本发明实施例涉及测试技术领域,更具体的说,涉及一种板级测试方法及装置。
背景技术:
主板作为设备运行的“大脑”,是承载设备的处理器、硬盘、存储器及对外设备接口等的主电路板,其中,主板上各个功能部分分别由不同的电路元器件焊接组成。由于设备的运行依赖于主板所提供的各个功能模块,因此,为了保证设备能够正常运行,相关技术中,在主板制作完成之后,投入使用之前,通常对主板上电路元器件的连接情况进行测试,相关技术中称之为板级测试。
以android设备的主板测试为例,通常,技术人员预先设置测试APP(Application,应用程序),在主板制作完成之后,调用测试APP,并通过运行测试APP的不同功能触发主板的各个功能模块,从而能够通过主板上各个功能模块的运行状况,确定功能模块相关电路元器件的连接是否正常,达到板级测试的目的。
在研究和实践过程中,发明人发现上述相关技术至少存在以下问题:
由于APP的运行依赖于android系统的正常运行,而android系统位于安卓设备的设备系统的最上层,因此,在调用并运行测试APP之前,首先需要完全启动安卓设备的设备系统,待设备系统完全启动之后,才能够调用测试APP,从而造成测试需要的时间长,测试效率低下。
技术实现要素:
本发明实施例提供了一种板级测试方法及装置,能够解决相关技术测试时间长,测试效率低的问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种板级测试方法,该方法包括:
当接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令;
当预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
优选的,在向所述主板发送测试目标元器件的测试指令之后,在根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常之前,所述方法还包括:
按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据;
当未接收到所述运行数据时,累计未接收到所述运行数据的总时长;
判断所述总时长是否大于或者等于所述预设时长;
如果所述总时长大于或者等于所述预设时长,将所述目标元器件确定为连接异常;
如果所述总时长小于所述预设时长,重复执行所述按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据的步骤。
优选的,所述根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常包括:
当所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的错误代码时,将所述目标元器件确定为连接异常。
优选的,所述根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常包括:
当所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值与标准值是否相同;
如果所述结果值与所述标准值相同,将所述目标元器件确定为连接正常;
如果所述结果值与所述标准值不相同,将所述目标元器件确定为连接异常。
优选的,所述根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常包括:
当所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值是否处于标准范围内;
如果所述结果值未处于所述标准范围内,将所述目标元器件确定为连接异常;
如果所述结果值处于所述标准范围内,使用所述标准范围中的最大值减去所述结果值得到第一差值,根据所述第一差值确定所述目标元器件的正常等级参数;或者,使用所述结果值减去所述标准范围中的最小值得到第二差值,根据所述第二差值确定所述目标元器件的正常等级参数。
第二方面,本发明实施例提供了一种板级测试装置,所述装置包括:
发送模块,用于在接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令;
第一确定模块,用于在预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
优选的,还包括:第一判断模块,用于按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据;
计算模块,用于在未接收到所述运行数据时,累计未接收到所述运行数据的总时长;
第二判断模块,用于判断所述计算模块计算得到的总时长是否大于或者等于所述预设时长;
第二确定模块,用于在所述第二判断模块判断得到总时长大于或者等于所述预设时长时,将所述目标元器件确定为连接异常;
所述第一判断模块,还用于在所述第二判断模块判断得到总时长小于所述预设时长时,按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据。
优选的,所述第一确定模块包括:第一确定单元,其中,
所述第一确定单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的错误代码时,将所述目标元器件确定为连接异常。
优选的,所述第一确定模块还包括:第一判断单元和第二确定单元,其中,
所述第一判断单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值与标准值是否相同;
所述第二确定单元,用于在所述结果值与所述标准值相同时,将所述目标元器件确定为连接正常;还用于在所述结果值与所述标准值不相同时,将所述目标元器件确定为连接异常。
优选的,所述第一确定模块还包括:第二判断单元、第三确定单元、计算单元和第四确定单元,其中,
所述第二判断单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值是否处于标准范围内;
所述第三确定单元,用于在所述结果值未处于所述标准范围内时,将所述目标元器件确定为连接异常;
所述计算单元,用于在所述结果值处于所述标准范围内时,使用所述标准范围中的最大值减去所述结果值得到第一差值;
所述第四确定单元,用于根据所述第一差值确定所述目标元器件的正常等级参数;
所述计算单元,还用于在所述结果值处于所述标准范围内时,使用所述结果值减去所述标准范围中的最小值得到第二差值;
所述第四确定单元,还用于根据所述第二差值确定所述目标元器件的正常等级参数。
第三方面,本发明实施例提供了一种板级测试装置,所述装置包括:处理器和存储器,其中,
所述存储器内存储有所述处理器能够执行的操作信息;
所述处理器读取所述存储器内的操作信息用于实现以下方法:
当接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令;
当预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
与现有技术相比,本实施例提供的技术方案具有以下优点和特点:
在本发明实施例提供的方案中,为了解决相关技术测试时间长、测试效率低的问题,在接收到主板发送的系统内核启动通知时,测试服务器便向主板发送测试目标元器件的测试指令,并在预设时长内接收到目标元器件运行所述测试指令生成的运行数据时,根据运行数据确定目标元器件的连接是否正常。即,本发明实施例的技术方案,在设备系统的系统内核启动后,便可以对主板进行板级测试,无须等到设备系统完全启动,从而能够将板级测试的开始时刻提前,进而能够缩短测试时间,并且能够提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的板级测试方法的方法流程图。
图2为本发明实施例提供的另一种板级测试方法的方法流程图。
图3为本发明实施例提供的板级测试信息交互示意图。
图4为本发明实施例提供的板级测试装置的示意图。
图5为本发明实施例提供的另一种板级测试装置的示意图。
具体实施方式
其中,由于在进行板级测试之前,主板上的电路元器件连接状态不确定,而设备系统的启动及运行依赖于电路元器件的正常运行,因此,在电路元器件连接状态不稳定的情况下,设备系统所启动的层级越高,所存在的不稳定因素也越多,设备系统本身对板级测试的测试结果影响也越大,进而导致测试结果的精确性较差。而本发明实施例的技术方案也能够解决上述技术问题。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的板级测试方法的方法流程图。图1所示的板级测试方法无须等到设备系统完全启动,即可对主板进行测试,从而能够缩短测试时间,提高测试效率。该方法包括以下步骤。
步骤S101、当接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令。
需要说明的是,android设备的设备系统启动包括三个阶段:第一阶段,bootloader(启动装载),即初始化硬件设备、建立内存空间映射图,为后续阶段的启动准备正确的运行环境,是系统的最底层;第二阶段,kernel(系统内核),即设备操作系统的核心部分;第三阶段,android系统。其中,kernel层包括设备操作系统的核心操作模块,当kernel层完全启动后,设备系统便可以按照操作指令执行相应的功能。基于此,本发明实施例的技术方案可以在kernel启动后,对主板进行板级测试。
具体的,本发明实施例的技术方案中,设置有测试服务器,在测试时,测试服务器可以连接主板的通信接口,以与主板进行信息交互。请参见图3,图3为本发明实施例提供的板级测试信息交互示意图,在本实施例中,主板内部设置有通知模块,在设备系统启动过程中,当kernel的最后一个模块完成启动时,触发通知模块,从而向测试服务器发送kernel启动的通知信息,以便于测试服务器对主板开始测试。
其中,本实施例中,测试指令是指,触发设备目标功能的操作指令;目标元器件是指,目标功能所对应的主板上的执行硬件。需要说明的是,目标元器件可以是多个电路元器件,本发明实施例对此不做限制。由于板级测试是对主板上电路元器件连接是否正常的测试,而主板上各个电路元器件是执行系统功能的硬件,而且不同功能对应不同的执行硬件。所以,本实施例中,测试服务器在接收到主板发送的kernel启动的通知信息后,如图3所示,向主板发送测试指令,以通过测试指令触发相应的目标功能,进而使得主板通过执行目标功能对相应的目标元器件进行测试。
需要说明的是,测试指令即为操作指令,例如,click指令。测试指令由技术人员预先设置并存储到测试服务器,本实施例中,测试服务器在接收到主板发送的系统内核启动通知后,可以向主板逐条发送测试指令,以使主板通过目标电器元件执行相应功能,完成对目标电器元件的测试。具体的,测试服务器可以将测试指令存储到表格中,并通过指针逐条选择待发送的测试指令。
由本实施例的描述可知,由于不同的测试指令对应不同的目标元器件,因此,本方案可以对主板的电路元器件分别进行测试,不仅测试过程更加灵活,而且与相关技术中调用测试APP的方式相比,能够对电路元器件更加有针对性的测试,进而提高测试结果的精确度。
此外,由于kernel的启动同样依赖于硬件的正常运行,因此,在主板上电后,kernel可能由于硬件缺陷无法启动,从而导致测试服务器无法接收到主板发送的kernel启动通知信息,进而无法进行进一步的测试。因此,主板上电时,测试服务器可以接收到主板的上电通知信息,并开始计时,如果一定时间内未接收到主板发送的kernel启动通知,则将该主板的电路元器件确定为连接异常。例如,在本发明的一个优选示例中,测试服务器在接收到主板的上电通知后,如果在15s内未接收到主板发送的kernel启动的通知信息,则可以将该主板的电路元器件确定为连接异常。
步骤S102、当预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
根据上述描述可知,主板在接收到测试指令后,按照测试指令的内容执行相应操作,并可以在预设时长内生成运行数据。由于运行数据能够反应目标元器件的连接状况,因此,请参见图3,主板在生成运行数据后,将运行数据发送到测试服务器,测试服务器可以根据运行数据确定目标元器件连接是否异常。
其中,预设时长可以预先根据设备执行该测试指令的常规超时时长设定,例如,在本发明的一个优选示例中,预设时长可以是20s。
需要说明的是,当目标元器件连接异常时,主板通过目标元器件无法正常执行测试指令,导致得到的运行数据与正确的运行数据不同,因此,本实施例中,测试服务器中可以预先存储每种测试指令对应的正确运行数据,当接收到目标元器件发送的运行数据后,测试服务器可以对比所接收的运行数据和相应的正确运行数据,从而可以根据二者的关系确定目标元器件的连接状况。此外,主板执行不同的测试指令所得到的运行数据也不相同,通常,运行数据可以是两类数据:执行测试指令得到的结果值,和执行测试指令得到的结果的状态码。下面对应上述两种类型的运行数据分别进行详细描述。
当运行数据是状态码时,测试服务器可以读取状态码的内容,并判断是否为错误状态码,如果是错误状态码,则说明目标元器件未能正常执行测试指令,进一步说明目标元器件连接异常,因此,可以将目标元器件确定为连接异常;如果是正确状态码时,说明目标元器件正常执行测试指令,且目标元器件连接正常,则可以将目标元器件确定为连接正常。
例如,测试指令是“click”指令,在本实施例中,该“click”指令对应触发的功能是“发送”功能,如果目标元器件正常执行“click”指令,那么,将成功触发“发送”功能,生成的运行数据可以是触发“发送”成功的状态码,测试服务器在接收到触发“发送”成功的状态码后,可以将目标元器件确定为连接正常。如果目标元器件无法正常执行“click”指令,则无法触发“发送”功能,生成的运行数据则是错误代码,例如,可以是,错误代码303,测试服务器在接收到错误状态码303后,可以将目标元器件确定为连接异常。
在另一个实施例中,当运行数据是结果值时,由于不同操作场景下正常执行测试指令所得到的标准数据类型可以包括两种,标准值和标准范围,因此,本实施例分别基于上述两种标准数据类型进行描述。
当正常执行测试指令对应的运行数据是标准值时,在接收到目标元器件的结果值后,测试服务器可以判断结果值与相应标准值是否相同,如果结果值与相应标准值相同,说明测试指令被正常执行,将目标元器件确定为连接正常;如果结果值与相应标准值不相同,说明测试指令未被正常执行,将目标元器件确定为连接异常。
例如,当测试指令是“获取当前时间”时,主板上的相关目标元器件计算得到当前时间,并将计算得到的时间发送到测试服务器。假设测试服务器中存储的标准时间是9:30,如果所接收的时间是9:30,说明目标元器件计算正确,可以将目标元器件确定为连接正常;如果所接收的时间不是9:30,说明目标元器件计算错误,可以将目标元器件确定为连接异常。
当正常执行测试指令对应的运行数据是标准范围时,在接收到目标元器件的结果值后,测试服务器可以判断结果值是否处于标准范围内,如果结果值处于标准范围内,说明测试指令被正常执行,将目标元器件确定为连接正常;如果结果值未处于标准范围内,说明测试指令未被正常执行,将目标元器件确定为连接异常。
例如,当测试指令是“发送消息”时,相应目标元器件在执行“发送”功能时开始计时,并在发送成功时停止计时,从而得到发送时长,并将该发送时长发送到测试服务器。假设本实施例中,发送时长的标准范围记录为0.5s~3s,如果测试服务器接收到的发送时长为1.5s,则认为发送时长处于正常范围内,可以将确定为连接正常;如果测试服务器接收到的发送时长为3.5s,则认为发送时长已经超出正常范围,可以将确定为连接异常。
需要说明的是,为了便于记录测试结果,本发明实施例的技术方案,可以但不限于使用标识表示连接正常和连接异常。例如,在本发明的一个优选示例中,可以使用参数0和1表示,参数0表示连接异常,参数1表示连接正常。
此外,进一步的,当正常执行测试指令对应的运行数据是标准范围时,虽然结果值处于标准范围内时,目标元器件的连接正常,但是,如果结果值偏大或者偏小,可能表示目标元器件的连接存在潜在风险。因此,本实施例中,还可以预先设定正常等级参数,当结果值处于标准范围内时,通过使用标准范围中的最大值减去结果值得到第一差值,根据第一差值确定目标元器件的正常等级参数;或者,使用结果值减去标准范围中的最小值得到第二差值,根据第二差值确定目标元器件的正常等级参数。其中,需要说明的是,可以根据操作场景的需求,预先设置正常等级参数与第一差值或者第二差值的对应关系,并根据第一差值或者第二差值的大小,记录目标元器件的正常等级参数。
例如,以上述发送时长为例,假设预设的正常等级参数范围为0.2~0.9,其中,数值越大,表示正常的程度越大。由于本实施例是发送时长,通常发送时长越短,表示越接近理想状态,因此,测试服务器所接收的发送时长越接近标准范围的最小值,正常等级参数越大。也就是说,本实施例中,第一差值越大或者第二差值越小,正常等级参数越大,例如,所接收的发送时长是0.8s,则正常等级参数可以设置为0.9;而第一差值越小或者第二差值越大,正常等级参数越小,例如,所接收的发送时长是2.5s,则正常等级参数可以设置为0.3。
当然,上述实施例仅为本发明的一个优选示例,本发明实施例的技术方案,正常等级参数与第一差值和/或第二差值的对应关系,可以按照应用场景的需求设置。例如,当标准范围所限定的是数据处理的频率,并且在该场景中,频率越高越接近理想状态,那么,在本实施例中,第一差值越小或者第二差值越大,对应的正常等级参数越大;第一差值越大或者第二差值越小,对应的正常等级参数越小。具体的,本发明实施例对此不做限制。
由本实施例的描述可知,本方案所述的板级测试方法,在主板系统内核启动后,便可以对主板进行板级测试,无须等到设备系统完全启动,从而能够将板级测试的开始时刻提前,进而能够缩短测试时间,并且能够提高测试效率。
在上述实施例的基础上,为了使本领域技术人员能够更加清楚、详细的了解本方案,本发明实施例还提供了另一种实施方式。请参见图2,图2为本发明实施例提供的另一种板级测试方法的方法流程图。
需要说明的是,本实施例对上述实施例的补充描述,所以图2中与图1相同的内容可参见图1对应的描述,本实施例此处不再赘述。相对于图1所示的实施例,图2所示的实施例在步骤S101之后,还包括以下步骤:
步骤S103,按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据,当预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,执行步骤S102;当未接收到所述运行数据时,执行步骤S104。
其中,鉴于测试指令的执行依赖于目标元器件的正常运行,而当前场景下无法确定目标元器件是否能够正常运行,因此,本实施例中,测试服务器在向主板发送测试指令后,可以按照一定的间隔时长检测是否接收到了目标元器件的运行数据,从而能够确定目标元器件执行测试指令的时间是否超过了超时时长,进而能够为目标元器件连接正常与否提供更加全面的判定标准。
需要说明的是,本实施例中,预设间隔时长可以根据主板正常执行测试指令的常规时长设定,例如,通常执行该测试指令对应的功能所需的时长为0.2s,本实施例中可以将预设的间隔时长设定为0.2s。
步骤S104,累计未接收到所述运行数据的总时长。
其中,为了便于记录目标元器件执行测试指令的时长,并为后续的测试过程提供参考数据,当未接收到目标元器件的运行数据时,累计未接收到运行数据的总时长。
步骤S105,判断所述总时长是否大于或者等于所述预设时长,当所述总时长大于或者等于所述预设时长时,执行步骤S106;当所述总时长小于所述预设时长时,执行步骤S103。
由于本实施例中目标元器件能否正常运行并不确定,因此,可能存在目标元器件超时未响应的情况,因此,为了其他测试项目的顺利进行,测试服务器可以判断总时长是否达到超时时长,如果总时长未达到超时时长,且测试服务器接收到了运行数据,则按照运行数据确定目标元器件的连接是否正常,具体的,参见上述实施例的描述;如果总时长未达到超时时长,但是测试服务器也未接收到运行数据,则继续检测是否接收到运行数据,直到在超时时长内接收到了运行数据,或者,总时长达到或者超过超时时长。
其中,基于上述实施例的描述,本发明实施例中设置有预设时长,而该预设时长可以预先根据设备执行该测试指令的常规超时时长设定,即,本发明实施例中的预设时长即为目标元器件执行测试指令的超时时长。
步骤S106,将所述目标元器件确定为连接异常。
其中,基于上述描述,当测试服务器未接收到运行数据的总时长,达到或者超过了预设时长,则可以认为目标元器件无法正常执行测试指令,将目标元器件确定为连接异常。
由此可见,本实施例的技术方案,测试服务器可以在发送测试指令后,可以检测目标元器件响应测试指令的总时长,当总时长达到超时时长时,将该目标元器件确为连接异常,不仅能够为测试提供更加全面的数据依据,而且能够提高测试效率。
进一步的,为了便于技术人员对主板的维护,在测试时,可以将连接异常的目标元器件重点标示出,例如,本实施例中,可以将连接正常的目标元器件使用普通宋体标示,而连接异常的目标元器件,可以使用红色、加粗的宋体标示,而对于正常等级参数低于一定值的目标元器件,可以使用黄色、加粗的宋体标示。具体的,可以灵活设置,本发明实施例对此不做限制。
综上,本发明实施例提供的板级测试方法,为了解决相关技术测试时间长、测试效率低的问题,在接收到主板发送的系统内核启动通知时,测试服务器便向主板发送测试目标元器件的测试指令,并在预设时长内接收到目标元器件运行所述测试指令生成的运行数据时,根据运行数据确定目标元器件的连接是否正常。即,本发明实施例的技术方案,在设备系统的系统内核启动后,便可以对主板进行板级测试,无须等到设备系统完全启动,从而能够将板级测试的开始时刻提前,进而能够缩短测试时间,并且能够提高测试效率。
与上述实现方法相对应的,本发明实施例还提供了一种板级测试装置。请参见图4,图4为本发明实施例提供的板级测试装置的示意图。该装置包括发送模块11和第一确定模块12,其中:发送模块11,用于在接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令;第一确定模块12,用于在预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
此外,所述装置还包括:第一判断模块,用于按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据。
计算模块,用于在未接收到所述运行数据时,累计未接收到所述运行数据的总时长。
第二判断模块,用于判断所述计算模块计算得到的总时长是否大于或者等于所述预设时长。
第二确定模块,用于在所述第二判断模块判断得到总时长大于或者等于所述预设时长时,将所述目标元器件确定为连接异常。
所述第一判断模块,还用于在所述第二判断模块判断得到总时长小于所述预设时长时,按照预设间隔时长判断是否接收到所述运行数据。
需要说明的,在一个具体实施例中,第一确定模块12包括:第一确定单元,其中,所述第一确定单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的错误代码时,将所述目标元器件确定为连接异常。
在另一个实施例中,第一确定模块12包括:第一判断单元和第二确定单元,其中,所述第一判断单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值与标准值是否相同。
所述第二确定单元,用于在所述结果值与所述标准值相同时,将所述目标元器件确定为连接正常;还用于在所述结果值与所述标准值不相同时,将所述目标元器件确定为连接异常。
此外,在另一个实施例中,第一确定模块12还可以包括:第二判断单元、第三确定单元、计算单元和第四确定单元,其中,
所述第二判断单元,用于在所述运行数据是所述目标元器件执行所述测试指令得到的结果值时,判断所述结果值是否处于标准范围内。
所述第三确定单元,用于在所述结果值未处于所述标准范围内时,将所述目标元器件确定为连接异常。
所述计算单元,用于在所述结果值处于所述标准范围内时,使用所述标准范围中的最大值减去所述结果值得到第一差值。
所述第四确定单元,用于根据所述第一差值确定所述目标元器件的正常等级参数。
所述计算单元,还用于在所述结果值处于所述标准范围内时,使用所述结果值减去所述标准范围中的最小值得到第二差值。
所述第四确定单元,还用于根据所述第二差值确定所述目标元器件的正常等级参数。
关于上述实施例中的装置,其中各个模块及单元执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述,此处将不做详细阐述说明。
由此可见,在本发明实施例提供的方案中,为了解决相关技术测试时间长、测试效率低的问题,本发明实施例的技术方案,在设备系统的系统内核启动后,便可以对主板进行板级测试,无须等到设备系统完全启动,从而能够将板级测试的开始时刻提前,进而能够缩短测试时间,并且能够提高测试效率。
基于上述描述,本发明实施例还提供了一种板级测试装置,参见图5,为本发明实施例提供的另一种板级测试装置的示意图。该装置包括:处理器21和存储器22,其中,
存储器22内存储有所述处理器能够执行的操作信息。
处理器21读取存储器22内的操作信息用于实现以下方法:
当接收到主板发送的系统内核启动通知时,向所述主板发送测试目标元器件的测试指令。
当预设时长内接收到所述目标元器件执行所述测试指令生成的运行数据时,根据所述运行数据确定所述目标元器件连接是否正常。
综合上述可知,在本发明实施例提供的方案中,为了解决相关技术测试时间长、测试效率低的问题,在接收到主板发送的系统内核启动通知时,测试服务器便向主板发送测试目标元器件的测试指令,并在预设时长内接收到目标元器件运行所述测试指令生成的运行数据时,根据运行数据确定目标元器件的连接是否正常。即,本发明实施例的技术方案,在设备系统的系统内核启动后,便可以对主板进行板级测试,无须等到设备系统完全启动,从而能够将板级测试的开始时刻提前,进而能够缩短测试时间,并且能够提高测试效率。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。