卡槽测试装置的制作方法

本实用新型涉及到手机检测领域，特别是涉及到一种卡槽测试装置。

背景技术：

生产手机时要对手机的每个功能部件都进行检测后，才能出厂卖到消费者的手中。手机上的SIM卡卡槽和T卡卡槽的接触性能同样也需要进行检测。在出厂前，需要检测电路板上的SIM卡卡槽和T卡卡槽是否可以识别出真实SIM卡和T卡中的信息。

现有技术对SIM卡卡槽和T卡卡槽的接触性能的检测一般都是将SIM卡和T卡分别插入到SIM卡卡槽和T卡卡槽中，然后通过与SIM卡卡槽和T卡卡槽连接的电路板检测是否能读写到SIM卡和T卡的信息。但是，随着双卡双待手机的产生，及三选二卡槽的应用，即其中一个卡槽可以兼容1张SIM卡和1张T卡，参照图4和图5，图中示意的位置7为T卡摆放位置，位置8为SIM卡摆放位置，可见，在需要对手机上两个SIM卡卡槽和T卡卡槽的接触性进行检测时，现有的SIM卡和T卡的测试板的槽位在每一次检测过程中只能插入一张SIM卡和一张T卡，又或者，只能插入两张SIM卡，如果要检测完两张SIM卡卡槽和T卡卡槽的全部接触性能，只能分两次完成，这样检测起来过程会比较繁琐，操作十分不便。如果手机大量生产后，需要检测的整机数量也会极多，因此运用现有的检测技术，工作量极大，耗费人力极多，甚至会影响检测效率甚至整机的出厂时间。

因此，需要一种检测效率更高的SIM卡和T卡的技术。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的为提供一种能够提高检测手机上SIM卡卡槽和T卡卡槽接触性能的工作效率的卡槽测试装置。

本实用新型提出一种卡槽测试装置，包括第一T卡卡槽、第一SIM卡卡槽和连接头；连接头包括T卡接触端子以及SIM卡接触端子，T卡接触端子与被检测的第二T卡卡槽相匹配，SIM卡接触端子与被检测的第二SIM卡卡槽相匹配；T卡接触端子与第一T卡卡槽电连接；SIM卡接触端子与第一SIM卡卡槽电连接。

进一步地，第一T卡卡槽数量为一个，第一SIM卡卡槽的数量为两个。

进一步地，还包括测试主板；第一T卡卡槽和第一SIM卡卡槽固定安装于测试主板。

进一步地，T卡接触端子与第一T卡卡槽通过导线电连接；SIM卡接触端子与第一SIM卡卡槽通过导线电连接。

进一步地，连接头包括连接头本体；T卡接触端子以及SIM卡接触端子固定安装于连接头本体。

进一步地，连接头本体与测试主板固定连接。

进一步地，连接头本体与测试主板构成一体构件。

进一步地，连接头本体与测试主板一字排列。

进一步地，与第一T卡卡槽连通的T卡接触端子以及分别与第一SIM卡卡槽连通的两个SIM卡接触端子一字排列，T卡接触端子设于两个SIM卡接触端子之间。

进一步地，两个第一SIM卡卡槽与第一T卡卡槽一字排列。

本实用新型卡槽测试装置的连接头能够一次性连接手机上的第二SIM卡卡槽和第二T卡卡槽，能够一次性检测接触性能，检测效率更高。

附图说明

图1是本实用新型卡槽测试装置一实施例的结构示意图；

图2是手机主板一实施例的结构示意图；

图3是本实用新型卡槽测试装置一实施例和手机主板一实施例插入状态示意图；

图4是现有三选二卡槽一实施例的一种使用状态示意图；

图5是现有三选二卡槽一实施例的另一种使用状态示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参照图1-3，一种卡槽测试装置，包括第一T卡卡槽1、第一SIM卡卡槽2和连接头3；连接头3包括T卡接触端子31以及SIM卡接触端子32，T卡接触端子31与被检测的第二T卡卡槽6相匹配，SIM卡接触端子32与被检测的第二SIM卡卡槽5相匹配；T卡接触端子31与第一T卡卡槽1电连接；SIM卡接触端子32与第一SIM卡卡槽2电连接。

被检测的第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6设于被检测的手机的主板上。

在工作时，T卡插入第一T卡卡槽1中，SIM卡插入第一SIM卡卡槽2中，连接头3插入被检测手机主板的第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6内，具体的，T卡接触端子31和SIM卡接触端子32分别与相应的第二T卡卡槽6和第二SIM卡卡槽5接触，由于T卡接触端子31和SIM卡接触端子32分别与相应的第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2电连接，所以插入在第一T卡卡槽1就相当于插入在第二T卡卡槽6，插入在第一SIM卡卡槽2的SIM卡就相当于插入在第二SIM卡卡槽5，即可以实现T卡和SIM卡插入的效果，通过操作手机可以测试出接触效果是否良好。而由于卡槽测试装置的第一SIM卡卡槽2和第一T卡卡槽1的数量可以根据实际的测试需求进行设置。可以根据实际需要测试的第二T卡卡槽6和第二SIM卡卡槽5的数量，设置相应的第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2的个数，因此测试时有足够多的第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2将测试卡一次性插入，即能够一次性检测完所有第二T卡卡槽6和第二SIM卡卡槽5接触性能，避免了分次检测的繁琐，检测效率更高。

应当说的是，在一些实施例中，连接头3的T卡接触端子31以及SIM卡接触端子32可以对应多种的手机上的第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6排列，卡槽测试装置可以用于多种手机的第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6接触性能测试。

一种实施例中，第一T卡卡槽1数量为一个，第一SIM卡卡槽2的数量为两个。因此，被测试的第二T卡卡槽6的数量为一个，第二SIM卡卡槽5的数量为两个，卡槽测试装置可用于测试最多包括两个第二SIM卡卡槽5和一个第二T卡卡槽6的手机，该手机中要检测第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6与连接头3中的T卡接触端子31以及SIM卡接触端子32相匹配。

在本实施例中，卡槽测试装置还包括测试主板4；第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2固定安装于测试主板4。测试主板4起到固定第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2的作用，方便T卡和SIM卡分别装入第一T卡卡槽1和第一SIM卡卡槽2，方便卡槽测试装置的移动和使用。

T卡接触端子31与第一T卡卡槽1通过导线(图中不可见)电连接；SIM卡接触端子32与第一SIM卡卡槽2通过导线电连接。

在一些实施例中导线与测试主板4固定连接。

在另一些实施例中，T卡接触端子31与第一T卡卡槽1通过FPC电连接；SIM卡接触端子32与第一SIM卡卡槽2通过FPC电连接。

连接头3包括连接头3本体；T卡接触端子31以及SIM卡接触端子32固定安装于连接头3本体。

连接头3本体与测试主板4固定连接。单独拿捏连接头3本体或测试主板4即可移动卡槽测试装置，方便连接头3插入和拔出，方便卡槽测试装置的整体移动和使用。

连接头3本体与测试主板4构成一体构件。卡槽测试装置更稳固，更耐用。

测试主板4为条形，连接头3本体为条形，连接头3本体与测试主板4构成一字形的条形。

连接头3本体与测试主板4一字排列。方便插入和拔出连接头3时用力。

与第一T卡卡槽1连通的T卡接触端子31以及分别与第一SIM卡卡槽2连通的两个SIM卡接触端子32一字排列，T卡接触端子31设于两个SIM卡接触端子32之间。

两个第一SIM卡卡槽2与第一T卡卡槽1一字排列。与测试主板4形状相匹配。

本实用新型卡槽测试装置的连接头3能够一次性连接手机上的第二SIM卡卡槽5和第二T卡卡槽6，能够一次性检测接触性能，检测效率更高。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。