电流检测电路及电源装置的制作方法

文档序号:19603814发布日期:2020-01-03 13:19阅读:172来源:国知局
电流检测电路及电源装置的制作方法

本发明涉及电流检测电路及电源装置。



背景技术:

车载用的电源装置使用对直流电压进行升压或降压而转换成所希望的直流电压的dcdc转换器。在这样的dcdc转换器中,要求能高精度地检测在输入侧及输出侧的导电通路中流动的电流的大小的结构。例如,专利文献1公开的过电流检测电路是将利用二极管和分压用电阻器对负载装置的输入电压进行了分压后的电压作为基极偏压向晶体管的基极施加的结构。在电力供给路径中流动过电流且电流检测电阻器的两端电压大于分压电阻器的两端电压的情况下,晶体管被向正方向偏置而成为接通状态,将过电流检测信号向电源装置传送。

【专利文献1】日本特开平9-119949号公报

【发明要解决的课题】

然而,在专利文献1的结构中,在要检测电路内的多个部位的电流的情况下,需要将上述同样的结构的电流检测电路设置多个。具体而言,在要检测dcdc转换器的输入侧导电通路及输出侧导电通路的电流的情况下,由于对各个导电通路设置电流检测电路而电流检测电路需要2个。例如图5所示,在要基于从分别设置于不同的导电通路的传感器输出的信号来检测电流的情况下,需要与各传感器对应的电流检测电路(包含电阻、比较器等的电路)。因此,产生零件个数增大这样的问题。

因此,可考虑如图6所示的电流检测电路那样,对于各个导电通路将检测电路进行一部分共通化而设置作为具备使用了二极管的or电路的结构的情况。然而,由于使用二极管而产生电压下降,该电压下降具有温度特性。因此,在基于二极管的电压下降来设定检测的电压的大小(阈值)的结构中,该阈值产生变动,电流的检测精度可能会恶化。



技术实现要素:

本发明为了解决上述的课题的至少一个而作出,其目的在于提供一种实现零件个数的削减并能高精度地检测电流的结构。

【用于解决课题的方案】

本发明的第一方案的电流检测电路检测在车载用的dcdc转换器中流动的电流,该车载用的dcdc转换器与第一导电通路及第二导电通路电连接,并且将所述第一导电通路及所述第二导电通路中的任一方设为输入侧导电通路,将另一方设为输出侧导电通路,对于向所述输入侧导电通路施加的电压进行升压或降压而向所述输出侧导电通路输出,其中,

所述电流检测电路具备:

第一传感器,输出与在所述第一导电通路中流动的电流相对应的第一电压;

第一信号通路,被施加与所述第一电压相对应的电压;

第二传感器,输出与在所述第二导电通路中流动的电流相对应的第二电压;

第二信号通路,被施加与所述第二电压相对应的电压;

第一输出部,具备第一元件、第二元件及第三信号通路,该第一元件具有与所述第一信号通路连接的第一输入端子及第一输出端子,该第二元件具有与所述第二信号通路连接的第二输入端子及第二输出端子,该第三信号通路与所述第一输出端子及所述第二输出端子连接,所述第一输出部将与来自所述第一传感器及所述第二传感器中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压向所述第三信号通路施加;及

第二输出部,具备第三元件及第四信号通路,该第三元件具有与所述第三信号通路连接的第三输入端子及第三输出端子,该第四信号通路与所述第三输出端子连接,

所述第一输出部将相对于来自所述检测传感器的输出电压而反映了所述第一元件及所述第二元件中的与所述检测传感器连接的元件处的电压下降的电压向所述第三信号通路施加,

所述第二输出部将相对于向所述第三信号通路施加的电压而反映了在所述第三元件中的所述第三输入端子与所述第三输出端子之间产生的电压下降的电压向所述第四信号通路施加。

本发明的第二方案的电源装置包括车载用的dcdc转换器和上述电流检测电路。

【发明效果】

第一方案的电流检测电路中,第一输出部向第三信号通路施加与来自第一传感器及第二传感器中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压。因此,能够向第三信号通路施加与连接于dcdc转换器的第一导电通路及第二导电通路中的流动有大的电流的导电通路的电流相对应的电压。

并且,第一输出部向第三信号通路施加相对于来自检测传感器的输出电压而反映了第一元件及第二元件中的与检测传感器连接的元件的电压下降的电压。而且,第二输出部向第四信号通路施加相对于向第三信号通路施加的电压而反映了在第三元件中的第三输入端子与第三输出端子之间产生的电压下降的电压。因此,相对于向第三输入端子施加的电压,第一元件或第二元件的电压下降量能够利用第三元件的电压下降来抵消。因此,能够不受元件的电压下降的影响而基于向第四信号通路施加的电压来检测在第一导电通路或第二导电通路中流动的电流。

该电流检测电路由于第一传感器及第二传感器分别检测在与车载用的dcdc转换器连接的第一导电通路及第二导电通路中流动的电流,因此能够检测向第一导电通路及第二导电通路分别流动的不同方向的电流。因此,与对于第一导电通路及第二导电通路分别单独地设置电流检测电路的结构相比,能够削减零件个数。

在此基础上,第一元件或第二元件的电压下降的温度变化能够利用第三元件的电压下降的温度变化来抵消。因此,能够不受第一元件或第二元件的温度特性影响而高精度地检测电流。

根据第二方案的电源装置,能够起到与第一方案的电流检测电路同样的效果。

附图说明

图1是概略性地例示实施例1的车载用电源系统的结构的框图。

图2是概略性地例示实施例1的电流检测电路的结构的电路图。

图3是概略性地例示实施例2的电流检测电路的结构的电路图。

图4是概略性地例示实施例3的电流检测电路的结构的电路图。

图5是概略性地例示现有例子的电流检测电路的结构的电路图。

图6是概略性地例示现有例子的电流检测电路的结构的电路图。

【标号说明】

10…电源装置

15…第一导电通路

16…第二导电通路

20…车载用的dcdc转换器

30…电流检测电路

31…第一传感器

32…第二传感器

40…第一输出部

41…晶体管(第一元件)

42…晶体管(第二元件)

50…第二输出部

51…晶体管(第三元件)

241…二极管(第一元件)

242…二极管(第二元件)

251…二极管(第三元件)

311…第一分压电路

321…第二分压电路

l1…第一信号通路

l2…第二信号通路

l3…第三信号通路

l4…第四信号通路

具体实施方式

在此,示出本发明的优选的例子。但是,本发明没有限定为以下的例子。

第一元件、第一输入端子及第一输出端子也可以分别构成作为双极晶体管、基极及发射极。第二元件、第二输入端子及第二输出端子也可以分别构成作为双极晶体管、基极及发射极。第三元件、第三输入端子及第三输出端子也可以分别构成作为双极晶体管、基极及发射极。

这样的话,构成作为双极晶体管的第一元件或第二元件的温度特性引起的电压下降的变动通过构成作为双极晶体管的第三元件的温度特性引起的电压下降而能够抵消。因此,能够不受元件的温度特性的影响而高精度地检测电流。

第一元件、第一输入端子及第一输出端子也可以分别构成作为二极管、阳极及阴极。第二元件、第二输入端子及第二输出端子也可以分别构成作为二极管、阳极及阴极。第三元件、第三输入端子及第三输出端子也可以分别构成作为二极管、阴极及阳极。

这样的话,构成作为二极管的第一元件或第二元件的温度特性引起的电压下降的变动通过构成作为二极管的第三元件的温度特性引起的电压下降而能够抵消。因此,能够不影响元件的温度特性地检测电流。

也可以具备对于由第一传感器施加的第一电压进行分压的第一分压电路和对于由第二传感器施加的第二电压进行分压的第二分压电路。也可以是第一输入端子被施加由第一分压电路分压后的电压,第二输入端子被施加由第二分压电路分压后的电压。

这样的话,能够分别利用第一分压电路及第二分压电路对于向第一元件及第二元件施加的电压进行分压、调整。而且,可以在第一导电通路与第二导电通路之间调整检测到的电流的大小的程度。

<实施例1>

以下,说明将本发明具体化后的实施例1。

图1所示的车载用电源系统100(以下,也称为系统100)构成作为进行向车载用负载13(以下,也称为负载13)的电力供给的电源系统。如图1所示,系统100具备主电源部11、辅助电源部12、负载13、电力通路14、电源装置10及控制部等。主电源部11是对于负载13的主要的电力供给源。辅助电源部12是与主电源部11不同的电力供给源。电力通路14是主电源部11、辅助电源部12、负载13之间的电力的供给路径。电源装置10具备车载用的dcdc转换器20(以下,也称为dcdc转换器20)、电流检测电路30及控制部60。dcdc转换器20设置于电力通路14。电流检测电路30检测向dcdc转换器20流动的电流。控制部60控制dcdc转换器20及电流检测电路30等的动作。系统100例如在来自主电源部11的电力供给为正常状态时,从主电源部11对于负载13及辅助电源部12进行电力供给,在来自主电源部11的电力供给成为了异常状态时,从辅助电源部12对于负载13及主电源部11进行电力供给。

主电源部11、辅助电源部12由例如铅蓄电池、锂离子电池、双电层电容器、锂离子电容器、其他的蓄电部等公知的蓄电单元构成。主电源部11、辅助电源部12将高电位侧的端子电连接于电力通路14,对电力通路14施加规定值(例如12v)的输出电压。主电源部11、辅助电源部12的低电位侧的端子电连接于在车辆设置的地线部。而且,主电源部11电连接于未图示的发电机,通过来自该发电机的电力能充电。

负载13作为公知的车载用电气零件构成。负载13是例如线控换挡系统中的ecu或促动器、电子控制制动系统中的ecu或促动器等。负载13在上述的正常状态时基于来自主电源部11的电力供给而动作,在上述的异常状态时基于来自辅助电源部12的电力供给而动作。

dcdc转换器20作为公知的dcdc转换器构成,如图1所示,在电力通路14中设置于主电源部11与辅助电源部12及负载13之间。电力通路14由第一导电通路15、第二导电通路16构成。第一导电通路15将一端连接于主电源部11,将另一端连接于dcdc转换器20。第二导电通路16将一端连接于dcdc转换器20,将另一端连接于辅助电源部12。dcdc转换器20成为如下结构:将第一导电通路15及第二导电通路16中的任一方设为输入侧导电通路,并将另一方设为输出侧导电通路,对于向输入侧导电通路施加的直流电压进行升压或降压而向输出侧导电通路输出。

如图1所示,电流检测电路30设置于电力通路14,以检测在dcdc转换器20中流动的电流的方式发挥作用。如图2所示,电流检测电路30具备第一传感器31、第二传感器32、第一信号通路l1、第二信号通路l2、第一输出部40、第二输出部50、电阻33~36、比较器37等。

如图1所示,第一传感器31设置于第一导电通路15。第一传感器31以输出与在第一导电通路15中流动的电流相对应的第一电压的方式发挥作用。第一传感器31具有例如电阻器及差动放大器,输出表示在第一导电通路15中流动的电流的值(具体而言,与在第一导电通路15中流动的电流的值相对应的模拟电压)。通过在第一导电通路15中流动的电流而在电阻器产生的电压下降被差动放大器放大而输出作为与输出电流相对应的检测电压(模拟电压)。

如图2所示,第一信号通路l1将一端连接于第一传感器31,将另一端连接于后述的晶体管41的基极。第一信号通路l1被施加利用第一传感器31输出的第一电压。

如图1所示,第二传感器32设置于第二导电通路16。第二传感器32以输出与在第二导电通路16中流动的电流相对应的第二电压的方式发挥作用。第二传感器32具有例如电阻器及差动放大器,输出表示在第二导电通路16中流动的电流的值(具体而言,与在第二导电通路16中流动的电流的值相对应的模拟电压)。通过在第二导电通路16中流动的电流而在电阻器产生的电压下降被差动放大器放大而作为与输出电流相对应的检测电压(模拟电压)输出。

如图2所示,第二信号通路l2将一端连接于第二传感器32并将另一端连接于后述的晶体管42的基极。第二信号通路l2被施加利用第二传感器32输出的第二电压。

如图2所示,第一输出部40具备晶体管41、晶体管42及第三信号通路l3。晶体管41相当于第一元件的一例,作为npn型的双极晶体管而构成。晶体管41具备基极、集电极及发射极。晶体管41的基极相当于第一输入端子的一例,连接于第一信号通路l1的另一端。晶体管41的集电极与恒定电压源vcc及晶体管42的集电极连接。晶体管41的发射极相当于第一输出端子的一例,与第三信号通路l3的一端及晶体管42的发射极连接。

如图2所示,晶体管42相当于第二元件的一例,作为npn型的双极晶体管而构成。晶体管42具备基极、集电极及发射极。晶体管42的基极相当于第二输入端子的一例,连接于第二信号通路l2的另一端。晶体管42的集电极与恒定电压源vcc及晶体管41的集电极连接。晶体管42的发射极相当于第二输出端子的一例,与第三信号通路l3的一端及晶体管41的发射极连接。

如图2所示,第三信号通路l3将一端连接于晶体管41的发射极及晶体管42的发射极,将另一端连接于电阻33的一端。而且,第三信号通路l3中,分支了的信号通路的端部连接于后述的晶体管51的基极。

第一输出部40以如下方式发挥作用:向第三信号通路l3施加与来自第一传感器31及第二传感器32中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压。在此,在将第一导电通路15及第二导电通路16中的流动有更大的电流的一方的导电通路设为检测对象的导电通路时,检测传感器是指与该检测对象的导电通路连接的传感器。

电阻33将一端连接于第三信号通路l3,将另一端电连接于地线。

如图2所示,第二输出部50连接于第三信号通路l3中的分支的信号通路的端部。第二输出部50具备晶体管51及第四信号通路l4。晶体管51相当于第三元件的一例,构成作为pnp型的双极晶体管。晶体管51具备基极、集电极及发射极。晶体管51的基极相当于第三输入端子的一例,连接于第三信号通路l3中的分支的信号通路的端部。晶体管51的集电极电连接于地线。晶体管51的发射极相当于第三输出端子的一例,连接于第四信号通路l4。

如图2所示,第四信号通路l4将一端连接于晶体管51的发射极,将另一端连接于电阻34的一端。在第四信号通路l4中分支的信号通路连接于后述的比较器37的正侧输入端子。

如图2所示,电阻34将一端连接于第四信号通路l4的另一端,将另一端连接于恒定电压源vcc。

比较器37作为公知的比较器而构成。比较器37将正侧输入端子连接于第四信号通路l4的另一端。而且,比较器37将利用电阻35、36对来自恒定电压源vcc的输出电压进行了分压后的电压向负侧输入端子输入。具体而言,比较器37的负侧输入端子连接于一端与恒定电压源vcc连接的电阻35的另一端并且连接于一端与地线电连接的电阻36的另一端。而且,比较器37将输出端子连接于控制部60。比较器37在向正侧输入端子施加的电压大于向负侧输入端子施加的电压(阈值)的情况下,输出规定的高电平信号。另一方面,比较器37在向正侧输入端子施加的电压为向负侧输入端子施加的电压(阈值)以下时,输出规定的低电平信号。

控制部60是对电流检测电路30及dcdc转换器20等的动作进行控制的部分。控制部60例如构成作为微型计算机,具有cpu等运算装置、rom或ram等存储器等。控制部60使用从主电源部11或辅助电源部12供给的电力进行动作。控制部60基于从电流检测电路30输出的信号,判定是否由于接地等而在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流。具体而言,控制部60在从比较器37输出高电平信号的情况下,判定为在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流。另一方面,控制部60在从比较器37输出低电平信号的情况下,判定为在第一导电通路15及第二导电通路16未产生过电流。需要说明的是,控制部60在判定为在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流的情况下,也可以进行规定的故障通知(进行基于声音的通知等的控制)。

接下来,说明基于电流检测电路30的电流检测动作。

控制部60以使dcdc转换器20进行对于向输入侧导电通路(第一导电通路15及第二导电通路16中的一方)施加的电压进行升压或降压而向输出侧导电通路(第一导电通路15及第二导电通路16中的另一方)输出的动作的方式进行控制。并且,第一传感器31检测向第一导电通路15流动的电流,将与检测到的电流相对应的电压(第一电压)向第一信号通路l1施加。同样,第二传感器32检测向第二导电通路16流动的电流,将与检测到的电流相对应的电压(第二电压)向第二信号通路l2施加。向第一信号通路l1施加的第一电压及向第二信号通路l2施加的第二电压被向第一输出部40输入。

第一输出部40向第三信号通路l3施加与来自第一传感器31及第二传感器32中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压。并且,第一输出部40将相对于来自检测传感器的输出电压而反映了晶体管41及晶体管42中的连接于检测传感器的晶体管中的电压下降的电压向第三信号通路l3施加。即,第一电压及第二电压中的大的一方的电压以反映了被施加的晶体管的电压下降的状态向第三信号通路l3施加。

第二输出部50将对于向第三信号通路l3施加的电压而反映了在晶体管51的基极与发射极之间产生的电压下降的电压向第四信号通路l4施加。因此,相对于向晶体管51的基极施加的电压,晶体管41或晶体管42的电压下降量利用晶体管51的电压下降而能够抵消。因此,能够不受晶体管41或晶体管42的电压下降的影响而基于向第四信号通路l4施加的电压来检测在第一导电通路15或第二导电通路16中流动的电流。

向第四信号通路l4施加的电压被向比较器37的正侧输入端子施加。并且,比较器37将向正侧输入端子施加的电压与向负侧输入端子施加的电压进行比较,而将比较结果向控制部60输出。控制部60基于从比较器37输出的比较结果,判定在第一导电通路15或第二导电通路16是否产生过电流。

如以上所述,电流检测电路30由于第一传感器31及第二传感器32分别检测在与dcdc转换器20连接的第一导电通路15及第二导电通路16中流动的电流,因此能够检测向第一导电通路15及第二导电通路16分别流动的不同方向的电流。具体而言,在正常状态(从主电源部11向负载13及辅助电源部12供给电力的状态)下,利用第一传感器31能够检测在第一导电通路15中从主电源部11朝向dcdc转换器20流动的电流,利用第二传感器32能够检测在第二导电通路16中从dcdc转换器20朝向负载13及辅助电源部12流动的电流。由此,在第一导电通路15及第二导电通路16中能够检测从主电源部11朝向负载13及辅助电源部12流动的电流。另一方面,在异常状态(从辅助电源部12向负载13及主电源部11供给电力的状态)下,利用第一传感器31能够检测在第一导电通路15中从dcdc转换器20朝向主电源部11流动的电流,利用第二传感器32能够检测在第二导电通路16中从辅助电源部12朝向dcdc转换器20流动的电流。由此,在第一导电通路15及第二导电通路16中能够检测从辅助电源部12朝向负载13及主电源部11流动的电流。因此,与对于第一导电通路15及第二导电通路16分别单独地设置电流检测电路的结构相比,能够削减零件个数。

另外,电流检测电路30是将在晶体管41或晶体管42产生的电压下降量利用在晶体管51产生的电压下降来抵消的结构。因此,例如,通过将晶体管41和晶体管42设为互补,能够使晶体管41或晶体管42的电压下降的温度变化利用晶体管51的电压下降的温度变化来抵消。因此,电流检测电路30能够不受晶体管41或晶体管42的温度特性影响而高精度地检测电流。

接下来,例示本结构的效果。

在上述的电流检测电路30中,第一输出部40向第三信号通路l3施加与来自第一传感器31及第二传感器32中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压。因此,能够向第三信号通路l3施加与连接于dcdc转换器20的第一导电通路15及第二导电通路16中的流动有大的电流的导电通路的电流相对应的电压。

并且,第一输出部40向第三信号通路l3施加相对于来自检测传感器的输出电压而反映了晶体管41及晶体管42中的连接于检测传感器的元件的电压下降的电压。而且,第二输出部50向第四信号通路l4施加相对于向第三信号通路l3施加的电压而反映了在晶体管51的基极与发射极之间产生的电压下降的电压。因此,相对于向晶体管51的基极施加的电压,利用晶体管51的电压下降能够抵消晶体管41或晶体管42的电压下降量。因此,不会受到元件的电压下降的影响,基于向第四信号通路l4施加的电压能够检测在第一导电通路15或第二导电通路16中流动的电流。

该电流检测电路30由于第一传感器31及第二传感器32分别检测在与dcdc转换器20连接的第一导电通路15及第二导电通路16中流动的电流,因此能够检测向第一导电通路15及第二导电通路16分别流动的不同方向的电流。因此,与对于第一导电通路15及第二导电通路16分别单独地设置电流检测电路30的结构相比,能够削减零件个数。

在此基础上,利用晶体管51的电压下降的温度变化能够抵消晶体管41或晶体管42的电压下降的温度变化。因此,能够不受晶体管41或晶体管42的温度特性影响而高精度地检测电流。

<实施例2>

接下来,说明实施例2。

实施例2的系统100主要是电流检测电路30的第一输出部240及第二输出部250的结构与实施例1不同。需要说明的是,除此以外的结构与实施例1相同。因此,以下,对于成为与实施例1相同的结构的部分,标注与实施例1相同的标号而省略详细说明,重点说明与实施例1不同的点。

如图3所示,实施例2的电流检测电路30具备第一传感器31、第二传感器32、第一信号通路l1、第二信号通路l2、第一输出部240、第二输出部250、电阻33~36、比较器37等。第一输出部240具备二极管241、二极管242及第三信号通路l3。二极管241相当于第一元件的一例,具备阳极及阴极。二极管241的阳极相当于第一输入端子的一例,与第一信号通路l1的另一端连接。二极管241的阴极相当于第一输出端子的一例,与第三信号通路l3的一端及二极管242的阴极连接。

如图3所示,二极管242相当于第二元件的一例,具备阳极及阴极。二极管242的阳极相当于第二输入端子的一例,与第二信号通路l2的另一端连接。二极管242的阴极相当于第二输出端子的一例,与第三信号通路l3的一端及二极管241的阴极连接。

如图3所示,第三信号通路l3将一端与二极管241的阴极及二极管242的阴极连接,将另一端与电阻33的一端连接。而且,第三信号通路l3中,分支了的信号通路的端部连接于后述的二极管251的阴极。

如图3所示,第二输出部250与第三信号通路l3中的分支的信号通路的端部连接。第二输出部250具备二极管251及第四信号通路l4。二极管251相当于第三元件的一例,具备阳极及阴极。二极管251的阴极相当于第三输入端子的一例,与第三信号通路l3中的分支了的信号通路的端部连接。二极管251的阳极相当于第三输出端子的一例,与第四信号通路l4连接。

如图3所示,第四信号通路l4将一端与二极管251的阳极连接,将另一端与电阻34的一端连接。在第四信号通路l4中分支了的信号通路连接于控制部60。

控制部60基于向第四信号通路l4输出的电压信号,判定是否由于接地等而在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流。例如,控制部60将向第四信号通路l4施加的电压与规定的阈值进行比较,在向第四信号通路l4施加的电压大于规定的阈值的情况下,判定为在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流。另一方面,控制部60在向第四信号通路l4施加的电压为规定的阈值以下的情况下,判定为在第一导电通路15或第二导电通路16未产生过电流。

接下来,说明由电流检测电路30进行的电流检测动作。

与实施例1同样,第一输出部240向第三信号通路l3施加与来自第一传感器31及第二传感器32中的检测到大的电流的检测传感器的输出相对应的电压。并且,第一输出部240向第三信号通路l3施加相对于来自检测传感器的输出电压而反映了二极管241及二极管242中的连接于检测传感器的二极管的电压下降的电压。即,第一电压及第二电压中的大的一方的电压以反映了施加的二极管的电压下降的状态向第三信号通路l3施加。

第二输出部250向第四信号通路l4施加相对于向第三信号通路l3施加的电压而反映了在二极管251中的阳极与阴极之间产生的电压下降的电压。因此,相对于向二极管251的阴极施加的电压,利用二极管251的电压下降能够抵消二极管241或二极管242的电压下降量。因此,能够不受二极管241或二极管242的电压下降的影响而基于向第四信号通路l4施加的电压来检测在第一导电通路15或第二导电通路16中流动的电流。

向第四信号通路l4施加的电压作为电压信号向控制部60输入。并且,控制部60将输入了的信号的电压与规定的阈值进行比较,判定在第一导电通路15或第二导电通路16是否产生过电流。

如以上所述,实施例2的电流检测电路30由于第一传感器31及第二传感器32分别检测在与dcdc转换器20连接的第一导电通路15及第二导电通路16中流动的电流,因此能够检测向第一导电通路15及第二导电通路16分别流动的不同方向的电流。因此,与对于第一导电通路15及第二导电通路16分别单独设置电流检测电路的结构相比,能够削减零件个数。

另外,电流检测电路30相对于向二极管251的阴极施加的电压,利用二极管251的电压下降能够抵消二极管241或二极管242的电压下降量。因此,能够不受元件的电压下降的影响而基于向第四信号通路l4施加的电压来检测在第一导电通路15或第二导电通路16中流动的电流。

另外,电流检测电路30能够利用二极管251的电压下降的温度变化抵消二极管241或二极管242的电压下降的温度变化。因此,电流检测电路30能够不受二极管241或二极管242的温度特性影响而高精度地检测电流。

<实施例3>

接下来,说明实施例3。

实施例3的系统100主要是在第一传感器31与第一信号通路l1之间设置第一分压电路311,在第二传感器32与第二信号通路l2之间设置第二分压电路321的点与实施例1不同。需要说明的是,除此以外的结构与实施例1相同。因此,以下,对于与实施例1相同的结构的部分,标注与实施例1相同的标号而省略详细说明,重点说明与实施例1不同的点。

如图4所示,实施例3的电流检测电路30具备第一传感器31、第二传感器32、第一分压电路311、第二分压电路321、第一信号通路l1、第二信号通路l2、第一输出部40、第二输出部50、电阻33~36、比较器37等。第一分压电路311具备电阻312及电阻313。电阻312将一端与第一传感器31连接,将另一端与第一信号通路l1的一端及电阻313的一端连接。电阻313将一端与电阻312的另一端及第一信号通路l1的一端连接,将另一端与地线电连接。第一分压电路311以对于利用第一传感器31施加的第一电压进行分压而向第一信号通路l1施加的方式发挥作用。晶体管41的基极被施加利用第一分压电路311分压后的第一电压。

第二分压电路321具备电阻322及电阻323。电阻322将一端与第二传感器32连接,将另一端与第二信号通路l2的一端及电阻323的一端连接。电阻323将一端与电阻322的另一端及第二信号通路l2的一端连接,将另一端电连接于地线。第二分压电路321以对于利用第二传感器32施加的第二电压进行分压而向第二信号通路l2施加的方式发挥作用。晶体管42的基极被施加利用第二分压电路321分压后的第二电压。

在实施例3的电流检测电路30的结构中,能够将向晶体管41及晶体管42施加的电压分别利用第一分压电路311及第二分压电路321进行分压而进行调整。因此,能够将向第三信号通路l3及第四信号通路l4施加的电压降低至所希望的大小的电压。因此,能够将利用比较器37与向第四信号通路l4施加的电压进行比较的规定的阈值降低至所希望的大小。而且,通过设为在第一分压电路311和第二分压电路321中以不同的分压比进行分压的结构,能够在第一导电通路与第二导电通路之间调整所检测的电流的大小的程度。

<其他实施例>

本发明没有限定为通过上述记述及附图说明的实施例,例如下面那样的实施例也包含于本发明的技术范围。

在实施例1~3中,在电流检测电路30中,也可以设为将恒定电流电路与第一信号通路l1连接,在第一导电通路15或第二导电通路16产生过电流时,恒定电流向第一信号通路l1流动的结构。由此,能够使向第四信号通路l4施加的电压稳定,能够高精度地检测电流。

在实施例1、3中,是将向第四信号通路l4施加的电压利用比较器37进行比较判定的结构,但是也可以与实施例2同样地设为不利用比较器37进行比较判定而利用控制部60进行比较判定的结构。而且,在实施例2中,也可以与实施例1、3同样地设为将向第四信号通路l4施加的电压利用比较器37进行比较判定的结构。

在实施例1~3中,控制部60以微型计算机为主体而构成,但是也可以利用微型计算机以外的多个硬件电路实现。

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