模数转换器中的电气噪声降低的制作方法

本公开涉及在逐次求近寄存器(sar)模数转换器(adc)中滤波电子噪声的系统和方法。

背景技术：

某些逐次求近寄存器(sar)模数转换器(adc)包括数字滤波器，例如输出处的带通滤波器，以改善saradc的性能。

技术实现要素：

在某些系统中，带通转换器可包括有源滤波器，例如包括运算放大器的滤波器。在低压带通转换器中，包括可操作放大器的有源滤波器可能是不切实际的，因为在低电压下的余量减少和功率消耗增加。另外，包括低电压系统中的运算放大器的带通转换器可能在制造期间遭受不期望的工艺变化。本发明人尤其认识到：可以提供带通saradc转换器，例如通过模拟输入信号的n位数字转换后的saradc中的过采样和滤波残留误差。采样和滤波的残留误差可以在下一个n位数字转换期间提供，例如提供带通整形的saradc。

在一方面，本公开可表征带通整形具有比较器、数模转换器(dac)电路和逻辑电路的逐次求近寄存器(sar)模数转换器(adc)电路的噪声的方法。该方法可包括通过dac电路对模拟输入信号进行采样，并与比较器和逻辑电路合作执行dac的至少一个位试验，例如以将采样的模拟输入信号转换为数字信号，并且从而使dac在位-试验状态。该方法还包括在位-试验状态期间采样dac的滞留误差。该方法还包括使用带通滤波器滤波所述采样的残留误差。该方法还包括提供所述带通滤波器的输出信号作为反馈信号。该方法还包括将所述带通滤波器的输出信号作为反馈信号添加到dac。该方法还包括从dac提供的参考电压中减去所述带通滤波器的输出信号。带通滤波器可以是无源滤波器，被构造为在位-试验状态期间采样dac的残留误差。带通滤波器可以是开关的电容器滤波器，被构造为在dac电路的位试验周期期间在至少一个电容元件上存储电荷，并且向或从所述至少一个电容元件转移电荷，同时dac在位-试验状态。该方法还包括将所述输出信号对应的电荷转移到电容式存储元件上，同时dac在位-试验状态。该方法还包括在dac的位试验期间将电容式存储元件的端子连接到dac或参考。在位-试验状态期间采样dac的残留误差可包括在dac电路的一个位试验周期期间采样残留误差。该方法还包括：将采样的残留误差转换为数字信号，使用数字带通滤波器滤波数字信号，将滤波的数字信号转换为模拟信号，和提供所述模拟信号作为反馈信号。该方法还包括通过saradc的一个或多个时钟周期延迟提供带通滤波器的输出信号作为反馈信号。

在一方面，本公开可表征过采样的逐次求近寄存器(sar)模数转换器(adc)电路。过采样的saradc电路可包括数模转换器(dac)电路，被构造为对模拟输入信号进行采样，并与比较器和逻辑电路合作执行dac的至少一个位试验，例如以将采样的模拟输入信号转换为数字信号，并且从而使dac在位-试验状态。过采样的saradc电路还可包括带通滤波器，被构造为在位-试验状态期间采样dac的滞留误差，并且提供所述滤波的输出信号作为反馈信号至比较器。带通滤波器可被构造为将输出信号作为反馈信号添加到dac中，或从saradc电路的参考电压中减去带通滤波器的输出信号。带通滤波器顺序或系数可以是可编程的。带通滤波器可以是无源滤波器，被构造为在位-试验状态期间采样dac的残留误差。带通滤波器可以是开关的电容器滤波器，被构造为在dac电路的位试验周期期间在电容元件上存储电荷，并且向或从电容元件转移电荷，同时dac在位-试验状态。过采样的saradc电路还可包括电容式存储元件，被构造为接收和存储对应于滤波的输出信号的电荷，同时dac在位-试验状态。电容式存储元件可被构造为在dac的位试验期间将与存储的电荷相对应的电压提供给dac。带通滤波器可被构造为在dac电路的一个位试验周期期间采样残留误差。过采样的saradc电路还可包括：adc电路，被构造为将采样的残留误差转换为数字信号；带通滤波器，被构造为滤波数字信号；和数模转换器(dac)，被构造为将滤波的数字信号转换为模拟信号，并且提供模拟信号作为反馈信号。

在一方面，本公开可表征过采样的逐次求近寄存器(sar)模数转换器(adc)电路。过采样的saradc电路可包括构件，用于对模拟输入信号进行采样，并与比较器和逻辑电路合作执行dac的至少一个位试验，以将采样的模拟输入信号转换为数字信号，并且从而使dac在位-试验状态。采样模拟输入信号的构件可包括dac105，如图1中所示。过采样的saradc电路还可包括构件，用于采样残留误差同时所述采样构件在位-试验状态。采样残留误差的构件可包括带通滤波器125和求和电路120，如图1中所示。过采样的saradc电路还可包括构件，用于滤波所述采样的残留误差。滤波构件可包括带通滤波器125和延迟线130，如图1中所示。过采样的saradc电路还可包括构件，用于提供滤波构件的输出信号作为反馈信号。提供输出信号的构件可包括带通滤波器125、延迟线130和求和电路135，如图1中所示。

在所附权利要求中提供了本公开的进一步的特征，除非在本文件的其它部分另有明确指出哪些特征可任选地以任何排列或组合彼此组合。

附图说明

现在将参考附图通过示例的方式描述本公开，其中：

图1a描述saradc和带通整形电路的图。

图1b描述saradc和带通整形电路的图。

图1c描述saradc和带通整形电路的时序图。

图1d描述saradc和带通整形电路的图。

图1e描述saradc和带通整形电路的时序图。

图2a描述在带通整形的saradc中输出的例子。

图2b描述与噪声传递功能相关联的极点和零点。

图2c描述与噪声传递功能相关的量度响应。

图3描述带通整形的saradc中输出的例子。

图4描述saradc和带通整形电路的图。

图5描述操作saradc和带通整形电路的方法。

具体实施方式

saradc可以转换模拟电压，例如提供n位数字输出。n位数字输出可以是模拟电压的近似值，并且残差误差可以在转换后存在于saradc内(例如，残差误差可以存在于saradc内的电容器dac的板上)。残留误差可以表示与模数转换中的缺陷相关联的量化误差。量化误差和热噪声，例如由于电容器或dac内的电阻器可能是saradc内的两个主要噪声源。本发明人尤其认识到：可以提供残差误差的带通滤波，通过减少saradc输出端的电气噪声，提高saradc的噪声性能，如量化误差。

图1a示出saradc和带通整形电路100的例子。saradc和带通整形电路可包括数模转换器(dac)105、求和电路135、比较器110、sar逻辑电路115、求和电路120、带通滤波器125和延迟线130。在例子中，dac105可以是电容器dac(cdac)，并可包括电容器106阵列。dac105可连接求和电路135和sar逻辑115。求和电路135可连接比较器110和延迟线130。比较器110可连接求和电路120和sar逻辑115。求和电路120可连接带通滤波器125。带通滤波器125可连接延迟线130。在运行期间，可以在dac105的输入端采样模拟输入信号。sis逻辑电路115可以控制dac105的操作，并且与比较器110配合可以提供模拟输入信号的n位数字估计具有n位。可以提供数字估计，例如通过将采样的模拟输入信号与参考电压进行比较，例如由dac105串联的n位试验提供的参考电压。在例子中，每个n位试验可以对应于时钟信号的一个时钟周期，例如由sar逻辑电路115提供的时钟信号。比较器110可以在每个n位试验期间进行比较，以提供与sar逻辑电路115的比较结果。在n位试验后，dac105可在位置-试验状态。在将采样的模拟输入信号转换为n位数字值之后，dac105提供的残留误差可以表示采样的模拟输入信号和n位数字估计之间的差。在例子中，在dac105的n位试验后，sar逻辑电路115可以将dac105配置为额外的位试验(即一个位试验周期)以提供残留误差。在例子中，dac105可以是电容器dac(cdac)，并且残留误差可以存在于电容器106阵列的板上。存在于电容器106阵列的板上的残留误差可以被提供给求和电路120，求和电路120可以将残留误差与比较器110的输出之间的差值提供给带通的输入滤波器125。带通滤波器125可以向延迟线130提供带通滤波的输出。在例子中，带通滤波器125可以是可编程的，例如允许与带通滤波器125相关联的传送功能的参数由外部控制器配置。在例子中，带通滤波器125可以是无源滤波器，例如与低电压saradc兼容(例如，具有小于或等于1v的工作电压的saradc)。在例子中，带通滤波器125可以是开关的电容器滤波器。在例子中，带通滤波器125可以是无限脉冲响应(iir)滤波器。在例子中，带通滤波器125可以是有限脉冲响应(fir)滤波器。延迟线130可以将带通滤波的输出提供给求和电路135，例如可以在下一个n位数字转换期间将带通滤波的输出提供给比较器110的输入，以减少与量化误差相关的噪声，与比较器110相关联的噪声，或比较器110的输出处的热噪声。诸如与电容器106的阵列相关联的热噪声可以表示为kbt/c，其中kb可以表示玻尔兹曼常数1.38×10^-23j/k，t可以以开尔文表示温度，c可以表示电容电容器阵列106。在例子中，saradc可以是差分sar或单端sar。在例子中，由于量化误差导致的电气噪声与比较器110的质量成反比(例如，低质量比较器可以具有比较器更可能具有比较器更大的电气噪声贡献)。在例子中，电气噪声，如与低质量比较器相关联的那种，可以在系统中的比较器110的输出处减少，如图1a中所示，其中残留误差可以是滤波的由带通滤波器125并作为反馈信号提供给比较器110的输入端。

图1b示出saradc和带通整形电路100的例子。saradc和带通整形电路100可包括dac105、采样开关124、带通滤波器125、延迟线130、放大器133、反馈电路133a、133b和带通逻辑电路145。在例子中，带通滤波器125可包括电容元件126a、126b、采样开关127a、127b、开关128a、128b和输出开关129a、129b。延迟线130可包括储存电容器131和开关132a、132b。电容元件126a、126b可连接开关127、128和129。储存电容器131可连接开关129和132。开关132a和132b可以提供从储存电容器131到放大器133的输入的连接。带通逻辑电路145可连接带通滤波器125。在运行期间，开关127、128、129和132可以被操作以提供具有2z^-2+z^-4传递功能的第四级带通滤波器。带通逻辑电路145可以被构造为控制开关127、128、129和132的切换操作。例如，开关127、128、129和132可以根据图1c所示的时序图来操作。在例子中，开关124可以关闭，例如将模拟输入电压连接到dac105。dac105与sar逻辑电路115合作可以将模拟输入电压采样并转换为n位数字值。在将模拟输入电压转换为n位数字值之后，可以关闭采样开关127和开关128，以将存在于dac105的残留误差采样到电容元件126上。电容元件126可以存储对应于采样的残留误差的电荷。开关129可以关闭以将电容元件126连接到储存电容器131，以将所存储的电荷转移到储存电容器131。然后可以打开开关124以断开模拟输入电压，并且开关132可以被关闭以将对应于所存储的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器可以放大接收的电压，例如将放电电压加到由dac105采样的电压上。在例子中，放大电压可以从诸如dac105提供的参考电压的参考电压中减去。在例子中，然后可以关闭开关132，例如将对应于存储的电荷的电压加到dac105的板上。在例子中，开关132可以关闭，例如从参考电压减去对应于所存储的电荷的电压。

在例子中，可以将残留误差顺序地取样到电容元件126上，以提供具有2z^-2+z^-4传递功能的第四级带通滤波器。在例子中，电容元件126a和126b中的每一个可以具有相同的电容值。在例子中，例如通过关闭开关132，存储电容器131可以将预先存储在电容元件cz1-1、cz1-2和cz3-1上的电荷的电压提供给放大器133的输入端。放大器133可以放大由储存电容器131提供的电压，并且可以将放大器133的输出提供给比较器110的输入，以便在模拟的转换期间将放电电压加到dac的板输入电压为n位数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz1-1、cz1-2和cz3-1上，例如关闭开关127和128，以及先前存储在电容上的电荷元件cz1-3、cz1-4和cz3-2可以通过关闭开关128和129而被转移到储存电容器131。在例子中，例如通过关闭开关132，储存电容器131可以将预先存储在电容元件cz1-3、cz1-4和cz3-2上的电荷的电压提供给放大器133的输入端。放大器133可以放大由储存电容器131提供的电压，并且可以将放大器133的输出提供给比较器110的输入，以便在模拟的转换期间将放电电压加到dac的板输入电压为n位数字值。在将模拟输入转换为n位数字值后，可以将残留误差采样到电容元件cz1-3、cz1-4和cz3-2上，例如关闭开关127和128，以及先前存储在电容上的电荷元件cz1-1、cz1-2和cz3-3可以通过关闭开关128和129而被传送到储存电容器131。在例子中，例如通过关闭开关132，存储电容器131可以将预先存储在电容元件cz1-1、cz1-2和cz3-3上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大由储存电容器131提供的电压，并且可以将放大器133的输出提供给比较器110的输入，以便在模拟的转换期间将放电电压加到dac的板输入电压为n位数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz1-1、cz1-2和cz3-3上，例如关闭开关127和128，以及先前存储在电容上的电荷元件cz1-3、cz1-4和cz3-4可以通过关闭开关128和129被转移到储存电容器131。在例子中，例如通过关闭开关132，存储电容器131可以将预先存储在电容元件cz1-3、cz1-4和cz3-4上的电荷的电压提供给放大器133的输入端。放大器133可以放大由储存电容器131提供的电压，并且可以将放大器133的输出提供给比较器110的输入，以便在模拟的转换期间将放电电压加到dac的板输入电压为n位数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz1-3、cz1-4和cz3-4上，例如关闭开关127和128，以及先前存储在电容上的电荷元件cz1-1、cz1-2和cz3-1可以通过关闭开关128和129被传送到储存电容器131。

在例子中，残留误差的采样可以以上述模式继续，以实现具有2z^-2+z^-4传递功能的第四级带通滤波器，其中带通滤波器125具有2z^-2+z^-4传递功能，延迟线130具有2z^-2+z^-4传传功能。在例子中，电容元件126a、126b可以进行混洗，以便平均由于电容器失配引起的影响(例如，带通滤波器125已经操作了一段时间间隔后，开关128a和128b可被重新配置，使得电容元件cz1-3可与cz3-1交换职位)。在例子中，放大器133的输出可以提供给比较器110，例如在模拟输入电压转换为n位数字值期间从参考电压中减去放电电压。在例子中，可以从saradc和带通整形电路100中省略放大器133，并且存储电容器131可以例如通过关闭开关132将存储的电压直接提供给比较器110的输入。

图1c示出了可以描述saradc和带通整形电路100的操作示例的时序图。时序图可以包括dacadc时钟信号140a，采样信号140edac140b的n-位试验周期，提供一个残留误差140c的一个额外的位试验周期，并提供残留误差在位试验140d期间的dac。在例子中，模拟输入信号可以被采样并转换成dac105，sar逻辑电路115和比较器110输出的n-位数字，同时adc时钟信号140a对应于数字高。转换可能发生在dac的n-位试验周期140b期间。然后可以由dac105执行额外的位试验周期140c，以提供残留误差。残留误差可以被采样并滤波，然后在下一个adc时钟周期140a期间提供给dac105。

图1d示出了saradc和带通整形电路100的示例。saradc和带通整形电路100可包括dac105、采样开关124、带通滤波器125、放大器133、反馈电路133a、133b和带通逻辑电路145。在例子中，带通滤波器125可包括电容元件126a、126b，采样开关127a、127b、开关128a、128b和输出开关129a、129b。电容元件126a、126b可连接开关127、128和129。开关129a和129b可以提供从电容元件126a、126b到放大器133的输入的连接。带通逻辑电路145可连接带通滤波器125。在运行期间，开关127、128和129可以操作以提供具有2z-2+z-4传递功能的第四级带通滤波器。带通逻辑电路145可以被构造为控制开关127、128和129的切换操作。例如，开关127、128和129可以根据图1d所示的时序图来操作。在例子中，开关124可以关闭，例如将模拟输入电压连接到dac105.dac105与sar逻辑电路115可以将模拟输入电压转换成n位数字值。在将模拟输入电压转换为n位数字值之后，可以关闭采样开关127和开关128，以将存在于dac105的残留误差采样到电容元件126上。电容元件126可以存储对应于采样的残留误差的电荷。然后可以打开开关124以断开模拟输入电压，并且可以关闭开关129以将对应于所存储的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器可以放大接收的电压，并向dac105提供放电电压。在例子中，dac105可以是cdac，放大器133可以将接收的电压提供给cdac的板。在例子中，放大电压可以从参考电压中减去，例如由dac105提供的参考电压。在例子中，开关129可以关闭以将对应于存储的电荷的电压加到dac105上，而没有使用放大器133。在例子中，开关129可以关闭以从dac105的参考电压中减去对应于存储的电荷的电压，而不使用放大器133。在例子中，可以将残留误差顺序地取样到电容元件126上，以提供具有2z^-2+z^-4传递功能的第四级带通滤波器。在例子中，电容元件126a和126b中的每一个可以具有相同的电容值。

在例子中，例如通过关闭开关129，可以将预先存储在电容元件cz2-1、cz2-2和cz4-1上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大提供的电压，放大器的输出可以提供给比较器110的输入端，以便在将模拟输入电压转换为n位置期间将放电电压加到dac的输入端数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz2-1、cz2-2和cz4-1上，并为下一个adc时钟采样先前存储在电容元件cz2-3、cz2-4和cz4-2上的电荷然后可以被传送到比较器110的输入，例如通过关闭开关129。在例子中，例如通过关闭开关129，可以将预先存储在电容元件cz2-3、cz2-4和cz4-2上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大提供的电压，放大器的输出可以提供给比较器110的输入端，以便在将模拟输入电压转换为n位置期间将放电电压加到dac的输入端数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以在电容元件cz2-3、cz2-4和cz4-2上对残留误差进行采样，并将下一个adc时钟采样到先前存储在电容元件cz2-5上的电荷，然后可以将cz2-6和cz4-3传送到比较器110的输入端，例如通过关闭开关129。在例子中，例如通过关闭开关129，可以将预先存储在电容元件cz2-5、cz2-6和cz4-3上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大提供的电压，放大器的输出可以提供给比较器110的输入端，以便在将模拟输入电压转换为n位置期间将放电电压加到dac的输入端数字值。在将模拟输入转换为n位数字值后，可以将残留误差采样到电容元件cz2-5、cz2-6和cz4-3上，并将下一个adc时钟采样到先前存储在电容元件cz2-1上的电荷，然后可以将cz2-2和cz4-4传送到比较器110的输入端，例如通过关闭开关129。在例子中，例如通过关闭开关129，可以将预先存储在电容元件cz2-1、cz2-2和cz4-4上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大提供的电压，放大器的输出可以提供给比较器110的输入端，以便在将模拟输入电压转换为n位置期间将放电电压加到dac的输入端数字值。在将模拟输入转换为n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz2-1、cz2-2和cz4-4上，并将下一个adc时钟采样到先前存储在电容元件cz2-3上的电荷，然后可以将cz2-4和cz4-5传送到比较器110的输入端，例如通过关闭开关129。在例子中，例如通过关闭开关129，可以将预先存储在电容元件cz2-3、cz2-4和cz4-5上的电荷的电压提供给放大器133的输入端子。放大器133可以放大提供的电压，放大器的输出可以提供给比较器110的输入端，以便在将模拟输入电压转换为n位置期间将放电电压加到dac的输入端数字值。在将模拟输入转换成n位数字值之后，可以将残留误差采样到电容元件cz2-3、cz2-4和cz4-5上，并将下一个adc时钟采样到先前存储在电容元件cz2-5上的电荷，然后可以将cz2-6和cz4-1传送到比较器110的输入，例如通过关闭开关129。在例子中，残留误差的采样可以以上述模式继续进行，以实现具有2z^-2+z^-4传递功能的传输功能的第四级带通滤波器，具有2z^-2+z^-4传递功能。

图1e示出了可以描述saradc和带通整形电路100的操作示例的时序图。时间图可以包括dacadc时钟信号140a，采样信号140e)，dac140b的n位试验周期，以及提供残留误差140c的一个附加位试验周期。在例子中，模拟输入信号可以转换为dac105，sar逻辑电路115和比较器110输出的n位数字，同时adc时钟信号140a对应于数字高。转换可能发生在dac的n位试验周期140b期间。然后可以由dac105执行额外的位试验周期140c，以提供残留误差。残留误差可以被采样并滤波，然后在下一个adc时钟周期140a期间提供给dac105。

图2a显示了带通整形的saradc中的噪声传递功能的仿真实例，如saradc和带通整形电路100。在图2a中示出的dac中，dac105可以是cdac，并且带通整形的saradc可以包含8位量化(例如，cdac105可以表示8位数字位)，并且电容器106的阵列可以具有总电容为1.5pf。带通滤波器可以是第4级无源滤波器。噪声传递功能可以具有4mhz的中心频率和1mhz的带宽bw。在例子中，噪声传递功能可以是2z^-2+z^-4。在例子中，带通滤波器可以用电容器和开关实现。dac105可以以16mhz的速率采样模拟输入信号，osr(过采样率)可以为8。在例子中，带通整形的saradc的信噪比可以是80.59db。

图2b和2c示出了对应于第4级带通滤波器的噪声传递功能(ntf)的数学表示，例如在上述示例中描述的第4级带通滤波器，参考图2a。信号传递功能(stf)可以是1。带通滤波器(bpf)的传递功能可以通过以下表达式来描述：

-2z^-1-z^-2

噪声传递功能可以用以下表达式表示：

1+22^-2+z^-4

图2b示出与噪声传递功能相关联的极点和零点。在例子中，噪声传递功能可以在z＝0处具有第四级极点，在z＝±i处可以具有第二级零点。图2c示出与噪声传递功能相关联的响应。

图3示出带通整形的saradc、例如saradc和带通整形电路100中噪声传递功能的模拟例子。在例子中，如图3中所示，噪声形saradc可以包括8位量化(例如，dac105可以表示8位数字位)，而电容器106的阵列可以具有1.5pf的总电容。带通滤波器可以是第二级无源滤波器。噪声传递功能的中心频率为500khz，带宽为10khz。在例子中，噪声传递功能可以是1+z^-2。在例子中，带通滤波器可以用电容器和开关实现.dac105可以以2mhz的速率采样模拟输入信号，osr(过采样率)可以为100.在例子中，信噪比n噪声形状的saradc可以为91.55db。

图4示出saradc和带通整形电路100的例子。saradc和带通整形电路可包括数模转换器(dac)105、求和电路135、比较器110、sar逻辑电路115、求和电路120、数字带通滤波器125、延迟线130、模数转换器(adc)405。在例子中，dac105可包括电容器106阵列。dac105可连接求和电路135和sar逻辑115。求和电路135可连接比较器110和dac410。比较器110可连接求和电路120和sar逻辑115。求和电路120可连接adc405。adc405可连接数字带通滤波器125。数字带通滤波器125可连接延迟线130。延迟线130可连接dac410。在运行期间，模拟输入信号可以在dac105的输入端进行采样。sar逻辑电路115可以控制dac105的操作，并且与比较器110配合可以提供具有n位的模拟输入信号的n位数字估计。可以提供数字估计，例如通过将采样的模拟输入信号与dac105串联的n位试验提供的参考电压进行比较。比较器110可以在每个n位试验期间进行比较，以提供与sar逻辑电路115的比较的结果。在将采样的模拟输入信号转换成n位数字值之后，dac105的残留误差可以表示采样的模拟输入信号和n位数字估计之间的差。在例子中，dac105可以是电容器dac(cdac)，并且残留误差可以存在于电容器106阵列的板上。存在于电容器106阵列的板上的残留误差可以被提供给求和电路120，并且求和电路120可以提供残差误差与比较器110对adc405的输出之间的差异。adc405可以将残留误差转换为数字值，然后将数字值提供给数字带通滤波器125的输入。数字带通滤波器125可以提供带通滤波的输出到延迟线130延迟线130可以引入延迟，然后将带通滤波的输出提供给dac410。dac410可以将带通滤波的输出转换为模拟值，然后将转换的带通滤波的输出提供给求和电路135，例如可以将转换的带通滤波的输出提供给比较器的输入在下一个n位数转换期间。

图5描述操作saradc和带通整形电路，例如saradc和带通整形电路100的方法。

sar逻辑电路115可以控制dac105的操作，并且与比较器110配合可以将模拟输入信号转换为数字值(步骤510)。在将采样的模拟输入信号转换为数字值之后，dac105的残留误差可被采样并提供给带通滤波器125(步骤520)。然后采样的残留误差可由带通滤波器125滤波(步骤530)。带通滤波器125可随后将作为反馈信号的滤波的，采样的残留误差提供给dac105的输入端。