个实施例中，所述固定座上设置有通孔，所述通孔的形状与所述第一端的形状相匹配，所述第一端穿过所述通孔。
8.在本实用新型的一个实施例中，所述固定座呈l型。
9.在本实用新型的一个实施例中，所述固定座底部设置有多个安装孔。
10.在本实用新型的一个实施例中，所述固定座上设置有多个螺纹孔，所述螺纹孔与所述通孔相贯通，所述螺纹孔的轴线和所述通孔的轴线相垂直。
11.在本实用新型的一个实施例中，所述第一端与所述测试接口可拆卸连接，所述第二端与被测试产品的接头可拆卸连接。
12.在本实用新型的一个实施例中，测试设备发出的信号经过测试接口从所述转接机构的第二端输出时的插入损耗参数和驻波比参数与测试设备发出的信号直接从测试接口输出时的插入损耗参数和驻波比参数保持一致。
13.在本实用新型的一个实施例中，所述通孔的宽度l小于所述转接机构的外径，所述通孔的宽度l不小于所述第一平面和所述第二平面之间的距离。
14.本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
15.本实用新型所述的可拆卸测试接口保护装置，包括固定座和转接机构。固定座上安装有转接机构，当转接机构可拆卸安装在测试接口上时，转接机构的第一端与测试接口
连接，转接机构的第二端与产品连接进行测试，避免了产品测试时直接与测试接口对插，当转接机构的第二端长时间使用因磨损导致第二端无法使用时，可以直接更换转接机构，这样便避免了产品直接与测试接口对插，极大地降低了测试接口的对插次数，提高了测试接口的使用寿命，降低了企业的设备维护成本。
附图说明
16.为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中
17.图1是本实用新型的可拆卸测试接口保护装置一实施例的结构示意图；
18.图2是本实用新型中可拆卸测试接口保护装置固定座一实施例的结构示意图；
19.图3是本实用新型中可拆卸测试接口保护装置转接机构一实施例的结构示意图。
20.说明书附图标记说明：1、固定座；2、转接机构；3、测试接口；11、通孔；12、安装孔；13、螺纹孔；21、本体；22、第一平面；23、第一端；24、第二端；25、第二平面。
具体实施方式
21.下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
22.参照图1所示，本实用新型的一种可拆卸测试接口3保护装置，包括固定座1和转接机构2。固定座1上安装有转接机构2，转接机构2与测试接口3可拆卸连接。
23.转接机构2包括圆柱形的本体21。转接机构2的本体21上设置有第一平面22和第二平面25，第一平面22和第二平面25相对于中心平面平行对称设置，中心平面穿过本体21的轴线。本体21的两端分别定义为第一端23和第二端24，第一平面22和第二平面25均设置在第一端23上。第一端23与测试设备上的测试接口3可拆卸连接，第二端24与被测试产品的接头连接。固定座1上设置有通孔11，通孔11上设置有两个平面和两个弧面，两个平面对称设置，两个弧面也对称设置。通孔11的形状与第一端23的形状相匹配，第一端23穿过通孔11。第一平面22、第二平面25和通孔22上两个平面的配合可以防止转接机构2安装到固定座1的通孔11内时发生旋转，防止在测试时转接机构2发生相对移动而影响测试结果。
24.固定座1呈l型，固定座1底部设置有多个安装孔12，安装孔12用于将固定座1固定在工作台上，防止固定座1移动而导致转接机构2从测试接口3上脱离或者损坏测试接口3。固定座1上还设置有多个螺纹孔13，螺纹孔13与通孔11相贯通，螺纹孔13内安装有螺钉，螺纹孔13的轴线和通孔11的轴线相垂直，使得螺钉在对转接机构2进行固定时正对本体21上的中心，这会使螺钉对转接机构2的定位更加可靠。当转接机构2的尺寸较大时，螺纹孔13可以根据转接机构2的大小来增大配合使用的螺纹孔13和螺钉的直径，以提升对转接机构2的固定可靠性，防止在测试时转接机构2发生相对移动而影响测试结果。优选的，螺纹孔13的轴线垂直于通孔上的两个平面，这样螺钉旋入螺纹孔13内螺钉的顶部可以直接顶在第一平面22和第二平面25上，这样将转接机构2更加稳固的固定在固定座1上。
25.通孔11的宽度l小于转接机构2的外径，通孔的宽度l不小于第一平面22和第二平面25之间的距离，这样可以实现转接机构2在固定座1上的定位，再加上螺钉的固定功能，可以有效地将转接机构2固定在固定座1上。这样通过固定座1的安装孔12将固定座1固定在工
作台上，使得固定座1不会相对测试设备发生相对移动，防止在测试时因转接机构2发生相对移动而影响测试结果。
26.射频测试主要看两个性能，即插入损耗参数和驻波比参数。转接机构2的插入损耗参数和驻波比参数如果与测试接口3的插入损耗参数和驻波比参数不匹配时会对测试结果产生较大的影响。插入损耗参数和驻波比参数通过内部结构尺寸的设计来保证，也就是转接机构2的内部结构尺寸要设计好，以保证测试设备发出的信号经过测试接口3从转接机构2的第二端24输出时的插入损耗性能和驻波比性能与测试设备发出的信号直接从测试接口3输出时的插入损耗性能和驻波比性能要严格保持一致，这样通过对产品测试的插入损耗性能和驻波比性能才不会与实际性能相差太大。
27.当测试高频连接器时，对测试的要求就会比较高，如果测试接口3内存在较多的灰尘等杂质时，就会对测试结果产生较大的影响。并且不使用转接机构2的测试接口3裸漏无任何保护措施，容易受到各种人为环境和不可抗拒因素的破坏。而通过转接机构2对产品进行测试时，因为转接机构2与测试机构一直是处于连接的状态，灰尘等杂质很难进入到测试接口3内部，所以转接机构2对测试接口3可以起到一定的保护作用，并且也可以防止人为因素将测试接口3碰坏，严重的则会导致整机报废。
28.假设测试接口3是母头，那么转接机构2的第一端23极性与测试接口3相反，即第一端23是公头，这样测试接口3才可以与第一端23对接，而转接机构2的第二端24则可以根据不同的产品需求设计为可以与产品的接头互配的极性，可以是公头或者母头，根据对接产品来确定。通过转接机构2的设置，当转接机构2安装在测试接口3上时，转接机构2的第一端23与测试接口3连接，转接机构2的第二端24与产品连接进行测试，避免了产品测试时直接与测试接口3对插，当转接机构2的第二端24长时间使用因磨损导致第二端24无法使用时，可以直接更换转接机构2，这样便避免了产品直接与测试接口3对插，极大地降低了测试接口3的对插次数，提高了测试接口3的使用寿命。
29.显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。