一种LED灯检测电路及LED灯驱动系统的制作方法

一种led灯检测电路及led灯驱动系统
技术领域
1.本发明涉及led灯检测领域，特别是涉及一种led灯检测电路及led灯驱动系统。


背景技术：

2.现有技术中，将驱动芯片和led(light-emitting diode，发光二极管)灯连接，实现对led灯的驱动，此时，若需要检测led灯是否异常的方式为：控制驱动芯片输出不同的驱动电流，以使led灯以不同的发光效率工作，以此判断led灯是否可以正常工作。
3.但是，在led灯的发光效率与驱动芯片输出的驱动电流不对应时，可能是led灯异常，也可能是驱动芯片异常。也即，现有技术中的方式不能准确的判断led灯是否异常。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种led灯检测电路及led灯驱动系统，可以在不使用驱动芯片的情况下，实现对led灯的检测，避免出现由于驱动芯片异常导致的对led灯检测失误的情况，提高了对led灯检测的准确性和可靠性。
5.为解决上述技术问题，本发明提供了一种led灯检测电路，包括：
6.输出端与led灯的第一端连接的第一电源，用于在对所述led灯检测时，输出第一电压；
7.输出端分别与所述led灯的第二端及驱动芯片的输出端连接的第二电源，用于在对所述led灯检测时，输出第二电压；
8.所述第一电压大于所述第二电压，且所述第一电压与所述第二电压的差值不小于所述led灯的工作电压。
9.优选地，还包括：
10.一端与所述第二电源的输出端连接，另一端与所述驱动芯片的输出端连接的开关电路，用于在对所述led灯检测时导通。
11.优选地，所述led灯为多个；
12.所述开关电路为多个，且与多个所述led灯一一对应。
13.优选地，所述开关电路为二极管；
14.所述二极管的阴极与所述第二电源的输出端连接，所述二极管的阳极与所述驱动芯片的输出端连接。
15.优选地，所述开关电路为晶体管；
16.所述晶体管的第一端及控制端均与所述第二电源的输出端连接，所述晶体管的第二端与所述驱动芯片的输出端连接。
17.优选地，所述晶体管为p沟道金属氧化物半导体pmos；
18.所述pmos的栅极为所述晶体管的控制端，所述pmos的源极和漏极中的一个为所述晶体管的第一端，另一个为所述晶体管的第二端。
19.优选地，所述第二电压为所述驱动芯片的电源电压；
20.所述led灯的第二端及驱动芯片的输出端通过所述开关电路与所述驱动芯片的电源端连接。
21.优选地，所述第二电压为恒定值或波动值。
22.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种led灯系统，包括上述所述的led灯检测电路，还包括驱动芯片及led灯。
23.本技术提供了一种led灯检测电路，包括第一电源和第二电源，在对led灯检测时。第一电源输出第一电压，第二电源输出第二电压，且第一电压大于第二电压，且第一电压与第二电压的差值大于led灯的导通电压，从而可以点亮led灯。可见，本技术中通过第一电源和第二电源可以在不使用驱动芯片的情况下，实现对led灯的检测，避免出现由于驱动芯片异常导致的对led灯检测失误的情况，提高了对led灯检测的准确性和可靠性。
24.本发明还提供了一种led灯驱动系统，与上述描述的led灯检测电路具有相同的有益效果。
附图说明
25.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
26.图1为本发明提供的一种led灯检测电路的结构框图；
27.图2为本发明提供的一种led灯检测电路的具体结构框图；
28.图3为本发明提供的一种电源输出示意图；
29.图4为本发明提供的另一种电源输出示意图；
30.图5为本发明提供的第一种led灯检测电路的具体实现示意图；
31.图6为本发明提供的第二种led灯检测电路的具体实现示意图；
32.图7为本发明提供的第三种led灯检测电路的具体实现示意图。
具体实施方式
33.本发明的核心是提供一种led灯检测电路及led灯驱动系统，可以在不使用驱动芯片的情况下，实现对led灯的检测，避免出现由于驱动芯片异常导致的对led灯检测失误的情况，提高了对led灯检测的准确性和可靠性。
34.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
35.请参照图1，图1为本发明提供的一种led灯检测电路的结构框图，该电路包括：
36.输出端与led灯的第一端连接的第一电源12，用于在对led灯检测时，输出第一电压；
37.输出端分别与led灯的第二端及驱动芯片11的输出端连接的第二电源13，用于在对led灯检测时，输出第二电压；
38.第一电压大于第二电压，且第一电压与第二电压的差值不小于led灯的工作电压。
39.具体地，本技术中在led灯与驱动芯片11连接时，在led灯的两端分别设置一个电源，也即上述描述的第一电源12和第二电源13，然后在需要对led灯进行检测时，控制第一电源12输出第一电压，控制第二电源13输出第二电压，即使led灯和驱动芯片11连接，也可以实现不使用驱动芯片11对led灯的检测。
40.其中，第一电压大于第二电压，第一电源12具体与led灯的正极连接，第二电源13具体与led灯的负极连接，第一电压与第二电压之间的差值大于led灯导通的电压，从而在对led灯进行检测时，二者的压差可以使led灯正常点亮，此时，判定led灯可以正常使用，否则，判定led灯异常，不能正常使用。
41.请参照图2，图2为本发明提供的一种led灯检测电路的具体结构框图。
42.作为一种优选的实施例，第二电压为驱动芯片的电源电压；
43.led灯的第二端及驱动芯片11的输出端通过开关电路与驱动芯片11的电源端连接。
44.进一步的，为了减小电路的成本，尽可能的减少电源模块的使用，此处的第二电压可以选用驱动芯片的电源电压，具体的，可以但不限于是与驱动芯片11上的电源端连接，然后在需要对led灯进行检测时，直接控制第一电源12输出的第一电压即可，不需要再对第二电源13进行控制，也不需要再额外设置第二电源13，在一定程度上可以减小检测电路的成本。
45.此外，请参照图3和图4，图3为本发明提供的一种电源输出示意图，图4为本发明提供的另一种电源输出示意图。
46.其中，图3和图4中的vdd1为第一电源12输出的第一电压，vdd1为第二电源13输出的第二电压，vdd1增大的时间段对应的就是对led灯进行检测(也即是led失效侦测)的时间段，δv为第一电压和第二电压的差值，vdd2可以是一个稳定的电压值(如图3)，也可以是一个浮动的电压值(如图4)。只要能实现让led灯能够可靠的导通即可，本技术在此不再限定。
47.综上，本技术中通过第一电源12和第二电源13可以在不使用驱动芯片11的情况下，实现对led灯的检测，避免出现由于驱动芯片11异常导致的对led灯检测失误的情况，提高了对led灯检测的准确性和可靠性。
48.在上述实施例的基础上：
49.作为一种优选的实施例，还包括：
50.一端与第二电源13的输出端连接，另一端与驱动芯片11的输出端连接的开关电路，用于在对led灯检测时导通。
51.具体地，驱动芯片11的输出端和第二电源13之间还设置有一个开关电路，在需要对led灯检测时导通，在不对led灯进行检测时处于截止的状态，可以避免驱动芯片11输出的驱动电流倒灌至第二电源13，防止对的第二电源13造成影响。
52.其中，开关电路可以集成在驱动芯片内部，如图5，此时，不需要设置独立的开关电路和驱动芯片，体积较小，且使用较方便。
53.作为一种优选的实施例，led灯为多个；
54.开关电路为多个，且与多个led灯一一对应。
55.其中，在led灯设置为不止一个时，开关电路也不止一个，且开关电路与每个led灯
一一对应。例如，请参照图5、图6和图7，图5为本发明提供的第一种led灯检测电路的具体实现示意图，图5中，将开关电路集成在驱动芯片中，其中驱动芯片包括数据接收模块、时序控制模块和电流源。数据接收模块根据输入的数据信号及时钟控制模块基于输入的控制信号对电源源进行控制，以使电流源输出对应的驱动电流，实现对led灯的控制。
56.图6为本发明提供的第二种led灯检测电路的具体实现示意图，图7为本发明提供的第三种led灯检测电路的具体实现示意图。图5、图6和图7中均是以三个led灯，分别为红(图中的r)绿(图中的g)蓝(图中的b)灯为例。
57.作为一种优选的实施例，开关电路为二极管；
58.二极管的阴极与第二电源13的输出端连接，二极管的阳极与驱动芯片11的输出端连接。
59.本实施例旨在提供一种开关电路的具体实现方式，具体地，如图7，开关电路可以但不限于设置为二极管，利用二极管的单向导通特性，只有在第一电源12和第二电源13分别输出的第一电压和第二电压的压降较大时，二极管导通实现对led灯的检测。
60.作为一种优选的实施例，开关电路为晶体管；
61.晶体管的第一端及控制端均与第二电源13的输出端连接，晶体管的第二端与驱动芯片11的输出端连接。
62.本实施例旨在提供另一种开关电路的具体实现方式，具体地，如图6，开关电路可以但不限于设置为晶体管，晶体管中设置有控制端，只有在第一电源12和第二电源13分别输出的第一电压和第二电压的压降较大时，具体地，第一电压大于第二电压时，晶体管的控制端和第二端之间的压差较大，达到晶体管的导通电压，晶体管导通，从而实现对led灯的检测。
63.可见，本技术中的晶体管可以实现开关电路的功能，且实现方式简单可靠。
64.作为一种优选的实施例，晶体管为pmos(positive channel metal oxide semiconductor，p沟道金属氧化物半导体)；
65.pmos的栅极为晶体管的控制端，pmos的漏极为晶体管的第一端，pmos的源极为晶体管的第二端。
66.具体地，晶体管可以但不限于为pmos管，mos管可以为pmos(positive channel metal oxide semiconductor，p沟道金属氧化物半导体)或nmos(nagetive channel metal oxide semiconductor，p沟道金属氧化物半导体)均可。本实施例中主要应用到的是mos管中的寄生二极管，具体地，寄生二极管的阳极和第一电源连接，寄生二极管的阴极和第二电源连接，使用寄生二极管实现上述开关电路的功能，且实现方式简单可靠。
67.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种led灯系统，包括上述的led灯检测电路，还包括驱动芯片11及led灯。
68.其中，驱动时钟内部可以但不限于包括输入模块、时序控制模块、数据存储模块及输出模块等，其中，输入模块用于接收上位机的发送的控制信号，时序控制模块用于根据上位机发送的控制信号生成时序控制信号，输出模块用于将时序控制信号发送至led灯，以实现对led灯的驱动。
69.需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之
间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
70.专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
71.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。