一种光信噪比的测量方法及装置与流程

本发明涉及光纤通信技术，尤其涉及一种光信噪比的测量方法及装置。

背景技术：
光纤通信系统中，如密集型光波复用（DenseWavelengthDivisionMultiplexing，DWDM）系统，光信噪比（OpticalSignaltoNoiseRatio，OSNR）能够比较准确地反映光纤中所传输的光信号的光学质量，光信噪比的具体数值可以为后端设备的通信质量提供重要的判断依据，因此，光信噪比成为传输层中衡量光信号质量时最常用的指标。现有技术中，光信噪比的测量方法为：开启激光器，光谱分析仪直接获得光信号与噪声的功率的和；然后关闭激光器，光谱分析仪获得噪声功率和光信号的中心频率内0.1nm内的积分噪声功率；依据光信号与噪声功率和、噪声功率和积分噪声功率，计算获得光信号的光信噪比。然而，利用上述方法测量光信噪比时，由于会出现光放大器的增益竞争和烧孔效应，在关闭激光器后，测量到的噪声功率与实际的噪声功率存在较大误差，因此，利用噪声功率得到的光信噪比也不准确。

技术实现要素：
本发明实施例提供了一种光信噪比的测量方法及装置，以实现测量到更加准确的光信噪比。第一方面，本发明实施例提供了一种光信噪比的测量装置，包括：第一测量单元，用于获得待测光信号的第一光信噪比；第一处理单元，用于获得参考信号的功率变化参数；其中，所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤；第二处理单元，用于依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量；第二测量单元，用于依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比。在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述参考信号包括所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述第一处理单元具体用于：获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率；所述第一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率，所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的功率；依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值，获得每个所述信号的功率变化参数。结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，或者，所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；所述第二处理单元具体用于：依据每个所述信号的功率变化参数，对至少两个所述信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第一功率变化拟合量；依据所述第一功率变化拟合量，获得所述修正量。结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述第二处理单元具体用于：依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第二功率变化拟合量；依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第三功率变化拟合量；依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量，获得所述修正量。结合第一方面，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述第二测量单元具体用于：依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值，获得所述待测光信号的第二光信噪比。第二方面，本发明实施例提供了一种光信噪比的测量方法，包括：获得待测光信号的第一光信噪比；获得参考信号的功率变化参数；其中，所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤；依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量；依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比。在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述参考信号包括所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述获得参考信号的功率变化参数，包括：获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率；所述第一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率，所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的功率；依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值，获得每个所述信号的功率变化参数。结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，或者，所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；所述依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量，包括：依据每个所述信号的功率变化参数，对至少两个所述信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第一功率变化拟合量；依据所述第一功率变化拟合量，获得所述修正量。结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量，包括：依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第二功率变化拟合量；依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第三功率变化拟合量；依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量，获得所述修正量。结合第二方面，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比，包括：依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值，获得所述待测光信号的第二光信噪比。通过上述技术方案，依据获得的修正量，对利用现有技术获得的光信噪比进行调整，以减小测量得到的信噪比与实际的光信噪比之间的误差，从而提高光信噪比的测量精度，获得更加准确的光信噪比，能够解决现有技术中由于开启或关闭激光器所带来的光信噪比的误差较大的问题。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的功能方块图；图2是本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的结构示意图；图3是本发明实施例所提供的光信噪比的测量方法的流程示意图；图4（a）是本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于开启状态下所述信号的功率示意图；图4（b）是本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于关闭状态下所述信号的功率示意图；图5是本发明实施例所提供的信号的功率变化参数的示意图。具体实施方式为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。本发明实施例给出一种光信噪比的测量装置，请参考图1，其为本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的功能方块图；如图1所示，该装置包括：第一测量单元10，用于获得待测光信号的第一光信噪比；第一处理单元11，用于获得参考信号的功率变化参数；其中，所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤；第二处理单元12，用于依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量；第二测量单元13，用于依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比。其中，所述参考信号包括所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述第一处理单元11具体用于：获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率；所述第一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率，所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的功率；依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值，获得每个所述信号的功率变化参数。其中，所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，或者，所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；所述第二处理单元12具体用于：依据每个所述信号的功率变化参数，对至少两个所述信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第一功率变化拟合量；依据所述第一功率变化拟合量，获得所述修正量。其中，所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述第二处理单元12具体用于：依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第二功率变化拟合量；依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第三功率变化拟合量；依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量，获得所述修正量。其中，所述第二测量单元13具体用于：依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值，获得所述待测光信号的第二光信噪比。请参考图2，其为本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的结构示意图；如图2所示，该装置包括：存储器20，用于存储包括程序例程的信息；处理器21，与存储器20耦合，用于控制所述程序例程的执行，具体包括：获得待测光信号的第一光信噪比；获得参考信号的功率变化参数；其中，所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤；依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量；依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比。处理器21对应于图1所示装置中的第一测量单元10、第一处理单元11、第二处理单元12和第二测量单元13。本发明实施例进一步给出实现上述装置实施例中各单元的方法实施例。本发明实施例给出一种光信噪比的测量方法，请参考图3，其为本发明实施例所提供的光信噪比的测量方法的流程示意图；如图3所示，该方法包括以下步骤：步骤301，获得待测光信号的第一光信噪比。具体的，首先，开启激光器，激光器发出的待测光信号在光纤中的一个通道内传输，将待测光信号的中心频率置于光谱分析仪（OpticalSpectrumAnalyser，OSA）的正中间，然后设置一个合适的积分带宽；例如，如果光纤中通道间的间隔为100GHz，则积分带宽为0.8nm，如果光纤中通道间的间隔为50GHz，则积分带宽为0.4nm；测量该积分带宽内的待测光信号的光功率与噪声信号的噪声功率的和值Pi+Ni。然后，关闭激光器，设置一个合适的积分带宽，测量该积分带宽内噪声信号的噪声功率Ni。噪声参考带宽一般为0.1nm，获得信号中心频率内0.1nm带宽内的带宽功率n。最后，利用如下公式，计算获得第一光信噪比OSNR1:步骤302，获得参考信号的功率变化参数；其中，所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤。具体的，首先，需要确定待测光信号的参考信号，方法如下：同一光纤内有多个通道，且该多个通道的排布呈成一条直线，待测光信号位于其中的一个通道内，所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号可以作为参考信号；其中，如果待测光信号所在通道的第一侧（如左侧）有至少两个相邻的通道，且通道内有光信号，和/或，或者，第二侧（如右侧）有至少两个相邻的通道，且通道内有光信号，或者，如果待测光信号所在通道的第一侧有至少两个相邻的通道，且通道内有光信号，以及待测光信号所在通道的第二侧有至少两个相邻的通道，且通道内有光信号，则将这些光信号作为参考信号；如果待测光信号所在通道的第一侧和/或第二侧没有光信号，则在待测光信号第一侧或第二侧打开通道交叉，或者，第一侧和第二侧都打开通道交叉，打开通道交叉后，依据待测光信号的波长设置通道的衰减值，这样就可以使得待测光信号的相邻通道内产生信号，该信号为噪声信号。需要说明的是，待测光信号所在通道相邻的通道内，可以只有光信号，也可以没有光信号；在没有光信号时，打开通道交叉并设置通道的衰减值后，可以得到噪声信号；因此，可以利用光信号作为参考信号，也可以利用噪声信号作为参考信号。因此，本发明实施例中，待测光信号的参考信号可以包括：所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号。所述至少两个信号包括：所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；其中，至少两个信号都为光信号，或者都为噪声信号，或者一个信号为光信号，一个信号为噪声信号。或者，待测光信号的参考信号可以包括：所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；其中，至少两个信号都为光信号，或者都为噪声信号，或者一个信号为光信号，一个信号为噪声信号。或者，在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号；其中，对于第一侧相邻的至少两个信号或第二侧相邻的至少两个信号中，至少两个信号都为光信号，或者都为噪声信号，或者一个信号为光信号，一个信号为噪声信号。其中，待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时，表示参考信号只包括第一侧与待测光信号相邻的至少两个信号，不包括第二侧与待测光信号相邻的至少两个信号，这是因为待测光信号位于呈直线排布的通道中的最右端的两个通道中的一个通道内，在该通道的右侧没有通道或者没有至少两个通道，因此，只能利用该通道的左侧相邻的至少两个通道内的光信号或噪声信号作为参考信号。例如，光纤中有80个通道，如果待测光信号位于第79通道（CH79）内，则参考信号包括第77通道内和第78通道内的光信号或噪声信号；如果待测光信号位于第80通道（CH80）内，则参考信号包括第78通道内和第79通道内的光信号或噪声信号。其中，待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时，表示参考信号只包括第二侧与待测光信号相邻的至少两个信号，不包括第一侧与待测光信号相邻的至少两个信号，因为待测光信号位于呈直线排布的通道中的最左端的两个通道中的一个通道内，在该通道的左侧没有通道或者没有至少两个通道，因此，只能利用该通道的右侧相邻的至少两个通道内的光信号或噪声信号。例如，光纤中有80个通道，如果待测光信号位于第1通道（CH1）内，则参考信号包括第2通道内和第3通道内的光信号或噪声信号；如果待测光信号位于第2通道（CH2）内，则参考信号包括第3通道内和第4通道内的光信号或噪声信号。其中，待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号以及所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时，表示参考信号包括第一侧和第二侧各与待测光信号相邻的至少两个信号，因为待测光信号不位于呈直线排布的通道中的最左端的两个通道和最右端的两个通道，在该通道的左侧和右侧都有至少两个通道，因此，可以利用该通道的左侧和右侧各相邻的至少两个通道内的光信号或噪声信号。然后，在确定待测光信号的参考信号后，需要获得参考信号的功率变化参数，方法如下：首先，获得参考信号中每个信号的第一功率和第二功率；其中，所述第一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率，请参考图4（a），其为本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于开启状态下所述信号的功率示意图，如图所示，例如，左边起第三个波对应待测光信号，则第一个波和第二个波对应的信号为该待测光信号的参考信号，第一个波对应的信号的第一功率为第一个波中波峰对应的功率值，同理，第二个波对应的信号的第一功率为第二个波中波峰对应的功率值。所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的功率，请参考图4（b），其为本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于关闭状态下所述信号的功率示意图，例如，在关闭激光器后，待测光信号的波变成直线，第一个波对应的信号的第二功率为图4（b）中第一个波的波峰对应的功率值，同理，第二个波对应的信号的第二功率为图4（b）中第二个波的波峰对应的功率值。如果参考信号所包括的信号为光信号，第一功率和第二功率都是光功率；如果参考信号所包括的信号为噪声信号，第一功率和第二功率都是噪声功率。然后，依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值，获得每个信号的功率变化参数，即用第二功率减去第一功率，得到的结果就是信号的功率变化参数。例如，请参考图5，其为本发明实施例所提供的信号的功率变化参数的示意图；如图4（a）和4（b）所示，左边起第三个波对应待测光信号，左边起第一个波对应的信号和第二个波对应的信号为待测光信号的参考信号，待测光信号对应的激光器由开启状态变为关闭状态后，第一个波对应的信号的功率变化参数和第二个波对应的信号的功率变化参数为图5中的两个黑点。其中，可以利用光谱分析仪来获得信号的功率变化参数，光谱分析也将功率变化参数输出给计算机，由计算机依据功率变化参数，获得第二光信噪比。步骤303，依据所述参考信号的功率变化参数，获得修正量。具体的，若所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述至少两个信号可以都为光信号，也可以都为噪声信号，也可以其中一个信号为光信号，另一个信号为噪声信号；或者，若所述参考信号包括所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，所述至少两个信号可以都为光信号，也可以都为噪声信号，也可以其中一个信号为光信号，另一个信号为噪声信号，则依据每个所述信号的功率变化参数，对至少两个所述信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第一功率变化拟合量；依据所述第一功率变化拟合量，获得所述修正量。或者，若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号，依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第二功率变化拟合量；依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数，对所述至少两个信号的功率变化参数进行线性拟合，以获得第三功率变化拟合量；依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量，获得所述修正量。例如，若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个光信号，对这两个光信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGleft，依据该功率变化拟合量ΔGleft与2的商获得修正量ΔG，即ΔG=ΔGleft/2。这里，以所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个光信号为例，对两个光信号的功率变化参数进行线性拟合的方法进行说明：如图5所示，图5中两个黑色的原点的纵坐标为这两个光信号的功率变化参数，依据两点确定一直线的数学原理，在图5中可以获得这两点唯一确定的直线（如图5中所示虚线），然后，依据待测光信号的波峰的横坐标，在该直线上获得该横坐标对应的纵坐标，获得的纵坐标就是两个光信号的功率变化拟合量ΔGleft；对两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合的方法与上述方法相同。若所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个光信号，对这两个光信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGright，依据该功率变化拟合量ΔGright与2的商获得修正量ΔG，即ΔG=ΔGright/2。若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个光信号和所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个光信号，对在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个光信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGleft，然后对在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个光信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGright；利用功率变化拟合量ΔGleft与2的商加上功率变化拟合量ΔGright与2的商，再利用获得的和值与2的商，获得修正量ΔG，即ΔG=(ΔGleft/2+ΔGrigh/t2)2=(ΔGleft+ΔGright)/4。若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号，对这两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGleft，依据该功率变化拟合量ΔGleft获得修正量ΔG，即ΔG=ΔGleft。若所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号，对这两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGright，依据该功率变化拟合量ΔGright获得修正量ΔG，即ΔG=ΔGright。若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号和所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号，对在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGleft，然后对在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量ΔGright；利用功率变化拟合量ΔGleft加上功率变化拟合量ΔGright，再利用获得的和值与2的商，获得修正量ΔG，即ΔG=(ΔGleft+ΔGright)/2。需要说明的是，如果在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的两个信号中，或者，在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的两个信号中，包括一个噪声信号和一个光信号，则可以先依据该光信号的功率变化参数除以2，获得该光信号所在通道内噪声信号的功率变化参数，然后对噪声信号的功率变化参数和该光信号所在通道内噪声信号的功率变化参数，进行线性拟合，获得对应的功率变化拟合量。这里，由于光信号经过每个放大器都产生相应的增益变化，而噪声信号是分布式加入的，因此，噪声信号的功率变化参数约等于光信号的功率变化参数的一半，因此，可以利用光信号的功率变化参数与2的商，计算获得同一通道内噪声信号的功率变化参数。步骤304，依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比。具体的，依据步骤303中获得的修正量ΔG对所述第一光信噪比OSNR1进行调整，以获得所述待测光信号的第二光信噪比OSNR2。例如，依据所述修正量ΔG与所述第一光信噪比OSNR1的和值，获得所述待测光信号的第二光信噪比OSNR2，即：OSNR2=OSNR1+ΔG。本发明实施例提供的技术方案中，依据获得的修正量，对利用现有技术获得的光信噪比进行调整，以减小测量得到的信噪比与实际的光信噪比之间的误差，从而提高光信噪比的测量精度，获得更加准确的光信噪比，例如，获得宽谱光源过滤波类单板后准确的光信噪比，能够解决现有技术中由于开启或关闭激光器所带来的光信噪比的误差较大的问题，解决因为光信噪比测量不能准确导致现网验收不通过的实际困难。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。