一种电路板测试电路以及终端的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种电路板测试电路以及终端。
【背景技术】
[0002]PCB (Printed Circuit Board，印制电路板)是电子元器件的支撑体，可采用电子印刷术在PCB上分布信号走线，避免人工接线。PCB在生产的过程中通常会预留测试点，即在信号走线的预设区域连接一根导线，导线的另一端作为测试点，以便在调试或者维修等过程中通过测试点进行测试。测试点的数目较多将影响信号走线的分布难度，甚至破坏信号的完整性，为了解决上述技术问题，可增大PCB空间。随着终端技术的发展，市场上的终端越来越薄，用户对终端的电池容量的需求也在增大，给PCB空间带来了一定限制。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型实施例提供一种电路板测试电路以及终端，在不增大PCB空间的情况下，减少信号走线的分布难度。
[0004]本实用新型实施例第一方面提供了一种电路板测试电路，包括PCB以及分布于所述PCB上的传输信号的信号走线，其特征在于，所述信号走线上分布有一个或一个以上的加粗的测试段，所述信号走线上的测试段全部或部分裸露于所述PCB表面。
[0005]本实用新型实施例第二方面提供了一种终端，可以包括第一方面提供的电路板测试电路。
[0006]实施本实用新型实施例中，信号走线上分布有一个或一个以上的加粗的测试段，信号走线上的测试段全部或部分裸露于PCB表面，以便于通过测试段进行测试。相较在信号走线的预设区域连接一根导线，导线的另一端作为测试点，以便通过测试点进行测试，本实用新型实施例可在不增大PCB空间的情况下，减少信号走线的分布难度。
【附图说明】
[0007]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0008]图1是本实用新型实施例提供的一种电路板测试电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0009]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0010]本实用新型提供了一种电路板测试电路，可在不增大PCB空间的情况下，减少信号走线的分布难度。以下分别进行详细说明。
[0011]请参考图1，是本实用新型实施例提供的一种电路板测试电路的结构示意图，包括PCB以及分布于PCB上的传输信号的信号走线，其特征在于，信号走线上分布有一个或一个以上的加粗的测试段，信号走线上的测试段全部或部分裸露于PCB表面。
[0012]信号走线上的测试段全部或部分裸露于PCB表面，以便通过裸露的测试段进行测试。例如，可以对测试段的保护层进行切割，将位于保护层之下的测试段裸露于PCB表面，等等。
[0013]在可选实施例中，测试段在信号走线上的位置位于信号走线与相邻的最接近的信号走线之间的距离最远的位置。
[0014]具体的，可以获取信号走线在PCB上的分布位置，根据信号走线在PCB上的分布位置，确定测试段，其中测试段在信号走线上的位置位于信号走线与相邻的最接近的信号走线之间的距离最远的位置。测试段在信号走线上的位置位于信号走线分布的浓密度较低的位置，以便于通过测试段进行测试，并减少信号走线的分布难度，不破坏信号的完整性。
[0015]在可选实施例中，信号走线上的测试段全部或部分裸露于PCB表面，具体为:
[0016]信号走线上的测试段全部或部分通过漏铜的方式裸露于PCB表面。
[0017]具体的，信号走线可以由铜(导电体)组成，则可以将测试段的全部或部分铜裸露于PCB表面。
[0018]在可选实施例中，测试段的最大宽度为1.5mm。测试段的宽度大于第一预设门限值时，将与该信号走线相邻的最接近的信号走线导通，破坏信号的完整性，并且测试段的宽度大于第一预设门限值时，探针与测试段进行接触的面积固定，通过测试段进行测试的工作效率保持不变。另外，加粗的测试段的成本将增高。可以对测试段设定最大宽度，测试段的最大宽度为1.5_时，通过测试段进行测试的工作效率较高，不破坏信号的完整性，同时测试段的成本较低。
[0019]在可选实施例中，测试段的最小宽度为0.5mm。测试段的宽度较小时，探针与测试段接触的面积较小，无法有效通过测试段进行测试，则可以对测试段设定最小宽度，测试段的最小宽度为0.5mm时，以便提高通过测试段进行测试的工作效率。
[0020]在可选实施例中，信号走线上分布有一个或一个以上的加粗的测试段，具体为:
[0021]信号走线的分支数目为N条时，信号走线上分布的测试段的数目为N+2个，其中N为自然数。
[0022]例如，信号走线不存在分支，则在信号走线上分布的测试段的数目可以为2个，以便通过上述测试段对该信号走线进行测试。又如，信号走线的分支数目为I条时，则在信号走线上分布的测试段的数目可以为3个，以便通过2个测试段对该信号走线的主线的一端与该信号走线的分支之间的信号走线进行测试，通过2个测试段对该信号走线的主线的另一端与该信号走线的分支之间的信号走线进行测试，并通过2个测试段对该信号走线的主线进行测试。需要指出的是，本实用新型实施例中的信号走线的分支数目包含但不局限于O条或