技术特征：
1.一种像素元件(1)，包括：-光敏元件(10)，其用于响应于入射辐射而产生电荷；-感测节点(12)；-传输门(11)，其连接在所述光敏元件(10)和所述感测节点(12)之间，用于控制电荷向所述感测节点(12)的传输；-第一缓冲放大器(13)，其具有连接到所述感测节点(12)的输入；以及-采样结构(20)，其连接到所述第一缓冲放大器(13)的输出，所述采样结构(20)包括第一采样级(21)和第二采样级(22)，所述第一采样级和第二采样级(21，22)可选择性地操作以对所述感测节点(12)的采样值进行采样；其中-所述传输门(11)以及所述第一采样级和第二采样级(21，22)被配置为响应于控制信号与光源共同操作；-所述第一采样级(21)被配置为采样第一采样值，所述第一采样值取决于从被以第一输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射；-所述第二采样级(22)被配置为采样第二采样值，所述第二采样值取决于从被以第二输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射；以及-所述第一输出功率与所述第二输出功率不同，特别是显著不同。2.根据权利要求1所述的像素元件(1)，还包括控制器，该控制器响应于控制信号控制所述传输门(11)以及所述第一采样级和第二采样级(21，22)。3.根据权利要求1或2所述的像素元件(1)，其中，所述控制信号被配置为设置光源的输出功率。4.根据权利要求1至3之一所述的像素元件(1)，其中，所述控制信号被配置为操作所述传输门(11)和所述第一采样级(21)，特别是所述第一采样级(21)的第一开关(s1)，以在光源以第一输出功率发射光时采样第一采样值。5.根据权利要求1至4之一所述的像素元件(1)，其中，所述控制信号被配置为操作所述传输门(11)和所述第二采样级(22)，特别是所述第二采样级(22)的第二开关(s2)，以在光源以第二输出功率发射光时采样第二采样值。6.根据权利要求1至5之一所述的像素元件(1)，其中，所述第一输出功率显著大于或小于所述第二输出功率。7.根据权利要求1至6之一所述的像素元件(1)，其中，所述第一输出功率或所述第二输出功率为零。8.根据权利要求1至7之一所述的像素元件(1)，其中，所述传输门(11)被配置为当所述传输门(11)接通时基本上将所有的电荷从所述光敏元件(10)传输到所述感测节点(12)。9.根据权利要求1至8之一所述的像素元件(1)，其中，所述采样结构(20)的第一采样级和第二采样级(21，22)串联布置。10.根据权利要求1至8之一所述的像素元件(1)，其中，所述采样结构(20)的第一采样级和第二采样级(21，22)并联布置。11.根据权利要求1至10之一所述的像素元件(1)，还包括读出电路，该读出电路具有连接到所述采样结构(20)的输入，并且被配置为-通过从所述第一采样级(21)读出第一采样值来产生第一输出信号；和
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通过从所述第二采样级(22)读出第二采样值来产生第二输出信号。12.根据权利要求10所述的像素元件(1)，其中，所述读出电路还被配置为根据所述第一输出信号和所述第二输出信号生成差分信号。13.根据权利要求1至12之一所述的像素元件(1)，还包括复位开关(rst)，所述复位开关(rst)被配置为响应于控制信号与光源共同操作，所述复位开关(rst)连接到所述感测节点(12)，以用于将所述感测节点(12)和/或所述光敏元件(10)复位到预定电压。14.一种电子设备，包括根据前述权利要求中任一项所述的像素元件(1)的阵列、光源和控制电路，所述控制电路具有控制器，所述控制器被配置为生成用于将像素元件(1)的阵列与光源一起操作的控制信号。15.一种用于操作像素元件(1)的方法，所述方法包括：-通过光敏元件(10)响应于入射辐射产生电荷；-经由传输门(11)将电荷传输到感测节点(12)；-选择性地操作采样结构(20)的第一采样级(21)和第二采样级(22)以采样所述感测节点(12)的采样值；以及-响应于控制信号，将所述传输门(11)以及所述第一采样级和第二采样级(21，22)与光源，特别是与光源的输出功率一起操作；-通过所述第一采样级(21)采样第一采样值，所述第一采样值取决于从被以第一输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射；-通过所述第二采样级(22)采样第二采样值，所述第二采样值取决于从被以第二输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射；其中-所述第一输出功率与所述第二输出功率不同，特别是显著不同。
技术总结
一种像素元件(1)，其包括传输门(11)和采样结构(20)，所述采样结构(20)具有第一采样级(21)和第二采样级(22)。所述传输门(11)以及所述第一采样级和所述第二采样级(21，22)被配置为响应于控制信号与光源共同操作。所述第一采样级(21)被配置为采样第一采样值，所述第一采样值取决于从被以第一输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射，而所述第二采样级(22)被配置为采样第二采样值，所述第二采样值取决于从被以第二输出功率发射光的光源照射的物体或场景入射到光敏元件(10)上的辐射。所述第一输出功率与所述第二输出功率不同，特别是显著不同。特别是显著不同。特别是显著不同。
技术研发人员：阿迪
受保护的技术使用者：AMS传感器比利时有限公司
技术研发日：2021.06.17
技术公布日：2023/3/13