1.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括：
具有不同检测功能的多个检测模块，每个所述检测模块分别与待测的集成电路以及数据处理模块连接；
数据处理模块，包括PC机和算法计算模块，算法计算模块用于根据检测模块提供的输入信号进行计算，并将计算结果上传至PC机，其中：
所述算法计算模块与所述检测模块集成在一起。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述多个检测模块集成于同一电路板上。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述多个检测模块与待测的集成电路之间设置有开关选择电路，所述开关选择电路选择性的与所述检测模块连通或断开。
4.根据权利要求3所述的集成电路测试系统，其特征在于，还包括一控制面板，其中：
该控制面板可选择性的控制执行一个或多个所述检测模块。
5.根据权利要求1或3所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述待测的集成电路为CMOS图像传感器。
6.根据权利要求5所述的集成电路测试系统，其特征在于，还包括：
光源，向待测的集成电路提供输入信号。
7.根据权利要求6所述的集成电路测试系统，其特征在于，至少一检测模块为图像传感器，图像传感器将从CMOS图像传感器采集到图像数据上传至算法计算模块。
8.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述算法计算模块与PC机之间通过USB接口或PCIe接口通讯。
9.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，至少一检测模块为漏电检测模块。
10.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，至少一检测模块为开路/短路检测模块。