X射线探测器和探测方法与流程

技术特征：

1.一种x射线探测器，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的x射线探测器，其特征在于，所述光电二极管阵列单元包括：

3.根据权利要求1所述的x射线探测器，其特征在于，还包括：准直片，设置在相邻两层光电二极管阵列单元之间，所述准直片的材料为高原子序数材料。

4.根据权利要求3所述的x射线探测器，其特征在于，所述粘接层包括：第一粘接层和第二粘接层，

5.根据权利要求4所述的x射线探测器，其特征在于，

6.根据权利要求3所述的x射线探测器，其特征在于，所述堆叠结构包括：朝向被检目标的探测面，所述探测面与所述第一表面垂直，

7.根据权利要求6所述的x射线探测器，其特征在于，所述准直片包括：延长超过所述探测面的第一子部、与所述光电二极管阵列单元重叠的第二子部、以及延长超过所述探测面的相对面的第三子部，

8.根据权利要求2所述的x射线探测器，其特征在于，

9.根据权利要求2所述的x射线探测器，其特征在于，所述基板还包括：多个第一焊盘和至少一个第二焊盘，

10.根据权利要求9所述的x射线探测器，其特征在于，

11.根据权利要求4所述的x射线探测器，其特征在于，

12.一种利用权利要求1-11中任一项所述的x射线探测器的探测方法，其特征在于，包括：

技术总结
本申请公开了一种X射线探测器和探测方法，本申请一实施例的X射线探测器包括：基板；设置在基板第一表面上的堆叠结构，其中，堆叠结构包括层叠设置的多层光电二极管阵列单元，每层光电二极管阵列单元之间由粘接层隔离。本申请提供的实施例的X射线探测器通过在基板上设置由多层光电二极管阵列单元构成的堆叠结构，使得能够降低X射线使用剂量，提高对物质或生物组织的分辨能力，同时降低了产品成本，具有广阔的应用前景。

技术研发人员：李博,王洪波,李宁
受保护的技术使用者：同源微（北京）半导体技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13