技术总结
公开了基于InSAR技术的直线扫描近场RCS测试杂波抑制方法，涉及电磁散射测量、信号特征控制技术领域。本发明的方法包括：分别在两个高度条件下对目标进行直线扫描，获取目标的两个二维像；根据两次直线扫描的高度差和两个二维像的相位差，确定目标的每个散射源的高度；基于目标的每个散射源的高度，在高度向对目标进行滤波，将滤波后的散射源进行重构得到杂波抑制后的目标RCS。利用InSAR技术对目标进行直线扫描近场，能够快速高效地获取回波数据；通过利用在两个高度采集数据的相位信息进行干涉处理，能够实现在一定高度范围内的相位解缠，从而唯一的确定散射源高度。本发明能够进行竖向空间滤波从而实现抑制场地杂散回波、提高测试精度的目的。
技术研发人员：吕鸣;高超
受保护的技术使用者：北京环境特性研究所
文档号码：201611131827
技术研发日：2016.12.09
技术公布日：2017.03.22