中示出的图像形成装置100的组合，因此，缺陷是通过使用与参考图7和图12描述的方法相同的方法来确定的。
[0136]图25是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图25，在图像形成装置100中，发光元件阵列芯片125中的每一个包括连接至发光元件阵列的晶体管2510和连接至转移元件阵列的晶体管2530。下拉电阻器2520连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2510，而上拉电阻器2540连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2530。
[0137]因为图25的图像形成装置100是图7中示出的图像形成装置100和图17中示出的图像形成装置100的组合，因此，缺陷是通过使用与参考图7和图17描述的方法相同的方法来确定的。
[0138]图26是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图26，在图像形成装置100中，发光元件阵列芯片125中的每一个包括连接至发光元件阵列的晶体管2610和连接至转移元件阵列的晶体管2630。下拉电阻器2620连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2610，而下拉电阻器2640连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2630。
[0139]因为图26的图像形成装置100是图7中示出的图像形成装置100和图19中示出的图像形成装置100的组合，因此，缺陷是通过使用与参考图7和图19描述的方法相同的方法来确定的。
[0140]图27是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图27，在图像形成装置100中，发光元件阵列芯片125中的每一个包括连接至发光元件阵列的晶体管2710和连接至转移元件阵列的二极管2730。上拉电阻器2720连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2710，而上拉电阻器2740连接至发光元件阵列芯片125的各个二极管2730。
[0141]因为图27的图像形成装置100是图9中示出的图像形成装置100和图12中示出的图像形成装置100的组合，因此，缺陷是通过使用与参考图9和图12描述的方法相同的方法来确定的。
[0142]图28是示出根据示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图28，在图像形成装置100中，发光元件阵列芯片125中的每一个包括连接至发光元件阵列的晶体管2810和连接至转移元件阵列的晶体管2830。上拉电阻器2820连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2810，而上拉电阻器2840连接至发光元件阵列芯片125的各个晶体管2830。
[0143]因为图28的图像形成装置100是图9中示出的图像形成装置100和图17中示出的图像形成装置100的组合，因此，缺陷是通过使用与参考图9和图17描述的方法相同的方法来确定的。
[0144]虽然以上未描述，但是检测转移元件是否有缺陷的方法和检测发光元件是否有缺陷的方法的各种组合可以被理解。
[0145]图29是示出根据另一个示范性实施例的图像形成装置100的示图。参考图29，控制驱动器110可以包括缓冲器2920和电阻器2910。虽然图3示出了图像形成装置100的缓冲器320和电阻器310连接在控制驱动器110和发光元件阵列芯片125之间，但是图29示出了图像形成装置100的缓冲器2920和电阻器2910被包括在控制驱动器110中。图29的图像形成装置100与图3的图像形成装置100相同，除了控制驱动器110包括缓冲器2920和电阻器2910之外。
[0146]虽然图29中未示出，但是控制驱动器110不仅可以包括缓冲器2910，还可以包括比较单元、晶体管、二极管、上拉电阻器、或者下拉电阻器。
[0147]如上所述，根据以上示范性实施例中的一个或多个，图像形成装置可以从多个发光元件阵列芯片中确定有缺陷的发光元件阵列芯片。图像形成装置可以确定转移元件或者发光元件是否有缺陷。图像形成装置可以向转移元件或者发光元件施加信号，分析从该转移元件或者发光元件输出的信号的幅度，从而确定有缺陷的发光元件阵列芯片。
[0148]这里描述的设备可以包括:处理器；存储器，用于存储程序数据和运行程序数据；永久性存储单元，诸如硬盘驱动；通信端口，用于处理与外部设备的通信；以及用户接口设备，包括触摸板、按键、按钮、等等。当涉及软件模块或算法时，这些软件模块可以作为可在处理器上运行的程序指令或者计算机可读代码而存储在计算机可读介质上。计算机可读记录介质的示例包括磁存储介质(例如，R0M、软盘、或者硬盘)和光记录介质(例如，CD-ROM、或DVD)。计算机可读记录介质还能够分布在网络親合的计算机系统上，从而计算机可读代码以分布式方式来存储和运行。这个介质可以被计算机读取，存储在存储器中，以及被处理器运行。
[0149]本发明构思可以通过功能块组件和各种处理步骤来描述。这样的功能块可以通过被配置为执行指定功能的任意数量的硬件和/或软件组件来实现。例如，本发明构思可以利用可以在一个或多个微处理器或者其它控制设备的控制下执行各种功能的各种集成电路(1C)组件，例如，存储元件、处理元件、逻辑元件、查找表等等。类似地，在使用软件编程或者软件元素来实施元件的情况下，本发明构思可以利用任何编程或者脚本语言(诸如C、C++、Java、汇编语言等等)、利用以数据结构、对象、过程、子程序、或者其它编程元素的任何组合实施的各种算法来实施。功能方面可以以运行在一个或多个处理器上的算法实施。另夕卜，本发明构思可以利用用于电子配置、信号处理和/或控制、数据处理等等的许多传统技术。词语“机制”、“元素”、“装置”、和“配置”被广泛地使用，而不限于机械的或者物理的实施例，而是能够包括结合处理器的软件子程序等等。
[0150]这里示出和描述的特定实施例是本发明构思的说明性例子，而不被打算用来以任何方式限制本发明构思的范围。为了简短起见，传统的电子、控制系统、软件开发、和系统的其它功能方面可以不详细描述。另外，所呈现的各个附图中示出的连接线、或者连接器被打算用来表示各种元件之间的示范性功能关系和/或者物理或逻辑耦合。应该注意到，在实践的设备中，可以存在许多替换性或者额外的功能关系、物理连接、或者逻辑连接。
[0151]在描述本发明构思的上下文中(尤其是在所附权利要求的上下文中)对术语“一”和“该”以及相似的指示物的使用将被解释为包含单数和复数两者。另外，这里对数值范围的列举仅仅是意图用来充当逐一提及落入该范围的每个分离的值的简写方法，除非这里另有陈述，否则每个分离的值就好像它在这里被逐一地列举一样地合并在本说明书中。并且，这里描述的所有方法的步骤可以以任何合适的次序执行，除非这里另有陈述或者另外被上下文清楚地反驳。本发明构思不限于所描述的步骤次序。对这里提供的任何及所有示例或者示范性语言(例如，“诸如”)的使用，仅仅意图用来更好地阐明本发明构思，而不是对本发明构思的范围加以限制，除非另有声明。对本领域普通技术人员而言，大量的修改和适配将是非常清楚的，而不会脱离精神和范围。
【主权项】
1.一种图像形成装置，包括: 多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及 控制驱动器，其向所述多个发光元件阵列芯片施加信号； 其中，所述控制驱动器包括测量从所述多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子，并且 所述控制驱动器通过分析在所述检验端子处测量的信号来确定所述多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。2.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，电阻器连接在所述发光元件阵列的数据信号输入端子和所述发光元件阵列的数据线之间，并且 缓冲器连接在所述检验端子和所述发光元件阵列的数据线之间。3.如权利要求2所述的图像形成装置，其中，所述控制驱动器向所述数据线施加数据信号，以使得包括在所述发光元件阵列中的所有发光元件发光，并且当响应于所施加的数据信号而在所述检验端子处测量的信号为低时，确定所述发光元件阵列芯片之一有缺陷。4.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，电阻器连接在所述发光元件阵列的数据信号输入端子和所述发光元件阵列的数据线之间，并且 比较单元连接在检验端子和所述发光元件阵列的数据线之间。5.如权利要求4所述的图像形成装置，其中，所述比较单元将阈值与从所述数据线测量的电压进行比较，并且向所述检验端子输出比较的结果。6.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述多个发光元件阵列芯片中的每一个包括连接至所述发光元件阵列的数据线的晶体管，并且 所述晶体管的发射极并联连接，并且所述发射极中的每一个连接至检验端子和下拉电阻器。7.如权利要求6所述的图像形成装置，其中，所述控制驱动器施加使得包括在第一发光元件阵列芯片中的所有发光元件发光的数据信号，并且施加使得除了第一发光元件阵列芯片之外的发光元件阵列芯片不操作的数据信号，以及 当响应于所述数据信号而在所述检验端子处测量的信号为低时，确定第一发光元件阵列芯片有缺陷。8.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述多个发光元件阵列芯片中的每一个包括连接至所述发光元件阵列的数据线的晶体管，并且 所述晶体管的集电极并联连接，并且所述集电极中的每一个连接至检验端子和上拉电阻器。9.如权利要求8所述的图像形成装置，其中，所述控制驱动器施加使得包括在第一发光元件阵列芯片中的所有发光元件发光的数据信号，并且施加使得除了第一发光元件阵列芯片之外的发光元件阵列芯片不操作的数据信号，以及 当响应于所述数据信号而在所述检验端子处测量的信号为高时，确定第一发光元件阵列芯片有缺陷。10.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，包括在所述转移元件阵列中的最后的转移元件的门极并联连接，并且 所述图像形成装置还包括连接在检验端子和门极之间的上拉电阻器。11.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括二极管， 所述二极管的阴极连接至所述转移元件阵列的最后的二极管的阴极，并且 所述二极管的阳极连接至检验端子和上拉电阻器。12.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括晶体管， 所述晶体管的基极连接至所述转移元件阵列的最后的转移元件的门极，并且 所述晶体管的集电极连接至检验端子和上拉电阻器。13.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括晶体管， 所述晶体管的基极连接至所述转移元件阵列的最后的转移元件的门极，并且 所述晶体管的发射极连接至检验端子和下拉电阻器。
【专利摘要】提供了一种图像形成装置，包括：多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及控制驱动器，其向所述多个发光元件阵列芯片施加信号。所述控制驱动器包括测量从所述多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子，并且所述控制驱动器通过分析在检验端子处测量的信号来确定所述多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。
【IPC分类】B41J2/435
【公开号】CN105269979
【申请号】CN201510395275
【发明人】金寿焕
【申请人】三星电子株式会社
【公开日】2016年1月27日
【申请日】2015年7月7日
【公告号】EP2966507A1, US20160001575, WO2016006813A1