改进的检测治具的针座结构的制作方法

本实用新型涉及一种改进的检测治具的针座结构，尤指针座的基座上方迭放有基材，且基座表面的多个第一穿孔错位于基材表面的多个第二穿孔，以使第一穿孔与第二穿孔间插设的测试探针形成倾斜部，即可使多个测试探针限位于基座与基材间，从而不会发生掉落的情形。

背景技术：

目前电路板上由多个配线来构成的配线图案(pattern)，其必须向电路板所搭载的IC、半导体或电阻器等电子部件传递正确的电子信号，以往针对未安装半导体或电子部件等印刷电路板、柔性(flexiBle)基板、多层配线基板、液晶屏(LCD panel)或等离子显示屏(plasma display panel)等所使用的形成配线图案的电路配线基板，或半导体芯片等基板上所形成的配线图案来作为检测对象，以检测配线图案上所设置的多个检测点间的电阻值，用以判断出其电气特性是否良好。

如图9、图10所示为现有的立体外观图及探针的侧视剖面图，由图中可清楚看出，目前为了检测电路板上的配线图案是否按设计完成，便提出了实际应用于各种电路板的检测治具，该检测治具包括检测装置A、缆线部B及检测平台C，其中该检测装置A可用于处理电气信号的导通状态，并通过缆线部B电性连接于检测平台C，检测平台C上方设置有检测用针座C1，且针座C1包括上支撑板C11、下支撑板C12、多个支撑杆C13及多个探针C14，其中该上支撑板C11、下支撑板C12为呈上、下间隔设置，且上支撑板C11、下支撑板C12为分别由多个第一板材C111、多个第二板材C121所组成，再于上支撑板C11贯设有多个第一穿孔C112，下支撑板C12贯设有与多个第一穿孔C112形成错位状态的多个第二穿孔C122，且该多个支撑杆C13为设置于上支撑板C11、下支撑板C12之间，以供支撑、固定上支撑板C11、下支撑板C12，该多个探针C14则分别穿设于上支撑板C11、下支撑板C12之间，且一端为穿入至多个第一穿孔C112内，以供电性接触于电路板上配线图案的多个检测点，另一端则穿入至多个第二穿孔C122内并电性连接于缆线部B的多个导线B1，即可通过此检测装置A来检测电路板的配线图案上的多个检测点之间是否电路断开或电路导通。

另外，由于针座C1的上支撑板C11所穿设的多个第一穿孔C112为依照配线图案上的多个检测点做孔位设计，且多个第一穿孔C112与多个第二穿孔C122为呈错位状态，即可通过错位的方式来避免多个探针C14从上支撑板C11与下支撑板C12之间发生脱离的情况，所以当多个探针C14两端插入至第一穿孔C112及多个第二穿孔C122内时，会使多个探针C14呈倾斜状，且因多个探针C14倾斜角度、插设方向是依配线图案上的多个检测点做设计，导致并无统一性，且必须通过人工的方式，才可将多个探针C14一一插设至上支撑板C11与下支撑板C12之间，其不仅需要大量的人力，亦需要耗费大量的时间来进行插设作业，以致于制造的成本高居不下。

另外，该针座C1的多个探针C14具有可导电的线材C141，且线材C141外表面通常涂布有绝缘层C142，用以防止相邻多个探针C14间形成电性接触，进而发生短路的情况，然而，由于多个探针C14需分别于外表面上涂布有绝缘层C142，以致于使加工作业复杂，进而提高整体加工上的成本，且若绝缘层C142涂布不确实、均匀，将会产生探针C14未电性导通于检测点或缆线部B的导线B1的情形，亦或相邻多个探针C14间发生短路的现象，导致降低使用上的可靠度。

因此，如何设法解决上述问题，即为本领域技术人员亟欲研究改善的方向。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于该基座表面上贯设有多个第一穿孔及多个第一定位孔，基座上方迭放有基材，且基材表面上贯设有与多个第一穿孔形成错位状态的多个第二穿孔，以及与多个第一定位孔形成对正状态的多个第二定位孔，其欲将多个测试探针设置于基座及基材之间时，先将多个第一穿孔对正于多个第二穿孔处，再将多个测试探针分别插入至多个第一穿孔与多个第二穿孔间，且待插设完成后，再使多个第一定位孔与多个第二定位孔形成对正状态，并于内部插设固定组件，以使基座与基材呈一稳固定位，同时，其测试探针会受到第一穿孔与第二穿孔内壁面的挤压，从而形成出倾斜部，便可通过倾斜部来将测试探针限位于基座与基材间，以防止从基座与基材间发生脱离、掉落的情形，且由于基材迭放于基座上方，便可省略现有技术中采用的多个支撑杆，以减少制造、降低成本，达到提升整体竞争力的目的。

本实用新型的次要目的在于该针座的基座与基材间欲装设多个测试探针时，其多个第一穿孔与多个第二穿孔呈对正状态，所以多个测试探针便可通过自动化的机械设备来执行插设作业，其不仅可减少人力成本，亦可使插设作业更加地快速、精确，进而达到提高制造效率的同时，亦具有更高的产品合格率的目的。

本实用新型的另一目的于该针座的基材迭放于基座上方，所以当基座与基材之间插设有多个测试探针时，即可通过基座与基材来防止相邻多个测试探针间产生电性接触的情况，以避免发生短路的情形，且该多个测试探针外表面亦不需涂布有绝缘层，便可减少加工作业的难度，进而达到降低制造成本的目的。

为了达到上述目的，本实用新型提供了一种改进的检测治具的针座结构，该针座包括基座、基材及多个测试探针，其中：

该基座表面上贯设有多个第一穿孔，且基座表面上于多个第一穿孔周围处贯设有多个第一定位孔；

该基材迭放于基座上方，并于基材表面上贯设有组装后与多个第一穿孔形成错位状态且对应于预设电路板的多个测试点位置处的多个第二穿孔，再于基材表面上且于多个第二穿孔周围处贯设有对正于多个第一定位孔处以供预设固定组件穿过并使基座与基材固定的多个第二定位孔；及

该多个测试探针为导电材质所制成且设置于基座及基材之间，并于测试探针一侧设有插入至第一穿孔内的第一端部，另一侧设有插入至第二穿孔内并与预设电路板的测试点形成电性接触的第二端部，且第一端部与第二端部之间形成有倾斜部。

在本实用新型的一实施例中，该基座与基材呈长矩形。

在本实用新型的一实施例中，该基座的多个第一定位孔内侧壁面设有螺纹。

为了达到上述目的，本实用新型还提供了另一种改进的检测治具的针座结构，包括检测治具及针座，其中：

该检测治具具有用以处理预设电路板的多个测试点间电气信号的导通状态的检测装置，并于检测装置一侧电性连接有具有多个导线的缆线部，且缆线部另一侧连接有检测平台，再于检测平台上贯设有供多个导线分别穿入的多个透孔；及

该针座包括基座、基材及多个测试探针，其中该基座定位于检测平台上方，并于基座表面上对位于检测平台的多个透孔处贯设有多个第一穿孔，再于基座表面上位于多个第一穿孔周围处贯设有多个第一定位孔，且该基座上方迭放有基材，并于基材表面上贯设有组装后与多个第一穿孔形成错位状态且对应于预设电路板的多个测试点位置处的多个第二穿孔，再于基材表面上且位于多个第二穿孔周围处贯设有对正于多个第一定位孔处以供预设固定组件穿过并使基座与基材固定的多个第二定位孔，该多个测试探针为导电材质所制成且设置于基座及基材之间，并于测试探针一侧设有插入至第一穿孔内且与缆线部的多个导线形成电性接触的第一端部，另一侧设有插入至第二穿孔内并与预设电路板的测试点形成电性接触的第二端部，再于第一端部与第二端部之间形成有倾斜部。

在本实用新型的一实施例中，该针座的基座底面设有多个限位孔，该检测治具的检测平台表面上对应于多个限位孔处设有供定位于多个限位孔内的多个定位凸点。

在本实用新型的一实施例中，该针座的基座与基材呈长矩形。

在本实用新型的一实施例中，该基座的多个第一定位孔内侧壁面设有螺纹。

附图说明

图1为本实用新型的立体外观图；

图2为本实用新型的立体分解图；

图3为本实用新型另一视角的立体分解图；

图4为本实用新型组装时的侧视剖面图(一)；

图5为本实用新型组装时的侧视剖面图(二)；

图6为本实用新型组装时的侧视剖面图(三)；

图7为本实用新型中的针座装设于检测治具的检测平台前的立体外观图；

图8为本实用新型中的针座装设于检测治具的检测平台后的立体外观图；

图9为现有的探针的立体外观图；

图10为现有的探针的侧视剖面图。

附图标记说明：1-针座；11-基座；111-第一穿孔；112-第一定位孔；1121-螺纹；113-限位孔；12-基材；121-第二穿孔；122-第二定位孔；13-测试探针；131-第一端部；132-第二端部；133-倾斜部；14-固定组件；141-固定插梢；142-螺丝；2-检测治具；21-检测平台；211-定位凸点；212-透孔；22-缆线部；221-导线；23-检测装置；A-检测装置；B-缆线部；B1-导线；C-检测平台；C1-针座；C11-上支撑板；C111-第一板材；C112-第一穿孔；C12-下支撑板；C121-第二板材；C122-第二穿孔；C13-支撑杆；C14-探针；C141-线材；C142-绝缘层。

具体实施方式

为达成上述目的及功效，本实用新型所采用的技术手段及其构造，兹绘图就本创作的较佳实施例详加说明其特征与功能如下。

如图1、图2、图3所示分别为本实用新型的立体外观图、立体分解图及另一视角的立体分解图，由图中所示可以清楚看出，本实用新型中的针座1包括基座11、基材12及多个测试探针13，其中：

该基座11表面上贯设有多个第一穿孔111，且第一穿孔111周围处贯设有多个第一定位孔112，再于基座11底面设有多个限位孔113。

该基材12表面上贯设有与多个第一穿孔111形成错位状态且对应于外部电路板(图中未示出)的多个测试点位置处的多个第二穿孔121，再于基材12表面上且于多个第二穿孔121周围处贯设有对正于多个第一定位孔112处的多个第二定位孔122。

该测试探针13为导电材质所制成，并于两侧分别设有第一端部131及第二端部132。

上述基座11与基材12于较佳实施例中为各由一片板材所组成，但于实际应用时，亦可分别由两片、三片或三片以上的多个板材所组成，故举凡可达成前述效果的结构皆应受本实用新型所涵盖，此种简易修饰及等效结构变化，均应同理包括于本实用新型的保护范围内，合予陈明。

另外，上述针座1的基座11与基材12较佳实施为呈矩形，但于实际应用时，亦可为三角形、圆形或各种型式的多边形板材，此部分有关基座11与基材12的形状很多，并可依实际的应用或需求来变更其外观，且该形状的构成并非本案的创作要点，在此仅作一简单叙述，以供了解。

如图4、图5、图6所示分别为本实用新型组装时的侧视剖面图(一)、(二)及(三)，由图中可清楚看出，本实用新型于组装时，先将基材12迭放于基座11上方，并将基材12的多个第二穿孔121分别对正于基座11的多个第一穿孔111，此时，该基座11的多个第一定位孔112与基材12的多个第二定位孔122呈错位状态，即可将多个测试探针13设置于基座11与基材12之间(如图4)，以使测试探针13的第一端部131及第二端部132分别插入至多个第一穿孔111与多个第二穿孔121内，之后便可将基座11与基材12分别相对向内推移，以使多个第一穿孔111错位于多个第二穿孔121，且内部穿设的多个测试探针13便受到多个第一穿孔111及多个第二穿孔121内壁面推挤，则会使第一端部131及第二端部132之间产生弯曲变形，从而形成出倾斜部133(如图5)，同时，其多个第一定位孔112与多个第二定位孔122形成对正状态，便可再于呈对正状态的第一定位孔112与第二定位孔122内侧装设有固定组件14，以使基座11与基材12呈一稳固结合状态(如图6)，即可完成本实用新型的组装。

上述基座11的第一定位孔112与基材12的第二定位孔122为可供固定组件14插入，该固定组件14较佳实施为固定插梢141，以供定位于第一定位孔112与第二定位孔122内并使基座11及基材12结合固定，但于实际应用时，其第一定位孔112内侧壁面可增设有螺纹1121，该固定组件14可为螺丝142，即可将固定组件14穿过第二定位孔122以锁固于具螺纹1121的第一定位孔112内呈一定位，此部分有关基座11与基材12的组装、结合方式很多，且可依实际的应用或需求来变更实施，且该细部的构成并非本案的创作要点，在此仅作一简单叙述，以供了解。

如图7、图8所示为本实用新型中的针座装设于检测治具的检测平台前的立体外观图及针座装设于检测治具的检测平台后的立体外观图，由图中可清楚看出，针座1于实际使用时，先装设于检测治具2的检测平台21上，其检测平台21表面的多个定位凸点211分别扣入于针座1的基座11底面的多个限位孔113内，且检测平台21上对应于基座11的多个第一穿孔111处贯设有多个透孔212，再于多个透孔212内分别插设有与多个测试探针13的第一端部131形成电性接触缆线部22的多个导线221，多个导线221另一端为电性连接于可用以处理电气信号的导通状态的检测装置23，当针座1完成定位于检测治具2的检测平台21上后，即可于基材12上方放置待检测的外部电路板，其多个测试探针13的第二端部132便会电性接触于外部电路板上的配线图形的多个测定点，当欲检测时，该检测治具2的检测装置23便会将检测用的信号传输至缆线部22的多个导线221，再经由多个测试探针13发送至外部电路板上的多个测定点，并从多个测定点处接收检测用信号，便可依据接收的信号，来计算出多个测定点间的电阻值，藉此用来判断多个测定点间是否导通。

上述检测治具2的检测装置23可用于处理外部电路板上的多个测定点间的电气信号的导通状态，此部分有关如何处理电气信号的导通状态为现有技术，且该细部的构成并非本案的创设重点，故不再作一赘述，以供了解。

针座1的基座11上方迭放有基材12，并于基座11的多个第一穿孔111与基材12的多个第二穿孔121间插设有多个测试探针13，当基座11与基材12形成错位状态后，其多个测试探针13便会形成出倾斜部133，从而稳固限位于基座11与基材12之间，以供使用时不会脱离、掉落出基座11与基材12外部，进而达到良好的定位效果，该针座1相较于现有技术可省略多个支撑杆，且基座11及基材12的板材层数于较佳实施例中亦可各由一片板材所制成，即可减少基座11及基材12整体的厚度，进而达到降低材料、制造成本的目的，以提升整体竞争力。

另外，针座1的基座11与基材12间欲装设多个测试探针13时，先将基材12的多个第二穿孔121分别对正于基座11的多个第一穿孔111，再将多个测试探针13插入，由于多个测试探针13插入时，其多个第一穿孔111与多个第二穿孔121呈对正状态，所以于实际应用时，便可通过自动化的机械设备来执行插入多个测试探针13的作业，即可减少人力上的成本，且利用自动化的机械设备亦可使插设作业更加地快速、精确，以达到加快制造效率的同时，亦具有更高产品合格率的目的。

然而，由于针座1的基材12迭放于基座11上方，所以基座11与基材12之间便不会产生空隙，当多个测试探针13装设于基座11与基材12之间时，便可通过基座11与基材12来防止相邻的多个测试探针13间产生电性接触的情况，以避免发生短路，且该多个测试探针13外表面相较于现有技术亦不需涂怖有绝缘层，即可降低加工作业的难度，进而达到降低制造、材料成本的效果。

综上，本实用新型主要针对利用针座1的基座11上方迭放有基材12，且基座11表面的多个第一穿孔111为与基材12表面的多个第二穿孔121形成错位状态，以使第一穿孔111与第二穿孔121间插设的测试探针13形成倾斜部133，即可使多个测试探针13限位于基座11与基材12间，从而不会发生脱离、掉落的情形，且亦可简化加工、组装作业，进而达到降低整体制造、材料成本，故举凡可达成前述效果的结构、装置皆应受本实用新型所涵盖，此种简易修饰及等效结构变化，均应同理包含于本实用新型的保护范围内，合予陈明。