用于确定发光元件阵列芯片的缺陷的图像形成装置的制造方法
【专利说明】用于确定发光元件阵列芯片的缺陷的图像形成装置
[0001]相关申请
[0002]本申请要求于2014年7月7日提交到韩国知识产权局的韩国专利申请第10-2014-0084620号的权益，其公开通过弓|用整体合并于此。
技术领域
[0003]—个或多个示范性实施例涉及确定发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷的图像形成装置。
【背景技术】
[0004]使用发光元件阵列芯片的图像形成装置从个人计算机(PC)接收打印数据并且通过使用发光元件形成图像。当发光元件发光时，在图像形成装置中的光导鼓上形成静电潜像。此后，打印图像通过显影过程、转印(transfer)过程、和定影过程输出。
[0005]包括在所述发光元件阵列芯片当中的发光元件阵列芯片可能有缺陷。有缺陷发光元件阵列芯片的发光元件可能不发光，从而导致错误。也就是说，打印数据不被打印在纸上。
【发明内容】
[0006]—个或多个示范性实施例包括确定发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷的图像形成装置。
[0007]另外的方面将在下面的详细描述中被阐述，并且将从所述描述中部分地变得清楚，或者可以通过实践所呈现的示范性实施例而习得。
[0008]根据一个或多个示范性实施例，一种图像形成装置包括:多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及控制驱动器，其向多个发光元件阵列芯片施加信号。控制驱动器包括测量从多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子，并且控制驱动器通过分析在检验端子处测量的信号来确定多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。
[0009]根据一个或多个示范性实施例，一种图像形成装置包括:多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及控制驱动器，其向发光元件阵列芯片施加信号。包括在多个发光元件阵列芯片中的发光元件阵列并联连接，并且控制驱动器通过分析从并联连接的发光元件阵列输出的信号来确定发光元件阵列中的任何一个是否有缺陷。
【附图说明】
[0010]从以下结合附图的对示范性实施例的描述中，这些和/或其它方面将变得清楚和更加容易理解，其中:
[0011]图1是示出通过使用发光元件阵列芯片输出图像的示范性过程的示图；
[0012]图2是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0013]图3是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0014]图4A和图4B是示出从控制驱动器输出的信号或者由控制驱动器测量的信号的定时图；
[0015]图5是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0016]图6是示出根据示范性实施例的图像形成装置的结构的示图；
[0017]图7是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0018]图8A和图8B是示出图7的图像形成装置的操作的定时图；
[0019]图9是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0020]图10A和图10B是示出图9的图像形成装置的操作的定时图；
[0021]图11是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置的结构的示图；
[0022]图12是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0023]图13是示出图12的图像形成装置的一部分的电路图；
[0024]图14是示出图12的图像形成装置的操作的定时图；
[0025]图15是示出图12的图像形成装置的操作的定时图；
[0026]图16是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0027]图17是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0028]图18A和图18B是示出确定发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷的方法的示图；
[0029]图19是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0030]图20A和图20B是示出确定发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷的方法的示图；
[0031]图21是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0032]图22是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0033]图23是示出二极管和下拉电阻器之间的连接关系的示图；
[0034]图24是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0035]图25是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0036]图26是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0037]图27是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；
[0038]图28是示出根据示范性实施例的图像形成装置的示图；以及
[0039]图29是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置的示图。
【具体实施方式】
[0040]因为本发明构思允许各种改变和大量实施例，因此特定实施例将被示出在附图中并且在所撰写的描述中被详细描述。然而，这并不意图被用来将本发明构思限制在特定的实践模式，并且将理解，不脱离精神和技术范围的改变、等同、和替代被包含在本发明构思中。在描述中，当认为对相关领域的某些详细说明将不必要地模糊本发明构思的本质时，省略该详细说明。如这里所使用的，术语“和/或”包括一个或多个关联的列出的项目的任何以及全部的组合。当诸如“……中的至少一个”的表达位于一列元素之后时，将修改整列元素而不是修改该列的单个元素。
[0041]虽然诸如“第一”、“第二”等等的术语可以被用来描述各种组件，但是这样的组件不可被限制在上述术语。以上术语仅仅被用来将一个组件与另一个组件区分开。
[0042]在本说明书中使用的术语仅仅用来描述特定实施例，并且并不意图被用来限制本发明构思。以单数使用的表达包含复数的表达，除非其在上下文中具有清楚地不同的含义。在本说明书中，将理解，诸如“包括”、“具有”、和“包含”的术语意图被用来指示本说明书中公开的特征、数字、步骤、动作、组件、部分、或者它们的组合的存在，并且不意图被用来排除一个或多个其它特征、数字、步骤、动作、组件、部分、或者它们的组合可能存在或者可能被添加的可能性。
[0043]将参考附图详细描述本发明构思的示范性实施例。附图中的相似的参考标号表示相似的元素，因此它们的描述将不被重复。
[0044]图1是示出通过使用发光元件阵列芯片输出图像的示范性过程的示图。参考图1，当从个人计算机(PC)50接收到打印数据时，图像形成装置可以执行用于输出图像的操作。
[0045]图像形成装置可以通过使用发光元件在光导鼓300上形成静电潜像，并且通过包括充电(electrificat1n) 1、曝光2、显影3、转印4、定影5的显影过程、转印过程、和定影过程来输出图像。
[0046]图像形成装置可以包括控制驱动器110、芯片阵列120、透镜阵列200、和光导鼓300。
[0047]控制驱动器110可以根据从PC 50接收的打印数据控制芯片阵列120。芯片阵列120可以包括多个发光元件阵列芯片。控制驱动器110可以分别地(separately)控制发光元件阵列芯片。
[0048]透镜阵列200可以按光导鼓300的轴向(S卩，主扫描方向)排列。已经穿过透镜阵列200的光可以在光导鼓300的表面上形成图像。
[0049]光导鼓300可以被曝光而形成静电潜像。显影器(未示出)可以将形成在光导鼓300上的静电潜像显影。
[0050]图2是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图2，图像形成装置100包括控制驱动器110和多个发光元件阵列芯片125。
[0051]控制驱动器110确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷。控制驱动器110确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷，确定发光元件阵列芯片125中的哪一个有缺陷，以及确定在发光元件阵列芯片125中哪个发光元件或者哪个转移元件(transfer elements)有缺陷。
[0052]控制驱动器110包括检验端子，其测量从发光元件阵列芯片125输出的信号，分析在检验端子处测量的信号，并且确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷。下面将详细描述可以由控制驱动器110执行的确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷的方法。
[0053]控制驱动器110包括输出信号的端子和接收信号的端子。换句话说，控制驱动器110包括输出用于控制转移元件或者发光元件的信号的端子、以及从转移元件或者发光元件接收信号的端子。控制驱动器110可以包括用于确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷的至少一个检验端子。
[0054]控制驱动器110接收打印数据并且根据所接收的打印数据操作。控制驱动器110从包括在图像形成装置100中的主板(main board)或者中央处理单元(CPU)接收打印数据，并且根据所接收的打印数据控制发光元件的导通/关断。打印数据是表示将被形成的图像的数据。
[0055]控制驱动器110可以是由至少一个处理器运行的软件。可替换地，控制驱动器110可以是诸如控制驱动器的硬件。
[0056]发光元件阵列芯片125中的每一个包括转移元件阵列和发光元件阵列。转移元件阵列包括多个转移元件，而发光元件阵列包括多个发光元件。转移元件可以顺序地导通和关断发光元件。转移元件和发光元件可以一对一匹配。发光元件的发光条件可以根据转移元件的状态来确定。为了让发光元件发光，与发光元件相对应的转移元件必须处于备用状态(standby state)。当转移元件处于备用状态时，发光元件的导通/关断可以根据输入到发光元件的数据信号来确定。当开始信号被输入转移元件时，转移元件可以根据转移信号(transfer signal)顺序地进入备用状态。
[0057]发光元件阵列芯片125从控制驱动器110接收信号并且根据所接收的信号操作。发光元件阵列芯片125可以由控制驱动器110分别地控制。
[0058]发光元件阵列芯片125可以并联连接。发光元件阵列芯片125的数据线可以并联连接，并且转移元件阵列中的最后的转移元件的门极(gate)可以并联连接。
[0059]图3是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图3，图像形成装置100可以确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷。图像形成装置100可以将数据信号分别地施加到发光元件阵列芯片125，并且通过分析在连接至发光元件阵列芯片125中的每一个的检验端子(?i(n)_chk)处测量的信号来确定发光元件阵列芯片125中的任何一个是否有缺陷。
[0060]发光元件可以是发光晶闸管，并且转移元件可以是转移晶闸管(transferthyristor)。晶闸管具有PNPN结(PNPN junct1n)并且包括门极。例如，发光元件阵列芯片125中的每一个可以包括256个晶闸管。T1到T256指代转移晶闸管，而L1到L256指代发光