技术总结
本申请公开了一种集成电路测试系统，包括：具有不同检测功能的多个检测模块，每个所述检测模块分别与待测的集成电路以及数据处理模块连接；数据处理模块，包括PC机和算法计算模块，算法计算模块用于根据检测模块提供的输入信号进行计算，并将计算结果上传至PC机，其中：所述算法计算模块与所述检测模块集成在一起。本实用新型直接将用以执行数据算法处理的硬件(算法计算模块)集成在检测模块的电路板上，通过在检测终端直接完成图像算法的处理，这样做的减少了数据的传递，降低了测试时间。
技术研发人员：祁俊华
受保护的技术使用者：苏州晶方半导体科技股份有限公司
技术研发日：2018.02.11
技术公布日：2018.08.31