电子装置失效测试装置及测试方法与流程

本发明涉及电子装置测试领域，特别涉及一种用于对电子装置失效原因进行测试的测试装置及测试方法。

背景技术：

智能手机等电子装置在研发的过程中会做各种各样的试验，然后通过不断的改进最终通过试验与测试的要求之后才会发布和量产。虽然实验室内的实验种类繁多，但是都无法复原手机在用户手中真实复杂的使用环境，并且随着智能手机的功能越来越丰富，其使用场所和使用环境也会变的越来越复杂，相应的会出现很多研发阶段的实验无法抓取的失效。同时手机在出厂之前会经过一系列的测试，但是手机出现问题之后维修机构都是直接拆开更换部件，用户无法知道手机真正的失效原因、失效环境和具体失效部位。

技术实现要素：

有鉴于此，有必要提出一种电子装置失效测试装置及测试方法，以解决上述问题。

一种电子装置失效测试装置，应用于电子装置中，其中，所述电子装置失效测试装置包括：用于侦测所述电子装置所处环境的参数值的侦测装置、存储器及处理器。所述存储器中存储有多个程序模块，所述多个程序模块由所述处理器执行，所述多个程序模块包括：侦测控制模块，用于控制所述侦测装置对所述电子装置所处环境的参数值进行侦测；数据获取模块，用于获取所述侦测装置侦测到的环境参数值；判断模块，用于确定所述侦测装置侦测到的环境参数值是否超出预设范围；测试模块，用于在所述判断模块确定所述侦测装置侦测到的环境参数值超出预设范围时，对所述电子装置的内部元件及运行情况进行测试，并取得所述电子装置的测试数据；分析模块，用于将所述电子装置的测试数据和所述侦测装置侦测到的环境参数值与一失效数据库中的数据进行比对从而判断所述电子装置的失效原因，其中，所述失效数据库中包括导致电子装置失效的环境参数值、电子装置失效时的测试数据以及失效原因。

优选地，所述失效数据库具体包括粉尘失效数据库、防水失效数据库、温湿度失效数据库以及跌落失效数据库。

优选地，所述侦测装置包括粉尘浓度感测器、温湿度感测器、气压感测器、水压感测器以及碰撞感测器，所述环境参数值包括粉尘浓度值、环境温度及湿度值、气压值、水压值以及电子装置受到碰撞时的撞击力度值。

优选地，所述电子装置失效测试装置设置于电子装置保护壳上，所述电子装置保护壳用于套设在所述电子装置上。

进一步地，本发明还提供一种电子装置失效测试方法，应用于电子装置失效测试装置中，所述电子装置失效测试装置包括侦测装置，其中，所述测试方法包括：控制所述侦测装置对电子装置所处环境的环境参数值进行侦测；获取所述侦测装置侦测到的环境参数值并确定所述侦测装置侦测到的环境参数值是否超出预设范围；在所述分析模块确定所述侦测装置侦测到的环境参数值超出预设范围时，对所述电子装置的内部元件及运行情况进行测试，并取得所述电子装置的测试数据；将所述电子装置的测试数据和所述侦测装置侦测到的环境参数值与一失效数据库中的数据进行比对从而判断所述电子装置的失效原因，其中，所述失效数据库中包括导致电子装置失效的环境参数值、电子装置失效时的测试数据以及失效原因。

本发明中的电子装置失效测试装置及测试方法，能够在各种环境下自动且智能的测试电子装置的失效原因，且无需拆机。

附图说明

图1为本发明一实施方式中电子装置失效测试装置的应用环境示意图。

图2为本发明一实施方式中电子装置失效测试装置的硬件架构示意图。

图3为本发明一实施方式中侦测装置的框架示意图。

图4为本发明一实施方式中测试服务器的框架示意图。

图5为本发明一实施方式中测试系统的功能模块示意图。

图6为本发明一实施方式中测试方法流程图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

请参阅图1，为本发明电子装置失效测试装置的应用环境示意图。在本实施方式中，电子装置失效测试装置200应用于电子装置100上，用于对电子装置100进行测试从而分析电子装置100的失效原因。所述电子装置失效测试装置200还用于与测试服务器400进行通信，用于与所述测试服务器400进行数据交换。在本实施方式中，所述电子装置100可以是，但并不限于，智能手机、平板电脑、个人数字助理、智能手表、智能手环等便携式电子装置。所述电子装置失效测试装置200可以设置于电子装置100保护壳上，例如所述电子装置100为手机或平板电脑时，所述电子装置失效测试装置200的结构可以设计为手机或平板电脑的保护套。所述电子装置失效测试装置200也直接设置于电子装置100上，例如设置于电子装置100内部或贴附于电子装置100壳体上。

请参阅图2和图3，在本实施方式中，所述电子装置失效测试装置200包括侦测装置10、第一处理器20、第一存储器30、第一通信单元40、接口单元50、显示单元60以及供电单元70。

所述侦测装置10用于侦测所述电子装置100所处环境的环境参数值，一般来讲，电子产品在实验室研发阶段对产品进行的测试实验主要有粉尘实验、环境实验、防水实验、跌落实验四大类。在此基础上，所述侦测装置10侦测所述电子装置所处环境的环境参数值可以包括但不限于粉尘浓度值、环境温度及湿度值、气压值、水压值以及电子装置100受到碰撞时的撞击力度值。在本实施方式中，所述侦测装置10包括粉尘浓度感测器101、温湿度感测器102、气压感测器103、水压感测器104以及碰撞感测器105。所述粉尘浓度感测器101用于侦测所述电子装置100所处环境中的粉尘浓度值。所述温湿度感测器102用于侦测所述电子装置100所处环境中的温度值及湿度值。所述气压感测器103用于侦测所述电子装置100所述环境中的大气压强值，所述大气压强值用于确定电子装置100所处位置的海拔高度。所述水压感测器104用于在电子装置100进入水中时测量所述电子装置100所处位置的水的压力值，并通过所述水的压力值确定所述电子装置100在水中的深度值。所述碰撞感测器105用于在所述电子装置100受到碰撞等外力撞击时，侦测撞击力度值。可以理解的是，在其他实施方式中，根据测试需要，所述侦测装置10也可以包括用户感测环境参数的其他感测器，所述环境参数值也相应的包括其他参数值，本发明中并不以此为限。

所述第一处理器20可以为中央处理器(cpu，centralprocessingunit)，微处理器，数字处理芯片、或任何能够执行数据处理功能的处理器芯片。

所述第一存储器30用于存储所述电子装置失效测试装置200中的各类数据，例如各种数据库和程序代码等。在本实施方式中，所述第一存储器30可以包括但不限于只读存储器(read-onlymemory，rom)、随机存储器(randomaccessmemory，ram)、可编程只读存储器(programmableread-onlymemory，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasableprogrammableread-onlymemory，eprom)、一次可编程只读存储器(one-timeprogrammableread-onlymemory，otprom)、电子擦除式可复写只读存储器(electrically-erasableprogrammableread-onlymemory，eeprom)、只读光盘(compactdiscread-onlymemory，cd-rom)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。

所述第一通信单元40用于与所述测试服务器400建立通信连接。在本实施方式中，所述第一通信单元40通过无线网络与所述测试服务器400建立通信连接，所述无线网络可以是wifi、蓝牙、蜂窝移动网络、卫星网络等，但并不以此为限。

所述接口单元50包括专用连接端口501和通用连接端口502。所述专用连接端口501用于与待测试的所述电子装置100进行有线连接。在本实施方式中，所述专用连接端口501可以是usb端口，用于通过usb线与所述电子装置100的usb端口进行连接，从而实现上述电子装置失效测试装置200与所述电子装置100之间的数据传输。所述通用连接端口502为具有通用功能的端口，所述通用端口可以与其他电子装置(例如其他手机、电脑)或充电器进行连接，通过所述通用连接端口502连接至其他电子装置不但可以实现所述电子装置失效测试装置200与其他装置之间的数据交换，还可以通过所述电子装置失效测试装置200作为媒介实现所述电子装置100和其他电子装置的数据交换，例如，所述电子装置100通过所述专用连接端口501将数据传输给所述电子装置失效测试装置200后，所述电子装置失效测试装置200再通过所述通用连接端口502将所述数据传送至其他电子装置。同时，当所述电子装置失效测试装置200通过所述通用端口502连接至充电器时，不但可以为所述电子装置失效测试装置200本身充电，同时还可以为所述电子装置100进行充电。

所述显示单元60用于向用户显示测试过程和测试结果等数据。在本实施方式中，所述显示单元60可以是但并不限于触摸显示屏、液晶显示屏等。在本发明一些其他实施方式中，所述显示单元60也可以是所述电子装置100的显示装置，例如触摸显示屏等。

所述供电单元70用于为所述电子装置失效测试装置200提供电源。在本实施方式中，所述供电单元70可以包括电源管理芯片(图未示)和电池(图未示)。其中，所述电池可以是充电电池。

参阅图4，所述测试服务器400包括第二存储器41、第二处理器42以及第二通信单元43。

所述第二存储器41用于存储测试服务器400中的各种数据，例如数据库和程序代码等。在本实施方式中，所述第二存储器41可以包括但不限于只读存储器(read-onlymemory，rom)、随机存储器(randomaccessmemory，ram)、可编程只读存储器(programmableread-onlymemory，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasableprogrammableread-onlymemory，eprom)、一次可编程只读存储器(one-timeprogrammableread-onlymemory，otprom)、电子擦除式可复写只读存储器(electrically-erasableprogrammableread-onlymemory，eeprom)、只读光盘(compactdiscread-onlymemory，cd-rom)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。

在本实施方式中，所述第二存储器41中存储有失效数据库。所述失效数据库中包括导致电子装置100失效的环境参数值、电子装置100失效时的测试数据以及失效原因。其中，所述环境参数值可以包括粉尘浓度值、温湿度值、气压值、水压值、撞击力度值等。所述电子装置100失效时的测试数据包括电子装置100失效时电子装置100的各种参数值，例如电子装置100的温度值、cpu运行速度值、电池电量值等。所述失效原因可以包括主板短路、电池性能降低、电子装置关机等。

一般来讲，电子产品在实验室研发阶段对产品进行的测试实验主要有粉尘实验、环境实验、防水实验、跌落实验，在每一个研发阶段每种实验都会出现各种各样的失效，最终都会有研发工程师来进行失效分析并找到最终的失效原因。在电子产品发布之前，所有研发中的失效分析和相关的测试参数会构成一个强大的数据库，其中包括粉尘失效数据库，防水失效数据库、温湿度失效数据库、跌落失效数据库。通过建立失效数据库，就能够根据电子装置所经历的环境和意外确定失效的部位，同时通过该数据库和失效现象就能够准确判断手机到底经历了什么最终导致其失效的。

基于以上情况，在本实施方式中，所述失效数据库可以具体包括粉尘失效数据库、防水失效数据库、温湿度失效数据库以及跌落失效数据库由研发人员建立后均被存储于所述第二存储器41中。其中所述粉尘失效数据库中包括引起电子装置失效的粉尘浓度值以及电子装置失效的元件。所述防水失效数据库中包括引起电子装置失效的水的压强值和/或电子装置处于水中的深度值以及电子装置失效的元件。所述温湿度失效数据库包括引起电子装置失效的温度值和湿度值以及电子装置失效的元件。例如以电子装置是手机为例，手机中的电池在一定的温度范围(例如零下20度至60度)内才能够正常工作，当环境温度超出该正常温度范围，例如低于零下20度或高于60度时，电池的性能会收到影响导致电子装置关机，基于这种情况，所述温湿度失效数据库中的内容可以包括引起手机失效的温度范围以及失效元件电池。可以理解的是，以上所列举的内容仅是为了更好的说明本发明，但并非对本发明的限制。

所述第二处理器42可以为中央处理器(cpu，centralprocessingunit)，微处理器，数字处理芯片、或任何能够执行数据处理功能的处理器芯片。

所述第二通信单元43用于与至少一个电子装置失效测试装置200建立通信连接。在本实施方式中，所述第二通信单元43通过无线网络与所述测试服务器400建立通信连接，所述无线网络可以是wifi、蓝牙、蜂窝移动网络、卫星网络等，但并不以此为限。

请一并参阅图5，为本发明一实施方式中测试系统的功能模块示意图。在本实施方式中，所述测试系统300包括有一个或多个程序形式的计算机指令，所述一个或多个程序形式的计算机指令存储于所述第一存储器30中，并由所述第一处理器20执行，以实现本发明所提供的功能。在本实施方式中，所述测试系统300可以被分割成侦测控制模块301、数据获取模块302、判断模块303、测试模块304、分析模块305以及控制模块306。

关于各个模块的详细功能将在下面结合测试方法流程图做具体描述。

请参阅图6，为本发明测试方法较佳实施例的方法流程图。根据不同的需求，该流程图中的步骤顺序可以改变，某些步骤可以省略或者合并。

步骤s401，所述侦测控制模块301用于控制所述侦测装置10侦测所述电子装置100所处环境的环境参数值。

步骤s402，所述数据获取模块302用于获取所述侦测装置10侦测到的环境参数值。

步骤s403，所述判断模块303确定所述侦测到的环境参数值中是否有一个或多个环境参数值超出预设范围。若是，则执行步骤s404，若否，则重复执行所述步骤s403。在本实施方式中，所述第一存储器30中预先存储有多个环境参数预设范围，所述判断模块303将获取到的由所述侦测装置10侦测的环境参数值与所述环境参数预设范围进行比较，并根据比较结果判断获取到的环境参数值是否超出所述预设范围。

步骤s404，所述测试模块304对所述电子装置100的内部元件及运行情况进行测试，并取得电子装置100的测试数据。在本发明另一实施方式中，所述测试模块304也可以根据所述测试服务器400发出的控制指令对所述电子装置100进行测试。

步骤s405，所述分析模块305用于将所述测试数据与所述侦测装置10侦测到的环境参数值与所述失效数据库中的数据进行比对。在本发明一实施方式中，所述分析模块305由所述测试服务器400中获取所述失效数据库，并将所述获取到的失效数据库存储至所述第一存储器20中，所述分析模块305将所述侦测到的环境参数值和测试数据与所述第一存储器20中存储的失效数据库进行比对。在本发明另一实施方式中，所述分析模块305将所述侦测到的环境参数值和测试数据发送至所述测试服务器400，并由所述测试服务器400将所述环境参数值和测试数据与所述第二存储器41中存储的所述失效数据库进行比对。

步骤s406，所述分析模块305确定所述获取到的环境参数值和电子装置的测试数据是否与失效数据库中的数据匹配，若是，则执行步骤s407，若否，则执行步骤s408。

步骤s407，所述分析模块305根据所述比对结果确定所述电子装置100的失效原因。

步骤s408，所述分析模块305通过所述第一通信单元40将所述获取到的环境参数值和电子装置100的测试数据发送至所述测试服务器400，并从所述测试服务器400获取根据所述获取到的环境参数值和电子装置的测试数据进行分析得到的失效原因。在本实施方式中，从所述测试服务器400获取的通过分析得到的失效原因是由研发人员根据所述获取到的环境参数值和电子装置的测试数据进行人工分析得到的人工确认的失效原因。同时，所述测试服务器400还可以根据获取到的环境参数值和电子装置的测试数据和人工确认的失效原因来更新所述失效数据库。在本发明其他实施方式中，从所述测试服务器400获取的所述通过分析得到的失效原因也可以是所述测试服务器400通过外部分析装置或云端装置等分析得出的失效原因，但本发明并不以此为限。

步骤s409，所述控制模块306将所述失效原因通过所述显示单元60进行显示。

在本发明一实施方式中，所述电子装置100包括有唯一标识符，所述测试系统300也包括一唯一标识符，在步骤s401之前，所述测试方法还可以包括步骤：

由所述测试服务器400下载所述测试系统300，并在所述测试服务器400中将所述电子装置100的唯一标识符与所述测试系统300的唯一标识符进行绑定。在本实施方式中，不同型号的电子装置100对应不同的测试系统300，用户可以根据电子装置100的型号下载不同型号的测试系统300。

在本发明其他实施方式中，所述测试系统300可以是预先设置于所述电子装置失效测试装置200中，在用户在使用电子装置失效测试装置200时同时获得该测试系统300。例如，当所述电子装置失效测试装置200设置于保护壳上时，用户使用该带有电子装置失效测试装置200的保护壳的同时也能使用该测试系统300。

尽管对本发明的优选实施方式进行了说明和描述，但是本领域的技术人员将领悟到，可以作出各种不同的变化和改进，这些都不超出本发明的真正范围。因此期望，本发明并不局限于所公开的作为实现本发明所设想的最佳模式的具体实施方式，本发明包括的所有实施方式都有所附权利要求书的保护范围内。