控制方法、电子装置和存储介质与流程

本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种控制方法、电子装置和存储介质。

背景技术：

目前，应用于手机等移动终端的摄像头拍摄的图像容易出现曝光过度的现象，从而导致图像画面过亮而影响画面质量，特别是在某些自然光线特别强的场景下，通过调整摄像头的参数仍然无法解决图像画面过亮的问题。

技术实现要素：

本申请提供了一种控制方法、电子装置和存储介质。

本申请实施方式提供了一种控制方法，用于电子装置，所述电子装置包括成像模组，所述成像模组包括图像传感器和遮盖所述图像传感器的电致变色元件；

所述控制方法包括：

判断所述图像传感器获取的图像是否曝光过度；

在所述图像曝光过度时，控制所述电致变色元件的透光率降低以减小所述图像的曝光度。

本申请实施方式提供了一种电子装置。电子装置包括成像模组和处理器，所述成像模组包括图像传感器和遮盖所述图像传感器的电致变色元件，所述图像传感器用于感测通过所述电致变色元件的光线以获取图像，所述电致变色元件能够在电压的作用下改变自身的透光率，所述处理器连接所述图像传感器和所述电致变色元件，所述处理器用于判断所述图像传感器获取的图像是否曝光过度以及在所述图像曝光过度时，控制所述电致变色元件的透光率降低以减小所述图像的曝光度。

本申请实施方式还提供一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行以上所述的控制方法。

本申请实施方式的控制方法、电子装置和存储介质中，在图像曝光过度时，可以控制电致变色元件的透光率降低里来调节曝光以减小图像的曝光度，这样，即使在光线特别强的场景下，也可以使得曝光量达到理想状态，从而实现正常拍摄，而不会出现图像画面过亮的问题。

本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施方式的控制方法的流程示意图；

图2是本申请实施方式的电子装置的平面示意图；

图3是本申请实施方式的电子装置的部分结构的模块示意图；

图4是本申请实施方式的成像模组的结构示意图；

图5是本申请实施方式的成像模组的另一结构示意图；

图6是本申请实施方式的控制方法的另一流程示意图；

图7是本申请实施方式的控制方法的又一流程示意图；

图8是本申请实施方式的成像模组的电致变色元件的结构示意图；

图9是本申请实施方式的电致变色元件透过的光谱示意图；

图10是本申请实施方式的成像模组的电致变色元件的另一结构示意图；

图11是本申请实施方式的控制方法的再一流程示意图。

主要元件符号说明：

电子装置100、成像模组、图像传感器11、电致变色元件12、电致变色层121、第一透明电极122、第二透明电极123、第一透明基板124、第二透明基板125、镜头13、封装壳体14、处理器20、壳体30。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

请参阅图1至图3，本申请实施方式提供一种控制方法，用于本申请实施方式的电子装置100，电子装置100包括成像模组10，成像模组10包括图像传感器11和电致变色元件12，电致变色元件12遮盖图像传感器11。控制方法包括步骤：

s10：判断图像传感器11获取的图像是否曝光过度；

s20：在图像曝光过度时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

请参阅图2和图3，本申请实施方式提供的电子装置100还包括处理器20，处理器20连接电致变色元件12和图像传感器11，图像传感器11用于感测通过电致变色元件12的光线以获取图像信息，电致变色元件12能够在电压的作用下改变自身的透光率。上述步骤s10和步骤s20可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于判断图像传感器11获取的图像是否曝光过度以及在图像曝光过度时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

具体地，在本实施方式中，处理器20电性连接图像传感器11和电致变色元件12，处理器20可在图像传感器11获取的图像曝光过度时给电致变色元件12提供电压以使得电致变色元件12的透光率降低，从而使得图像传感器11获得的图像的曝光度。可以理解，在本文中“曝光度”是指图像的曝光程度。曝光度越高，图像的亮度就越高，图像就越发白。曝光度越低，图像的亮度就越低，图像就越偏暗。

在本申请的实施方式中，电子装置100可为手机、数码相机和平板电脑等具有成像和拍照功能的电子装置。此外，请参阅图2，通常情况下，电子装置100还包括壳体30，成像模组10安装在壳体30上，处理器20设置在壳体30内部。

可以理解，目前，应用于手机等移动终端的摄像头拍摄的图像容易出现曝光过度的现象，从而导致图像画面过亮而影响画面质量，特别是在某些自然光线特别强的场景下，通过调整摄像头的参数(例如曝光时间和曝光增益)仍然无法解决图像画面过亮的问题。

然而，在本申请实施方式的控制方法和电子装置100中，成像模组10设置有电致变色元件12，在图像曝光过度时，可以控制电致变色元件12的透光率降低里来调节曝光以减小图像的曝光度，这样，即使在光线特别强的场景下，也可以使得曝光量达到理想状态，从而实现正常拍摄，而不会出现图像画面过亮的问题。同时，这样扩展了电子装置的成像模组10在强光场景下的可用性和提升拍摄的图像画质。

可以理解的是，请参阅图1，在这样的实施方式中，控制方法还包括步骤：

s30：在图像没有曝光过度时，保存图像。

请参阅图2和图3，在某些实施方式中，步骤s30也可由处理器实现，也即是说，处理器20可用于在图像没有曝光过度时，保存图像，即，在图像没有曝光过度时，电子装置100可以通过成像模组10正常的拍摄并保存图像。

请参阅图4，在某些实施方式中，成像模组10还包括镜头13，镜头13位于图像传感器11上方，电致变色元件12位于图像传感器11与所述镜头13之间。

如此，从镜头13入射的光线会经过电致变色元件12的过滤后再照射在图像传感器11上，从而使得通过改变电致变色元件12的透光率来减小图像的曝光度。

进一步地，请参阅图4和图5，成像模组10还包括封装壳体14，图像传感器11和镜头13均设置且封装在封装壳体14内，镜头13至少部分地从封装壳体14露出，电致变色元件12卡设在封装壳体14内。

具体地，封装壳体14包括封装基板141、封装侧壁142和封装顶板143，图像传感器11承载在封装基板141上，封装侧板142上形成有卡槽1421，电致变色元件12卡设在卡槽1421内。封装顶板143形成有入光窗口1431，镜头13至少部分从入光窗口1431露出。

需要说明的是，镜头13至少部分地露出封装壳体14可以理解为“从入光窗口1431进入的光线能够顺利地进入镜头13”。具体地，在图4和图5所示的实施方式中，入光窗口1431可以为开设在封装顶板142上的通孔，镜头13可以至少部分地位于通孔内以至少部分地从通孔内露出。可以理解的是，在其它实施方式中，入光窗口1431也可以是封装顶板143上选用透明材料制作而成的部位，具体在此不作限制。

此外，请参阅图5，在某些实施方式中，电致变色元件12也可以是位于镜头13的上方，也即是说，镜头13位于电致变色元件12和图像传感器11的之间。在这样的实施方式中，光线会先经过电致变色元件12过滤后再通过镜头13入射至图像传感器11。具体地，请参阅图4和图5，在这样的实施方式中，电致变色元件12可以设置在封装壳体14的上表面，例如，通过胶水粘结在封装壳体14的封装顶板143上。

另外，请继续参阅图4和图5，在上述实施方式中，电致变色元件12在镜头13所在的平面上的投影覆盖镜头13。

如此，在电致变色元件12位于镜头13与图像传感器11之间时，可以保证从镜头13入射的光线全部都会经过电致变色元件12以对所有入射光都进行过滤。

请参阅图6，在某些实施方式中，电致变色元件12包括电致变色层121、第一透明电极122和第二透明电极123，第一透明电极122和第二透明电极123连接在电致变色层121的相背两侧，第一透明电极122和第二透明电极123用于给电致变色层121施加电压。

第一透明电极122和第二透明电极123可为ito导电玻璃，第一透明电极122为正极，第二透明电极123为负极。在通电的情况下，第一透明电极122、第二透明电器以及电致变色层121形成电流回路，从而使得电致变色层121的透光率发生变化。

此外，在本申请的实施方式中，电致变色层121可由电致变色材料制成，电致变色材料的光学属性(反射率、透过率、吸收率等)在外加电场的作用下能够发生稳定、可逆的颜色变化，使得电致变色材料在外观上表现为颜色和透明度的可逆变化。

具体地，当经过电极向电致变色材料加电压时，由于材料的氧化还原反应或者光电转移效应就会使材料的透过光谱发生变化。电致变色材料可为聚苯胺、聚噻吩、聚吡咯导等导电聚合物，这样的材料在电压的作用下发生氧化还原反应使得材料能带结构的变化从而使得颜色发生变化，从而改变其透光率。此外，电致变色材料也可以是紫罗精或者联吡啶，这样的材料在被施加电压时，其分子间强烈的光电转移引起的颜色变化，从而改变其透光率。

具体地，在图6所示的示例中，电致变色层121在没有电压的作用下为无色，在通电的情况下，电致变色层121转变为着色态。并且，请参阅图7，图7表示的是电压与透光率的曲线关系图，其横轴代表时间，竖轴代表透光率，曲线1代表电压大小，曲线2代表电致变色元件12透光率。由图可知，在施加电压后，随着时间的推移，电致变色元件12的透光率逐渐降低，在断电后，电致变色元件12的透光率会逐渐升高。

可以理解的是，在一些实施方式中，电致变色层121也可以在不同的电压作用下具有不同的透光率。例如每一个电压可对应一个透光率，这样，只需要给电致变色元件12施加不同的电压即可达到所期望的透光率。

进一步地，请参阅图6，在某些实施方式中，电致变色元件12还包括间隔设置的第一透明基板125和第二透明基板126，第一透明电极122、电致变色层121和第二透明电极123堆叠设置在第一透明基板125和第二透明基板126之间。

如此，第一透明基板125和第二透明基板126可以对电致变色层121以及透明电极进行承载和支撑，同时也可保护电致变色元件12不会在外部压力损坏。另外，第一透明基板125和第二透明基板126均是无色的，两者并不会影响电致变色元件12的正常工作。

具体地，第一透明基板125的材质可为蓝玻璃。蓝玻璃的主要成分是磷酸盐或者氟磷酸盐，其对红外光线具有较高的吸收率，蓝玻璃制成的第一透明基板125对红外光具有较好的过滤效果，有利于提升拍摄的质量。第二透明基板126的材质可以与第一透明基板125的材质相同，也可以不同。例如第二透明基板126的材质可以为蓝玻璃，也可以为常规的玻璃。第二透明基板126的材质还可以为pet(polyethyleneterephthalate，聚对苯二甲酸类塑料)，pet具有较高的成膜性、光学性能和耐候性，采用pet材质制成的第二透明基板126具有良好的透光性。第二透明基板126的材质还可以为pi(polyimide，聚酰亚胺)等透光性能较好的材料。

在某些实施方式中，电致变色元件12还可用于对红外光线进行过滤。

具体地，在本实施方式中，电致变色元件12在变化颜色后，可以吸收红外光，从而使得成像模组10可以省略红外滤光片，可以降低成像模组10的厚度，节约制造成本，降低制造难度。

请参阅图8，在某些实施方式中，步骤s20可包括步骤：

s21：在图像曝光过度时，判断图像传感器11的曝光增益是否为预设增益值；

s22：在曝光增益为预设增益值时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。也即是说，步骤s20可由步骤s21和步骤s22来实现。

请参阅图2和图3，在某些实施方式中，上述步骤s21和步骤s22可由处理器20实现。也即是说，处理器20可用于在图像曝光过度时，判断图像传感器11的曝光增益是否为预设增益值以及在曝光增益为预设增益值时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

具体地，图像传感器11的“曝光增益”指的是图像传感器11的信号放大系数。需要指出的是，在保持其它条件(例如环境亮度、曝光时间等)不变的情况下，图像传感器11的曝光增益越大，图像的亮度越大，即曝光度越大；反之，曝光增益越小，图像的亮度越小，即曝光度越小。对于每一个图像传感器11，曝光增益都存在一个最小值，在这个最小值上，上述“预设增益值”即曝光增益的最小值，在本文的其它位置有相同或者类似描述时，也可参照此处理解。

在本实施方式中，图像的曝光度与曝光时间、图像传感器11的曝光增益以及电致变色元件12的透光率相关。具体地，在保持曝光时间和曝光增益不变的情况下，透光率越低，则曝光度越小，在保持曝光增益以及透光率不变的情况下，曝光时间越长，则曝光度越大，在保持曝光时间以及透光率不变的情况下，曝光增益越大，则曝光度越大。因此，在本实施方式中，在图像传感器11获取的图像曝光过度时，先判断图像传感器11的曝光增益是否为预设增益值，只有在曝光增益为预设增益值时，才控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。可以理解，在某些光线特别强的场景下，即使调节曝光增益至预设增益至，也会出现曝光过度的情况，此时，通过控制电致变色元件12的透光率降低以减少图像的曝光度可以使得图像不会出现曝光过度的问题。

请参阅图8，在这样的实施方式中，在步骤s22的判断结果为否时，控制方法还包括步骤：

s23：控制图像传感器11的曝光增益减小以减小图像的曝光度。

具体地，在步骤s23之后，重新进入步骤s10以对图像的曝光度重新进行检测以判断图像是否曝光过度。

请参阅图2和图3，在某些实施方式中，上述步骤s23可有处理器20实现，也即是说，处理器20可用于在曝光增益没有达到预设增益值时，控制图像传感器11的曝光增益减小以减小图像的曝光度，并且重现判断图像是否曝光过度。

具体地，在本实施方式中，在图像曝光过度时，若曝光增益不为预设增益值，则可优先调节曝光增益至预设增益值。若在曝光增益为预设增益值时，图像还是曝光过度，则可以通过控制电致变色元件12的透光率降低来减少曝光度。

请继续参阅图9，在某些实施方式中，步骤s20包括步骤：

s24：在图像曝光过度时，判断成像模组10的曝光时间是否为预设时间值；

s25：在曝光时间为预设时间值时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

请参阅图2和图3，在某些实施方式中，步骤s24和步骤s25可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于在图像曝光过度时，判断成像模组10的曝光时间是否为预设时间值以及在曝光时间为预设时间值时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

在本实施方式中，在图像传感器11获取的图像曝光过度时，可先判断图曝光时间是否为预设时间值，只有在曝光时间为预设时间值时，才控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。上述“预设时间值”即曝光时间的最小值，在本文的其它位置有相同或者类似描述时，也可参照此处理解。

如此，在图像曝光过度时，若曝光时间不是预设时间值时，可优先调节曝光时间至预设时间值。在曝光过度且曝光时间也为预设时间值时，则可以通过控制电致变色元件12的透光率降低来减少曝光度。

可以理解，在本实施方式中，在步骤s24的判断结果为否，即曝光时间不为预设时间值时时，控制方法还包括步骤：

s26：控制曝光时间缩短以减小图像的曝光度。

具体地，在这样的实施方式中，在步骤s26之后，重新进入步骤s10以对图像的曝光度重新进行检测以判断图像是否曝光过度。可以理解，在本实施方式中，在图像曝光过度时，若曝光时间不为预设时间值，则可优先调节曝光时间至预设时间值。若在曝光时间为预设时间值时，图像还是曝光过度，则可以通过控制电致变色元件12的透光率降低来减少曝光度。

请参阅图10，在某些实施方式中，步骤s20包括步骤：

s27：在图像曝光过度时，判断图像传感器11的曝光增益是否为预设增益值；

s28：在曝光增益为预设增益值时，判断成像模组10的曝光时间是否为预设时间值；

s29：在曝光时间为预设时间值时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。

请参阅图2和图3，在某些实施方式中，步骤s27至步骤s29可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于在图像曝光过度时，判断图像传感器11的曝光增益是否为预设增益值和在曝光增益为预设增益值时，判断成像模组10的曝光时间是否为预设时间以及在曝光时间为预设时间时，控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。这样，扩展了电子装置的成像模组10在强光场景下的可用性和提升拍摄的图像画质。

此外，请继续参阅图10在这样的实施方式中，在步骤s28的判断结果为否，即曝光增益不为预设增益值时时，控制方法还包括步骤：

s31：控制图像传感器11的曝光增益减小以减小图像的曝光度。

在步骤s31之后，重新进入步骤s10以对图像的曝光度重新进行检测以判断图像是否曝光过度。

此外，在步骤s29的判断结果为否，即曝光时间不为预设时间值时时，控制方法还包括步骤：

s32：控制曝光时间缩短以减小图像的曝光度。

在步骤s31之后，重新进入步骤s10以对图像的曝光度重新进行检测以判断图像是否曝光过度。

具体地，在这样的实施方式中，在图像曝光过度时，可先判断曝光增益是否为预设增益值，在曝光增益为预设增益值值时，判断曝光时间是否为预设时间值，在曝光时间为预设时间时，控制电致变色元件12的透光率降低以减少图像的曝光度。也即是说，在本实施方式中，先判断曝光增益和曝光时间是否均为最小，只有在曝光增益和曝光时间均为最小时才控制电致变色元件12的透光率降低以减小图像的曝光度。可以理解，在某些光线提别强的场景下，即使将曝光增益以及曝光时间调节至最小，也可能会出现曝光过度的情况，此时，控制电致变色元件12的透光率降低可以减少图像的曝光度以使得图像不会出现曝光过度的问题。这样，扩展了电子装置的成像模组10在强光场景下的可用性和提升拍摄的图像画质。

需要指出的是，在这样的实施方式中，是先判断曝光增益是否最小再判断曝光时间是否最小。可以理解，在其他实施方式中，也可以是先判断曝光时间是否最小，然后再判断曝光增益是否最小，两者的先后顺序并不限定。

请参阅图11，在某些实施方式中，步骤s10包括步骤：

s11：获取图像的当前曝光度；

s12：判断当前曝光度是否大于预设值；

s13：在当前曝光度大于预设值时，确定图像曝光过度。也即是说，步骤s10可由上述步骤s11至s13来实现。

请继续参阅图2和图3，在某些实施方式中，上述步骤s11至步骤s13均可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于获取图像的当前曝光度和判断当前曝光度是否大于预设值以及在当前曝光度大于预设值时，确定图像曝光过度。

具体地，处理器可包括自动曝光检测模块，自动曝光检测模块可自动获取图像的当前曝光度，然后在当前曝光度大于预设值时，确定图像曝光过度。可以理解，上述“预设值”可以是在电子装置出厂前所预设的数值，也可以是用户自行设定的数值，具体在此不作限制。

可以理解的是，在这样的实施方式中，在步骤s12的判断结果为否，即当前曝光度小于或等于预设值时，则进入步骤：

s14：确定图像的曝光度正常。也即是说，图像曝光正常，可以直接进入成像以获的图片。

在某些实施方式，上述步骤s14也可以由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于在当前曝光度小于或等于预设值时，确定图像的曝光度正常。

此外，在某些实施方式中，步骤s20可包括步骤：

改变电致变色元件12的通电时间以使电致变色元件12的透光率降低。

在某些实施方式在中，上述步骤也可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于改变电致变色元件12的通电时间以使电致变色元件12的透光率降低。

具体地，有图7和上述可知，在施加电压后，随着时间的推移，电致变色元件12的透光率逐渐降低，因此，可以通过改变电致变色元件12的通电时间来使得电致变色元件12降低。

另外，可以理解的是，在某些实施方式中，步骤s20可包括步骤：

改变电致变色元件12的施加电压的大小以使电致变色元件12的透光率降低。

在某些实施方式在中，上述步骤也可由处理器20实现，也即是说，处理器20可用于改变电致变色元件12的施加电压的大小以使电致变色元件12的透光率降低。

具体地，电致变色元件12在没有施加电压时，呈透明态，此时透过率最高。在施加电压时，电致变色元件12呈着色态，并且施加的电压的大小不同，其着色的程度也不同，也即是说，施加的电压的大小不同，其透光率也不同，因此，可以通过改变电致变色元件12的施加电压的大小来使电致变色元件12的透光率降低。

本申请实施方式还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当计算机可执行指令被一个或多个处理器20执行时，使得处理器20执行上述任一实施方式的控制方法。

例如，当计算机可执行指令被一个或多个处理器20执行时，使得处理器20执行以下步骤：

s10：判断所述图像传感器11获取的图像是否曝光过度；

s20：在所述图像曝光过度时，控制所述电致变色元件12的透光率降低以减小所述图像的曝光度。

本领域技术人员可以理解，图中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的示意图，并不构成对本申请方案所应用于其上的电子装置100的限定，具体的电子装置100可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一非易失性计算机可读存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-onlymemory，rom)等。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。