技术特征：
1.一种半导体裸片测试探针设备，包括设备本体(1)，其特征在于：所述设备本体(1)的左侧栓接有安装座(2)，所述安装座(2)的内腔活动连接有活动框(3)，所述活动框(3)的内腔活动连接有探针本体(4)，所述活动框(3)的内腔设置有卡接机构(5)。2.根据权利要求1所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述卡接机构(5)包括导向槽(51)、卡块(52)、限位槽(53)、卡槽(54)、固定盒(55)、活动杆(56)、第一弹簧(57)和限位孔(58)，所述活动框(3)内腔的顶部和底部均开设有导向槽(51)，所述导向槽(51)的内腔滑动连接有卡块(52)，所述卡块(52)相向的一侧与探针本体(4)的顶部和底部栓接，所述导向槽(51)内腔正面和背面的右侧均开设有限位槽(53)，所述限位槽(53)的右侧开设有配合卡块(52)使用的卡槽(54)，所述活动框(3)左侧的正面和背面均嵌设有固定盒(55)，所述固定盒(55)两侧的中心处均开设有通孔，且通孔的内腔滑动连接有活动杆(56)，所述活动杆(56)的表面栓接有活动板，所述活动杆(56)的表面缠绕有第一弹簧(57)，所述第一弹簧(57)的左侧与固定盒(55)内腔的左侧栓接，所述第一弹簧(57)的右侧与活动板的左侧栓接，所述卡块(52)的左侧开设有配合活动杆(56)使用的限位孔(58)。3.根据权利要求1所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述安装座(2)内腔右侧的四周均栓接有第二弹簧(6)，所述第二弹簧(6)的左侧与活动框(3)的右侧栓接。4.根据权利要求1所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述安装座(2)内腔的顶部和底部均开设有第一滑槽(7)，所述第一滑槽(7)的内腔从左至右均依次滑动连接有第一滑块(8)，所述第一滑块(8)相向的一侧贯穿第一滑槽(7)并与活动框(3)的顶部和底部栓接。5.根据权利要求1所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述活动框(3)内腔右侧的顶部和底部均栓接有第三弹簧(9)，所述第三弹簧(9)的左侧栓接有移动板(10)，所述移动板(10)左侧的中心处栓接有凸块，且凸块的左侧与探针本体(4)的右侧活动连接。6.根据权利要求1所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述活动框(3)内腔顶部和底部的右侧均开设有第二滑槽(11)，所述第二滑槽(11)的内腔滑动连接有第二滑块(12)，所述第二滑块(12)相向的一侧贯穿第二滑槽(11)并与移动板(10)的顶部和底部栓接。7.根据权利要求2所述的一种半导体裸片测试探针设备，其特征在于：所述活动杆(56)的左侧栓接有连接件(13)，所述连接件(13)左侧的中心处开设有配合探针本体(4)使用的通槽。
技术总结
本实用新型属于探针设备相关技术领域，具体涉及一种半导体裸片测试探针设备，包括设备本体，所述设备本体的左侧栓接有安装座，所述安装座的内腔活动连接有活动框，所述活动框的内腔活动连接有探针本体，所述活动框的内腔设置有卡接机构。本实用新型通过导向槽、卡块、限位槽、卡槽、固定盒、活动杆、第一弹簧和限位孔的配合，便于使用者对卡块进行限位，方便对探针本体进行固定，防止探针本体发生晃动脱落，提高了探针本体的稳定性，避免探针松动掉落频繁，造成使用者重复安装探针浪费时间，不利于测试的进行，降低半导体裸片测试的效率，解决了传统半导体裸片测试探针设备对探针固定效果差的问题。果差的问题。果差的问题。
技术研发人员：刘静 陈伟
受保护的技术使用者：芯冠（苏州）半导体有限公司
技术研发日：2020.12.08
技术公布日：2021/9/24