一种文字漏印防呆测试点设计方法与流程

文档序号:12503009阅读:886来源:国知局
一种文字漏印防呆测试点设计方法与流程

本发明涉及线路板检测技术领域,具体涉及一种文字漏印防呆测试点设计方法。



背景技术:

目前,业内针对文字丝印漏印问题的检测,一般是在生产板中添加防呆测试点加以检测,通过电测确认测试点之间是否短路,来判定生产板是否漏印文字,从而避免漏印文字的生产板流入客户;

随着产品向精密化的发展,文字字符间距及字体越来越小,为了避免丝印文字模糊,丝印压力也随之调小,而此时,因丝印压力偏小,且防呆测试点的铜pad区域受高低差影响(一般在15um-25um范围),测试点无法被文字油墨充分覆盖,造成虚印,从而导致测试点在电测时短路,此时防呆测试点失效,无法达到文字防漏的目的。



技术实现要素:

为解决上述问题,本发明提供一种文字漏印防呆测试点设计方法,包括如下步骤:

1)在线路板外层线路的铜层上制作两个铜pad测试点及连接两个铜pad测试点的导线;

2)将两个铜pad测试点和连接两个铜pad测试点的导线周围的铜蚀刻掉,形成隔离环;

3)对线路板进行防焊处理,在两个铜pad测试点及导线上方进行防焊开窗,使两个铜pad测试点上无防焊油墨覆盖,且使得防焊油墨填充入隔离环内;

4)对线路板进行文字处理,在两个铜pad测试点上方进行文字开窗,使得文字油墨饱满覆盖于两个铜pad测试点上。

优选的,铜pad测试点上方防焊开窗和文字开窗的尺寸均大于铜pad测试点的尺寸,且文字开窗的尺寸比防焊开窗的尺寸大。

进一步的,对线路板进行防焊处理时,防焊开窗的尺寸比铜pad测试点的尺寸大4mil。

进一步的,对线路板进行文字处理时,文字开窗的尺寸比铜pad测试点的尺寸大6mil。

进一步的,所述两个铜pad测试点的直径为40mil,连接两个铜pad测试点的导线线宽为4mil~40mil。

进一步的,所述隔离环的宽度大于等于15mil。

本发明通过在线路板的外层线路上设置两个铜pad测试点及连接两个铜pad测试点的导线,并在两个铜pad测试点和导线周围蚀刻形成隔离环,在防焊处理时两个铜pad测试点上方进行防焊开窗,使得防焊油墨填充进隔离环中,此时铜pad测试点和防焊层的高低差减小;为确保防焊油墨充分填充隔离环,防焊开窗的尺寸比铜pad测试点的尺寸大,为保证文字油墨能饱满的覆盖在铜pad测试点上,文字开窗的尺寸比防焊开窗的尺寸大;因此在文字处理时文字油墨即可在较低的丝印压力下饱满的覆盖铜pad测试点从而解决文字虚印露铜的问题,保证防呆测试点的有效使用。

附图说明

图1为通过本发明制作的防呆测试点实施例铜pad测试点、导线、隔离环示意图。

图2为通过本发明制作的防呆测试点实施例截面示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行进一步详细描述。

具体实施时,先在所述线路板外层线路的铜层上,通过掏铜的方式设置两个直径为40mil的铜pad测试点1,如图1所示,将两个铜pad测试点之间,通过线宽为4mil~40mil的导线2连接,然后将两个铜pad测试点和连接两个铜pad测试点的导线周围铜蚀刻掉,形成隔离环3,从而降低两个铜pad的测试点周围的高低差。如图2所示,线路板具有基材层4、铜层5、防焊层6、文字层7,在防焊处理时先将两个铜pad测试点在线路板的防焊层6开窗,开窗大小比铜pad测试点的尺寸大,开窗大小为40mil+4mil,防焊油墨填充进隔离环3中;两个铜pad测试点在线路板的文字层7开窗,文字层开窗的尺寸比防焊开窗的尺寸大,开窗大小为40mil+6mil,使用文字喷印机喷印文字油墨,将两个铜pad测试点完全覆盖。

在测试点和连接测试点的导线周围采用隔离环设计,可以使测试点和导线周围的区域平整,使用文字喷印机喷印文字油墨,测试点的表面不会出现文字虚印露铜的现象,文字油墨覆盖饱满,从根本上杜绝了文字虚印、漏印的PCB板流出。

以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制,但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案,均应落在本发明的保护范围之内。

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