一种1.6TSR8光模块光路质量测试方法及系统与流程

文档序号:39639613发布日期:2024-10-15 12:22阅读:98来源:国知局
一种1.6T SR8光模块光路质量测试方法及系统与流程

本发明涉及1.6t sr8光模块测试,具体涉及一种1.6t sr8光模块光路质量测试方法及系统。


背景技术:

1、为应对庞大的数据传输需求,越来越多的企业选择建设多个数据中心,而数据中心的内部互联必然离不开光模块,多模光纤和以垂直腔面发射激光器(vcsel)为核心器件的光模块得到了广泛应用,和单模传输方案相比,多模方案采用低成本,低功耗的激光器,实现光纤与激光器之间快速高效的耦合。

2、多模光纤可实现比铜缆更高的传输速率或更远的传输距离,比单模光纤系统更低的成本,所以多模光模块也在数据中心得到了广泛的运用。多模光模块性能的指标中对环形通量有明确要求,在多模光通信系统中,以vcsel为光源、以多模光纤为光导介质居多,可以通过模拟计算,得出vcsel和多模光导介质的带宽关系,用于确定和改善多模光导介质的性能,vcsel的环形通量(encircledflux,ef)用于定义vcsel发射传输的光特征,vcsel激射的光斑为圆形光斑,其沿多模光纤传播的近场光强呈圆形状分布,光纤纤芯中心的光强接近等于零,对于一般10gbps速率以上的通信系统,小于30%的光能量分布在9um直径的圆圈内,大于86%的光能量分布在38um直径的圆圈内。

3、当前vcsel芯片都会设计为中心光功率凹陷,即芯片中心小半径内光功率低、这样9um直径的圆圈内的环形通量一般都能满足小于30%的要求,而比较难的则是多模光纤38um直径的圆圈环形通量大于86%很难保证,考虑测试误差,一般对于800g/1.6t光模块要求r19um环形通量大于88%,如果不满足那么将会产生严重的光串扰或者导致接收端误码增加。

4、环形通量一般与透镜以及透镜耦合光路质量强相关,根据现有800g sr8光模块的数据看,特别是对于1.6t sr8光模块,要求100%全测r19um环形通量,故很有必要筛选出光路质量差的光模块,即一个光模块需要测试8次环形通量。

5、受限于ef测试仪(即环形通量测试仪)一次只能分析一个光斑测试ef值,同一光敏面无法同时收集、分析、矫正多个光斑测试ef值,导致每次每台设备只能测试一个通道ef值,由于每个光模块需要测试8次,而环形通量测试比较耗时,设备昂贵,导致无法大批量测试。


技术实现思路

1、本发明所要解决的技术问题是提供一种1.6t sr8光模块光路质量测试方法及系统,以克服上述现有技术中的不足。

2、本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种1.6t sr8光模块光路质量测试方法,包括如下步骤:

3、步骤1、选取多个环形通量合格和不合格的1.6t sr8光模块,并分别测试其八个光通道的环形通量ef;

4、步骤2、将每个1.6t sr8光模块八个光通道的光通过fc/pc连接头分别对接到多通道光功率计的八个测试光口内,以测试其八个光通道的光功率值;

5、步骤3、将每个1.6t sr8光模块八个光通道的光经八个同一分光比的光分路器及fc/pc连接头分别对接到多通道光功率计的八个测试光口内,以测试其八个光通道的光功率值;

6、步骤4、分别对每个1.6t sr8光模块后一次与前一次所测各光通道的光功率值进行作差,以获得每个1.6t sr8光模块各光通道光经过光分路器后的插损值δp;

7、步骤5、建立插损值δp与环形通量ef之间的关系式,并根据关系式确定在判断1.6t sr8光模块环形通量不合格与合格时其光功率插损值所对应的分界阈值;

8、步骤6、重复步骤2~步骤4,以获得待测1.6t sr8光模块各光通道的插损值,并将该插损值与步骤5所确定的分界阈值进行大小比较,以判断该1.6t sr8光模块的环形通量是否合格,若同一待测1.6t sr8光模块各光通道间插损一致性大于0.5db,则该1.6tsr8光模块的环形通量也判为不合格。

9、本发明的有益效果是:本发明先通过实验方式建立插损值δp与环形通量ef之间的关系式,然后根据关系式确定在判断1.6t sr8光模块环形通量不合格与合格时其光功率插损值所对应的分界阈值,再通过将待测1.6t sr8光模块各光通道的插损值与分界阈值进行大小比较,以判断1.6t sr8光模块的各光通道的环形通量是否合格,即不用直接测试环形通量,而是通过光功率插损值以间接确定1.6t sr8光模块环形通量是否合格,该测试方法可以2次完成一个1.6tsr8光模块所有光通道的测试,相对现有技术中100%全测r19um环形通量且每个测试8次环形通量ef而言可以大幅度提升产能,并且达到同样的检测效果,判断结果同样准确,虽然该方式在获知插损值以后可以依据关系式计算出环形通量,但是本发明中依旧依据插损值进行判断,可以减少1次计算,此外,本发明所述测试方法中由于对光功率进行了测试,所以可以合并光功率测试工序,在本发明所述测试方法中可以选择对判定为不合格与合格的1.6t sr8光模块开展部分全测或抽测进行验证即可,也可以选择不测,以减少环形通量测试仪使用频次,适合大批量生产。

10、在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

11、进一步,所采用的光分路器的分光比为50:50~90:10。

12、进一步,所采用的光分路器的分光比为50:50。

13、进一步,步骤5中建立插损值δp与环形通量ef之间的关系式的方法如下:

14、对所有1.6t sr8光模块各光通道插损值δp以及环形通量ef绘制散点图,并进行相关性分析,以获得相关系数以及插损值δp与环形通量ef之间的关系式。

15、进一步,步骤5中所确定的分界阈值为范围值,且步骤6中的判断条件为:

16、若1.6t sr8光模块任一光通道的插损值δp小于所设分界阈值范围的最小值,则判断为环形通量不合格;

17、若1.6t sr8光模块所有光通道的插损值δp位于所设分界阈值范围内,则判断为环形通量可能合格也可能不合格,并采用全测的方式通过环形通量测试仪测量该1.6t sr8光模块各光通道的环形通量;

18、若1.6t sr8光模块所有光通道的插损值δp均大于所设分界阈值范围的最大值,则判断为该1.6t sr8光模块各光通道的环形通量合格。

19、进一步,若光模块任一光通道的插损值δp小于所设阈值范围的最小值,则采用抽测的方式通过环形通量测试仪测量光模块该1.6t sr8光模块各光通道的环形通量。

20、采用上述进一步的有益效果为:通过抽测可以防止系统出错导致误判。

21、更进一步,抽测比例为1%±0.5%。

22、进一步,若光模块所有光通道的插损值δp均大于所设阈值范围的最大值,则采用抽测的方式通过环形通量测试仪测量1.6tsr8光模块各光通道的环形通量。

23、采用上述进一步的有益效果为:通过抽测可以再次确认判断结果。

24、更进一步,抽测比例为1%±0.5%。

25、基于上述技术方案,本发明还提供一种1.6t sr8光模块光路质量测试系统,该系统用以实施所述1.6t sr8光模块光路质量测试方法,包括:多通道光功率计,多通道光功率计与数据处理端相连,多通道光功率计的十六个fc/pc光口上接有十六个fc/pc连接头,十六个fc/pc连接头中的其中八个fc/pc连接头经八根光纤与一个第一八通道mt插芯相连,另外八个fc/pc连接头分别与八个光分路器的其中一个出光端相连,八个光分路器的入光端经八根光纤与一个第二八通道mt插芯相连。

26、采用上述进一步的有益效果为:

27、在第一次测试光功率值时让待测1.6t sr8光模块光口侧mt插芯与第一八通道mt插芯插接即可,在第二次测试光功率值时让待测1.6t sr8光模块光口侧mt插芯与第二八通道mt插芯插接即可,即采用该系统测试只用对接两次mt插芯便可得出1.6t sr8光模块所有光通道的光经过光分路器后的插损值δp,并再由数据处理端依据所建立的插损值δp与环形通量ef之间的关系式自动计算出环形通量,相比现有技术测试8次环形通量ef而言,可以大幅度提升产能,减少环形通量测试仪使用频次,适合大批量生产。

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