技术总结
本实用新型公开了一种探针测试装置，包括探针和PCB板，还包括连接结构，所述探针通过所述连接结构与PCB板电连接，所述连接结构包括交替层叠的导电层和连接层，所述连接结构的最底层与所述探针的一端固定连接，所述连接结构的最顶层与所述PCB板固定连接。可以通过改变连接层和导电层的层数来满足不同的测试高度，不需要准备不同长度的探针，不会安装出错，并且不同的测试高度可以共用探针，可以节约成本，提高测试效率。
技术研发人员：曾长鋆
受保护的技术使用者：深圳市信维通信股份有限公司
文档号码：201721093173
技术研发日：2017.08.29
技术公布日：2018.05.01