基于ptn芯片降频实现oam自动化验证的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及包交换芯片领域，具体涉及基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法。
【背景技术】
[0002]在包交换芯片中，0AM(0perat1nAdministrat1n and Maintenance，运行管理与维护)功能是必不可少的，因在采用FPGA验证时，频率达不到芯片实际频率的要求，又要验证代码逻辑功能的正确性，所以常采用降频验证的方法，例如:芯片实际工作频率为400MHz，经过降频 1000倍之后，FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)的时钟只需要400K即可，既降低了测试的复杂性同时也加快了测试验证进度，同时提高了测试的可靠性。
[0003]目前，PTN芯片MPLS_TP(MultiprotocolLabel Switching-Transport Profile)OAM协议主要采用G.8113.1和G.8113.2的协议，G.8113.1协议由ITU-T主导，主要采用Y.1731的一套机制来监控OAM的运行，而G.8113.2协议则由IETF主导，目前主要根据BFD(Bidirect1nal Forwarding Detect1n，双向转发检测)扩展来监控OAM的运行，目前两个都已经形成规范，正在业界普及应用。PTN和IPRAN( Internet Protocol Rad1 AccessNetwork，因特网协议无线接入网)设备监控业务的正常运行，必不可少需要0AM的功能来提供保护倒换的触发条件，保证业务能够全天候正常运行。
[0004]因为采用FPGA验证时进行了1000倍的降频，OAM中CCM报文的最小发送帧间隔由3.33ms降频为3.33s的间隔，降频后Testcenter OAM协议栈没有对应降频方式来进行交互测试，所以必须寻找其他路径来解决这个问题。
[0005]有鉴于此，急需提供一种能够有效解决降频验证无法用Testcenter OAM协议桟进行交互测试的方法。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题是提供一种能够有效解决降频验证无法用Testcenter OAM协议桟进行交互测试的方法。
[0007]为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是提供一种基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法，包括以下步骤:
[0008]S1、在DUT建立一个OAM会话，测试unExpDef ect告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；
[0009]S2、测试unExpDefect告警时，DUT内部脚本监控unExpDefect告警产生和消除的逻辑；
[0010]S3、在测试unExpDefect告警产生和消除结束后，启动Testcenter自动化脚本分析capture 的OAM 报文；
[0011]S4、在DUT建立一个OAM会话，测试dLoc告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；
[0012]S5、测试dLoc告警时，DUT内部脚本监控dLoc告警产生和消除的逻辑。
[0013]在上述技术方案中，SI具体包括以下步骤:
[0014]311、了68化6社6^义表建立与(^1会话配对的(^1_1^8吐流以及配置(^1_1^8吐流的发送周期为3.33s，同时配置一个在DUT内部产生unExpDef ect告警的0AM_Def ect流以及配置0AM_Defect流的发送周期为3.33s ；
[0015]S12、在Testcenter仪表上配置调度模式，调度模式为先发送4帧0AM_Right流然后再发送1帧(^1_06€6(^流，其中(^1_1^8吐流与(^1_06€6(^流之间的帧间隔为3.338;
[0016]S13、启动capture功能，将capture的OAM报文保存在指定文件中。
[0017]在上述技术方案中，S2具体包括以下步骤:
[0018]S21、启动DUT内部脚本检查；
[0019]S22、每隔Ims读取一次unExpDef ect告警对应的计数器值unExpDef ectcnt是否等于14，若是，转S23;否则，转S22;
[0020]S23、记录下此时的第一时间戳，转S24;
[0021 ] S24、每隔Ims读取一次计数器值unExpDef ectcnt是否等于O，若是，转S25;否则，转S24；
[0022]S25、记录下此时的第二时间戳，转S26;
[0023]S26、记录第二时间戳与第一时间戳的差值结果，该差值结果为unExpDefect告警消除所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，转S22。
[0024]在上述技术方案中，S3具体包括以下步骤:
[0025]S31、启动Testcenter自动化脚本；
[0026]S32、连续检测每一帧的OAM报文，当检测到OAM报文中携带RDI = I的信息时，记录此帧的第一接收时间戳；当接着检测到OAM报文中携带RDI=O的信息时，记录此帧的第二接收时间戳；
[0027]S33、记录第二接收时间戳与第一接收时间戳的差值结果，该差值结果为unExpDefect告警消除所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，直到将所有capture的OAM报文分析结束。
[0028]在上述技术方案中，S4具体包括以下步骤:
[0029]S41、Testcenter仪表建立与OAM会话配对的0AM_Right流，并配置0AM_Right流的发送周期为3.33s，同时建立一个空闲等待13s的配置；
[0030]S42、在Testcenter仪表上配置调度模式，调度模式为先发送I帧0AM_Right流然后再启动空闲等待13s的配置；
[0031 ] S43、启动capture功能，将capture的OAM报文保存在指定文件中。
[0032]在上述技术方案中，S5具体包括以下步骤:
[0033]S51、启动DUT内部脚本检查；
[0034]S52、每隔Ims读取一次dLoc告警对应的计数器值dLoc Defectcnt是否等于14，若是，转S53;否则，转S52;
[0035]S53、记录下此时的第三时间戳，转S54;
[0036]S54、每隔Ims读取一次计数器值dLoc Defectcnt是否等于O，若是，转S55;否则，转S54；
[0037]S55、记录下此时的第四时间戳，转S56;
[0038]S56、记录第四时间戳与第三时间戳的差值结果，该差值结果为dLoc告警产生所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，转S52。
[0039]在上述技术方案中，所述Testcenter自动化脚本自动保存capture的所述OAM报文，采用wireshark软件手动查看所述OAM报文。
[°04°]在上述技术方案中，测试所述unExpDefect告警产生和消除结束后，在测试结果文件中自动排列好所述DUT与所述Testcenter仪表检测到的各个差值结果，并与G.8113.1协议规定的3.5 X3.33s作比较，自动给出比较结果，同时所述Testcenter仪表的收发包与所述DUT内部的收发包作比较，自动给出收发个数是否一致的结果。
[0041]在上述技术方案中，测试所述dLoc告警产生和消除结束后，在测试结果文件中自动排列好所述DUT检测到的各个差值结果，并与G.8113.1协议规定的3.5 X 3.33s作比较，自动给出比较结果，同时所述Testcenter仪表的收发包与所述DUT内部的收发包作比较，自动给出收发个数是否一致的结果。
[0042]本发明有效地降低了手工测试的误操作性、不确定性、不可实时复现的问题，缩短测试时间，能够有效解决降频验证无法用Testcenter OAM协议桟互动测试的问题，能够用脚本自动化实现Testcenter收发包和DUT会话配置，完成测试的一体化，能够完整的复现测试出现的问题，读取DUT表项的间隔控制为Ims读取一次，降频情况下的OAM告警功能测试能够达到0.1%的误差精度。
【附图说明】
[0043]图1为本发明实施例提供的DUT与Testcenter仪表的连接示意图；
[0044]图2为本发明实施例提供的一种基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法流程图；
[0045]图3为本发明实施例提供的SI的具体流程图；
[0046]图4为本发明实施例提供的S2的具体流程图；
[0047]图5为本发明实施例提供的S3的具体流程图；
[0048]图6为本发明实施例提供的S4的具体流程图；
[0049]图7为本发明实施例提供的S5的具体流程图。
【具体实施方式】
[0050]本发明测试G.8