一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法及设备与流程

1.本技术涉及通信领域，尤其涉及一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法及设备。


背景技术：

2.手机生产过程中，为确保手机信号的一致性，需要对手机射频信号进行校准及测试，而进行射频信号校准、测试工位使用的综合测试仪、射频线、射频针需要定期进行线路损耗测试，以确保设备的可靠性、稳定性。目前，最常见的测试技术是使用网络分析仪对综合测试仪、射频线、射频针的各个端口逐一进行测试得出线路损耗值。但是，通过此方法测试线路损耗需要将测试夹具上模拆下逐一对综合测试仪各个端口进行测试，且需要2人配合操作完成，并且单个工站测试时间在20分钟以上，浪费人力且耗时较长。


技术实现要素：

3.本技术的一个目的是提供一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法及设备，以实现在保证线路损耗测试准确性的前提下，简化测试步骤及方法，提升线路损耗的测试效率。
4.根据本技术的一个方面，提供了一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法，其中，所述方法包括：
5.基于open微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据；
6.基于short微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据；
7.基于所述第一组测试数据与所述第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗。
8.进一步地，上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法中，其中，所述方法还包括：
9.所述open微型校准件包括第一中心测试点和第一外围接触区，其中，所述第一中心测试点与所述第一外围接触区在所述open微型校准件内部形成开路状态；
10.所述short微型校准件包括第二中心测试点和第二外围接触区，其中，所述第二中心测试点与所述第二外围接触区在所述short微型校准件内部形成短路状态。
11.进一步地，上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法中，其中，所述方法还包括：
12.通过测试底模分别对所述open微型校准件和所述short微型校准件进行固定，得到open测试底模和short测试底模，其中，所述open测试底模包括至少一个所述open微型校准件，所述short测试底模包括至少一个所述short微型校准件。
13.进一步地，上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法中，其中，所述方法还
包括：
14.对所述线路损耗进行解析，得到解析后的可识别数据，并基于所述可识别数据生成线路损耗文件。
15.根据本技术的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，其上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被处理器执行时，使所述处理器实现如上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法。
16.根据本技术的另一方面，还提供了一种用于综合测试仪的线路损耗的测试设备，其中，所述设备包括：
17.一个或多个处理器；
18.非易失性存储介质，用于存储一个或多个计算机可读指令，
19.当所述一个或多个计算机可读指令被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法。
20.与现有技术相比，本技术基于open微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据；基于short微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据；基于所述第一组测试数据与所述第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗，实现了在保证线路损耗测试准确性的前提下，简化测试步骤及方法，提升线路损耗的测试效率。
附图说明
21.通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
22.图1示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的流程示意图；
23.图2示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的连接示意图；
24.图3示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的微型校准件的主视图；
25.图4示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的微型校准件的左视图；
26.图5示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的微型校准件的俯视图；
27.图6示出根据本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的优选实施例的流程示意图。
28.附图标记：
29.1计算机，2usb线，3综合测试仪，4射频线，5射频头，6微型校准件，7夹具上模，8测试底模，9中心测试点，10外围接触区。
30.附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。
具体实施方式
31.下面结合附图对本技术作进一步详细描述。
32.在本技术一个典型的配置中，终端、服务网络的设备和可信方均包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。
33.内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flash ram)。内存是计算机可读介质的示例。
34.计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括非暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
35.如图1所示，本技术一个方面的一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的流程示意图。其中，所述方法包括：步骤s11、步骤s12及步骤s13，具体包括如下步骤：
36.步骤s11，基于open微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据。在此，open微型校准件，即为开路微型校准件，综合测试仪包括但不限于带有自检功能的综合测试仪等。
37.步骤s12，基于short微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据。在此，short微型校准件，即为短路微型校准件。
38.步骤s13，基于所述第一组测试数据与所述第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗。在此，综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能，即为计算求方程式的值的功能；线路损耗用于指示射频信号经过综合测试仪射频模块、综合测试仪端口、射频线及射频头的线路损耗。
39.在此，如图2所示，计算机1通过usb线2与综合测试仪3进行连接，综合测试仪3通过射频线4与射频头5进行连接，将微型校准件6进行安装，使得微型校准件6的中心测试点与射频头5保持接触，其中，射频头5通过夹具上模7进行固定，微型校准件件6通过测试底模8进行固定；微型校准件6分为open微型校准件和short微型校准件两种类型，当安装的微型校准件为open微型校准件时，通过综合测试仪的一个通用射频测试(general purpose rf measurement)的固件选件中的路径损耗模块(pathloss)的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据，当安装的微型校准件为short微型校准件时，通过综合测试仪的路径损耗模块pathloss的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据，并基于第一组测试数据与第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块pathloss的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗；基于open微型校准件与short微型校准件的线路损耗测试，使得在进行线路损耗的过程中只需要交替安装open微型校准件与short微型校准件，并将获得的测试数据进行计算方程式即可获得线路损耗，从而缩短线路损耗的测试时间，更加方便快捷的获取线损耗；同时，基于open微型校准件和short微型校准件进行线路损耗测试时，可以基于工站
的数量对微型校准件的数量进行调整，以便能够同时对多个工站进行测试；并且，基于open微型校准件和short微型校准件进行线路损耗测试，相比于传统的通过网络分析仪进行线路损耗测试，能够降低测试成本的投入。
40.通过步骤s11至步骤s13，本技术基于open微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据；基于short微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据；基于所述第一组测试数据与所述第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗，实现了在保证线路损耗测试准确性的前提下，简化测试步骤及方法，提升线路损耗的测试效率。
41.接着本技术的上述实施例，其中，所述方法还包括：
42.所述open微型校准件包括第一中心测试点和第一外围接触区，其中，所述第一中心测试点与所述第一外围接触区在所述open微型校准件内部形成开路状态；
43.所述short微型校准件包括第二中心测试点和第二外围接触区，其中，所述第二中心测试点与所述第二外围接触区在所述short微型校准件内部形成短路状态。
44.在此，微型校准件的材质包括但不限于适合射频信号传导的金属材料等；微型校准件的加工工艺包括但不限于在表面镀金等有利于射频信号传导的加工工艺；微型校准件的性能参数包括但不限于驻波、插入损耗等需要满足的标准及使用要求；微型校准件的尺寸与射频头的尺寸相匹配，使得射频头的中心点与微型校准件的中心测试点进行接触时能够正常匹配。如图3-5所示，微型校准件包括中心测试点9和外围接触区10，其中，open微型校准的第一中心测试点与第一外围接触区在open微型校准件内部形成开路状态，short微型校准件的第二中心测试点与第二外围接触区在short微型校准件内部形成短路状态。
45.接着本技术的上述实施例，其中，所述方法还包括：
46.通过测试底模分别对所述open微型校准件和所述short微型校准件进行固定，得到open测试底模和short测试底模，其中，所述open测试底模包括至少一个所述open微型校准件，所述short测试底模包括至少一个所述short微型校准件。
47.在此，测试底模的材料包括但不限于电木、fr-4等级的耐热材料等夹具制作材料，其中，如图2所示，测试底模8的外形尺寸及固定方式与普通夹具底模保持一致，通过测试底模8对微型校准件6进行固定，其中，固定的微型校准件为open微型校准件的为open测试底模，固定的微型校准件为short微型校准件的为short测试底模；在open测试底模上固定至少一个open微型校准件，在short测试底模上固定至少一个short微型校准件，以便能够同时对多个工站进行测试；优选地，将open测试底模上固定的open微型校准件的数量与射频头的数量保持一致，将short测试底模上固定的short微型校准件的数量与射频头的数量保持一致；如图2所示，微型校准件6在测试底模8上的固定位置为对应的夹具上模7上固定的射频头5的中心点z轴正下方，微型校准件6的高度与测试底模8的高度保持一致。
48.接着本技术的上述实施例，其中，所述方法还包括：
49.对所述线路损耗进行解析，得到解析后的可识别数据，并基于所述可识别数据生成线路损耗文件。
50.在此，线路损耗通过线路损耗值进行表示，综合测试仪计算得到线路损耗值后，将线路损耗值返回给计算机中的控制程序，控制程序对线路损耗值进行解析，将线路损耗值
转化为可识别数据，并将得到的可识别数据按照规则进行整理，得到线路损耗文件，以方便用户使用时进行快速调用。
51.在本技术的一优选实施例中，按照如图2所示的连接方式将设备进行连接，在测试线路损耗之前对综合测试仪进行初始化设置，并通过计算机的控制程序发送指令控制综合测试仪执行，按照顺序对综合测试仪的各个射频端口进行测试，并对各个射频端口的所测频点进行设置，具体地，如图6所示，安装open测试底模，夹具上模下压，使得射频头接触open测试底模上的open微型校准件，通过计算机给综合测试仪发送open测试指令，综合测试仪基于open测试指令通过被测端口发出射频信号给open微型校准件，open微型校准件接收到射频信号后向综合测试仪返回反馈信号，综合测试仪基于反馈信号得到第一组测试数据，并向计算机返回测试完成指令，计算机基于测试完成指令显示open测试完成；然后，提起夹具上模，将open测试底模更换为short测试底模，再次夹具上模下压，使得射频头接触short测试底模上的short微型校准件，通过计算机给综合测试仪发送short测试指令，综合测试仪基于short测试指令通过被测端口发出射频信号给short微型校准件，short微型校准件接收到射频信号后向综合测试仪返回反馈信号，综合测试仪基于反馈信号得到第二组测试数据，并向计算机返回测试完成指令，计算机基于测试完成指令显示short测试完成；然后，通过计算机给综合测试仪发送evaluate测试指令，综合测试仪基于evaluate测试指令通过第一组测试数据和第二组测试数据计算方程式得到线路损耗值，并将线路损耗值返回计算机，计算机接收到线路损耗值后，通过控制程序对线路损耗值进行解析，将线路损耗值解析为可识别数据，并将可识别数据按照规则进行整理，得到线路损耗文件；当open测试和short测试都完成后，将测试底模更换为正常生产使用的普通夹具底模，结束整个测试流程。
52.根据本技术的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，其上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被处理器执行时，使所述处理器实现如上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法。
53.根据本技术的另一方面，还提供了一种用于综合测试仪的线路损耗的测试设备，其中，所述设备包括：
54.一个或多个处理器；
55.非易失性存储介质，用于存储一个或多个计算机可读指令，
56.当所述一个或多个计算机可读指令被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法。
57.在此，所述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试设备中的各实施例的详细内容，具体可参见上述一种用于综合测试仪的线路损耗的测试方法的实施例的对应部分，在此，不再赘述。
58.综上所述，本技术基于open微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的open功能获取综合测试仪的第一组测试数据；基于short微型校准件，通过综合测试仪的路径损耗模块的short功能获取综合测试仪的第二组测试数据；基于所述第一组测试数据与所述第二组测试数据，通过综合测试仪的路径损耗模块的evaluate功能得到综合测试仪的线路损耗，实现了在保证线路损耗测试准确性的前提下，简化测试步骤及方法，提升线路损耗的测试效率。
59.需要注意的是，本技术可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施，例如，可采用专用集成电路(asic)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一个实施例中，本技术的软件程序可以通过处理器执行以实现上文所述步骤或功能。同样地，本技术的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中，例如，ram存储器，磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外，本技术的一些步骤或功能可采用硬件来实现，例如，作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。
60.另外，本技术的一部分可被应用为计算机程序产品，例如计算机程序指令，当其被计算机执行时，通过该计算机的操作，可以调用或提供根据本技术的方法和/或技术方案。而调用本技术的方法的程序指令，可能被存储在固定的或可移动的记录介质中，和/或通过广播或其他信号承载媒体中的数据流而被传输，和/或被存储在根据所述程序指令运行的计算机设备的工作存储器中。在此，根据本技术的一个实施例包括一个装置，该装置包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发该装置运行基于前述根据本技术的多个实施例的方法和/或技术方案。
61.对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。