一种复合轴跟踪瞄准性能测试装置及其测试方法与流程

文档序号:28859950发布日期:2022-02-12 00:00阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于,其包括:支撑架(1)与光学模拟目标源(2),所述光学模拟目标源(2)用于发出光束;主回转轴(3),其安装于所述支撑架(1),且所述主回转轴(3)可相对于所述支撑架(1)转动;子回转轴(4),其安装于所述主回转轴(3),且所述子回转轴(4)可相对于所述主回转轴(3)转动,所述子回转轴(4)设有子回转台(41),所述子回转台(41)安装有间隔设置的半透半反镜(5)和反射镜(6),所述半透半反镜(5)用于将所述光学模拟目标源(2)发出的部分光束透射形成与所述子回转轴(4)大致平行的出射光束,且所述半透半反镜(5)用于将所述光学模拟目标源(2)发出的部分光束反射至所述反射镜(6),使所述反射镜(6)反射形成与所述子回转轴(4)大致平行的出射光束。2.如权利要求1所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于:所述主回转轴(3)设有主回转台(31),所述光学模拟目标源(2)和所述子回转轴(4)均安装于所述主回转台(31)。3.如权利要求2所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于:所述子回转轴(4)包括平行光管(42),所述平行光管(42)内设有快反镜(7),所述快反镜(7)用于将所述光学模拟目标源(2)发出的光束反射至所述半透半反镜(5)。4.如权利要求3所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于:所述平行光管(42)的焦平面处设有分划板,所述快反镜(7)反射的光束经过所述分划板照射至所述半透半反镜(5)。5.如权利要求1所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于:所述光学模拟目标源(2)包括成像投影系统和导光挡片,所述成像投影系统用于通过切换导光挡片将所述成像投影系统内存储的动态视频流进行光束调制并投射至所述半透半反镜(5)。6.如权利要求1所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置,其特征在于:所述半透半反镜(5)和所述反射镜(6)均可在所述子回转台(41)上移动,且所述支撑架(1)可上下升降;所述复合轴跟踪瞄准性能测试装置还包括控制器(8),其分别与所述主回转轴(3)、所述子回转轴(4)连接,所述控制器(8)用于控制所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4)转动。7.一种使用如权利要求1所述的复合轴跟踪瞄准性能测试装置的测试方法,其特征在于,其包括以下步骤:根据复合轴跟瞄系统(9)的两个跟踪探测器(91、92)探测的光点成像位置,调整主回转轴(3)和子回转轴(4)的高度以及角度,使成像光点质心在两个所述跟踪探测器(91、92)的图像中心;转动所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4),并保持所述复合轴跟瞄系统(9)跟踪所述复合轴跟踪瞄准性能测试装置发出的出射光束;逐渐增加所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4)的旋转角速度,所述复合轴跟瞄系统(9)的角速度和角加速度随着增加,当所述复合轴跟瞄系统(9)的角速度达到最大角速度或者角加速度达到最大角加速度时,所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4)保持恒定的角速度
旋转。8.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,在所述根据复合轴跟瞄系统(9)的两个跟踪探测器(91、92)探测的光点成像位置,调整主回转轴(3)和子回转轴(4)的高度以及角度,使成像光点质心在两个所述跟踪探测器(91、92)的图像中心之前,还包括:初步调整所述复合轴跟瞄系统(9)与复合轴跟踪瞄准性能测试装置的相对位置,使两个跟踪探测器(91、92)的位置分别对准复合轴跟踪瞄准性能测试装置的两束出射光束形成的扫描光锥点附近。9.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述子回转轴(4)包括平行光管(42),在所述根据复合轴跟瞄系统(9)的两个跟踪探测器(91、92)探测的光点成像位置,调整主回转轴(3)和子回转轴(4)的高度以及角度,使成像光点质心在两个所述跟踪探测器(91、92)的图像中心之前,还包括:将分划板放置于所述平行光管(42)的焦平面处,使所述光学模拟目标源(2)发出的光束经过所述分划板照射至所述半透半反镜(5)。10.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述光学模拟目标源(2)内设有导光挡片和成像投影系统,所述转动所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4),并保持所述复合轴跟瞄系统(9)跟踪所述复合轴跟踪瞄准性能测试装置发出的出射光束,包括:在转动所述主回转轴(3)和所述子回转轴(4)的同时,每间隔预设时间切换所述导光挡片,使所述光学模拟目标源(2)发出的光束经过所述导光挡片将所述成像投影系统内存储的动态视频流进行调制并投射至所述半透半反镜(5)。

技术总结
本发明涉及一种复合轴跟踪瞄准性能测试装置及其测试方法,其包括:支撑架与光学模拟目标源,所述光学模拟目标源用于发出光束;主回转轴,其安装于所述支撑架,且所述主回转轴可相对于所述支撑架转动;子回转轴,其安装于所述主回转轴,且所述子回转轴可相对于所述主回转轴转动,所述子回转轴设有子回转台,所述子回转台安装有间隔设置的半透半反镜和反射镜,所述半透半反镜用于将所述光学模拟目标源发出的部分光束透射形成与所述子回转轴大致平行的出射光束,且所述半透半反镜用于将所述光学模拟目标源发出的部分光束反射至所述反射镜,使所述反射镜反射形成与所述子回转轴大致平行的出射光束;可以对粗跟踪和精跟踪探测器进行同时测量。器进行同时测量。器进行同时测量。


技术研发人员:吉宁可 沈小龙 雷杨 胡黎明 彭小康 武春风 李强 张贵清 姜永亮 宁鸿章 张悠然
受保护的技术使用者:湖北航天技术研究院总体设计所
技术研发日:2021.10.25
技术公布日:2022/2/10
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