检测系统及检测方法与流程

1.本发明涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及一种检测系统及检测方法。


背景技术：

2.在电子设备的生产线上，需对电子设备的射频信号(如wifi、gps、天线等)进行检测，从而使得生产人员能够根据检测到的射频信号的检测结果对电子设备发出的射频信号进行校准。相关技术中，采用在电子设备的主板上焊接测试座来检测射频信号。然而，测试座焊接在电子设备的主板上后会留在电子设备的主板上，当批量生产电子设备时，需要在每个电子设备的主板上均设置测试座，从而需要大量的测试座物料，造成大量测试座物料的浪费。


技术实现要素：

3.本发明实施例公开了一种检测系统及检测方法，能够避免测试座物料浪费的问题，降低射频信号的检测成本。
4.为了实现上述目的，第一方面，本发明公开了一种检测系统，所述检测系统包括：
5.主板，所述主板设有射频信号线路，所述射频信号线路设有测试端和天线馈电点，所述天线馈电点用于连接天线；
6.综测仪，所述综测仪与所述测试端电连接，所述综测仪用于检测所述射频信号线路上的射频信号；以及
7.第一测试头，所述第一测试头具有电连接的第一电连接端和接地端，所述第一电连接端用于与所述天线馈电点电连接，所述接地端用于接地。
8.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述第一测试头还具有与所述接地端电连接的第二电连接端，所述第二电连接端用于与所述天线的接地点电连接。
9.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述第一测试头包括第一测试导体和第二测试导体，所述第一测试导体具有所述第一电连接端、所述第二电连接端和所述接地端，所述第二测试导体与所述第一测试导体绝缘连接，所述第二测试导体与所述第二电连接端形成可分离的电连接。
10.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述第二测试导体设有第一容置腔，所述第一测试导体设于所述第一容置腔内，且至少部分位于所述第一容置腔外，所述第一测试导体位于所述第一容置腔外的部分具有所述第一电连接端。
11.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述检测系统还包括第二测试头，所述综测仪通过所述第二测试头与所述测试端电连接。
12.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述第二测试头包括第三测试导体和第四测试导体，所述第三测试导体电连接所述测试端和所述综测仪，所述第四测试导体与所述第三测试导体绝缘连接，且所述第四测试导体用于接地，所述综测仪还与所述第四测试导体电连接。
13.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述测试端包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端设于所述射频信号线路上，所述第二测试端设于所述第一测试端的外周并接地，且所述第二测试端与所述第一测试端绝缘连接；
14.所述第三测试导体与所述第一测试端电连接，所述第二测试端用于接地，所述第四测试导体与所述第二测试端电连接。
15.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述第四测试导体设有第二容置腔，所述第三测试导体设于所述第二容置腔内，且至少部分位于所述第二容置腔外。
16.作为一种可选的实施方式，在本发明的实施例中，所述检测系统满足以下关系式：
17.l1+l2＝(0.175～0.325)λ
18.其中，l1为所述测试端与所述天线馈电点之间的距离，l2为所述天线馈电点与所述接地端之间的距离，λ为目标射频信号的波长。
19.第二方面，本发明还公开了一种基于第一方面所述的检测系统的检测方法，所述检测方法包括：
20.将所述综测仪电连接于所述测试端；
21.将所述第一测试头的所述第一电连接端电连接于所述天线馈电点，并将所述第一测试头的所述接地端接地。
22.与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
23.本发明实施例提供了一种检测系统及检测方法，该检测系统通过设置第一测试头，并将第一测试头的第一电连接端与主板上的射频信号线路的天线馈电点电连接，以及第一测试头的接地端接地，这相当于测试端与天线馈电点之间的射频信号线路为开路，从而当综测仪与主板上设置的射频信号线路的测试端电连接以进行射频信号检测时，能够降低测试端与天线馈电点之间的射频信号线路上的射频信号以及天线馈电点上的射频信号对综测仪的检测结果造成影响，以确保射频信号的检测准确率，而无需在测试端处焊接测试座以确保射频信号的检测准确率。可见，采用本技术的技术方案，能够在确保射频信号的检测准确率的同时，减少测试座物料的浪费，有利于降低射频信号的检测成本。
附图说明
24.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
25.图1是本发明实施例公开的检测系统的结构示意图；
26.图2是本发明实施例公开的检测系统的第一测试头的结构分解图；
27.图3是本发明实施例公开的检测系统的第二测试头的结构分解图；
28.图4是本发明实施例公开的检测系统的检测方法的流程图。
29.标记说明：10、检测系统；11、主板；12、综测仪；13、第一测试头；131、第一电连接端；132、接地端；133、第二电连接端；13a、第一测试导体；13b、第二测试导体；13c、第一容置腔；14、射频信号线路；15、测试端；151、第一测试端；152、第二测试端；16、天线馈电点；17、第二测试头；17a、第三测试导体；17b、第四测试导体；17c、第二容置槽；18、射频匹配网络。
具体实施方式
30.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
31.在本发明中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本发明及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。
32.并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本发明中的具体含义。
33.此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
34.此外，术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同)，并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明，“多个”的含义为两个或两个以上。
35.在电子设备的生产线上，如在生产手机、平板等电子设备的生产线上，需对电子设备的射频信号(如wifi、gps、天线等)进行检测，从而使得生产人员能够根据检测到的射频信号的检测结果判断电子设备发出的射频信号是否为目标射频信号，如电子设备发出的射频信号不是目标射频信号，生产人员可以对电子设备发出的射频信号进行校准。在相关技术中，为了提高射频信号的检测准确率，常常采用在电子设备的主板上焊接测试座来检测射频信号。然而，测试座焊接在电子设备的主板上后会留在电子设备的主板上，当批量生产电子设备时，需要在每个电子设备的主板上均设置测试座，从而需要大量的测试座物料，造成大量测试座物料的浪费。
36.基于此，本技术公开了一种检测系统，该检测系统用于检测电子设备的射频信号，能够避免测试座物料浪费的问题，降低射频信号的检测成本。
37.下面将结合实施例和附图对本发明的技术方案作进一步的说明。
38.请参阅图1，本技术公开了一种检测系统，该检测系统10包括主板11、综测仪12和第一测试头13。其中，主板11为设置于电子设备内的主板11，主板11上设有射频信号线路14，射频信号线路14用于传输电子设备的射频信号，射频信号线路14上设有测试端15和用于连接天线的天线馈电点16。可以理解的是，射频信号线路14用于将射频信号传输至天线馈电点16处，以使电子设备的射频信号传输至天线。综测仪12是一种检测射频信号的仪器，综测仪12与测试端15电连接，以使得综测仪12能够用于检测电子设备的射频信号。第一测试头13具有电连接的第一电连接端131和接地端132，第一电连接端131用于与天线馈电点16电连接，接地端132用于接地，以使得测试端15与天线馈电点16之间的线路为开路，从而降低测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14上的射频信号以及天线馈电点16上
的射频信号对综测仪12检测射频信号的检测结果造成的影响。
39.也即是说，该检测系统10通过设置第一测试头13，并将第一测试头13的第一电连接端131与主板11上的射频信号线路14的天线馈电点16电连接，以及第一测试头13的接地端132接地，这相当于测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14为开路，从而当综测仪12与主板11上设置的射频信号线路14的测试端15电连接以进行射频信号检测时，能够降低测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14上的射频信号以及天线馈电点16上的射频信号对综测仪12的检测结果造成的影响，以确保射频信号的检测准确率，而无需在测试端15处焊接测试座以确保射频信号的检测准确率。可见，采用本技术的技术方案，能够在确保射频信号的检测准确率的同时，减少测试座物料的浪费，有利于降低射频信号的检测成本。
40.一些实施例中，检测系统10满足关系式：l1+l2＝(0.175～0.325)λ。其中，l1为测试端15与天线馈电点16之间的距离，l2为天线馈电点16与第一测试头13的接地端132之间的距离，λ为目标射频信号的波长，即电子设备的目标射频信号的波长。当检测系统10满足以上关系式时，能够最大限度地降低测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14上的射频信号以及天线馈电点16上的射频信号对综测仪12对射频信号的检测结果造成的影响，有利于提高综测仪12对射频信号的检测准确率。如果测试端15与天线馈电点16之间的距离和天线馈电点16与第一测试头13的接地端132之间的距离不满足上述关系式时，测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14上的阻抗与综测仪12的阻抗相差较大，会造成综测仪12检测数据不准确的问题。
41.可以理解的是，当检测系统10用于检测不同的电子设备且电子设备的目标射频信号不同时，或者检测系统10用于检测同一电子设备的不同频率的射频信号时，可以通过更换不同大小的第一测试头13，以改变天线馈电点16与第一测试头13的接地端132之间的距离，以此使得检测系统10能够满足以上关系式，从而提高综测仪12对不同的射频信号或者对同一电子设备的不同射频信号的检测准确率。
42.由于与天线馈电点16电连接的天线通常都会设置有接地点，在检测的过程中，输送至天线馈电点16处的射频信号会部分流向第一测试头13，部分流向天线，而流向天线的部分射频信号会对综测仪12的检测结果造成影响。因此，一些实施例中，第一测试头13还具有与接地端132电连接的第二电连接端133，该第二电连接端133用于与天线的接地点电连接，这样能够将流向天线的部分射频信号输送至第一测试头13，从而避免流向天线的部分射频信号对综测仪12的检测结果造成影响的情况。也即天线的接地点可通过第二电连接端133与第一测试头13电连接，从而天线的接地点可通过第一测试头13与第一测试头13的接地端132电连接，进而实现天线的接地点接地的目的。
43.进一步地，考虑到如果使天线的接地点直接接地的情况下，无法保证测试端15和天线接地点之间的距离为电子设备的目标射频信号的波长的0.175～0.325倍，这样天线馈电点16处流向天线的部分射频信号会对综测仪12的检测结果造成较大的影响。因此，将天线的接地点与第二电连接端133电连接，能够使得输送至天线馈电点16的射频信号能够全部输送至第一测试头13，这样只要保证测试端15至天线馈电点16之间的距离与天线馈电点16与第一测试头13的接地端132之间的距离之和为电子设备的目标射频信号的波长的0.175～0.325倍即可，也即保证检测系统10满足上述关系式即可，从而有利于提高综测仪
12的检测结果的准确性。换言之，由于电子设备的主板11在进行射频信号检测前就已经生产定型了，也即测试端15至天线的接地点之间的距离已经确定了，但由于测试端15至天线的接地点之间的距离难以确定，即，若未设置第二电连接端133，无法保证测试端15至天线的接地点之间的距离为目标射频信号的波长的0.175～0.325倍，当测试端15至天线的接地点之间的距离不是目标射频信号的波长的0.175～0.325倍，天线馈电点16处流向的天线的部分射频信号会对综测仪12的检测结果造成较大的影响，从而无法最大限度的降低天线上的射频信号对综测仪12的检测结果造成的影响，不利于进一步提高综测仪12的检测准确率。
44.进一步地，第一测试头13包括第一测试导体13a和第二测试导体13b，第一测试导体13a上设有第一电连接端131、第二电连接端133和接地端132，天线馈电点16通过第一测试导体13a上的接地端132实现接地的目的。其中，第二测试导体13b与第一测试导体13a绝缘连接，第二测试导体13b可与第二电连接端133电连接，使得第二测试导体13b能够通过第二电连接端133与第一测试导体13a连接，从而使得第二测试导体13b能够通过第一测试导体13a的接地端132实现接地的目的，进而使得射频信号能够更好地沿着第一测试导体13a输送至接地端132。主要是因为射频信号在第一测试导体13a上输送，如在沿着射频信号的输送方向上，即在第一测试导体13a的外周设置接地的第二测试导体13b，这样射频信号沿着第一测试导体13a输送的效果更好，能够防止射频信号发散至空气中，从而影响综测仪12的检测准确率。
45.可选地，第二测试导体13b可分离的电连接于第二电连接端133，或者第二测试导体13b不可分离的电连接于第二电连接端133。以下将对这两种情况进行分别举例说明：
46.一种示例性的，当第二测试导体13b不可分离的电连接于第二电连接端133时，即第二测试导体13b可一直与第二电连接端133电连接，这样当第一测试导体13a的接地端132接地时，即可实现第二测试导体13b接地的目的。
47.另一种示例性的，当第二测试导体13b可分离的电连接于第二电连接端133时，即正常状态下，第二测试导体13b未与第二电连接端133电连接，第二测试导体13b在进行射频信号检测时才与第二电连接端133电连接，这样也可以在进行射频信号检测时实现第二测试导体13b接地的目的。
48.在一些实施例中，会选择第二测试导体13b可分离的电连接于第二电连接端133的方式，即第二测试导体13b进行射频信号检测时才与第二电连接端133电连接，在这种的情况下，第一测试导体13a上设置有能够导电的第一弹簧，这样，当第一测试导体13a与天线馈电点16电连接，且天线的接地点与第二电连接端133电连接后，通过向第二测试导体13b施加朝向天线馈电点16方向的力，此时第一弹簧受力压缩，第二测试导体13b朝向天线馈电点16运动，直至第二测试导体13b与第二电连接端133电连接。当结束射频信号检测工作后，解除对第二测试导体13b施加的力，此时第一弹簧受到的压力消失，第一弹簧恢复原状，同时带动第二测试导体13b恢复原位。
49.由于第二测试导体13b直接与第二电连接端133电连接时，第二测试导体13b可能会遮蔽部分的第二电连接端133，从而不利于天线的接地点与第二电连接端133之间的电连接。因此，本实施例优选第二测试导体13b在进行射频信号检测时才与第二电连接端133电连接的方式。
50.一些实施例中，第一测试导体13a可为柱状结构(具体可参阅图2)，如圆柱结构或棱柱结构等，第二测试导体13b也可为柱状结构，如圆柱结构或棱柱结构等。以下将以第一测试导体13a和第二测试导体13b均为圆柱结构进行说明：
51.进一步地，第二测试导体13b内设有第一容置腔13c，第一测试导体13a设于第一容置腔13c内且第一测试导体13a至少部分位于第一容置腔13c外，使得第一电连接端131能够设置于第一测试导体13a位于第一容置腔13c外的部分，以便于第一电连接端131与天线馈电点16之间的电连接。
52.可选地，第二电连接端133可设置于第一测试导体13a位于第一容置腔13c外的部分，或者设置于第一测试导体13a位于第一容置腔13c内的部分，只要能够保证第二测试导体13b能够电连接于第二电连接端133和天线的接地点能够电连接于第二电连接端133的即可。本实施例优选第二电连接端133设置于第一测试导体13a位于第一容置腔13c外的部分，这样第二电连接端133可裸漏在第一容置腔13c外，使得天线的接地点与第二电连接端133连接时的操作空间大，有利于天线的接地点与第二电连接端133之间的电连接。
53.一些实施例中，检测系统10还包括第二测试头17，综测仪12通过第二测试头17与测试端15电连接。由于综测仪12与测试端15电连接的接触端可能为夹子或者螺丝等，直接将综测仪12的接触端与测试端15电连接，可能会造成综测仪12与测试端15之间连接不紧密的问题，从而影响综测仪12对射频信号的检测。因此，通过设置第二测试头17，使得综测仪12能够通过第二测试头17与测试端15电连接，有利于提高综测仪12与测试端15之间的连接紧密型，从而提高综测仪12与测试端15之间的电连接稳定性。
54.一些实施例中，第二测试头17包括第三测试导体17a和第四测试导体17b，第三测试导体17a电连接于测试端15和综测仪12，以使得第二测试头17能够将射频信号线路14上的输送至测试端15处的射频信号输送至综测仪12进行检测。第四导体与第三测试导体17a绝缘连接，且第四导体用于接地，从而使得射频信号能够更好地沿着第三测试导体17a输送至综测仪12。这主要是因为射频信号在第三测试导体17a上输送，如在沿着射频信号的输送方向上，即在第三测试导体17a的外周设置接地的第四测试导体17b，这样射频信号沿着第三测试导体17a输送的效果更好，能够防止射频信号发散至空气中，从而影响综测仪12的检测准确率。
55.为便于实现综测仪12接地的目的，一些实施例中，测试端15包括第一测试端151和第二测试端152，第一测试端151设于射频信号线路14上，第二测试端152设于第一测试端151的外周并接地，且第二测试端152与第一测试端151绝缘连接。当进行射频信号检测时，将第三测试导体17a与第一测试端151电连接，使得射频信号线路14上的射频信号能够经过第一测试端151输送至第三测试导体17a，从而射频信号能够通过第三测试导体17a输送至综测仪12进行测量。此外，当进行射频信号检测时，第四测试导体17b与第二测试端152电连接，由于第二测试端152接地设置，当第四测试导体17b与第二测试端152电连接时，第四测试导体17b也接地，从而提高射频信号沿着第三测试导体17a输送的效果，能够防止射频信号发散至空气中，从而影响综测仪12的检测准确率。其中，第一测试端151为射频信号线路14上的导电材料，第二测试端152为主板11的接地层。
56.进一步地，第二测试端152的数量为两个，两个测试端15可为椭圆弧状或者圆弧状等设置于射频信号线路14的两侧。具体可根据实际情况确定，只要满足第二测试端152绝缘
设置于第一测试端151的外周即可。
57.可选地，第三测试导体17a可为柱状结构(具体可参阅图3)，如圆柱结构或棱柱结构等，第四测试导体17b也可为柱状结构，如圆柱结构或棱柱结构等。以下将以第三测试导体17a和第四测试导体17b均为圆柱结构进行说明：
58.一些实施例中，第四测试导体17b设有第二容置腔体，第三测试导体17a至少部分设于第二容置腔内，以及且至少部分位于第二容置腔外。以下将对第三测试导体17a至少部分位于第二容置腔外的情况进行举例说明：
59.一种示例性的，第三测试导体17a与第一测试端151的接触面和第四测试导体17b与第二测试端152的接触面位于同一平面上，这样，当第三测试导体17a与第一测试端151电连接时，第四测试导体17b即可与第二测试端152电连接，有利于简化对射频信号的检测步骤。
60.另一种示例性的，第三测试导体17a与第一测试端151的接触面和第四测试导体17b与第二测试端152的接触面位于不同的平面上，第三测试导体17a的高度大于第四测试导体17b的高度，且第三测试导体17a上设有第二弹簧，即当第三测试导体17a电连接于第一测试端151时，第四测试导体17b并不能与第二测试端152电连接，当向第四测试导体17b施加朝向第二测试端152的力时，第二弹簧受力压缩，第四测试导体17b朝向第二测试端152运动至与第二测试端152接触，此时实现第四测试导体17b接地的目的。采用在第三测试导体17a上设置第二弹簧的方式，能够实现在测试射频信号时再接通射频信号线路14，有利于提高检测系统10的使用安全性。
61.由于综测仪12在接地的情况下，能够更好地实现对射频信号进行检测的目的，因此，一些实施例中，综测仪12还电连接于第四测试导体17b，即综测仪12通过第四测试导体17b接地，从而实现综测仪12接地的目的，进而提高综测仪12对射频信号的检测准确率。
62.一些实施例中，检测系统10还包括射频匹配网络18，射频匹配网络18串联于测试座与天线馈电点16之间，该射频匹配网络18用于调节天线的射频信号，使得天线的射频信号与电子设备的设计需求匹配。具体地，该射频匹配网络18实际为串联于测试端15与天线馈电点16之间的一个电阻。
63.进一步地，为使得检测系统10对主板11上的射频信号的检测准确率更高，射频匹配网络18优选采用零欧姆电阻，且零欧姆电阻的电感l为10nh≤l≤6.2h，零欧姆电阻的电容c为1pf≤c≤5.6pf，这样有利于降低测试端15与天线馈电点16之间的射频信号线路14上的阻抗，有利于提高检测系统10对射频信号的检测准确率。
64.请参阅图4，本技术还公开了一种检测系统的检测方法，该检测系统即为上述的检测系统，采用该检测方法对射频信号进行检测，无需额外在电子设备的主板上设置测试座，能够避免测试座物料浪费的问题，从而降低射频信号的检测成本。具体地，该检测方法包括以下步骤：
65.步骤201：在主板上形成测试端。
66.也即，在生产电子设备的主板的过程中一并形成测试端，从而当对射频信号进行检测时，无需通过额外步骤在主板上形成测试端，有利于简化射频信号的检测步骤。
67.进一步地，测试端包括第一测试端和第二测试端，第一测试端设于射频信号线路上，第二测试端设于第一测试端的外周并接地，且第二测试端与第一测试端绝缘连接，如果
第一测试端和第二测试端电连接，将导致综测仪无法检测到射频信号，甚至可能对主板上的射频信号的传输造成影响。
68.具体地，第一测试端为射频信号线路上的导电材料，第二测试端为主板的接地层。也即是说，电子设备的主板的表面上设有射频信号线路和接地层，在生产电子设备的主板时，会在设有射频信号线路和接地层的主板表面涂覆阻焊油，从而实现防止主板上的线路发生断路的情况。而本实施例提供的检测方法所述的在主板上形成测试端的方法是指：在主板的表面涂覆阻焊油时，遮蔽第一测试端和第二测试端所在的位置，防止阻焊油涂覆在第一测试端和第二测试端上，从而使得综测仪能够与第一测试端和第二测试端电连接。
69.可以理解的是，由于电子设备的主板多采用铜作为导电材料，因此第一测试端和第二测试端的材料为铜。当然，若想提高射频信号的传递效果，可在第一测试端和第二测试端的表面镀上银或者金，从而提高射频信号的传递效果。
70.步骤202：将综测仪电连接于测试端。
71.在本步骤中，具体可将第二测试头电连接于测试端，然后将综测仪电连接于第二测试头，或者将第二测试头电连接于综测仪，然后再将第二测试头电连接于测试端。具体可根据检测人员的检测习惯选择，本实施例不做具体限定，只要保证综测仪能够电连接于测试端进行射频信号检测即可。
72.步骤203：将第一测试头的第一电连接端电连接于天线馈电点，并将第一测试头的接地端接地。
73.具体地，选择合适的第一测试头，使得当第一测试头与第一电连接端电连接时，测试端至天线馈电点之间的距离与天线馈电点至第一测试头的接地端之间的距离之和为电子设备的目标射频信号的波长的0.175～0.325倍，从而保证第一测试头的第一电连接端连接于天线馈电点时，能够最大程度的降低测试端与天线馈电点之间的射频信号线路上的射频信号和天线馈电点上的射频信号对综测仪的检测结果造成的影响。
74.然后将天线馈电点处的天线的接地点电连接于第一测试头的第二电连接端，最后将第一测试头的第一点连接端连接于天线馈电点上并将第一测试头的接地端接地。
75.可以理解的是，可以先进行步骤202再进行步骤203，或者先进行步骤203再进行步骤202，具体可根据检测人员的检测习惯确定，本实施例不做具体限定。
76.步骤204：读取综测仪的检测结果。
77.即读取综测仪测量得到的射频信号的检测结果，该检测结果可为射频信号的功率或波长等。如果检测结果显示检测射频信号为电子设备的目标射频信号，则结束检测操作；如果检测结果显示射频信号不是电子设备的目标射频信号，则根据检测结果校准射频信号，然后重复步骤202和步骤203，直至检测到的主板上的射频信号为电子设备的目标射频信号。
78.以上对本发明实施例公开的检测系统及检测方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的检测系统及检测方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。