脉冲宽度调制的移相方法、装置、设备及可读存储介质与流程

1.本技术涉及电力电子控制领域，具体涉及一种脉冲宽度调制的移相方法、装置、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.对于单电阻的采样方式，要求脉冲宽度调制(pulse width modulation，pwm)载波周期内逆变器输出的非零电压矢量的持续时间大于最小采样窗口时间。当输出的空间电压矢量处于低调制区或非零电压矢量附近时，无法满足上述要求。
3.相关技术中，调整单个开关周期内的脉冲宽度调制输出相位，能够使得非零电压矢量的持续时间大于最小采样窗口时间。但上述方法存在电流的地刺谐波和开关频率次谐波增加的问题。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术实施例提供一种脉冲宽度调制的移相方法、装置、设备及可读存储介质，至少部分解决现有技术中存在的问题。
5.第一方面，本技术实施例提供了一种脉冲宽度调制的移相方法，应用于采样脉冲宽度调制系统，采样脉冲宽度调制系统的控制周期至少包括第一开关周期和第二开关周期，方法包括：
6.在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间；
7.在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。
8.根据本技术实施例的一种具体实现方式，在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间之后，方法还包括：
9.在第一开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第一采样电流，以及，选取至少一个第二时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第二采样电流；
10.在第二开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第三时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第三采样电流，以及，选取至少一个第四时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第四采样电流；
11.根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，第一目标电流为载波起始时刻第一目标脉冲宽度调制的电流，第二目标电流为载波起始时刻第二目标脉冲宽度调制的电流。
12.根据本技术实施例的一种具体实现方式，在至少一个第一采样电流为一个第一采样电流、至少一个第二采样电流为一个第二采样电流、至少一个第三采样电流为一个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为一个第四采样电流的情况下，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，包括：
13.将第一采样电流和第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
14.将第二采样电流和第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
15.根据本技术实施例的一种具体实现方式，在至少一个第一采样电流为两个第一采样电流、至少一个第二采样电流为两个第二采样电流、至少一个第三采样电流为两个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为两个第四采样电流的情况下，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，包括：
16.将两个第一采样电流和两个第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
17.将两个第二采样电流和两个第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
18.根据本技术实施例的一种具体实现方式，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流之后，方法还包括：
19.根据第一目标电流和第二目标电流，确定第三目标电流。
20.根据本技术实施例的一种具体实现方式，根据第一目标电流和第二目标电流，确定第三目标电流，包括：
21.将第一目标电流和第二目标电流之和的相反数，确定为第三目标电流。
22.根据本技术实施例的一种具体实现方式，第一目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的一者，第二目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的另一者；
23.第一开关周期为第一个开关周期，第二开关周期为最后一个开关周期。
24.第二方面，本技术实施例提供了一种脉冲宽度调制的移相装置，应用于采样脉冲宽度调制系统，采样脉冲宽度调制系统的控制周期至少包括第一开关周期和第二开关周期，装置包括：
25.第一移相模块，用于在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间；
26.第二移相模块，用于在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。
27.第三方面，本技术实施例还提供了一种脉冲宽度调制的移相设备，该脉冲宽度调制的移相设备包括：
28.至少一个处理器；以及，
29.与该至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
30.该存储器存储有可被该至少一个处理器执行的指令，该指令被该至少一个处理器
执行，以使该至少一个处理器能够执行前述第一方面或第一方面的任一实现方式中的脉冲宽度调制的移相方法。
31.第四方面，本技术实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，该非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，该计算机指令用于使该计算机执行前述第一方面或第一方面的任一实现方式中的脉冲宽度调制的移相方法。
32.第五方面，本技术实施例还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算程序，该计算机程序包括程序指令，当该程序指令被计算机执行时，使该计算机执行前述第一方面或第一方面的任一实现方式中的脉冲宽度调制的移相方法。
33.本技术实施例提供一种脉冲宽度调制的移相方法、装置、设备及可读存储介质，采样脉冲宽度调制系统至少可以包括第一开关周期和第二开关周期，该方法可以包括：在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间；在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。在本技术实施例中，通过在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间，能够减少相关技术中移相带来的电流低次谐波和开关频率次谐波。
附图说明
34.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
35.图1为相关技术中采样脉冲宽度调制系统的结构示意图；
36.图2为相关技术中空间电压矢量示意图；
37.图3为相关技术中单个载波周期内的移相采样示意图；
38.图4为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相方法的流程示意图；
39.图5为本技术实施例提供的移相采样示意图；
40.图6为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相装置结构示意图；
41.图7为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
42.下面结合附图对本技术实施例进行详细描述。
43.以下通过特定的具体实例说明本技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。本技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可
以相互组合。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
44.需要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本技术，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
45.还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本技术的基本构想，图式中仅显示与本技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
46.另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。
47.在阐述本技术实施例所提供的技术方案之前，为了便于对本技术实施例理解，本技术首先对相关技术中存在的问题进行具体说明：
48.请参阅图1，图1为相关技术中采样脉冲宽度调制系统的结构示意图。
49.如图1所示，在相关技术中，采样脉冲宽度调制系统可以包括电机10、逆变器单元20、开关s1-s6、电阻r、放大器30、电容c1-c2、电流采样单元40、坐标变换单元50、电流控制单元60和脉冲宽度调制单元70。电流采样单元40通过电阻r和放大器30采样逆变器单元20输出的电流ileg，并将采集到的电流ileg输入坐标变换单元50。坐标变换单元50对接收到的电流ileg进行坐标变换，并将进行坐标变换后的电流输入至电流控制单元60。电流控制单元60在接收到坐标变换单元50输入的电流的情况下，输出指令电压至脉冲宽度调制单元70。脉冲宽度调制单元70在接收到指令电压之后对电流进行重构，进而输出脉冲宽度调制信号。
50.图1中的p表示正极(positive pole)，n表示负极(negative pole)，电容c1和电容c2可以用于提供电源。
51.可以理解的是，开关s1和开关s4组成第一桥臂，开关s2和开关s5组成第二桥臂，开关s3和开关s6组成第三桥臂。每个桥臂同时只有一个开关打开，例如，开关s1打开，开关s4闭合。
52.可选的，电流控制单元60可以为电流控制器。
53.请一并参阅图1和图2，如图2所示，图中1-6分别表示第1扇区至第6扇区，即，1表示第一扇区，2表示第2扇区，以此类推，6表示第6扇区。v1-v6均为非零电压矢量，v0和v7均为零电压矢量。v0(000)表示开关s4-s6打开，开关s1-s3关闭；v1(001)表示开关s4、s5以及s3打开，开关s1、s2以及s6关闭；v2(010)表示开关s4、s2以及s6打开，开关s1、s5以及s3关闭。即，括号里的第一位为0，表示第一桥臂中的开关s4打开；括号里的第一位为1，表示第一桥臂中的开关s1打开；括号里的第二位为0，表示第二桥臂中的开关s4打开；括号里的第二位为1，表示第三桥臂中的开关s2打开；括号里的第三位为0，表示第三桥臂中的开关s6打开；
括号里的第三位为1，表示第三桥臂中的开关s3打开。
54.请一并参阅图1至图3，图3中的tpwm表示开关周期，sa-sc分别表示三相中每一相的脉冲宽度调制波形，t1和t2均表示电流采样时刻，箭头表示移相方向。虚线方波表示相关技术中移相以后的脉冲宽度调制波形，实现方波表示相关技术中未移相之前的脉冲宽度调制波形。
55.以图2中的第4扇区为例，未移相前，b相脉冲宽度调制(即图3中sb对应的脉冲宽度调制波形)和c相脉冲宽度调制(即图3中sc对应的脉冲宽度调制波形)占空比接近，导致非零电压矢量作用时间不满足采样窗口时间的要求。相关技术中的移相方法如虚线方波所示，对脉冲宽度调制占空比最小的a相和脉冲宽度调制占空比最大的b相分别进行移相，并在移相后的非零电压矢量作用时间内进行电流采样。经发明人研究发现，该方法至少存在以下问题：
56.1)脉冲宽度调制波形不对称，电流的低次谐波和开关频率次谐波增加；
57.2)电流采样点不是载波中心点或起始点，电流低次谐波增加；
58.3)用于重构的电流采样时刻不一致，重构存在误差。
59.图4为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相方法的流程示意图。
60.本技术实施例提供一种脉冲宽度调制的移相方法。本实施例提供的图像质量评估方法可以由一计算装置来执行，该计算装置可以实现为软件，或者实现为软件和硬件的组合，该计算装置可以集成设置在服务器、终端设备等中。如图4所示，该方法可以应用于采集脉冲宽度调制系统，采集脉冲宽度调制系统的控制周期至少可以包括第一开关周期和第二开关周期，该方法可以包括s101至s102。
61.s101、在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。
62.示例性的，第一开关周期可以为第一个开关周期，即，采集脉冲宽度调制系统的第一个开关周期。当然，第一开关周期也可以是除第一个开关周期以外的其他周期，在此不做限定
63.可选的，第一目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的一者，第二目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的另一者。
64.示例性的，仍以图2中的第4扇区为例，请一并参阅图5，tpwm1表示第一开关周期，tpwm2表示第二开关周期，tctrl表示采集脉冲宽度调制系统的控制周期，第一目标脉冲宽度调制可以为a相，第二目标脉冲宽度调制可以为c相。
65.可选的，第一方向可以为左，第二方向可以为右；或者，第一方向可以为右，第二方向可以为左。如图5所示，图5示意出的第一方向为右，第二方向为左。
66.s102、在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。
67.示例性的，第二开关周期可以为最后一个开关周期，即，采集脉冲宽度调制系统的最后一个开关周期。当然，第二开关周期也可以是除最后一个开关周期以外的其他周期，在此不做限定。值得注意的是，第一开关周期和第二开关周期为两个不同的开关周期。
68.本技术实施例提供一种脉冲宽度调制的移相方法，采样脉冲宽度调制系统至少可以包括第一开关周期和第二开关周期，该方法可以包括：在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间；在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。在本技术实施例中，通过在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间，能够减少相关技术中移相带来的电流低次谐波和开关频率次谐波。
69.在一些可选的实施方式中，在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间之后，该方法还可以包括：
70.在第一开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第一采样电流，以及，选取至少一个第二时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第二采样电流；
71.在第二开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第三时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第三采样电流，以及，选取至少一个第四时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第四采样电流；
72.根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，第一目标电流为载波起始时刻第一目标脉冲宽度调制的电流，第二目标电流为载波起始时刻第二目标脉冲宽度调制的电流。
73.在本实施方式中，通过对采样得到的至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流和至少一个第四采样电流进行二次重构，使得等效的电流采样点为载波中心时刻，减小了因采样时刻不固定带来的电流低次谐波。
74.可选的，选取至少一个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第一采样电流，可以包括：
75.选取一个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到一个第一采样电流；
76.或者，选取两个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到两个第一采样电流；
77.或者，选取多个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到多个第一采样电流。
78.也即是，第一时刻的数量与第一采样电流的数量相等。
79.得到至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流和至少一个第四采样电流的方式，与上述得到至少一个第一采样电流的方式相同，在此不再赘述。
80.在一些可选的实施方式中，在至少一个第一采样电流为一个第一采样电流、至少一个第二采样电流为一个第二采样电流、至少一个第三采样电流为一个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为一个第四采样电流的情况下，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标
电流和第二目标电流，可以包括：
81.将第一采样电流和第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
82.将第二采样电流和第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
83.第一目标电流为所述第一目标脉冲宽度调制在载波起始时刻(图5中t7对应的采样时刻)的电流；第二目标电流为所述第二目标脉冲宽度调制在载波起始时刻的电流；
84.示例性的，如图5所示，在第一时刻t3采样得到第一采样电流ia1，在第二时刻t4采样得到第二采样电流ic1，在第三时刻t5采样得到第三采样电流ia2，在第四时刻t6采样得到第四采样电流ic2。根据公式(1)计算得到第一目标电流，根据公式(2)计算得到第二目标电流。
[0085][0086][0087]
在一些可选的实施方式中，在至少一个第一采样电流为两个第一采样电流、至少一个第二采样电流为两个第二采样电流、至少一个第三采样电流为两个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为两个第四采样电流的情况下，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，可以包括：
[0088]
将两个第一采样电流和两个第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
[0089]
将两个第二采样电流和两个第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
[0090]
在一些可选的实施方式中，根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流之后，方法还可以包括：
[0091]
根据第一目标电流和第二目标电流，确定第三目标电流。
[0092]
在本实施方式中，通过第一目标电流和第二目标电流(载波中心点的采样电流)进行第三相电流重构，能够满足电流基尔霍夫定律，避免了传统移相重构方法带来的误差。
[0093]
在一些可选的实施方式中，根据第一目标电流和第二目标电流，确定第三目标电流，可以包括：
[0094]
将第一目标电流和第二目标电流之和的相反数，确定为第三目标电流。
[0095]
第三目标电流可以为除第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制以外的第三相在载波起始时刻的电流。
[0096]
示例性的，根据公式(3)计算得到第三目标电流。
[0097]
ib＝-ia-ic
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
公式(3)。
[0098]
可以理解的是，本技术实施例以图2中第4扇区为例，其他扇区的电流采样和重构方法与第4扇区相同，在此不在赘述。
[0099]
基于与上述脉冲宽度调制的移相方法相同或相似的发明构思，本技术实施例还提供一种脉冲宽度调制的移相装置。
[0100]
图6为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相装置结构示意图。
[0101]
脉冲宽度调制的移相装置可以应用于采样脉冲宽度调制系统，采样脉冲宽度调制系统的控制周期至少可以包括第一开关周期和第二开关周期。如图6所示，脉冲宽度调制的
移相装置600，可以包括：
[0102]
第一移相模块610，用于在第一开关周期内，在第一方向上对第一目标脉冲宽度调制进行移相，以及，在第二方向上对第二目标脉冲宽度调制进行移相，第一方向与第二方向相反，以使移相后第一开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间；
[0103]
第二移相模块620，用于在第二开关周期内，对第一目标脉冲宽度调制和第二目标脉冲宽度调制进行对称移相，以使移相后第二开关周期内的非零电压矢量作用时间满足采样窗口时间。
[0104]
在一些可选的实施方式中，脉冲宽度调制的移相装置600，还可以包括：
[0105]
第一采集模块，用于在第一开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第一时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第一采样电流，以及，选取至少一个第二时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第二采样电流；
[0106]
第二采集模块，用于在第二开关周期内的非零电压矢量作用时间中，选取至少一个第三时刻对第一目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第三采样电流，以及，选取至少一个第四时刻对第二目标脉冲宽度调制进行采样，得到至少一个第四采样电流；
[0107]
第一确定模块，用于根据至少一个第一采样电流、至少一个第二采样电流、至少一个第三采样电流以及至少一个第四采样电流，确定第一目标电流和第二目标电流，第一目标电流为载波起始时刻第一目标脉冲宽度调制的电流，第二目标电流为载波起始时刻第二目标脉冲宽度调制的电流。
[0108]
在一些可选的实施方式中，在至少一个第一采样电流为一个第一采样电流、至少一个第二采样电流为一个第二采样电流、至少一个第三采样电流为一个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为一个第四采样电流的情况下，第一确定模块，可以包括：
[0109]
第一确定子模块，用于将第一采样电流和第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
[0110]
第二确定子模块，用于将第二采样电流和第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
[0111]
在一些可选的实施方式中，在至少一个第一采样电流为两个第一采样电流、至少一个第二采样电流为两个第二采样电流、至少一个第三采样电流为两个第三采样电流，以及至少一个第四采样电流为两个第四采样电流的情况下，第一确定模块，可以包括：
[0112]
第三确定子模块，用于将两个第一采样电流和两个第三采样电流的平均值，确定为第一目标电流；
[0113]
第四确定子模块，用于将两个第二采样电流和两个第四采样电流的平均值，确定为第二目标电流。
[0114]
在一些可选的实施方式中，脉冲宽度调制的移相装置600，还可以包括：
[0115]
第二确定模块，用于根据第一目标电流和第二目标电流，确定第三目标电流。
[0116]
在一些可选的实施方式中，第二确定模块，可以具体用于：将第一目标电流和第二目标电流之和的相反数，确定为第三目标电流。
[0117]
在一些可选的实施方式中，第一目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的一者，第二目标脉冲宽度调制为占空比最小的脉冲宽度调制或占空比最大的脉冲宽度调制中的另一者；
[0118]
第一开关周期为第一个开关周期，第二开关周期为最后一个开关周期。
[0119]
图6所示装置可以对应的执行上述方法实施例中的内容，本实施例未详细描述的部分，参照上述方法实施例中记载的内容，在此不再赘述。
[0120]
图7为本技术实施例提供的脉冲宽度调制的移相设备的硬件结构示意图。
[0121]
如图7所示，本技术实施例还提供了一种脉冲宽度调制的移相设备，该脉冲宽度调制的移相设备包括：
[0122]
至少一个处理器701；以及，
[0123]
与该至少一个处理器通信连接的存储器702；其中，
[0124]
该存储器702存储有可被该至少一个处理器701执行的指令，该指令被该至少一个处理器701执行，以使该至少一个处理器701能够执行前述方法实施例中的脉冲宽度调制的移相方法。
[0125]
具体地，上述处理器701可以包括中央处理器(cpu)，或者特定集成电路(application specific integrated circuit，asic)，或者可以被配置成实施本技术实施例的一个或多个集成电路。
[0126]
存储器702可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器702可包括硬盘驱动器(hard disk drive，hdd)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(universal serial bus，usb)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，存储器702可包括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下，存储器702可在综合网关容灾设备的内部或外部。在特定实施例中，存储器702是非易失性固态存储器。在特定实施例中，存储器702包括只读存储器(rom)。在合适的情况下，该rom可以是掩模编程的rom、可编程rom(prom)、可擦除prom(eprom)、电可擦除prom(eeprom)、电可改写rom(earom)或闪存或者两个或更多个以上这些的组合。
[0127]
处理器701通过读取并执行存储器702中存储的计算机程序指令，以实现上述实施例中的任意一种脉冲宽度调制的移相方法。
[0128]
在一个示例中，脉冲宽度调制的移相设备还可包括通信接口703和总线704。其中，如图7所示，处理器701、存储器702、通信接口703通过总线704连接并完成相互间的通信。
[0129]
通信接口703，主要用于实现本技术实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。
[0130]
总线704包括硬件、软件或两者，将脉冲宽度调制的移相设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制，总线可包括加速图形端口(agp)或其他图形总线、增强工业标准架构(eisa)总线、前端总线(fsb)、超传输(ht)互连、工业标准架构(isa)总线、无限带宽互连、低引脚数(lpc)总线、存储器总线、微信道架构(mca)总线、外围组件互连(pci)总线、pci-express(pci-x)总线、串行高级技术附件(sata)总线、视频电子标准协会局部(vlb)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线704可包括一个或多个总线。尽管本技术实施例描述和示出了特定的总线，但本技术考虑任何合适的总线或互连。
[0131]
该脉冲宽度调制的移相设备可以执行本技术实施例中的脉冲宽度调制的移相方法，从而实现结合图4和图6描述的脉冲宽度调制的移相方法和脉冲宽度调制的移相装置。
[0132]
另外，结合上述实施例中的脉冲宽度调制的移相方法，本技术实施例可提供一种
非暂态计算机可读存储介质，该非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，该计算机指令用于使该计算机执行前述方法实施例中的脉冲宽度调制的移相方法。
[0133]
本技术实施例还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算程序，该计算机程序包括程序指令，当该程序指令被计算机执行时，使该计算机执行前述方法实施例中的的脉冲宽度调制的移相方法。
[0134]
附图中的流程图和框图，图示了按照本技术各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
[0135]
描述于本技术实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。其中，单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定，例如，第一获取单元还可以被描述为“获取至少两个网际协议地址的单元”。
[0136]
应当理解，本技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。
[0137]
以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。