1.一种改进的检测治具的针座结构，该针座包括基座、基材及多个测试探针，其特征在于：
该基座表面上贯设有多个第一穿孔，且基座表面上于多个第一穿孔周围处贯设有多个第一定位孔；
该基材迭放于基座上方，并于基材表面上贯设有组装后与多个第一穿孔形成错位状态且对应于预设电路板的多个测试点位置处的多个第二穿孔，再于基材表面上且于多个第二穿孔周围处贯设有对正于多个第一定位孔处以供预设固定组件穿过并使基座与基材固定的多个第二定位孔；及
该多个测试探针为导电材质所制成且设置于基座及基材之间，并于测试探针一侧设有插入至第一穿孔内的第一端部，另一侧设有插入至第二穿孔内并与预设电路板的测试点形成电性接触的第二端部，且第一端部与第二端部之间形成有倾斜部。
2.根据权利要求1所述的改进的检测治具的针座结构，其特征在于，该基座与基材呈长矩形。
3.根据权利要求1所述的改进的检测治具的针座结构，其特征在于，该基座的多个第一定位孔内侧壁面设有螺纹。
4.一种改进的检测治具的针座结构，包括检测治具及针座，其特征在于：
该检测治具具有用以处理预设电路板的多个测试点间电气信号的导通状态的检测装置，并于检测装置一侧电性连接有具有多个导线的缆线部，且缆线部另一侧连接有检测平台，再于检测平台上贯设有供多个导线分别穿入的多个透孔；及
该针座包括基座、基材及多个测试探针，其中该基座定位于检测平台上方，并于基座表面上对位于检测平台的多个透孔处贯设有多个第一穿孔，再于基座表面上位于多个第一穿孔周围处贯设有多个第一定位孔，且该基座上方迭放有基材，并于基材表面上贯设有组装后与多个第一穿孔形成错位状态且对应于预设电路板的多个测试点位置处的多个第二穿孔，再于基材表面上且位于多个第二穿孔周围处贯设有对正于多个第一定位孔处以供预设固定组件穿过并使基座与基材固定的多个第二定位孔，该多个测试探针为导电材质所制成且设置于基座及基材之间，并于测试探针一侧设有插入至第一穿孔内且与缆线部的多个导线形成电性接触的第一端部，另一侧设有插入至第二穿孔内并与预设电路板的测试点形成电性接触的第二端部，再于第一端部与第二端部之间形成有倾斜部。
5.根据权利要求4所述的改进的检测治具的针座结构，其特征在于，该针座的基座底面设有多个限位孔，该检测治具的检测平台表面上对应于多个限位孔处设有供定位于多个限位孔内的多个定位凸点。
6.根据权利要求4所述的改进的检测治具的针座结构，其特征在于，该针座的基座与基材呈长矩形。
7.根据权利要求4所述的改进的检测治具的针座结构，其特征在于，该基座的多个第一定位孔内侧壁面设有螺纹。