振荡器频率校验装置和方法

文档序号:9276569阅读:721来源:国知局
振荡器频率校验装置和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子电路领域,具体地,涉及一种振荡器频率校验装置和方法。
【背景技术】
[0002]目前,几乎都是使用振荡器给MCU提供运行频率。UL认证标准中要求,MCU要在正常运行频率的半频?倍频范围内正常工作,所以要对MCU使用的振荡器频率做校验,以保证MCU正常安全的运行。
[0003]目前,很少会对MCU所使用的振荡器进行频率校验,而缺少运行频率的校验,会在MCU使用错误的振荡器或者振荡器损坏的情况下,造成MCU运行错误、使用MCU的机器的负载不正常开关等问题,而且也会存在一定的安全隐患。

【发明内容】

[0004]本发明的目的是提供一种振荡器频率校验装置和方法,该校验装置和方法能够对振荡器的频率进行校验,从而能够防止微控制单元(MCU)及使用MCU的机器出现不可控制的现象,并能够提高MCU及使用MCU的机器的运行安全性。
[0005]为了实现上述目的,本发明提供一种振荡器频率校验装置,该校验装置包括:过零点检测模块,用于检测参考振荡器输出的交流信号的过零点;计时器,该计时器由被校验振荡器驱动并用于对所述参考振荡器输出的交流信号的两个相邻过零点之间的时间间隔进行计时;以及判断模块,用于判断所述计时器所计时的时间间隔是否位于所述参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔的误差范围内,若是,则判定被校验振荡器的频率正常,若否,则判定被校验振荡器的频率异常。
[0006]本发明还提供一种振荡器频率校验方法,该校验方法包括:检测参考振荡器输出的交流信号的过零点;通过由被校验振荡器驱动的计时器,对所述参考振荡器输出的交流信号的两个相邻过零点之间的时间间隔进行计时;以及判断所述计时器所计时的时间间隔是否位于所述参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔的误差范围内,若是,则判定被校验振荡器的频率正常,若否,则判定被校验振荡器的频率异常。
[0007]通过上述技术方案,由于能够检测参考振荡器输出的交流信号的过零点、通过由被校验振荡器驱动的计时器对参考振荡器输出的交流信号的两个相邻过零点之间的时间间隔进行计时并判断所述计时器所计时的时间间隔是否位于参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔的误差范围内,从而能够简便快捷地判定被校验振荡器的频率是否异常,这样使用者就能够及时采取措施,使得能够防止使用被校验振荡器的MCU及使用MCU的机器出现不可控制的现象,防止出现机器负载的不正常开关问题,并能够提高MCU及使用MCU的机器的运行安全性。
[0008]本发明的其它特征和优点将在随后的【具体实施方式】部分予以详细说明。
【附图说明】
[0009]附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的【具体实施方式】一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。在附图中:
[0010]图1是根据本发明一种实施方式的振荡器频率校验装置的示意框图;
[0011]图2是根据本发明一种实施方式的振荡器频率校验方法的流程图;以及
[0012]图3是根据本发明一种实施方式的振荡器频率校验方法的又一流程图。
【具体实施方式】
[0013]以下结合附图对本发明的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。
[0014]如图1所示,根据本发明一种实施方式的振荡器频率校验装置包括过零点检测模块10、计时器20、判断模块30以及参考振荡器40。过零点检测模块10用于检测参考振荡器40输出的交流信号的过零点;计时器20由被校验振荡器50驱动并用于对所述参考振荡器40输出的交流信号的两个相邻过零点之间的时间间隔进行计时;以及判断模块30,用于判断计时器20所计时的时间间隔是否位于参考振荡器40的理论相邻过零点时间间隔的误差范围内,若是,则判定被校验振荡器50的频率正常,若否,则判定被校验振荡器50的频率异常。
[0015]优选地,所述过零点检测模块10可以为过零点检测电路。本申请并不限定过零点检测电路的具体电路形式,也即能够实现过零点检测的任何过零点检测电路都是可行的。
[0016]优选地,所述参考振荡器40可以为被校验振荡器50之外的频率固定的振荡器或者使用被校验振荡器50的微控制单元(MCU)的内部振荡器(在该MCU具有内部振荡器的情况下)。
[0017]另外,参考振荡器40的理论相邻过零点时间间隔可以通过参考振荡器40的频率获得,也即,假设参考振荡器40的频率为f,则理论相邻过零点时间间隔AT = 1/fo
[0018]优选地,参考振荡器40的理论相邻过零点时间间隔的误差范围例如可以为由所述理论相邻过零点时间间隔的±50%所构成的范围。以参考振荡器40的输出频率为50Hz为例,则参考振荡器40输出的交流信号的两个相邻过零点之间的理论相邻过零点时间间隔是ΔΤ = 20ms,则该理论相邻过零点时间间隔的±50%所构成的范围应该是1ms?30ms ο
[0019]本领域技术人员应当理解的是,理论相邻过零点时间间隔的误差范围不局限于上述举例,其可以根据实际情况以及实际精度要求来设置。仍然以上述理论相邻过零点时间间隔为20ms的情况为例进行说明,理论相邻过零点时间间隔的误差范围可以设置成例如15ms ?25ms ο
[0020]优选地,所述判断模块30还可以用于统计被校验振荡器50的连续频率异常的次数,判断连续频率异常的次数是否超过频率出错阈值,若超过,则促使使用被校验振荡器50的电路复位。例如,促使使用被校验振荡器50的MCU复位,切断使用该MCU的机器的所有负载,从而确保MCU及使用该MCU的机器的安全运行。
[0021]图2是根据本发明一种实施方式的振荡器频率校验方法的流程图。如图2所示,该振荡器频率校验方法包括:
[0022]S1、检测参考振荡器输出的交流信号的过零点;
[0023]S2、通过由被校验振荡器驱动的计时器,对所述参考振荡器输出的交流信号的两个相邻过零点之间的时间间隔进行计时;以及
[0024]S3、判断所述计时器所计时的时间间隔是否位于参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔的误差范围内,若是,则判定被校验振荡器的频率正常,若否,则判定被校验振荡器的频率异常。
[0025]优选地,根据本发明的振荡器频率校验方法可以采用过零点检测电路来检测参考振荡器输出的交流信号的过零点。过零点检测电路的具体电路形式不受限制,只要其能够实现过零点检测即可。
[0026]优选地,所述参考振荡器可以为被校验振荡器之外的频率固定的振荡器或者使用被校验振荡器的微控制单元(MCU)的内部振荡器(在该MCU具有内部振荡器的情况下)。
[0027]另外,参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔可以通过参考振荡器的频率获得,也即,假设参考振荡器的频率为f,则理论相邻过零点时间间隔ΔΤ = 1/fo
[0028]优选地,参考振荡器的理论相邻过零点时间间隔的误差范围例如可以为由所述理论相邻过零点时间间隔的± 50 %所构成的范围。以参考振荡器的输出频率为50Hz为例,则参考振荡器输出的交流信号的两个相邻过零点之间的理论相邻过零点时间间隔是ΔΤ =20ms,则该理论相邻过零点时间间隔的±50%所构成的范围应该是1ms?30mso
[0029]本领域技术人员应当理解的是,理论相邻过零点时间间隔的误差范围不局限于上述举例,其可以根据实际情况以及实际精度要求来设置。仍然以上述理论相邻过零点时间间隔为20ms的情况为例进行说明,理论相邻过零点时间间隔的误差范围可以设置成例如15ms ?25ms ο
[0030]优选地,根据本发明的振荡器频率校验方法还可以包括:统计被校验振荡器的连续频率异
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