一种可监控光强度的光信号发射装置的制作方法

本发明涉及光信号发射装置，特别涉及一种可监控光强度的光信号发射装置。

背景技术：

光纤通信就是利用光导纤维传输信号，以实现信息传递的一种通信方式。实际应用中的光纤通信系统使用的不是单根的光纤，而是许多光纤聚集在一起的组成的光缆。这种通信方式是随着科学技术的发展而产生的，光纤通信是利用光波作为载波，以光纤最为传输媒质,达到信息的互通。

光通信发射器件基于电光转换原理，通过对光电激光器（laserdiode）进行电激励，从而将电信号转换为可在光纤中进行传输的光信号。常规的光信号发射传输器件仅能进行光信号的传输，而无法对所发光信号强度的大小进行检测和判断，现有技术不能满足以上需求。

技术实现要素：

为了解决以上的问题，本发明一种可监控光强度的光信号发射装置。

本发明公开了一种可监控光强度的光信号发射装置，包括：光纤连接适配器、半导体激光器，所述的光纤连接适配器、半导体激光器同轴水平放置，在所述的光纤连接适配器、半导体激光器之间设置光学衰减机构及光信号接收器，所述的半导体激光器发射出来的光信号分成两部分，第一部分光信号经光学衰减机构衰减后进入所述的光纤连接适配器，第二部分光信号经所述的光学衰减机构反射后进入能检测光强的光信号接收器，所述的光信号接收器将光强量化并输出至显示装置加以显示。

进一步地，所述的光学衰减机构包括光学半衰片，所述的半导体激光器所发射的光信号，所述的光学半衰片的法线与所述的光纤连接适配器、半导体激光器的连线呈45度设置，经所述的光学半衰片后，50%的光强度透射进入所述的光纤连接适配器，用于信号传输；50%的光强度呈90度反射进入到所述的光信号接收器，经所述的光学半衰片的反射进所述的光信号接收器进行光信号强度检测。

进一步地，所述的光信号接收器包括：

光照采集单元，用于采集所述的第二部分光信号；

光电转换单元，用于将所述的第二部分光信号进行光电转换成电流信号；

检测单元，用于检测所述的电流信号并显示数值大小。

进一步地，所述的光照采集单元包括光敏传感器。

进一步地，所述的光纤连接适配器、半导体激光器、光学衰减机构及光信号接收器均设置于金属管座上。

进一步地，所述的光信号接收器的光照采集单元的进光部垂直于所述的半体激光器与光纤连接适配器的连线。

实施本发明的一种可监控光强度的光信号发射装置，具有以下有益的技术效果：

区别于现有技术中光通信发射器件无法对所发光信号强度的大小进行检测和判断的不足，本技术方案通过将光反射，将光强量化并输出至显示装置加以显示，从而测量光强的大小。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的实施例可监控光强度的光信号发射装置模块图。

图2是本发明的实施例可监控光强度的光信号光路示意图。

图3是图1中的光信号接收器的功能模块图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1及图2，一种可监控光强度的光信号发射装置1，包括：光纤连接适配器10、半导体激光器20。光纤连接适配器10、半导体激光器20同轴水平放置。在光纤连接适配器10、半导体激光器20之间设置光学衰减机构30及光信号接收器50。

半导体激光器20发射出来的光信号分成两部分，第一部分光信号经光学衰减机构衰减后进入光纤连接适配器10，第二部分光信号经光学衰减机构30反射后进入能检测光强的光信号接收器50，光信号接收器50将光强量化并输出至显示装置加以显示。

光纤连接适配器10、半导体激光器20、光学衰减机构30及光信号接收器50均设置于金属管座60上。

较佳地，光学衰减机构30包括光学半衰片。

光学衰减机构30（光衰减器）是一种非常重要的纤维光学无源器件，可按用户的要求将光信号能量进行预期地衰减，常用于吸收或反射掉光功率余量、评估系统的损耗及各种测试中。

通常在玻璃基片上蒸发或溅射金属膜或采用有高吸收作用的掺杂玻璃制成衰减片。通过控制镀膜厚度或控制玻璃的掺杂量及其厚度的方法来获得所需的衰减量，也有用两段光纤对接时的耦合损耗来制成衰减器的。

利用物质对光的吸收特性，制成片状，放在光路上，可以将光强衰减，这种片状元件叫光学衰减片。

利用光在金属薄膜表面的反射光强与薄膜厚度有关的原理制成。如果玻璃衬底上蒸镀的金属薄膜的厚度固定，就制成固定光衰减片。如果在光纤中斜向插入蒸镀有不同厚度的一系列圆盘型金属薄腊的玻璃衬底，使光路中插入不同厚度的金属薄膜，就能改变反射光的强度，即可得到不同的衰减量，制成可变衰减片。

半导体激光器20所发射的光信号，经光学半衰片后，50%的光强度透射，进入光纤连接适配器10，用于信号传输；50%的光强度呈90度反射，进入到光信号接收器50，经光学半衰片的反射进光信号接收器50进行光信号强度检测。

由于光学半衰片的反射和透射比恒定，因此通过光信号接收器50的接收信号检测，从而实现对进入光纤头的光纤连接适配器10的光信号进行光强度监控。

光学半衰片的法线与光纤连接适配器10、半导体激光器20的连线呈45度设置。

请参阅图3，光信号接收器50包括：

光照采集单元501，用于采集所述的第二部分光信号；

光电转换单元502，用于将第二部分光信号进行光电转换成电流信号；

光电转换单元502可以是光电二极管、ccd(电荷耦合元件)或cmos(互补氧化金属半导体)等。

发光二极管的管芯也是一个pn结，并具有单向导电性。pn结加上正向电压时，电子由n区渡越(扩散)到空间电荷区与空穴复合而释放出能量。这些能量大部分以发光的形式出现，因此，可以直接将电能转换成光能。发光二极管的发光颜色(波长)，困半导体材料及掺杂成分不同而不同。常用的有黄、绿、红等颜色的发光二极管。

检测单元503，用于检测电流信号并显示数值大小。

检测单元503包括与光电转换单元502相连接的安培表及导线。

一般地，光强度大，则电流也大，光强度小，则电流也小。初始测试时，可以以电流的大小为基准，建立电流大小与光强度数值大小对应关系数据库。后期测试时，可以从对应关系数据库中查找电流大小的范围，从而可推知光强度的范围。

光照采集单元501包括光敏传感器。

光学半衰片的法线与光纤连接适配器10、半导体激光器20的连线呈45度设置，以确保反射光以90度的角度进入光信号接收器50的进光部全部吸纳。

图1中的半导体激光器20可以是发光二极管、激光二极管(ld)或辐射发光二极管(lid)等；光照采集单元501、光电转换单元502、检测单元503及光敏传感器分别与mcu控制单元通过rs-232或rs-485口连接。

实施本发明的一种可监控光强度的光信号发射装置，具有以下有益的技术效果：

区别于现有技术中光通信发射器件无法对所发光信号强度的大小进行检测和判断的不足，本技术方案通过将光反射，将光强量化并输出至显示装置加以显示，从而测量光强的大小。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。