信号测试方法、系统、电子设备及存储介质与流程

本发明涉及信号测试领域，尤其涉及一种信号测试方法、系统、电子设备及存储介质。

背景技术：

目前，在针对2.4g模组、5g模组等无线射频产品测试时，由于功率谐波跳动频繁且不稳定，导致产品测试不稳定，并且复测率高，从而影响了产品的测试效率。

技术实现要素：

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种信号测试方法、系统、电子设备及存储介质，能够保证产品的测试稳定性，并提高产品的测试效率。

根据本发明的第一方面实施例的信号测试方法，包括：上位机发送测试指令并生成参数配置指令；待测设备根据所述测试指令进入信号测试状态，并生成测试信号；采集装置根据所述参数配置指令对所述测试信号进行处理，并生成测试数据；上位机对所述测试数据进行采集并处理，以得到测试结果。

根据本发明实施例的信号测试方法，至少具有如下有益效果：通过参数配置指令对采集装置的显示窗口进行调整，使得测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围，从而保证了测试信号的采集精度以及测试的稳定性。上位机通过对采集装置生成的测试数据进行处理，以得到测试结果，从而提高了待测设备的测试效率。

根据本发明的一些实施例，所述生成参数配置指令，包括：上位机生成中心频率配置指令；上位机生成频率宽度配置指令。

根据本发明的一些实施例，所述对所述测试数据进行采集并处理，以得到测试结果，包括：采集装置对所述测试数据进行循环采集；上位机将每一次循环采集的所述测试数据存储于数组中；上位机根据预先设置的取值方法对所述数组进行读取操作；上位机将读取结果与预设阈值进行比较，以得到测试结果。

根据本发明的一些实施例，预先设置的所述取值方法，包括：最小值、最大值、第一平均值和第二平均值中的任意一种。

根据本发明的第二方面实施例的信号测试系统，包括：上位机，用于发送测试指令并生成参数配置指令；屏蔽装置，用于放置待测设备，所述待测设备与所述上位机通信连接，所述待测设备根据所述测试指令进入信号测试状态，并生成测试信号；采集装置，与所述屏蔽装置连接，用于根据所述参数配置指令对测试信号进行处理，并生成测试数据；其中，上位机还用于对测试数据进行采集并处理，以得到测试结果。

根据本发明的一些实施例，所述上位机用于生成中心频率配置指令和频率宽度配置指令。

根据本发明的一些实施例，所述采集装置对所述测试数据进行循环采集；所述上位机将每一次循环采集的数据存储于数组中；所述上位机根据预先设置的取值方法对所述数组进行读取操作，并将读取结果与预设阈值进行比较，以得到测试结果；其中，预先设置的所述取值方法，包括：最小值、最大值、第一平均值和第二平均值中的任意一种。

根据本发明的第三方面实施例的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现：如上述任一实施例任一项所描述的信号测试方法。

根据本发明的第三方面实施例的计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于：执行如上述任一实施例任一项所描述的信号测试方法。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：

图1为本发明实施例信号测试方法的一流程图；

图2为本发明实施例信号测试方法的另一流程图；

图3为本发明实施例信号测试系统的一模块框图。

附图标记：

上位机100、屏蔽装置200、采集装置300。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

本发明的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

参照图1，本申请实施例提供了一种信号测试方法。该信号测试方法包括步骤：s100、发送测试指令并生成参数配置指令；s200、根据测试指令进入信号测试状态，并生成测试信号；s300、根据参数配置指令对测试信号进行处理，并生成测试数据；s400、对测试数据进行采集并处理，以得到测试结果。

其中，步骤s100、发送测试指令并生成参数配置指令的一具体实施方式为：上位机与待测设备通信连接，上位机向待测设备发送测试指令，并生成参数配置指令。其中，参数配置指令用于对待测设备的采集装置进行参数配置。

步骤s200、根据测试指令进入信号测试状态，并生成测试信号的一具体实施方式为：待测设备根据测试指令进入信号测试状态，例如：无线耳机根据测试指令进入功率测试状态，并生成发射功率。

s300、根据参数配置指令对测试信号进行处理，并生成测试数据的一具体实施方式为：采集装置与上位机通过gpib接口通信连接，并通过射频连接线与待测设备进行信号传输。采集装置根据参数配置指令调整自身的显示模式，例如：频谱仪根据参数配置调整显示窗口的模式，以使测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围，使得测试信号的有效值均在显示窗口内，以保证采集精度。采集装置根据测试信号生成对应的测试数据，并发送至上位机。

本申请实施例提供的信号测试方法通过参数配置指令对采集装置的显示窗口进行调整，使得测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围，从而保证了测试信号的采集精度以及测试的稳定性。上位机通过对采集装置生成的测试数据进行处理，以得到测试结果，从而提高了待测设备的测试效率。

在一些实例中，上位机生成参数配置指令，包括：生成中心频率配置指令；生成频率宽度配置指令。具体地，上位机发送参数配置指令，以对采集装置的中心频率和span(设置显示窗口显示频率宽度)进行配置。例如：在信道测试时，对频谱仪的中心频率和span进行配置。配置时需在调试模式下确定待测设备信道的带宽范围，在待测设备功率抓取点正常的情况下，可以对中心频率和span进行调整，以保证待测设备的测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围。

在一些实施例中，步骤s400的一具体实施方式为：s410、对测试数据进行循环采集；s420、将每一次循环采集的测试数据存储于数组中；s430、根据预先设置的取值方法对数组进行读取操作；s440、将读取结果与预设阈值进行比较，以得到测试结果。

其中，步骤s410、对测试数据进行循环采集的一具体实施方式为：待测设备保持测试信号的发送，上位机控制采集装置进行循环采集。可以理解的是，采集装置的采集次数以及采集周期可以根据实际需要或测试信号的特性进行适应性调整。

步骤s420至步骤s440的一具体实施方式为：测试过程中，待测设备的测试信号频偏值处于上下波动状态，上位机将采集装置每一次循环采集或每一周期采集的测试数据进行数组存储，并根据预设的取值方法对数组中的测试数据进行读取。当读取的测试数据在预设阈值的范围内时，表明待测产品的发射信号功能正常；当读取的测试数据不在预设阈值范围内时，表明出现误测或待测产品的发射信号功能不正常。

在一些实施例中，预先设置的取值方法包括：最小值、最大值、第一平均值和第二平均值中的任意一种。具体地，根据实际测试要求或待测设备测试信号的谐波特性，从数组中选取测试数据的最小值、最大值或第一平均值中的任意一个数值；或选取数组中大于预设下限值的所有测试数据的平均值(第二平均值)。可以理解的是，预设下限值的具体取值可以根据实际需要进行设置，本申请实施例不作具体限制。

参照图3，本申请实施例提供了一种信号测试系统。该信号测试系统包括：上位机100、屏蔽装置200和采集装置300。上位机100用于发送测试指令并生成参数配置指令；屏蔽装置200用于放置待测设备，待测设备与上位机100通信连接，该待测设备根据测试指令进入信号测试状态，并生成测试信号；采集装置300与屏蔽装置200连接，用于根据参数配置指令对测试信号进行处理，并生成测试数据。具体地，屏蔽装置200用于放置待测设备，以为待测设备提供无干扰的测试环境。上位机100与待测设备通信连接，上位机100向待测设备发送测试指令，并生成参数配置指令。其中，参数配置指令用于对采集装置300进行参数配置。待测设备根据测试指令进入信号测试状态，例如：无线耳机根据测试指令进入功率测试状态，并生成发射功率。采集装置300与上位机100通过gpib接口通信连接，采集装置通过射频连接线与屏蔽装置200连接，以实现与待测设备的信号传输。采集装置300根据参数配置指令调整自身的显示模式，例如：频谱仪根据参数配置指令调整显示窗口的模式，以使测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围，使得测试信号的有效值均在显示窗口内，以保证采集精度。采集装置300根据测试信号生成对应的测试数据并发送至上位机100，上位机100对接收到的测试数据进行处理，以得到测试结果。

在一些实施例中，上位机100用于生成中心频率配置指令和频率宽度配置指令。具体地，上位机100发送参数配置指令，以对采集装置300的中心频率和span(设置显示窗口显示频率宽度)进行配置。例如：在信道测试时，对频谱仪的中心频率和span进行配置。配置时需在调试模式下确定待测设备信道的带宽范围，在待测设备功率抓取点正常的情况下，可以对中心频率和span进行调整，以保证待测设备的测试信号位于显示窗口三分之二且居中的范围。

在一些实施例中，采集装置300对测试数据进行循环采集。上位机100用于将每一次循环采集的数据存储于数组中，并用于根据预先设置的取值方法对数组进行读取操作，将读取结果与预设阈值进行比较，以得到测试结果。其中，预先设置的取值方法包括：最小值、最大值、第一平均值和第二平均值中的任意一种。

具体地，待测设备保持测试信号的发送，上位机100控制采集装置300进行循环采集。可以理解的是，采集装置300的采集次数以及采集周期可以根据实际需要或测试信号的特性进行适应性调整。在测试过程中，待测设备的测试信号频偏值处于上下波动状态，上位机100将采集装置300每一次循环采集或每一周期采集的测试数据进行数组存储，并根据预设的取值方法对数组中的测试数据进行读取。当上位机100读取的测试数据在预设阈值的范围内时，表明待测产品的发射信号功能正常；当读取的测试数据不在预设阈值范围内时，表明出现误测或待测产品的发射信号功能不正常。其中，预设的取值方法包括：根据实际测试要求或待测设备测试信号的谐波特性，从数组中选取测试数据的最小值、最大值或第一平均值中的任意一个数值；或选取数组中大于预设下限值的所有测试数据的平均值(第二平均值)。可以理解的是，下限值的具体的取值和预设阈值的范围可以根据实际需要进行设置，本申请实施例不作具体限制。

本申请实施还提供了一种电子设备。该电子设备包括：至少一个处理器，以及与至少一个处理器通信连接的存储器。其中，存储器存储有指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行该指令时实现如上述任一实施所描述的信号测试方法。

本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于：执行如上述任一实施所描述的信号测试方法。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。