1.本技术实施例涉及耳机技术领域,尤其涉及一种耳机主动降噪底噪测试方法、装置及设备。
背景技术:2.随着真正无线立体声(true wireless stereo,tws)耳机的发展,入耳式耳机和半入耳式耳机占据了大部分耳机市场。入耳式耳机由于存在听诊器效应、持续佩戴有明显的异物感等原因,并不适合所有用户,而半入耳式耳机不存在这些问题,佩戴的舒适度比较好。主动降噪(active noise cancellation,anc),是一种降噪技术,通过降噪系统产生与外界噪音相等的反向声波,将噪音中和,从而实现降噪的效果。anc底噪是在anc开启的情况下,由于anc耳机本身结构、蓝牙本身存在的延迟、来自电路板等内部电元件的电流声、芯片算法中的滤波器设置不当等原因产生的噪音。耳机在出厂前需要对其进行anc底噪测试,满足测试标准的耳机为良品,才允许出厂。由于半入耳式耳机anc底噪测试属于微小信号测试,因此对测试环境的安静程度要求非常高。
3.目前现有技术,针对半入耳式耳机的anc底噪测试,主要是通过在消声室,或者隔离效果非常好的屏蔽箱中进行测试(普通的屏蔽箱无法满足要求)。
4.然而,发明人发现现有技术至少存在以下技术问题:在耳机产线中设立消声室,或改造普通屏蔽箱的隔离效果,均会造成测试成本增加的问题。
技术实现要素:5.本技术实施例提供一种耳机主动降噪底噪测试方法、装置及设备,以克服回复内容与用户的询问语句并不相关,用户体验差的问题。
6.第一方面,本技术实施例提供一种耳机主动降噪底噪测试方法,包括:
7.获取目标耳机的主动降噪anc底噪测试的频域噪声数据,其中频域噪声数据为频率值与噪声值的对应关系;
8.若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第一预设门限噪声数据,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果;
9.若目标耳机的频域噪声数据高于第一预设门限噪声数据,则将目标耳机的频域噪声数据与第二预设门限噪声数据进行比较,其中第二预设门限噪声数据高于第一预设门限噪声数据;
10.若目标耳机的频域噪声数据高于第二预设门限噪声数据,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
11.若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第二预设门限噪声数据,则判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点;
12.若存在,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
13.若不存在,确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
14.在一种可能的实现方式中,判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点之后,还包括:若不存在预设不良特征的频点,则判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件;若超过预设条件,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;若不超过预设条件,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
15.在一种可能的实现方式中,获取目标耳机的主动降噪anc底噪测试的频域噪声数据,其中频域噪声数据为频率点与噪声值的对应关系,包括:获取目标耳机在测试设备中进行anc底噪测试的原始噪声数据;对原始噪声数据进行预处理,以得到目标耳机的频域噪声数据。
16.在一种可能的实现方式中,对原始噪声数据进行预处理,以得到目标耳机的频域噪声数据,包括:对目标耳机的原始噪声数据进行傅里叶转换处理,以将原始噪声数据的时间与噪声值的对应关系转换为频率值与噪声值的对应关系,以得到目标耳机的频域噪声数据。
17.在一种可能的实现方式中,判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点,包括:判断目标耳机的频域噪声数据大于第一门限噪声数据且小于或等于第二门限噪声数据的所有频点中是否存在频率值存在等差数列关系的预设个数的频点;若存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中存在预设不良特征的频点;若不存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中不存在预设不良特征的频点。
18.在一种可能的实现方式中,对第一预设门限噪声数据和第二预设门限噪声数据的设置过程为:对预设数量的耳机进行anc底噪测试,对得到的第一预设数量频域噪声数据求平均值,得到平均频域噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第一噪声值,得到第一预设门限噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第二噪声值,得到第二预设门限噪声数据;其中第二噪声值大于第一噪声值。
19.第二方面,本技术实施例提供一种耳机主动降噪底噪测试装置,包括:
20.获取模块,用于获取目标耳机的主动降噪anc底噪测试的频域噪声数据,其中频域噪声数据为频率值与噪声值的对应关系;
21.第一输出模块,用于若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第一预设门限噪声数据,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果;
22.第一比较模块,用于若目标耳机的频域噪声数据高于第一预设门限噪声数据,则将目标耳机的频域噪声数据与第二预设门限噪声数据进行比较,其中第二预设门限噪声数据高于第一预设门限噪声数据;
23.第二输出模块,若目标耳机的频域噪声数据高于第二预设门限噪声数据,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
24.第一判断模块,用于若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第二预设门限噪声数据,则判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点;
25.第三输出模块,用于若存在,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
26.第四输出模块,用于若不存在,确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
27.在一种可能的实现方式中,第二判断模块,具体用于:若不存在预设不良特征的频点,则判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预
设条件;若超过预设条件,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;若不超过预设条件,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
28.在一种可能的实现方式中,获取模块,具体用于获取目标耳机在测试设备中进行anc底噪测试的原始噪声数据;对原始噪声数据进行预处理,以得到目标耳机的频域噪声数据。
29.在一种可能的实现方式中,获取模块中原始噪声数据为时间与噪声值的对应关系;获取模块,还具体用于对目标耳机的原始噪声数据进行傅里叶转换处理,以将原始噪声数据的时间与噪声值的对应关系转换为频率值与噪声值的对应关系,以得到目标耳机的频域噪声数据。
30.在一种可能的实现方式中,第一判断模块,具体用于判断所述目标耳机的频域噪声数据大于第一门限噪声数据且小于或等于第二门限噪声数据的所有频点中是否存在频率值存在等差数列关系的预设个数的频点;若存在,则确定所述目标耳机的频域噪声数据中存在预设不良特征的频点;若不存在,则确定所述目标耳机的频域噪声数据中不存在预设不良特征的频点。
31.在一种可能的实现方式中,设置模块,具体用于对预设数量的耳机进行anc底噪测试,对得到的第一预设数量频域噪声数据求平均值,得到平均频域噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第一噪声值,得到所述第一预设门限噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第二噪声值,得到所述第二预设门限噪声数据;其中所述第二噪声值大于所述第一噪声值。
32.第三方面,本技术实施例提供一种耳机主动降噪底噪测试设备,包括:至少一个处理器和存储器;
33.存储器存储计算机执行指令;
34.至少一个处理器执行存储器存储的计算机执行指令,使得至少一个处理器执行如上第一方面以及第一方面各种可能的设计的耳机主动降噪底噪测试方法。
35.第四方面,本技术实施例提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行计算机执行指令时,实现如上第一方面以及第一方面各种可能的设计的耳机主动降噪底噪测试方法。
36.第五方面,本技术实施例提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,计算机程序被处理器执行时,实现如上第一方面以及第一方面各种可能的设计的耳机主动降噪底噪测试方法。
37.本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法、装置及设备,该方法通过将目标耳机的频域噪声数据与第一预设门限噪声数据进行比较,若高于第一预设门限噪声数据,则与第二预设门限噪声数据进行比较,若低于或等于第二预设门限噪声数据,则判断频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点,以判定目标耳机是否为良品,该方法提升了在普通屏蔽箱中测试的正确率,不需要设立消声室或改造普通屏蔽箱,避免了测试成本增加的问题。
附图说明
38.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
39.图1为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试系统的架构示意图;
40.图2为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图一;
41.图3为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图二;
42.图4为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图三;
43.图5为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试装置的结构示意图;
44.图6为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
45.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
46.针对半入耳式耳机,现有技术中在耳机产线中设立消声室,或改造普通屏蔽箱的隔离效果,均会造成测试成本增加的问题,本公开实施例提出以下技术构思:
47.基于在普通屏蔽箱中针对半入耳式耳机anc底噪测试的噪声数据,通过设置多个门限和判定条件,提高确定良品和非良品的准确率,不需要新增消声室或改造屏蔽箱,降低了测试成本。
48.图1为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试系统的架构示意图。如图1所示,本实施例提供的系统包括:服务器101、测试设备102和人工耳103。
49.其中,测试设备101,用于放置待测试耳机,以隔离环境噪声。其中,测试设备101可以是普通屏蔽箱。
50.人工耳102,安装在测试设备101中,用于佩戴待测试耳机,并采集待测试耳机的anc底噪测试的噪声数据。
51.服务器103,可以通过无线通信或有线通信的方式与人工耳连接,用于接收待测试耳机的anc底噪测试的噪声数据,并对噪声数据进行分析,以判断待测试耳机是否为良品。
52.下面以具体地实施例对本技术的技术方案以及本技术的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图,对本技术的实施例进行描述。
53.图2为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图一,本实施例的执行主体可以为图1所示实施例中的服务器,也可以是其他的计算及处理设备,本实施例此处不做特别限制。如图2所示,该方法包括:
54.s201:获取目标耳机的anc底噪测试的频域噪声数据,其中频域噪声数据为频率值与噪声值的对应关系。
55.在本实施例中,s201具体包括s2011~s2012,如下:
56.s2011:获取目标耳机在测试设备中进行anc底噪测试的原始噪声数据。
57.在本实施例中,测试设备可以是普通屏蔽箱。
58.其中,anc底噪测试是对耳机anc功能开启的情况下产生底噪的情况做的测试。
59.具体地,接收人工耳发送的在测试设备中的目标耳机进行anc底噪测试的原始噪声数据。
60.s2012:对原始噪声数据进行预处理,以得到目标耳机的频域噪声数据。
61.其中,原始噪声数据为时间与噪声值的对应关系。
62.具体地,对目标耳机的原始噪声数据进行傅里叶转换处理,以将原始噪声数据的时间与噪声值的对应关系转换为频率值与噪声值的对应关系,以得到目标耳机的频域噪声数据。
63.其中,频率值与噪声值的对应关系可以是曲线,每个频率值与噪声值的对应关系记为一个频点。
64.s202:将目标耳机的频域噪声数据与第一预设门限噪声数据进行比较。若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第一预设门限噪声数据,则执行s203;若目标耳机的频域噪声数据高于第一预设门限噪声数据,则执行s204。
65.其中,第一预设门限噪声数据是根据预统计的耳机的平均频域噪声数据确定的。第一预设门限噪声数据为各频率值与第一噪声门限值的对应关系。
66.具体地,将目标耳机的频域噪声数据中的每个频点的噪声值与该频点对应的第一噪声门限值进行比较。若所有的频点的噪声值均小于或等于第一噪声门限值,则确定目标耳机的频域噪声数据低于或等于第一预设门限噪声数据;否则,则确定目标耳机的频域噪声数据高于第一预设门限噪声数据。
67.s203:确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
68.其中,第一测试结果表明测试成功,该目标耳机允许出厂。
69.s204:将目标耳机的频域噪声数据与第二预设门限噪声数据进行比较。其中第二预设门限噪声数据的测试标准低于第一预设门限噪声数据;若目标耳机的频域噪声数据高于第二预设门限噪声数据,则执行s205;若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第二预设门限噪声数据,则执行s206。
70.其中,第二预设门限噪声数据是根据预统计的预设数量耳机的平均频域噪声数据确定的。第二预设门限噪声数据为各频率值与第二噪声门限值的对应关系。
71.具体地,将目标耳机的频域噪声数据中的每个频点的噪声值与该频点对应的第二噪声门限值进行比较。若任一频点的噪声值大于第二噪声门限值,则确定目标耳机的频域噪声数据高于第二预设门限噪声数据;否则,则确定目标耳机的频域噪声数据低于或等于第二预设门限噪声数据。
72.s205:确定目标耳机为非良品并输出测试结果。
73.其中,第二测试结果表明测试失败,该目标耳机不允许出厂。
74.s206:判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点。若是,则执行s205;若否,则执行s203。
75.其中,预设不良特征的频点指的是在某些特定anc底噪测试时,存在预设的频点具有特定的规律特征。
76.例如,预设不良特征的频点为不同的频点的噪声值具有特定的数值关系或数学关系,或者不同频点的频率值具有特定的数值关系或数学关系。
77.其中,数值关系或数学关系,可以是等差数列关系或等比数列关系。
78.综上,通过将目标耳机的频域噪声数据与第一预设门限噪声数据进行比较,若高于第一预设门限噪声数据,则与第二预设门限噪声数据进行比较,若低于或等于第二预设门限噪声数据,则判断频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点,以判定目标耳机是否为良品,该方法提升了在普通屏蔽箱中测试的正确率,不需要设立消声室或改造普通屏蔽箱,避免了测试成本增加的问题。
79.图3为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图二,本实施例在图2实施例的基础上,包括判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点之后的处理过程,详述如下:
80.若不存在预设不良特征的频点,则判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件。若是,则执行s205;若否,则执行s203。
81.在本实施例中,预设条件可以是预设个数,也可以是预设比例。
82.在本技术的一个实施例中,判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件,为判断目标耳机的频域噪声数据中超过预设个数。
83.其中,预设个数可以是100个。
84.这里,若目标耳机为非良品,其对应的频域噪声数据中超过第一道门限噪声数据会呈现出抬升和鼓包的特征,因此可以通过频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件确定目标耳机是否为良品。
85.在本技术的另一个实施例中,判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件,为判断目标耳机的频域噪声数据中超过预设比例。
86.其中,预设比例可以是10%。
87.综上,通过判定在目标耳机的频域噪声数据中不存在预设不良特征的频点之后,判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件,确定第一道门限噪声数据是否出现呈现出抬升和鼓包的特征,进而提高了耳机主动降噪底噪测的效率和准确率。
88.在本技术的一个可选实施例中,本实施例在图2实施例的基础上,对本实施例中判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点的具体实现过程进行了详细说明。该方法包括:
89.s301:判断目标耳机的频域噪声数据大于第一门限噪声数据且小于或等于第二门限噪声数据的所有频点中是否存在频率值存在等差数列关系的预设个数的频点。
90.s302:若存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中存在预设不良特征的频点。
91.s303:若不存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中不存在预设不良特征的频点。
92.在本实施例中,预设个数的频点至少是三个频点,也可以是更多个数的频点,对此本技术不作任何限定。
93.其中,等差数列关系,是由于有某种anc底噪不良特性表现为在频域噪声数据中,以一个频点为基础,频率值为2倍,3倍等倍频的方式出现。
94.综上,通过判断所有频点中是否存在频率值存在等差数列关系的预设个数的频点,确定目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点,能够快速、简单地实现
识别不良特征的频点,且识别结果较为准确,进而提高了耳机主动降噪底噪测的效率和准确率。
95.图4为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试方法的流程示意图三,本实施例在图2实施例的基础上,还包括对第一预设门限噪声数据和第二预设门限噪声数据的设置过程,详述如下:
96.s401:对第一预设数量的耳机进行anc底噪测试,对得到的第一预设数量频域噪声数据求平均值,得到平均频域噪声数据。
97.具体地,对第一预设数量的耳机进行anc底噪测试,得到的第一预设数量的频域噪声数据,其中每一频域噪声数据为不同频率值与噪声值的对应关系曲线;根据每条频率值与噪声值的对应关系曲线,对于各频率的噪声值求平均值,得到各频率对应的平均噪声值,将各频率与平均噪声值的对应关系曲线确定为平均频域噪声数据。
98.示例性的,第一预设数量为100。对100个耳机进行anc底噪测试,对得到的100组频域噪声数据求平均值,其中对于频率为1000hz的频点平均频域噪声值为5db。
99.s402:将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第一噪声值,得到第一预设门限噪声数据。
100.其中,第一噪声值为5db。
101.示例性地,平均频域噪声数据中频率为1000hz的频点对应的噪声值为5db,第一噪声值为5db,则第一预设门限噪声数据中1000hz的频点对应的噪声值为10db。
102.s403:将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第二噪声值,得到第二预设门限噪声数据;其中第二噪声值大于第一噪声值。
103.其中,第二噪声值为15db。
104.示例性地,平均频域噪声数据中频率为1000hz的频点对应的噪声值为5db,第二噪声值为15db,则第二预设门限噪声数据中1000hz的频点对应的噪声值为20db。
105.综上,通过对一定数量的耳机进行anc底噪测试,求取频域噪声数据平均值,再加上不同的噪声值,得到的第一预设门限噪声数据和第二预设门限噪声数据,增加了判定过程中的准确度。
106.图5为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试装置的结构示意图。如图5所示,本实施例在图2实施例的基础上,耳机主动降噪底噪测试装置50,包括:获取模块501、第一输出模块502、第一比较模块503、第二输出模块504、第一判断模块505、第三输出模块506和第四输出模块507。
107.获取模块501,用于获取目标耳机的主动降噪anc底噪测试的频域噪声数据,其中频域噪声数据为频率值与噪声值的对应关系;
108.第一输出模块502,用于若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第一预设门限噪声数据,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果;
109.第一比较模块503,用于若目标耳机的频域噪声数据高于第一预设门限噪声数据,则将目标耳机的频域噪声数据与第二预设门限噪声数据进行比较,其中第二预设门限噪声数据高于第一预设门限噪声数据;
110.第二输出模块504,若目标耳机的频域噪声数据高于第二预设门限噪声数据,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
111.第一判断模块505,用于若目标耳机的频域噪声数据低于或等于第二预设门限噪声数据,则判断目标耳机的频域噪声数据中是否存在预设不良特征的频点;
112.第三输出模块506,用于若存在,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;
113.第四输出模块507,用于若不存在,确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
114.本实施例在图5实施例的基础上,耳机主动降噪底噪测试装置50,还包括:第二判断模块508,具体用于:若不存在预设不良特征的频点,则判断目标耳机的频域噪声数据中超过第一预设门限噪声数据的频点个数是否超过预设条件;若超过预设条件,则确定目标耳机为非良品并输出第二测试结果;若不超过预设条件,则确定目标耳机为良品并输出第一测试结果。
115.在一种可能的实现方式中,获取模块501,具体用于获取目标耳机在测试设备中进行anc底噪测试的原始噪声数据;对原始噪声数据进行预处理,以得到目标耳机的频域噪声数据。
116.在一种可能的实现方式中,其中原始噪声数据为时间与噪声值的对应关系;获取模块501,还具体用于对目标耳机的原始噪声数据进行傅里叶转换处理,以将原始噪声数据的时间与噪声值的对应关系转换为频率值与噪声值的对应关系,以得到目标耳机的频域噪声数据。
117.在一种可能的实现方式中,第一判断模块505,具体用于判断目标耳机的频域噪声数据大于第一门限噪声数据且小于或等于第二门限噪声数据的所有频点中是否存在频率值存在等差数列关系的预设个数的频点;若存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中存在预设不良特征的频点;若不存在,则确定目标耳机的频域噪声数据中不存在预设不良特征的频点。
118.本实施例在图5实施例的基础上,耳机主动降噪底噪测试装置50,还包括:设置模块509,具体用于:对预设数量的耳机进行anc底噪测试,对得到的第一预设数量频域噪声数据求平均值,得到平均频域噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第一噪声值,得到第一预设门限噪声数据;将平均频域噪声数据的不同频率的噪声值加上第二噪声值,得到第二预设门限噪声数据;其中第二噪声值大于第一噪声值。
119.本实施例提供的装置,可用于执行上述方法实施例的技术方案,其实现原理和技术效果类似,本实施例此处不再赘述。
120.图6为本技术实施例提供的耳机主动降噪底噪测试设备的硬件结构示意图。如图6所示,本实施例的耳机主动降噪底噪测试设备60包括:处理器601以及存储器602;其中
121.存储器602,用于存储计算机执行指令;
122.处理器601,用于执行存储器存储的计算机执行指令,以实现上述实施例中服务器所执行的各个步骤。具体可以参见前述方法实施例中的相关描述。
123.可选地,存储器602既可以是独立的,也可以跟处理器601集成在一起。
124.当存储器602独立设置时,该耳机主动降噪底噪测试设备还包括总线603,用于连接存储器602和处理器601。
125.本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行计算机执行指令时,实现如上的耳机主动降噪底噪测试方法。
126.本技术实施例还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,计算机程序被处理
器执行时,实现如上的耳机主动降噪底噪测试方法。
127.在本技术所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
128.作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案。
129.另外,在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述模块成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
130.上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器执行本技术各个实施例方法的部分步骤。
131.应理解,上述处理器可以是中央处理单元(central processing unit,简称cpu),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,简称dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,简称asic)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成,或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
132.存储器可能包含高速ram存储器,也可能还包括非易失性存储nvm,例如至少一个磁盘存储器,还可以为u盘、移动硬盘、只读存储器、磁盘或光盘等。
133.总线可以是工业标准体系结构(industry standard architecture,简称isa)总线、外部设备互连(peripheral component interconnect,简称pci)总线或扩展工业标准体系结构(extended industry standard architecture,简称eisa)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,本技术附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。
134.上述存储介质可以是由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(sram),电可擦除可编程只读存储器(eeprom),可擦除可编程只读存储器(eprom),可编程只读存储器(prom),只读存储器(rom),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
135.一种示例性的存储介质耦合至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于专用集成电路(application specific integrated circuits,简称asic)中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于电子设备或主控设备中。
136.本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程
序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:rom、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
137.最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本技术的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的范围。