一种用于光源驱动电路的检测装置的制作方法

本发明的目的就是针对光源驱动电路，设计一种自动化、集成化的检测装置，应用于光源驱动电路的筛选测试，解决目前测试方法费时，覆盖性不强等问题。对于提高检测筛选光源驱动电路的效率，减少人为操作，提高检测智能化具有实际意义。

背景技术：

现有的光源驱动电路测试方法机械、原理简单，但搭建测试耗时，纯人工和手动检测电路板的功能是否正常，并且只是使用电阻等模拟真实负载(光源)，测试范围受局限，并无法适用于大批量的电路板筛选。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种用于光源驱动电路的检测装置，用于解决上述现有技术的问题。

本发明的一种光源驱动电路的检测装置，其中，包括：电流检测模块，用于检测该光源驱动电路的输出电流；温度调节模块，用于根据该光源驱动电路的温度调节电流，调节该温度调节模块的温度值，以及向该光源驱动电路提供调节后的温度值；温度控制模块，用于调节该温度调节模块的温度值。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，该电流检测模块连接该光源驱动电路用于驱动光源的端口，该温度调节模块连接该光源驱动电路用于感测光源温度的端口以及用于调节光源 温度的端口。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，该温度调节模块包括：第一热电制冷器，用于根据该光源驱动电路的温度调节电流调节温度；第二热电制冷器，用于根据该温度控制模块调节温度；温度感测模块，用于向该温度控制模块以及该光源驱动电路提供该温度调节模块的温度。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，该温度感测模块包括：第一热敏电阻，其阻值根据该温度调节模块的温度变化而变化，与该光源驱动电路用于感测光源温度的端口连接；第二热敏电阻，与温度控制模块连接，该第二热敏电阻的阻值根据该温度调节模块的温度变化而变化。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，该第一热敏电阻为负温度系数热敏电阻，第二热敏电阻为铂电阻。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，该温度控制模块包括：恒流源检测电路，用于检测该光源驱动电路的输出电流；温度设定模块，用于设定该温度调节模块的温度；驱动电路，用于向该温度调节模块的提供驱动电流；PWM驱动模块，用于根据该温度设定模块的信号向该驱动电路提供PWM驱动信号；温度采集电路，用于采集该温度采集电路的温度；以及主控芯片，用于控制该温度控制模块。

根据本发明的光源驱动电路的检测装置的一实施例，其中，还包括：显示模块，与该温度控制模块连接，用于显示该电流检测模块的电流值，以及该温度调节模块的温度值。

本发明的用于光源驱动电路的检测装置，应用于光源驱动电路的筛选测试，解决了现有的测试方法费时，覆盖性不强等问题。对于提高检测筛选光源驱动电路的效率，减少人为操作，提高检测智能化具有实际意义。

附图说明

图1所示为光源驱动电路的检测装置的电路模块图；

图2所示为恒流源检测电路的原理图。

具体实施方式

为使本发明的目的、内容、和优点更加清楚，下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。

图1所示为光源驱动电路的检测装置的电路模块图，如图1所示，光源驱动电路的检测装置包括：恒流源检测电路5，温度调节模块2，温度控制模块4。

参考图1，恒流源检测电路5，用于检测光源驱动电路6的输出电流；温度调节模块2，用于根据光源驱动电路6的温度调节电流，调节该温度调节模块2的温度值，以及向该光源驱动电路6提供调节后的温度值。温度控制模块4，用于调节温度调节模块2的温度值。

参考图1，温度调节模块2包括：热电制冷器22、热电制冷器21、热敏电阻23以及热敏电阻24。温度控制模块4可以为一MCU。温度控制模块4通过TEC驱动电路3连接热电制冷器21，温度控制模块4能够通过其内部的PWM模块发送PWM信号给TEC驱动电路3，以驱动热电制冷器21调节温度。温度设定模块10连接温度控制模块4，用于外部设定温度调节模块2的温度。热敏电阻23通过温度采集电路9连接温度控制模块4，用于将温度调节模块2温度信息反馈给温度控制模块4，温度控制模块4根据反馈信息，调节热电制冷器21。

参考图1，热电制冷器22以及热敏电阻24分别连接光源驱动电路6，用于根据光源驱动电路6调节热电制冷器22以及热敏电阻24将温度调节模块2温度信息反馈给光源驱动电路6。

参考图1，本发明光源驱动电路的检测装置主要针对光源驱动电 路的功能：温度控制和恒流源驱动两个方面进行测试。光源驱动电路6的(连接光源端口)LD+与LD-连接恒流源检测电路5，经MCU的模数转换模块，实时检测恒流源输出大小，并通过LCD显示屏1显示当前电流输出值。光源驱动电路6的TEC+与TEC-端用来调节光源内部温度的端口，Rt+与Rt-感测热敏电阻24的温度，而实际中用来感测光源温度。

参考图1，经MCU4内部的PWM模块，经TEC驱动电路3控制调节热电制冷器21，使温度调节模块2的内部温度升高或降低，热敏电阻23可以采用铂电阻Pt1000，以实时采集温度调节模块2内部温度，经温度采集电路9以及MCU4，由LCD显示屏1显示当前温度。光源驱动电路6的Rt+与Rt-连接至负温度系数热敏电阻24(负温度系数热敏电阻，在25℃时，电阻为10KΩ)，TEC+与TEC-连接至热电制冷器22，若光源驱动电路6的温度控制模块工作正常，检测到热敏电阻24的阻值不为10KΩ时，则会驱动热电制冷器22，使温度调节模块2温度降低或升高，最终使内部温度达到25℃。

图2所示为恒流源检测电路的原理图，参考图1以及图2，说明本发明光源驱动电路的检测装置的工作原理，

光源驱动电路的恒流源输出检测，包括：

实际光源驱动电路6的LD+与LD-连接的是SLD光源的内部发光管芯，给管芯恒定的电流值，使得光源发出相应光功率与波长的光。

恒流源检测电路5使LD+与LD-之间构成闭合回路，比如说可以是一个大功率电阻，恒定的电流经过大功率电阻，与恒流源构成闭合回路。通过监测电阻两端的电压值，即可得到此时通过该电阻的电流值。MCU驱动显示器，显示此时的电流值大小。

亦可改变该大功率电阻R阻值大小，判断在负载阻值变化的情况下，恒流源的输出是否稳定。

光源驱动电路的温度控制模块功能检测，包括：

温度设定模块10可以由桥式电路和滑动变阻器组成，通过分压的 方式，改变输入到MCU4里的数值大小，从而改变脉宽调制模块(PWM模块)的输出占宽比，经TEC驱动电路驱动3热电制冷器21加热或制冷改变温度调节模块2内部温度，检测温度调节模块2内部的温度，经温度采集电路和9MCU以及LCD显示屏1实时显示温度调节模块2的内部温度。

当光源驱动电路6连接后，光源驱动电路6的Rt+与Rt-检测负温度系数热敏电阻24的阻值(该阻值反映温度调节模块内部温度)，经光源驱动电路6的内部的闭环温度控制模块4，输出TEC电流，控制热电制冷器22，经过热电制冷器22与热电制冷器21共同作用，将温度调节模块2的内部温度控制在预定值。

本发明的用于光源驱动电路的检测装置，应用于光源驱动电路的筛选测试，解决了现有的测试方法费时，覆盖性不强等问题。对于提高检测筛选光源驱动电路的效率，减少人为操作，提高检测智能化具有实际意义。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。